一種半導(dǎo)體測試分選裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體測試分選裝置，包括一震動(dòng)盤，通過導(dǎo)軌連接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待檢測元件，在一轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有一動(dòng)吸嘴，用于吸取所述待檢測元件；所述轉(zhuǎn)盤周邊對應(yīng)所述動(dòng)吸嘴的工作半徑上設(shè)置有多個(gè)操作模塊；其中,所述定吸嘴正對待檢測元件設(shè)置有一豎直壁面，并在該豎直壁面上開有一凹槽，用于過盈配合所述待檢測元件。本實(shí)用新型提供的半導(dǎo)體測試分選裝置，由于采用了在定吸嘴的吸氣口外豎直壁面對應(yīng)設(shè)置一凹槽,以及在各工作模塊的相應(yīng)位置設(shè)置用于放置待檢測元件管腳的定位槽，可以對待檢測的半導(dǎo)體元件加以充分固定，防止在檢測中因接觸面不平，產(chǎn)生左右擺動(dòng)而損壞半導(dǎo)體元件管腳或因吸附不牢而引起停機(jī)的問題。
【專利說明】
一種半導(dǎo)體測試分選裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種半導(dǎo)體測試裝置，尤其涉及的是一種半導(dǎo)體測試分選裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]半導(dǎo)體器件測試分選打標(biāo)編帶一體設(shè)備，簡稱半導(dǎo)體測試分選設(shè)備，用于將大規(guī)模封裝好的散裝半導(dǎo)體器件進(jìn)行測試后，分選并打印編帶，自動(dòng)完成剔除不合格產(chǎn)品并收集合格產(chǎn)品的工作。
[0003]半導(dǎo)體測試分選設(shè)備，一般包括一震動(dòng)盤，通過導(dǎo)軌連接一定吸嘴，所述定吸嘴則設(shè)置于距離一轉(zhuǎn)盤外沿一定距離處。待檢測的半導(dǎo)體元器件經(jīng)過震動(dòng)盤分散并通過導(dǎo)軌滑動(dòng)至所述定吸嘴處后，由所述定吸嘴吸附固定。所述轉(zhuǎn)盤還連接有一跟隨轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動(dòng)的動(dòng)吸嘴，所述動(dòng)吸嘴用于將待檢測的半導(dǎo)體元器件從所述定吸嘴上吸走，并隨著所述轉(zhuǎn)盤而轉(zhuǎn)動(dòng)，移動(dòng)至沿著轉(zhuǎn)盤外沿分布的各模塊上方釋放并進(jìn)行相應(yīng)的操作后，再吸取并移動(dòng)至出口排出。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)的半導(dǎo)體測試分選設(shè)備在工作時(shí)，當(dāng)一半導(dǎo)體測試產(chǎn)品從所述導(dǎo)軌滑動(dòng)至所述定吸嘴時(shí)，若所述測試產(chǎn)品的注塑凸口端對著并接觸所述定吸嘴旁的豎直壁面，則由于注塑凸口的表面不平，導(dǎo)致兩者的接觸不充分，所述測試產(chǎn)品在吸氣作用下，就會(huì)產(chǎn)生左右擺動(dòng)，從而可能因測試產(chǎn)品吸附不牢而造成停機(jī)。而在繼續(xù)下一道工序時(shí)，所述測試產(chǎn)品由所述動(dòng)吸嘴吸附提取并移動(dòng)至下一模塊上方釋放，由于所述下一模塊的相應(yīng)落點(diǎn)部位沒有設(shè)置定位結(jié)構(gòu)，就可能導(dǎo)致所述測試產(chǎn)品在落點(diǎn)部位左右擺動(dòng)，其管腳可能因觸碰到邊壁而導(dǎo)致變形，甚至多次變形。這不但不能保證測試產(chǎn)品的質(zhì)量，并且可能因停機(jī)而導(dǎo)致生產(chǎn)效率低下。
[0005]因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種半導(dǎo)體測試分選裝置，可以在工作中對所述待檢測的半導(dǎo)體元器件加以充分的固定，以解決測試產(chǎn)品吸附不牢的問題。
