一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]對(duì)于電腦、電視等包含顯示屏的電子設(shè)備，其內(nèi)部都包含有顯示芯片，用于對(duì)圖像信號(hào)進(jìn)行處理，然后在顯示屏上顯示圖像。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，顯示芯片出廠時(shí)，會(huì)進(jìn)行漏電檢測(cè)，檢測(cè)需要搭建基臺(tái)，費(fèi)用昂貴。因?yàn)闄z測(cè)設(shè)備費(fèi)用昂貴，而且受檢測(cè)設(shè)備自身的限制，有很大程度上會(huì)漏檢，而且顯示芯片批量生產(chǎn)時(shí)，只會(huì)對(duì)生產(chǎn)出的顯示芯片做抽樣檢測(cè)，這樣，因?yàn)榇嬖诼z，使得顯示芯片返修率較高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的實(shí)施例提供一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法及裝置，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中因?yàn)榇嬖诼z，導(dǎo)致顯示芯片返修率較高的問題。
[0005]為達(dá)到上述目的，本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
[0006]第一方面，一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法，包括:
[0007]獲取顯示芯片輸出的第一模擬信號(hào)，所述第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值是恒定的；
[0008]對(duì)所述第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值，所述第一采樣值是數(shù)字信號(hào)的碼值；
[0009]通過調(diào)節(jié)移位寄存器的值對(duì)所述第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得調(diào)節(jié)后得到的所述第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值小于或等于第一閾值，所述第一標(biāo)準(zhǔn)值為所述第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)的碼值為；
[0010]如果所述移位寄存器改變的值大于或等于預(yù)設(shè)閾值，則確定所述顯示芯片漏電。
[0011]第一方面，一種檢測(cè)顯示芯片漏電的裝置，包括:
[0012]獲取單元，用于獲取顯示芯片輸出的第一模擬信號(hào)，所述第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值是恒定的；
[0013]采樣單元，用于對(duì)所述獲取單元獲取的所述第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值，所述第一采樣值是數(shù)字信號(hào)的碼值；
[0014]調(diào)節(jié)單元，用于通過調(diào)節(jié)移位寄存器的值對(duì)所述第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得調(diào)節(jié)后得到的所述第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值小于或等于第一閾值，所述第一標(biāo)準(zhǔn)值為所述第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)的碼值；
[0015]判斷單元，用于當(dāng)所述移位寄存器改變的值大于或等于預(yù)設(shè)閾值時(shí)，確定所述顯不芯片漏電。
[0016]本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法及裝置，獲取顯示芯片輸出的第一模擬信號(hào)，對(duì)第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值，如果所述第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值大于或等于第一閾值，則確定顯示芯片漏電，解決了現(xiàn)有技術(shù)中因?yàn)闄z測(cè)設(shè)備的限制而存在漏檢，導(dǎo)致顯示芯片返修率較高的問題。
[0017]本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)顯示芯片漏電的方法，獲取顯示芯片輸出的第一模擬信號(hào)，對(duì)第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值，通過調(diào)節(jié)移位寄存器的值對(duì)第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得調(diào)節(jié)后得到的第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值小于或等于第一閾值，如果移位寄存器改變的值大于或等于預(yù)設(shè)閾值，則確定顯示芯片漏電，因?yàn)槊總€(gè)顯示芯片都需要進(jìn)行offset (移位)校正，這樣就不會(huì)產(chǎn)生漏檢，而且，因?yàn)榕coffset校正結(jié)合在一起，沒有產(chǎn)生額外昂貴的費(fèi)用，在顯示芯片出廠前就對(duì)所有的顯示芯片進(jìn)行了漏電檢測(cè)，也降低了返修率。
【附圖說明】
[0018]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0019]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法流程示意圖；
[0020]圖2為本發(fā)明另一實(shí)施例提供的一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法流程示意圖；
[0021]圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種信號(hào)采樣示意圖；
[0022]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測(cè)顯示芯片漏電的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0024]本發(fā)明實(shí)施例提供一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法，可選的，該顯示芯片可以是電視機(jī)的顯示芯片或者電腦的顯示芯片，對(duì)此，本發(fā)明不做限制。參照?qǐng)D1所示，本實(shí)施例提供的一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法包括以下步驟:
