技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種檢測發(fā)光二極管短路的方法及其裝置。該檢測裝置，包括一第一節(jié)點(diǎn)、一電流源、一電壓產(chǎn)生電路、一第一比較電路。第一節(jié)點(diǎn)與一第一外部電路耦接，其中，第一外部電路包括有多個(gè)發(fā)光二極管相串接。電流源產(chǎn)生一電流至第一節(jié)點(diǎn)。電壓產(chǎn)生電路通過一第二節(jié)點(diǎn)，以輸出一節(jié)點(diǎn)電壓至第一外部電路。第一比較電路具有二個(gè)輸入端分別耦接第一節(jié)點(diǎn)以及一參考電壓，第一比較電路比較二個(gè)輸入端的電壓以產(chǎn)生一第一比較信號(hào)。其中，第一比較信號(hào)用以指示多個(gè)發(fā)光二極管中是否有短路情形。

技術(shù)研發(fā)人員：林書民
受保護(hù)的技術(shù)使用者：瑞昱半導(dǎo)體股份有限公司
文檔號(hào)碼：201310108353
技術(shù)研發(fā)日：2013.03.29
技術(shù)公布日：2017.02.08