[0007]本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0008]—種半導(dǎo)體測試分選裝置，包括一震動(dòng)盤，通過導(dǎo)軌連接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待檢測元件，在一轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有一動(dòng)吸嘴，用于吸取所述待檢測元件;所述轉(zhuǎn)盤周邊對應(yīng)所述動(dòng)吸嘴的工作半徑上設(shè)置有多個(gè)操作模塊;其中，所述定吸嘴正對待檢測元件的豎直壁面上開有一凹槽，用于過盈配合所述待檢測元件的注塑凸口 ；
[0009]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，在所述凹槽的底部設(shè)置有接觸傳感器，以及所述操作模塊包括一定位器，設(shè)置于所述定吸嘴與其他操作模塊之間，用于調(diào)整所述待檢測元件的朝向；
[0010]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述定位器上設(shè)有匹配待檢測元件管腳數(shù)目的至少一對定位槽，用于容納所述待檢測元件的管腳；
[0011]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述操作模塊還包括一用于檢測所述待檢測元件的檢測臺，在所述檢測臺放置待檢測元件的臺面上設(shè)有一活動(dòng)門，用于在待檢測元件不合格時(shí)打開所述活動(dòng)門；
[0012]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述操作模塊還包括一衛(wèi)星工作臺，所述衛(wèi)星工作臺上設(shè)置有數(shù)個(gè)定位塊，所述定位塊沿衛(wèi)星工作臺周向分布，用于在所述待檢測元件上打印圖文；
[0013]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，每一所述定位塊上設(shè)有匹配待檢測元件管腳數(shù)目的至少一對定位槽，用于完全容納所述待檢測元件的管腳；
[0014]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述定位塊設(shè)置為三個(gè)，并在所述衛(wèi)星工作臺上均勻分布，對應(yīng)其轉(zhuǎn)動(dòng)停留位置分別設(shè)置為接受位置、打印位置和提取位置;所述打印位置對應(yīng)設(shè)置用于打印標(biāo)號的至少一激光發(fā)射頭；
[0015]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述衛(wèi)星工作臺的旋轉(zhuǎn)速度與所述轉(zhuǎn)盤的旋轉(zhuǎn)速度設(shè)置為相匹配，使得所述轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)一步的時(shí)間等于所述衛(wèi)星工作臺旋轉(zhuǎn)兩步的時(shí)間；
[0016]所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其中，所述導(dǎo)軌外還設(shè)置有至少一組吹氣孔，用于推動(dòng)待檢測元件向所述定吸嘴方向移動(dòng)。
[0017]本實(shí)用新型提供的半導(dǎo)體測試分選裝置，由于采用了在定吸嘴的吸氣口外豎直壁面對應(yīng)設(shè)置一凹槽，以及在各工作模塊的相應(yīng)位置設(shè)置定位槽，可以對所述待檢測的半導(dǎo)體元器件加以充分固定，防止了所述待檢測半導(dǎo)體元器件在檢測中因接觸面不平，產(chǎn)生左右擺動(dòng)而損壞管腳或因吸附不牢而引起停機(jī)的問題，降低了測試工作中的停機(jī)可能和故障率，從而保證了所述待檢測半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。
【附圖說明】
[0018]圖1是本實(shí)用新型半導(dǎo)體測試分選裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖2為本實(shí)用新型半導(dǎo)體測試分選裝置的側(cè)面剖視圖；
[0020]圖3為本實(shí)用新型半導(dǎo)體測試分選裝置的定吸嘴的放大圖；
