專利名稱：具有角度的滑道式存儲卡測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型為一種存儲卡測試讀寫裝置的技術(shù)領(lǐng)域，尤其指一 種釆用傾斜式滑道的設(shè)計，配合相關(guān)的機械結(jié)構(gòu)，讓測試裝置能進 行存儲卡的自動化測試讀寫作業(yè)。
背景技術(shù)：
一般快閃式存儲卡(例如SD卡、mini SD卡、MMC卡...等)在
廠商出貨前，須至少通過二道的測試作業(yè)。第一道為開卡測試，確 認存儲卡是否為良品。第二道為讀寫測試，測試存儲卡是否能正常 作業(yè)。習(xí)用的測試作業(yè)包括開卡測試與讀寫測試皆是采用手動模式， 測試機器為多臺與計算機聯(lián)機的治具及設(shè)備。測試流程依序為以 人工確認測試物數(shù)量、設(shè)定測試參數(shù)、連接測試治具、將測試物放 置于測試治具處、進行開卡(或讀寫測試)、以及依測試結(jié)果區(qū)分 良品與不良品。上述每道流程皆為人工手動模式，故須大量人員操 作，同時也須大量測試治具及設(shè)備。因此以人工測試作業(yè)的工廠， 常見的情形工廠內(nèi)具有大量的測試設(shè)備及大量的測試人員。
基于上述原因，部份廠商即開始研發(fā)自動化的測試機臺。自動 化測試機臺通常包括一供料裝置，負責(zé)容納待測存儲卡的料盤。一 取放裝置，負責(zé)取放待測/完測的存儲卡。 一測試裝置，負責(zé)測試存
儲卡。多組載送裝置，負責(zé)于供料裝置與測試裝置間載送待測/完測 的存儲卡。 一收料裝置負責(zé)容納完測的存儲卡的料盤。此類的自動 化測試機臺一次能測試的存儲卡數(shù)目愈多，機器的體積就愈大。再 者該自動化測試機臺須具有多組載送裝置負責(zé)將存儲卡由供料裝置 移出、送至測試裝置處，或者將測試完成的存儲卡由測試裝置再送 回收料裝置處，如此繁復(fù)的操作流程，須配合數(shù)目眾多的機器、傳 感器及復(fù)雜的電控系統(tǒng)，使得自動化測試機臺的造價相當(dāng)昂貴。
因此本創(chuàng)作人即思考如何設(shè)計一組結(jié)構(gòu)簡單、節(jié)省能源又確實 穩(wěn)定的測試裝置，主要負責(zé)進行存儲卡的測試讀寫作業(yè)。將存儲卡 移動置至測試區(qū)進行測試的動作，及測試后良品及不良品的退出動 作皆不以繁復(fù)的機構(gòu)輔助，如此能以較簡單的機械設(shè)備完成存儲卡 的測試讀寫。

實用新型內(nèi)容
本實用新型的主要目的是提供一種具有角度的滑道式存儲卡測 試裝置，主要是設(shè)計一組測試裝置能以自動化的機械系統(tǒng)，負責(zé)進 行存儲卡的測試作業(yè)。
本實用新型的次要目的是提供一種體積小、成本低的測試裝置。
為達上述的目的，本實用新型主要包括一滑道模塊、 一固定模 塊、 一閘門模塊以及一探針模塊。該滑道模塊包括一模板單元以及 一機架，該模板呈一傾斜角度設(shè)置于機架處，該模板單元的上表面
具有多個滑道，每個滑道皆可供待測存儲卡滑動。該固定模塊包括 第一壓板機構(gòu)及第二壓板機構(gòu)，該第一、第二壓板機構(gòu)采用緊鄰方 式橫向跨設(shè)于前述模板單元處，能適時將滑道上不同位置的待測存 儲卡暫時固定于滑道內(nèi)。該探針模塊設(shè)置于前述滑道平臺的下方位 置，具有多組探針單元，該探針單元能適時上升與待測存儲卡相接 觸，進行相關(guān)的測試作業(yè)。該閘門模塊也采用橫向設(shè)置于前述模板 單元處，鄰近前述固定模塊，能適時作動使模板單元的多個滑道開 啟或被關(guān)閉。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該模板單元的 多個滑道的進料區(qū)段具有一料管機構(gòu)。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該模板單元的 多個滑道的進料區(qū)段具有一第一送片機構(gòu)。