[0025]101、獲取顯不芯片輸出的第一模擬信號(hào)。
[0026]第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值是恒定的。
[0027]優(yōu)選的，第一模擬信號(hào)屬于YUV信號(hào)(色差信號(hào))，可選的，第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值為O電平?；蛘呖蛇x的，第一模擬信號(hào)屬于RGB (紅綠藍(lán))信號(hào)，第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值為O電平。
[0028]102、對(duì)第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值。
[0029]第一采樣值是數(shù)字信號(hào)的碼值。因?yàn)榈谝荒M信號(hào)設(shè)定的電平值是恒定的，所以經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換后得到的第一采樣值也應(yīng)該是恒定的，但是由于產(chǎn)品質(zhì)量及誤差等原因，第一采樣值并不準(zhǔn)確，可以進(jìn)行多次采樣求取平均值。例如:對(duì)第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到N個(gè)采樣值，N為大于或等于2的整數(shù)；計(jì)算N個(gè)采樣值的平均值并將N個(gè)采樣值的平均值作為第一采樣值。
[0030]103、通過調(diào)節(jié)移位寄存器的值對(duì)第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得調(diào)節(jié)后得到的第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值小于或等于第一閾值。
[0031]其中，第一標(biāo)準(zhǔn)值為第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值對(duì)應(yīng)的數(shù)字信號(hào)的碼值。優(yōu)選的，第一閾值可以為0，即通過對(duì)第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得第一采樣值等于第一標(biāo)準(zhǔn)值。
[0032]104、如果移位寄存器改變的值大于或等于預(yù)設(shè)閾值，則確定顯示芯片漏電。
[0033]如果顯示芯片漏電，就會(huì)使得第一模擬信號(hào)的電平值大于第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值，調(diào)節(jié)移位寄存器，就是要降低第一模擬信號(hào)的電平值，使得第一模擬信號(hào)的電平值與其設(shè)定的電平值一致，如果芯片漏電過大，使得第一模擬信號(hào)的電平值超出設(shè)定的電平值過多，導(dǎo)致調(diào)節(jié)移位寄存器也不能將第一模擬信號(hào)的電平值降低至設(shè)定的電平值，則證明該顯示芯片為不合格產(chǎn)品。因此，移位寄存器改變的值越大，證明顯示芯片漏電越大，如果移位寄存器改變的值大于預(yù)設(shè)閾值，就可以認(rèn)為顯示芯片漏電，此處定義的顯示芯片漏電指的是顯示芯片漏電過大影響信號(hào)質(zhì)量，為不合格產(chǎn)品，當(dāng)然有些顯示芯片漏電很小，不影響信號(hào)質(zhì)量，是允許的誤差，對(duì)這類顯示芯片只需通過offset (移位)校正就可以保證正常工作，可以不視為漏電。
[0034]結(jié)合步驟101，當(dāng)?shù)谝荒M信號(hào)屬于YUV(色差)信號(hào)，第一模擬信號(hào)設(shè)定的電平值為 O 電平時(shí)，可選的，在 VESA (Video Electronics Standards Associat1n，視頻電子標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì))標(biāo)準(zhǔn)中，當(dāng)?shù)谝荒M信號(hào)屬于YUV信號(hào)中的Y信號(hào)時(shí)，第一標(biāo)準(zhǔn)值為64，當(dāng)?shù)谝荒M信號(hào)屬于YUV信號(hào)中的U信號(hào)或V信號(hào)時(shí)，第一標(biāo)準(zhǔn)值為512。
[0035]值得說明的是，本發(fā)明中所說的預(yù)設(shè)閾值，需要根據(jù)具體情況進(jìn)行設(shè)定，優(yōu)選的，可以對(duì)多個(gè)樣本芯片進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試出多個(gè)樣本芯片移位寄存器改變的值，再求出其平均值作為預(yù)設(shè)閾值，對(duì)預(yù)設(shè)閾值的確定方法，本發(fā)明不做限制。
[0036]通過上述方式，本實(shí)施例提供的檢測(cè)顯示芯片的方法，在對(duì)顯示芯片進(jìn)行offset (移位)校正的過程中，檢測(cè)了顯示芯片是否漏電，如果確定顯示芯片漏電，則確認(rèn)該顯示芯片不合格。因?yàn)槊總€(gè)顯示芯片都需要進(jìn)行offset校正，這樣就不會(huì)產(chǎn)生漏檢，而且，因?yàn)榕coffset校正結(jié)合在一起，沒有產(chǎn)生額外昂貴的費(fèi)用，在顯示芯片出廠前就對(duì)所有的顯示芯片進(jìn)行了漏電檢測(cè)，也降低了返修率。
[0037]本發(fā)明實(shí)施例提供的檢測(cè)顯示芯片漏電的方法，獲取顯示芯片輸出的第一模擬信號(hào)，對(duì)第一模擬信號(hào)采樣并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換得到第一采樣值，通過調(diào)節(jié)移位寄存器的值對(duì)第一模擬信號(hào)進(jìn)行移位調(diào)節(jié)，使得調(diào)節(jié)后得到的第一采樣值與第一標(biāo)準(zhǔn)值差值的絕對(duì)值小于或等于第一閾值，如果移位寄存器改變的值大于或等于預(yù)設(shè)閾值，則確定顯示芯片漏電，則確定顯示芯片漏電，因?yàn)槊總€(gè)顯示芯片都需要進(jìn)行offset (移位)校正，這樣就不會(huì)產(chǎn)生漏檢，而且，因?yàn)榕coffset校正結(jié)合在一起，沒有產(chǎn)生額外昂貴的費(fèi)用，在顯示芯片出廠前就對(duì)所有的顯示芯片進(jìn)行了漏電檢測(cè)，也降低了返修率，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中因?yàn)榇嬖诼z，導(dǎo)致顯示芯片返修率較高的問題。
[0038]基于上述圖1對(duì)應(yīng)的實(shí)施例，本發(fā)明另一實(shí)施例提供一種檢測(cè)顯示芯片漏電的方法，參照?qǐng)D2所示，