[0021 ]圖4為本實(shí)用新型半導(dǎo)體測試分選裝置的定位器的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖5為本實(shí)用新型半導(dǎo)體測試分選裝置的衛(wèi)星工作臺的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]本實(shí)用新型提供一種新型半導(dǎo)體測試分選裝置，為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實(shí)例對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。
[0024]本實(shí)用新型的半導(dǎo)體測試分選裝置的一個(gè)具體實(shí)施例，如圖1的正面示意圖和圖2的側(cè)面示意圖所示，包括一震動(dòng)盤1，通過端部平滑連接在一起的彎弧導(dǎo)軌7和直導(dǎo)軌8與一定吸嘴4相連接，所述定吸嘴4則設(shè)置于距離一轉(zhuǎn)盤2外沿一定距離處，所述轉(zhuǎn)盤2接受一步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)，沿順時(shí)針或逆時(shí)針方向轉(zhuǎn)動(dòng)，本實(shí)施例中，如圖所示，所述轉(zhuǎn)盤2在所連接的第一步進(jìn)電機(jī)的作用下沿順時(shí)鐘方向步進(jìn)轉(zhuǎn)動(dòng)。所述轉(zhuǎn)盤2外圍，均勻分布有多個(gè)操作模塊，在本實(shí)施例中，所述操作模塊包括一定位器5，一檢測臺15，一衛(wèi)星工作臺6，和一排塑口9，以及所述定吸嘴4，根據(jù)實(shí)際的空間和功能在所述轉(zhuǎn)盤2的周邊均勻分布設(shè)置，與現(xiàn)有技術(shù)的實(shí)現(xiàn)方式基本類似，在此不再贅述。
[0025]所述操作模塊的排列順序按照實(shí)際工作中的操作順序，一般可以按照定吸嘴4、定位器5、檢測臺15、衛(wèi)星工作臺6的兩個(gè)定位塊位置、排塑口 9的順序，共五個(gè)操作模塊，六個(gè)停留位置，在所述轉(zhuǎn)盤2外沿周向均勻分布排列。所述轉(zhuǎn)盤2上還固定連接有一跟隨所述轉(zhuǎn)盤2—起轉(zhuǎn)動(dòng)的動(dòng)吸嘴3，所述動(dòng)吸嘴3的操作臂長度設(shè)置為其上的吸氣提取口 31正好達(dá)到沿所述轉(zhuǎn)盤2外圍均勻分布的各操作模塊上待檢測元件10的安放位置上方。這樣，所述第一步進(jìn)電機(jī)每轉(zhuǎn)動(dòng)一格，所述轉(zhuǎn)盤2就轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)位置，正好將所述動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31送至下一操作模塊。
[0026]當(dāng)所述吸氣提取口31到達(dá)對應(yīng)操作模塊的上方，正對所述操作模塊上的待檢測元件安放位置時(shí)，所述吸氣提取口 31停止吸氣，釋放所述待檢測元件10至所述安放位置，并停留一設(shè)定時(shí)間，以便所述操作模塊對其進(jìn)行相應(yīng)的操作。此時(shí)，所述待檢測元件10在所在的操作模塊接受相應(yīng)操作，當(dāng)該相應(yīng)操作的所述設(shè)定時(shí)間期滿經(jīng)過后，所述吸氣提取口31再對所述待檢測元件10吸氣將其提取，然后跟隨步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的圓盤2再轉(zhuǎn)動(dòng)送至下一操作模塊。
[0027]本實(shí)用新型所述較佳實(shí)施例中，所述震動(dòng)盤I通過磁鐵等裝置，在震動(dòng)分散并依次整理出的所述待檢測元件10進(jìn)入所述軌道的同時(shí)，也將所述待檢測元件位姿調(diào)整完畢，例如，成為以管腳站立的姿勢側(cè)向單行進(jìn)入所述彎弧導(dǎo)軌7和直導(dǎo)軌8。此為現(xiàn)有技術(shù)，在此不作詳述。在一個(gè)較佳實(shí)施例中，所述彎弧導(dǎo)軌7和直導(dǎo)軌8上方可設(shè)有一覆蓋層，并在與所述震動(dòng)盤I相連接處的開口略大于所述待檢測元件10的橫截面，從而保證所述待檢測元件10在行進(jìn)中不會(huì)改變其已經(jīng)調(diào)整好的正確姿勢，此時(shí)所述待檢測元件10的注塑凸口 101要么朝前，要么朝后，如圖3所示。