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中第一送片機構(gòu) 包括有一馬達、 一主動輪軸、 一從動輪軸，該主動輪軸具有多個滾 輪，該模板單元的每一滑道的進料區(qū)段內(nèi)具有一導(dǎo)引孔，該主動輪 軸與從動輪軸采用分別設(shè)置于模板單元的上方及下方，該主動輪軸 的滾輪位于該滑道的導(dǎo)引孔內(nèi)。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該模板單元的 多個滑道的中段區(qū)域具有一第二送片機構(gòu)。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該模板單元的 多個滑道的后段區(qū)域具有多個阻擋電磁閥，讓阻擋電磁閥設(shè)置于模 板單元底面，每一個阻擋電磁閥對應(yīng)著一滑道，該阻擋電磁閥具有
一伸縮頂針，當(dāng)阻擋電磁闊作動時該伸縮頂針會縮回至滑道下方。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該第一壓板機 構(gòu)包括多個施壓單元及一升降單元，該升降單元能適時該多個施壓 單元產(chǎn)生同步的上升或下降動作。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該第二壓板機 構(gòu)包括多個施壓單元及一升降單元，該升降單元能適時讓多個施壓 單元產(chǎn)生同步的上升或下降動作。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該探針模塊包 括一探針升降單元及多組探針單元，該探針單元是由多根彈簧探針 所構(gòu)成，該彈簧探針的數(shù)目及分布位置則依所待測的存儲卡規(guī)格而 定，另外于每一滑道內(nèi)具有一探針開口，該探針開口的位置是對應(yīng) 著前述探針單元的所在之處，該探針升降單元能適時帶動多組探針 單元產(chǎn)生同步的升降動作。
所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其中該滑道模塊的 模板單元為可調(diào)整角度方式，該滑道模塊包括一機架、 一模板單元 及至少一可調(diào)式支撐桿組，該模板單元的一側(cè)邊是樞接于機架處， 該模板單元相對于樞接處的另一側(cè)邊則以該可調(diào)整式支撐桿結(jié)合機 架的另一側(cè)邊，使該模板單元傾斜一角度，欲調(diào)整角度時，轉(zhuǎn)動該 可調(diào)整式支撐桿使其伸長或縮短，即可改變模板單元的傾斜角度。
本實用新型的有益效果主要是設(shè)計一組測試裝置能以自動化 的機械系統(tǒng)，負責(zé)進行存儲卡的測試作業(yè)。利用一組具有角度的滑 道，讓存儲卡能自動滑至測試區(qū)，待測試完成后再滑出滑道而被收
集，如此減少了負責(zé)移載存儲卡的機器數(shù)量，降低了構(gòu)件數(shù)量及復(fù) 雜度。另外本實用新型連續(xù)的測試作業(yè)，與習(xí)用人工操作的測試作 業(yè)或與市售自動測試機臺相較，使測試效率大幅提升且成本大幅降 低。本實用新型的體積小、成本低，該測試裝置一次能進行至少8 個存儲卡且連續(xù)性的測試作業(yè)，讓存儲卡測試效率有效提升。另外 整體的體積小，在有限的工廠空間內(nèi)所能放置更多數(shù)量的測試裝置， 使得測試效率相對提升。另外機器造價較低，為傳統(tǒng)自動化測試裝 置的十分之一或更少，對測試廠商設(shè)備投資的資金壓力相對減少， 因此更具市場競爭力。


圖1為本實用新型的立體圖2為本實用新型的側(cè)視圖3為本實用新型模板單元的縱向剖面圖； 圖4為本實用新型固定模塊的立體圖5為本實用新型的壓板模塊、閘門模塊及探針模塊的局部剖 面放大示意圖6為本實用新型的僅閘門模塊與模板單元之間的結(jié)構(gòu)平面示 意圖7為本實用新型的探針模塊的立體圖。 主要元件符號說明 A測試裝置1滑道模塊
