本發(fā)明涉及一種檢具，尤其是涉及一種標牌檢具。

背景技術：

目前，標牌高度檢測所采用的方法為用刻度尺測量，這樣的檢測方法存在著工作效率低、誤差大的不足；少部分會采用檢具進行檢測，現(xiàn)有的檢具普遍只適用于一種標牌的檢測，縮小了檢具的適用范圍，進一步，增加了生產(chǎn)成本。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明針對上述現(xiàn)有技術存在的問題、克服現(xiàn)有檢測標牌高度過程中供銷效率低、誤差大、檢具適用范圍小的不足，提供一種結構簡單、操作方便、誤差小的標牌檢具。

本發(fā)明解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種標牌檢具，包括底板、支柱、擋塊一、擋塊二、固定塊和墊塊，其特征在于：所述的支柱設置底板上，所述的擋塊一、擋塊二分別在支柱上，擋塊一的高度小于擋塊二的高度，兩者高度差為標牌高度的允許誤差值，所述的固定塊設置在支柱上，固定塊分別將擋塊一、擋塊二牢固設置在支柱上，所述的墊塊設置在支柱上并且位于擋塊下方，通過增添墊塊，可調節(jié)擋塊一、擋塊二的高度，從而擴大了標牌檢具的適用范圍。所述的擋塊一的高度小于擋塊二的高度。所述的擋塊一、擋塊二，可通過墊塊調節(jié)高度。

進一步，所述的墊塊，其厚度為0.5mm—2.5mm。

有益效果：本發(fā)明采用將前后擋塊的高度差設置為標牌的允許誤差值，可簡便的檢測標牌的高度是否達到要求，結構簡單、操作方便。同時，通過具有精準厚度的墊塊可方便調節(jié)擋塊的高度，擴大了檢具適用范圍，避免了使用多臺檢具，從而降低了使用成本，經(jīng)濟效益良好。

附圖說明

附圖1為本發(fā)明的結構示意圖。

附圖2為本發(fā)明的左視圖。

附圖3為本發(fā)明的俯視圖。

附圖中：1、底板；2、支柱；3、擋塊一；4、擋塊二；5、固定塊；6、墊塊。

具體實施方式

以下將結合附圖和實施例，對本發(fā)明進行較為詳細的說明。

一種標牌檢具，包括底板1、支柱2、擋塊一3、擋塊二4、固定塊5和墊塊6，其特征在于：所述的支柱2設置底板1上，所述的擋塊一3、擋塊二4分別在支柱2上，擋塊一3的高度小于擋塊二4的高度，所述的固定塊5設置在支柱2上，固定塊5分別將擋塊一3、擋塊二4牢固設置在支柱2上，所述的墊塊6設置在支柱2上并且位于擋塊一3和擋塊二4的下方，通過增添墊塊6，可調節(jié)擋塊一3、擋塊二4的高度，提高了檢具的適用范圍。本發(fā)明操作簡單，實施方便，從而可適用于對不同高度、長度的標牌的檢測，降低了使用成本。

以上的實施例僅僅是對本發(fā)明的優(yōu)選實施方式進行描述，并非對本發(fā)明的范圍進行限定，在不脫離本發(fā)明設計精神的前提下，本領域普通工程技術人員對本發(fā)明的技術方案做出的各種變形和改進，均應落入本發(fā)明的權利要求書確定的保護范圍內。

本發(fā)明未涉及部分均與現(xiàn)有技術相同或可采用現(xiàn)有技術加以實現(xiàn)。