[0028]所述彎弧導(dǎo)軌7和直導(dǎo)軌8的端部平滑過渡連接在一起，所述導(dǎo)軌附近，設(shè)置有至少一組吹氣孔71，如圖2所示，本實(shí)施例采用一組吹氣孔71，設(shè)置于所述導(dǎo)軌旁或?qū)к壣稀Ｋ龃禋饪?1向所述定吸嘴4方向，沿著所述導(dǎo)軌78，持續(xù)吹氣，用于推動(dòng)和加速待檢測元件10在所述彎弧導(dǎo)軌7和直導(dǎo)軌8中移動(dòng)，更快更穩(wěn)的到達(dá)定吸嘴4，從而提升工作效率。
[0029]所述直導(dǎo)軌8在所述定吸嘴4附近的部分，上方不設(shè)覆蓋層，從而將所述待檢測元件10暴露在外，以便于所述動(dòng)吸嘴3進(jìn)行提取。
[0030]所述定吸嘴4的局部放大圖如圖3所示，在吸氣口42附近、正對著傳送至此的待檢測元件10前端的豎直壁面上設(shè)置有一凹槽41，用于在所述吸氣口 42吸附固定所述待檢測元件10時(shí)，過盈配合待檢測元件10的注塑凸口 101，從而增加待檢測元件10在吸附時(shí)的穩(wěn)定性，方便所述動(dòng)吸嘴3進(jìn)行提取。所述凹槽41的各方向尺寸均略大于所述注塑凸口 101相應(yīng)方向的尺寸，即所述凹槽41的深度H略大于所述注塑凸口 101的凸起高度;所述凹槽41的上壁面高度略大于所述注塑凸口 101上緣高度，但略小于所述待檢測元件10的上緣高度;所述凹槽41的寬度略大于所述注塑凸口 101的寬度，且所述凹槽41的位置與所述注塑凸口 101的位置相對應(yīng)，以保證所述凹槽41可以全部容納所述注塑凸口 101，從而保證所述待檢測元件10與所述定吸嘴4的吸氣口充分穩(wěn)定接觸而被吸牢，這就杜絕了因待檢測元件10吸附不牢而造成的停機(jī)故障。當(dāng)然，若是待檢測元件10的注塑凸口朝后，則其對側(cè)平坦端面朝前，并接觸到所述吸氣口 42附近的豎直壁面，此時(shí)，因?yàn)樗霭疾?1開口的上壁面的高度低于所述待檢測元件10的上緣高度，所述待檢測元件10無法插入所述凹槽41，因此也不會(huì)產(chǎn)生吸附不牢的問題。
[0031]在本實(shí)施例中，當(dāng)所述定吸嘴4吸附固定住所述待檢測元件10后，受軌道限制，所述待檢測元件10本體沿著轉(zhuǎn)盤半徑方向，并在后面的操作中維持半徑方向直至完成在所述衛(wèi)星工作臺6上操作后再次被提取。
[0032]本實(shí)用新型較佳實(shí)施例的一個(gè)優(yōu)選方案，是在所述定吸嘴4旁豎直壁面的凹槽41內(nèi)放置有一接觸傳感器43，如圖3所示，用于探測所述待檢測元件10的朝向，若所述待檢測元件10的注塑凸口 101朝前，則其可以伸入所述凹槽41內(nèi)，觸碰激發(fā)所述接觸傳感器43，從而可以借此確定所述注塑凸口 101的朝向，從而確定所述待檢測元件10上需要打印文字面的朝向。若是反向，則可以在下步的定位器5中旋轉(zhuǎn)180度，修正為打印文字面的正確方向。
[0033]圖4是本實(shí)用新型的定位器5的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖4所示，所述定位器5上設(shè)置有至少一對第一定位槽51，關(guān)于定位器5轉(zhuǎn)軸中心呈兩邊對稱分布，其數(shù)目與所檢測的待檢測元件10的管腳數(shù)相匹配。所述待檢測元件10通過所述動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31吸附后跟隨所述轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動(dòng)，被移動(dòng)到所述定位器5上方，所述動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31停止吸氣，所述待檢測元件10下落，被放置于所述定位器5上，其管腳伸進(jìn)所述第一定位槽51的相應(yīng)凹槽內(nèi)部。所述第一定位槽51的具體數(shù)目和位置根據(jù)待檢測元件10的管腳數(shù)目和位置對應(yīng)設(shè)置，且其凹槽寬度B大于所述待檢測元件10管腳的寬度b，凹槽深度大于管腳長度，以保證可以完全容納各管腳，且管腳在所述凹槽內(nèi)部不會(huì)觸碰到凹槽底部，這就保證了管腳不會(huì)受到擠壓變形，因此不會(huì)造成對管腳的任何損傷。
[0034]本實(shí)施例中所述定位器5的作用是若上一步的接觸傳感器43探測到所述注塑凸口101方向相反，也即打印文字面方向不正確，則所述定位器5在其所連接的獨(dú)立電機(jī)、即第二步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)下繞其中心位置，同時(shí)也是其上待檢測元件10的中心位置，旋轉(zhuǎn)180度，將所述待檢測元件10調(diào)整為正確朝向，方便下一步的檢測和文字打印。