11模板單元12機架
13滑道131導(dǎo)引孔
132阻擋孔133探針開口
14可調(diào)式支撐桿15料管機構(gòu)
16第一送片機構(gòu)161馬達
162主動輪軸163從動輪軸
164滾輪17第二送片機構(gòu)
18阻擋電磁閥181伸縮頂針
19輔助導(dǎo)輪機構(gòu)191馬達
192輪軸193輔助輪
2固定模塊
21第一壓板機構(gòu)211施壓單元
2111緩沖頂柱2112彈簧
2113調(diào)整螺絲212升降單元
2121壓板2122作動輪
2123機座2124突塊
2125凸輪
22第二壓板機構(gòu)
221施壓單元222升降單元
2221壓板2222作動輪
2224馬達2225時規(guī)皮帶 3 閘門模塊
31閘門單元
311門板
312缺口
32動力單元
4探針模塊
41探針單元
411彈簧探針
42探針升降單元
421平板
422作動輪
423機座
424馬達
具體實施方式
為使熟悉該項技藝人士了解本實用新型的目的、特征及功效，茲 通過下述具體實施例，并配合所附之圖式，對本實用新型詳加說明 如后。
如圖l、圖2所示，為本實用新型的立體圖及側(cè)視圖。本實用新 型具有角度的滑道式存儲卡測試裝置A包括有一滑道模塊1、 一固 定模塊2、 一閘門模塊3及一探針模塊4，該滑道模塊l包括一模板 單元11以及一機架12，該模板單元11是呈一傾斜角度設(shè)置于機架 12處，該模板單元11的上表面具有多個滑道13。本實施例是利用 滑道13具有斜度的特性，使待測試存儲卡放置于滑道13處時即自 動能向下滑行。該固定模塊2包括一第一壓板機構(gòu)21及第二壓板機 構(gòu)22，該第一、第二壓板機構(gòu)21、 22采用緊鄰方式橫向設(shè)置前述 滑道模塊1的模板單元11處。該第一壓板機構(gòu)21具有多組施壓單
元211，而第二壓板機構(gòu)也具有多組施壓單元221。第一壓板機構(gòu) 21用以暫時固定著待測試存儲卡，以供該探針模塊4與待測試存儲 卡接觸而進行測試作業(yè)。該第二壓板機構(gòu)22雖然也是暫時固定另一 個待測試存儲卡，但是目的是在避免閘門模塊3開啟時，未測試的 存儲卡滑出。該閘門模塊3，設(shè)置于前述模板單元11的上表面，鄰 緊著前述固定模塊2的第一壓板機構(gòu)21的側(cè)邊，該閘門模塊3具有 一閘門單元31，該閘門單元31能適當(dāng)產(chǎn)生橫向的位移，使得模板 單元11的多個滑道13被關(guān)閉或開啟，另外該閘門機構(gòu)3有作為待 測存儲卡的定位功能。該探針模塊4設(shè)置于前述模板單元11的下方 位置，位置對應(yīng)于第一壓板機構(gòu)21處，該探針模塊4具有多組探針 單元41，該探針單元41能適時上升與待測存儲卡相接觸。如此本 實用新型的測試裝置A得順利進行存儲卡的測試工作。 以下就各構(gòu)件的詳細結(jié)構(gòu)作一說明-
該滑道模塊1主要目的使待存儲卡自動滑動至測試區(qū)，待測試 完成后自動再離開。為了使待測存儲卡能自動滑行，本實用新型則 采用斜傾斜方式設(shè)計。該滑道模塊1主要包括一模板單元11及一機 架12，該模板單元11是呈一傾斜角度設(shè)置于機架12處，該模板單 元11的上表面具有多個滑道13。該模板單元11的傾斜角度可為固 定式或可調(diào)整式。在本實施例中則為一可調(diào)整式，因此該滑道模塊 1內(nèi)可進一步包括至少為一組的可調(diào)式支撐桿組14。此時，該模板 單元11 一側(cè)邊是樞接于機架12處，該模板單元11相對于樞接處的 另一側(cè)邊則以該可調(diào)整式支撐桿組14結(jié)合機架12的另一側(cè)邊，使
該模板單元11傾斜一角度(如圖2)。欲調(diào)整角度時，轉(zhuǎn)動該可調(diào)整 式支撐桿組14使其伸長或縮短，即可改變模板單元11的傾斜角度。 上述結(jié)構(gòu)為本實用新型滑道模塊1的基本架構(gòu)，但為了使該滑 道模塊1在使用上達成自動化及待測存儲卡滑動時更為順暢穩(wěn)定，
