檢具的制作方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種檢具，包括檢具臺，檢具臺為長方體結(jié)構(gòu)，所述檢具臺上設(shè)有與其中一個長邊平行的第一凹槽，與長邊相鄰的兩個短邊上均設(shè)有與短邊平行的第二凹槽，在第一凹槽和第二凹槽之間設(shè)有檢查塊，所述檢查塊與檢具臺通過螺栓固定連接，檢查塊上設(shè)有若干個檢查孔。本實用新型很方便就能檢查平板工件上兩個圓柱體之間的軸距是否符合公差要求，提高檢測效率。
【專利說明】
檢具
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種檢具，尤其是一種檢查平板上兩個圓柱體形凸起的軸距的檢具。
【背景技術(shù)】
[0002]在平板上具有兩個以上的圓柱體是目前常用的工件形狀。傳統(tǒng)檢查兩個圓柱體之間的軸距時，采用游標(biāo)卡尺或者千分尺卡在兩個圓柱體上測量，還必須要去除兩個圓柱體的半徑，如果圓柱體的尺寸有誤差，則測量不準(zhǔn)確，檢測效率也差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型的目的在于提供一種很方便就能檢查平板工件上兩個圓柱體之間的軸距是否符合公差要求，提高檢測效率的檢具。
[0004]為了達到上述目的，本實用新型的技術(shù)方案是:一種檢具，包括檢具臺，檢具臺為長方體結(jié)構(gòu)，所述檢具臺上設(shè)有與其中一個長邊平行的第一凹槽，與長邊相鄰的兩個短邊上均設(shè)有與短邊平行的第二凹槽，在第一凹槽和第二凹槽之間設(shè)有檢查塊，所述檢查塊與檢具臺通過螺栓固定連接，檢查塊上設(shè)有若干個檢查孔。
[0005]采用上述結(jié)構(gòu)后，本實用新型在使用時，只要將被檢查的工件上設(shè)置與第一凹槽和第二凹槽形狀位置相同的凸臺，將凸臺卡裝在第一凹槽和第二凹槽內(nèi)，然后就可以對工件進行限位。在將工件上的兩個圓柱體試著伸入檢查塊的檢查孔內(nèi)，如果可以伸入，則工件上的圓柱體軸距尺寸公差在規(guī)定范圍內(nèi)；如果不能伸入，則工件上的圓柱體軸距尺寸公差不能滿足公差要求，必須重新加工。同時在不同規(guī)格形狀的工件，可以設(shè)置不同檢查孔位置的檢查塊，用來擴大檢具的使用范圍。
【附圖說明】
[000?]圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)不意圖；
[0007]圖2是圖1的仰視圖。
【具體實施方式】
[0008]以下結(jié)合附圖給出的實施例對本實用新型作進一步詳細(xì)的說明。
[0009]參見圖1所示，一種檢具，包括檢具臺I，檢具臺I為長方體結(jié)構(gòu)，所述檢具臺I上設(shè)有與其中一個長邊2平行的第一凹槽3，與長邊2相鄰的兩個短邊4上均設(shè)有與短邊4平行的第二凹槽5，在第一凹槽3和第二凹槽5之間設(shè)有檢查塊6，所述檢查塊6與檢具臺I通過螺栓7固定連接，檢查塊6上設(shè)有若干個檢查孔8。
[0010]參見圖1所示，本實用新型在使用時，只要將被檢查的工件上設(shè)置與第一凹槽3和第二凹槽形5狀位置相同的凸臺，將凸臺卡裝在第一凹槽3和第二凹槽5內(nèi)，然后就可以對工件進行限位。在將工件上的兩個圓柱體試著伸入檢查塊6的檢查孔8內(nèi)，如果可以伸入，則工件上的圓柱體軸距尺寸公差在規(guī)定范圍內(nèi)；如果不能伸入，則工件上的圓柱體軸距尺寸公差不能滿足公差要求，必須重新加工。同時在不同規(guī)格形狀的工件，可以設(shè)置不同檢查孔8位置的檢查塊6，用來擴大檢具的使用范圍。
[0011]以上所述的僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型創(chuàng)造構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種檢具，其特征在于:包括檢具臺(I)，檢具臺(I)為長方體結(jié)構(gòu)，所述檢具臺(I)上設(shè)有與其中一個長邊(2)平行的第一凹槽(3)，與長邊(2)相鄰的兩個短邊(4)上均設(shè)有與短邊(4)平行的第二凹槽(5)，在第一凹槽(3)和第二凹槽(5)之間設(shè)有檢查塊(6)，所述檢查塊(6)與檢具臺(I)通過螺栓(7)固定連接，檢查塊(6)上設(shè)有若干個檢查孔(8)。
【文檔編號】G01B5/14GK205561723SQ201620135816
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年2月23日
【發(fā)明人】章華亮
【申請人】昆山市杰爾電子科技股份有限公司