[0035]經(jīng)過所述定位器5后，所述待檢測元件10方向都成為一致，則由所述動(dòng)吸嘴3再次吸提，并隨著所述轉(zhuǎn)盤2旋轉(zhuǎn)至下一操作模塊，檢測臺15上方并被以正確姿勢釋放，接受檢測。所述檢測臺15的結(jié)構(gòu)與上述定位器5相似，也通過設(shè)置多個(gè)定位槽來固定所述待檢測元件10的管腳后，再接受周邊各儀器檢測，檢測過程為現(xiàn)有技術(shù)所熟知，在此不再贅述。經(jīng)過檢測后，不合格元件被直接從檢測臺15上排出，例如使用吹氣方式吹離檢測臺15，或所述檢測臺15的臺面上設(shè)有一活動(dòng)門，遇到檢測不合格產(chǎn)品則打開，使其掉落離開;而合格元件則再次由所述動(dòng)吸嘴3吸附提取并跟隨所述轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動(dòng)至下一操作模塊，即衛(wèi)星工作臺6。
[0036]圖5是本實(shí)用新型的衛(wèi)星工作臺6的結(jié)構(gòu)示意圖。所述衛(wèi)星工作臺6上設(shè)置有多個(gè)完全相同的定位塊62，在相同半徑處沿周向均勻設(shè)置，且其位置關(guān)于所述衛(wèi)星工作臺6中心旋轉(zhuǎn)對稱，每個(gè)定位塊62的結(jié)構(gòu)類似于所述定位器5的結(jié)構(gòu)，其上相同位置相同角度都設(shè)有匹配待檢測元件管腳數(shù)目的至少一對定位槽，用于完全容納所述待檢測元件的管腳;每個(gè)定位塊62附近都設(shè)有相應(yīng)的操作裝置。在工作時(shí)，所述衛(wèi)星工作臺6接受一第三步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)，沿著順時(shí)針或逆時(shí)針方向步進(jìn)旋轉(zhuǎn)，每步依次將一個(gè)定位塊送入下一定位塊的位置。例如在本實(shí)施例的所述裝置工作時(shí)，所述動(dòng)吸嘴3在轉(zhuǎn)動(dòng)中暫時(shí)停留于一定位塊62的停留位置上方，在所述動(dòng)吸嘴3停留的時(shí)間內(nèi)，所述衛(wèi)星工作臺6將一定位塊62送入所述動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31正下方，所述動(dòng)吸嘴3釋放所吸提的待檢測元件10至其下方定位塊62上的相應(yīng)位置處，所述定位塊62則在所述動(dòng)吸嘴3開始吸氣操作前即已旋轉(zhuǎn)離開。
[0037]本實(shí)施例中設(shè)置三個(gè)完全相同的定位塊62，沿著所述衛(wèi)星工作臺6的平臺中心一定半徑距離處周向均勻分布設(shè)置;每個(gè)定位塊62的結(jié)構(gòu)類似于所述定位器5的結(jié)構(gòu)，即類似于圖4所示的結(jié)構(gòu)，其包括多個(gè)第二定位槽61，當(dāng)所述待檢測元件10被放置于所述定位塊62上的時(shí)候，其管腳伸進(jìn)所述第二定位槽61的相應(yīng)凹槽內(nèi)部。所述第二定位槽61的具體數(shù)目和位置根據(jù)待檢測元件10管腳的數(shù)目和位置對應(yīng)設(shè)置，且其凹槽寬度B大于所述待檢測元件10管腳的寬度b，凹槽深度大于所述管腳的長度，以保證可以完全容納各管腳，且管腳在所述凹槽內(nèi)部時(shí)，不會(huì)觸碰到凹槽底部，這就保證了管腳不會(huì)受到擠壓變形，因此不會(huì)造成管腳的任何損傷。
[0038]在進(jìn)行工作時(shí)，所述動(dòng)吸嘴3將所述待檢測元件10(合格產(chǎn)品)重新從所述檢測臺15上吸提起，并跟隨所述轉(zhuǎn)盤2轉(zhuǎn)動(dòng)至轉(zhuǎn)盤2的下一個(gè)停留位置釋放并作短暫停留，所述待檢測元件10落于其下方正對的位于所述衛(wèi)星工作臺6上正停留于該停留位置的某一定位塊62上，所述待檢測元件10的管腳伸進(jìn)所述定位塊62上的所述第二定位槽61內(nèi)部，從而可以保持正確的位姿，并保持穩(wěn)定的狀態(tài)。