該滑道模塊1另包括有多個料管機構(gòu)15、第一送片機構(gòu)16、第二送 片機構(gòu)17、多個阻擋電磁閥18、以及一輔助導(dǎo)輪機構(gòu)19。
將待測存儲卡放置于模板單元ll的滑道13內(nèi)的方式有很多種， 例如機械手臂的自動化方式、輸送帶的傳送...等。但在本實施例則 采用最簡單手動的方式，即于每一個滑道13的前段區(qū)域(即進料區(qū) 域)具有一料管機構(gòu)15，該料管機構(gòu)15能供一可插拔的存儲卡多片 式堆棧料管插置。該料管機構(gòu)15底部與滑道13底面之間具有一空 隙，使料管機構(gòu)15內(nèi)堆棧的待測存儲卡經(jīng)該空隙依序滑入滑道13 內(nèi)。為了使待測存儲卡能更順利進入滑道13內(nèi)，本實用新型另設(shè)計 一第一送片機構(gòu)16來輔助待測存儲卡移動。如圖l、圖3所示，該 第一送片機構(gòu)16設(shè)置于模板單元11處，緊鄰前述料管機構(gòu)15處， 目的使最低層的待測存儲卡順利由料管機構(gòu)15內(nèi)被帶出。該第一送 片機構(gòu)16包括有一馬達161、 一主動輪軸162、 一從動輪軸163， 該馬達161帶動主動輪軸162轉(zhuǎn)動，該主動輪軸162的軸上具有多 個滾輪164，該多個滾輪164為間隔設(shè)置。該模板單元ll的每一個 滑道13內(nèi)皆具有一導(dǎo)引孔131，該導(dǎo)引孔131延伸至料管機構(gòu)15 下方位置且寛度較窄。該主動輪軸162的每一個滾輪164皆位于相 對應(yīng)的導(dǎo)引孔131內(nèi)。該主動輪軸162與從動輪軸163分別設(shè)置于
模板單元11的下方及上方位置。當(dāng)料管機構(gòu)15內(nèi)最底層的待測存
儲卡落入滑道13內(nèi)時，因滑道13有斜度會自然下滑而離開料管機 構(gòu)15。本實施例為增加平穩(wěn)性，則由滾輪164與待測存儲卡下面接 觸，從動輪軸163由上方輔助導(dǎo)引順利將待測存儲卡帶出料管機構(gòu) 15底部并送入滑道13內(nèi)。
該模板單元11接近固定模塊2的附近另具有一第二送片機構(gòu) 17。該第二送片機構(gòu)17的結(jié)構(gòu)完全與前述第一送片機構(gòu)16相同， 故不再就結(jié)構(gòu)作一詳細描述。該第二送片機構(gòu)17的目的是為使排列 于滑道13內(nèi)的待測存儲卡能確實進入固定模塊2內(nèi)的區(qū)域，以進行 后續(xù)的測試作業(yè)。
該多個阻擋電磁閥18設(shè)置于模板單元11的最末段區(qū)域的底面， 接近滑道13的出口處。該阻擋電磁閥18具有一伸縮頂針181，每 一阻擋電磁閥18位于一滑道13底部的相對處，此處的每一滑道13 內(nèi)則具有一阻擋孔132。最初狀態(tài)時該伸縮頂針181是伸出于滑道 13內(nèi)，當(dāng)阻擋電磁閥18作動時(通電)，該伸縮頂針181會經(jīng)由阻擋 孔132處縮回滑道13下方，用以排放測試完成的存儲卡滑出滑道 13處。
該輔助導(dǎo)輪機構(gòu)19設(shè)置于模板單元后段局域的頂面，包括有一 馬達191、 一輪軸192及多個輔助輪193，該多個輔助輪193采用等 間距分布于輪軸192處，每一輔助輪193對應(yīng)一滑道13。該馬達191 則負責(zé)帶動輪軸192轉(zhuǎn)動。該輔助導(dǎo)輪機構(gòu)19是幫助完測的存儲卡 進入預(yù)備退出滑道13處。