所述衛(wèi)星工作臺6在所述第三步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)動(dòng)下，沿著順時(shí)針或逆時(shí)針方向步進(jìn)旋轉(zhuǎn)并每步短暫停留，而其上的所述待檢測元件10在轉(zhuǎn)動(dòng)到不同定位塊停留位置時(shí)，分別接受該定位塊位置附近所設(shè)置的相應(yīng)裝置的操作，例如，在本實(shí)施例中，因?yàn)檠刂鲂l(wèi)星工作臺6表面均勻設(shè)置了三個(gè)定位塊62，故沿著順時(shí)針方向，所述三個(gè)定位塊62的三個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)停留位置分別設(shè)置為接受位置，打印位置和提取位置，各定位塊轉(zhuǎn)動(dòng)停留位置附近分別設(shè)置有相應(yīng)的操作設(shè)備，例如在打印位置附近設(shè)置至少一激光發(fā)射頭66，發(fā)射激光用于在所述檢測模塊10的相應(yīng)打印平面打印所需標(biāo)號文字;而所述接受位置和提取位置則分別對應(yīng)于轉(zhuǎn)盤2上的動(dòng)吸嘴3轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)所停留的兩個(gè)相鄰位置，用于使所述動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31分別在所述位置釋放和提取待檢測元件10。
[0039]本實(shí)施例中，對應(yīng)所述三個(gè)定位塊62，相應(yīng)設(shè)有三個(gè)轉(zhuǎn)動(dòng)停留位置，但在其他實(shí)施例中，所述衛(wèi)星工作臺上定位塊62的數(shù)目和相應(yīng)停留位置完全可以根據(jù)實(shí)際功能操作需要設(shè)置，只需要一一對應(yīng)并沿周向均勻分布即可。
[0040]所述衛(wèi)星工作臺6的旋轉(zhuǎn)速度與所述轉(zhuǎn)盤2的旋轉(zhuǎn)速度設(shè)置為相匹配，具體在本實(shí)施例中，即設(shè)置為所述轉(zhuǎn)盤2旋轉(zhuǎn)一步的時(shí)間等于所述衛(wèi)星工作臺6旋轉(zhuǎn)兩步的時(shí)間，具體為:所述動(dòng)吸嘴3在對應(yīng)于衛(wèi)星工作臺6的釋放位置釋放所提待檢測元件10后，繼續(xù)步進(jìn)旋轉(zhuǎn)至下一位置，即可從新位置提取已經(jīng)跟隨所述衛(wèi)星工作臺旋轉(zhuǎn)兩步，且已經(jīng)完成打印工作的所述待檢測元件10。換而言之，所述待檢測元件10，在衛(wèi)星工作臺的釋放位置被所述動(dòng)吸嘴3釋放后，跟隨所述衛(wèi)星工作臺6旋轉(zhuǎn)一步，至打印位置，接受激光打印文字操作后，跟隨所述衛(wèi)星工作臺6再旋轉(zhuǎn)一步，到達(dá)第三個(gè)位置，即提取位置，同時(shí)，所述轉(zhuǎn)盤2上的動(dòng)吸嘴3也旋轉(zhuǎn)至其下一位置，即位于所述衛(wèi)星工作臺6的提取位置上方，故所述待檢測元件10被再次送入動(dòng)吸嘴3的吸氣提取口 31下方，通過吸氣被再次提取，隨著第一步進(jìn)電機(jī)的旋轉(zhuǎn)被送至排塑口 9。
[0041]值得注意的是，此時(shí)所述待檢測元件10的角度姿勢已經(jīng)因?yàn)樗鲂l(wèi)星工作臺6的釋放和提取操作發(fā)生在不同位置而被改變，所述待檢測元件10的本體已經(jīng)未必還是吻合平行于該處的半徑方向。若下一步操作需要所述待檢測元件10的某個(gè)確定位姿，則可以在所述轉(zhuǎn)盤2外圍，在所述衛(wèi)星工作臺6后，排塑口9前，增加一第二定位器，并連同所有的操作模塊，重新沿著圓盤周向均勻排列。所述第二定位器用于旋轉(zhuǎn)所述待檢測元件10為正確位姿。但在本實(shí)施例中，因?yàn)楹罄m(xù)操作不需要關(guān)心所述待檢測元件10的位姿，故省略了所述第二定位器。
[0042]所述待檢測元件10在被送入排塑口9后，離開本檢測裝置，進(jìn)入下一工序。這樣，整個(gè)測試打印過程就得以完成。
[0043]在整個(gè)檢測打印過程中，所述動(dòng)吸嘴3在跟隨所述轉(zhuǎn)盤2每步旋轉(zhuǎn)至一新位置，皆先停止吸氣并短暫等待后再次吸氣離開，即每步皆先釋放所提的待檢測元件10至相應(yīng)位置接受相應(yīng)操作后，再吸氣提取所述待檢測元件10，繼續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)。
[0044]本實(shí)用新型的實(shí)施例中，通過在所述定吸嘴4附近壁面上增加用于過盈配合待檢測元件10的注塑凸口 101的凹槽41，和在所述定位器上增加與所述待檢測元件10的管腳數(shù)目相對應(yīng)的用于容納所述管腳的第一定位槽51，以及在所述衛(wèi)星工作臺6的定位塊62上增加相應(yīng)數(shù)目的第二定位槽61，使得所述待檢測元件10在操作的全程保持正確的位姿和穩(wěn)定狀態(tài)，這就大大減少了故障率，增加了檢測的效率，使用同一臺裝置即可實(shí)現(xiàn)對S0D23-3，S0D123，S0D323三種封裝的測試分選，從而在保證檢測效果的基礎(chǔ)上，降低了成本。
[0045]本實(shí)用新型的應(yīng)用不限于上述的舉例，對本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本實(shí)用新型所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種半導(dǎo)體測試分選裝置，包括一震動(dòng)盤，通過導(dǎo)軌連接定吸嘴，所述定吸嘴用于放置待檢測元件，在一轉(zhuǎn)盤上設(shè)置有一動(dòng)吸嘴，用于吸取所述待檢測元件;所述轉(zhuǎn)盤周邊對應(yīng)所述動(dòng)吸嘴的工作半徑上設(shè)置有多個(gè)操作模塊;其特征在于，所述定吸嘴正對待檢測元件的豎直壁面上開有一凹槽，用于過盈配合所述待檢測元件的注塑凸口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，在所述凹槽的底部設(shè)置有接觸傳感器，以及所述操作模塊包括一定位器，設(shè)置于所述定吸嘴與其他操作模塊之間，用于調(diào)整所述待檢測元件的朝向。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述定位器上設(shè)有匹配待檢測元件管腳數(shù)目的至少一對定位槽，用于容納所述待檢測元件的管腳。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述操作模塊還包括一用于檢測所述待檢測元件的檢測臺，在所述檢測臺放置待檢測元件的臺面上設(shè)有一活動(dòng)門，用于在待檢測元件不合格時(shí)打開所述活動(dòng)門。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述操作模塊還包括一衛(wèi)星工作臺，所述衛(wèi)星工作臺上設(shè)置有數(shù)個(gè)定位塊，所述定位塊沿衛(wèi)星工作臺周向分布，用于在所述待檢測元件上打印圖文。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，每一所述定位塊上設(shè)有匹配待檢測元件管腳數(shù)目的至少一對定位槽，用于完全容納所述待檢測元件的管腳。7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述定位塊設(shè)置為三個(gè)，并在所述衛(wèi)星工作臺上均勻分布，對應(yīng)其轉(zhuǎn)動(dòng)停留位置分別設(shè)置為接受位置、打印位置和提取位置;所述打印位置對應(yīng)設(shè)置用于打印標(biāo)號的至少一激光發(fā)射頭。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述衛(wèi)星工作臺的旋轉(zhuǎn)速度與所述轉(zhuǎn)盤的旋轉(zhuǎn)速度設(shè)置為相匹配，使得所述轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)一步的時(shí)間等于所述衛(wèi)星工作臺旋轉(zhuǎn)兩步的時(shí)間。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體測試分選裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌外還設(shè)置有至少一組吹氣孔，用于推動(dòng)待檢測元件向所述定吸嘴方向移動(dòng)。
【文檔編號】B07C5/344GK205684366SQ201620552958
【公開日】2016年11月16日
【申請日】2016年6月8日 公開號201620552958.6, CN 201620552958, CN 205684366 U, CN 205684366U, CN-U-205684366, CN201620552958, CN201620552958.6, CN205684366 U, CN205684366U
【發(fā)明人】楊全忠, 陳祺, 李淑平
【申請人】佛山市藍(lán)箭電子股份有限公司