如圖1、圖2、圖4所示，該固定模塊2包括一第一壓板機構(gòu) 21及一第二壓板機構(gòu)22，該第一壓板機構(gòu)21、第二壓板機構(gòu)22的 結(jié)構(gòu)大致相同，本實施例先就第一壓板機構(gòu)21作說明。該第一壓板 機構(gòu)21包括多組施壓單元211及一升降單元212，每一個施壓單元 211位于一滑道13的上方位置。該升降單元212則負責(zé)將每一施壓 單元211同步帶動下降，而使施壓單元211壓置于待測存儲卡頂部， 以暫時將存儲卡固定于滑道12處。該施壓單元211及升降單元212 可為各種方式設(shè)計，本實施例僅各提供一結(jié)構(gòu)作說明，但并不因此 限制本實用新型的范圍。該升降單元212包括一壓板2121、 一作動 輪2122、以及一機座2123，該機座2123處設(shè)有滑軌使得該壓板2121 能平穩(wěn)地上升或下降。該壓板2121是供前述多個施壓單元211設(shè)置 之處，其上另具有多個突塊2124。該作動輪2122可接受外部的動 力使之轉(zhuǎn)動，其輪軸上設(shè)有多個凸輪2125。該凸輪2125并與前述 突塊2124相接觸。當(dāng)作動輪2122轉(zhuǎn)動時，利用凸輪2125與突塊 2124的關(guān)系，即能帶動壓板2121上升或下條。如圖5所示，該施 壓單元211則包括有一緩沖頂柱2111、 一彈簧2112以及一調(diào)整螺 絲2113，該緩沖頂柱2111是由下而上插置于該壓板2121處，該緩 沖頂柱2111底部則包覆著橡膠，該緩沖頂柱2111上半部則突出于 壓板2121之上。該調(diào)整螺絲2113結(jié)合于緩沖頂柱2111的上半部， 該彈簧2112則套置于緩沖頂柱2111的下半部外圍。如此結(jié)構(gòu)使得 緩沖頂柱2111保有向上移動的彈性。故當(dāng)該施壓單元211施壓于待 測存儲卡頂部時，不會破壞到待測存儲卡，且能更確定測試探針與
存儲卡的密合接觸。
該第二壓板機構(gòu)22的結(jié)構(gòu)與第一壓板機構(gòu)21相似，仍是由多 個施壓單元221及一升降單元222所構(gòu)成。由該升降單元222帶動 多個施壓單元221同步下降。該第二壓板機構(gòu)22是為了在測試作業(yè) 完成后，前排的存儲卡滑出時，后排的待測存儲卡由第二壓板機構(gòu) 22暫時固定著，待閘門模塊3關(guān)閉后，該施壓單元221才上升，使 待測存儲卡進入待測區(qū)處。該施壓單元221結(jié)構(gòu)與施壓單元211相 同，故不再描述。而升降單元222主體結(jié)構(gòu)仍與升降單元212相同， 仍包括有一壓板2221、 一作動輪2222。但本實施例中，該固定模塊 2主要的動力來源馬達2224是設(shè)置于第二壓板機構(gòu)22處，并利用 一時規(guī)皮帶2225使得兩作動輪2222及2122同步轉(zhuǎn)動，由于兩者的 凸輪設(shè)計略為不同，故施壓單元211及施壓單元221的升降時序并 不相同。
如圖1、圖6所示，該閘門模塊3，設(shè)置于前述模板單元ll的 上表面，鄰緊著前述固定模塊2處。該閘門模塊3包括一閘門單元 31及一動力單元32。該閘門單元31具有間隔設(shè)置的多個門板311 及多個缺口312，并采用橫向設(shè)置于模板單元11上表面。動力單元 32則能適時帶動閘門單元31橫向移動，利用門板311阻擋或離開 滑道13，而達開啟或關(guān)閉的目的。
如圖2、圖5、圖7所示，該探針模塊4是設(shè)置于前述模板單元 11的下方位置，并對應(yīng)著前述固定模塊2的第一壓板機構(gòu)21處。 該探針模塊4主要包括多組探針單元41及一探針升降單元42。該
探針單元41是由多根彈簧探針411所構(gòu)成，該彈簧探針411的數(shù)目
及分布位置則依待測的存儲卡規(guī)格而定。該探針單元41底部則能與 測試機臺的連接器連接。該探針升降單元42能適時帶動多組探針單 元41上升或下降，主要包括一平板421、一作動輪422、一機座423、 及一馬達424。該機座423處設(shè)有滑軌使得該平板421能平穩(wěn)地上 升或下降，該馬達424則帶動作動輪422轉(zhuǎn)動，該作動輪422上具 有多個凸輪來控制平板421的升降時序。而該多組探針單元41則設(shè) 置于平板421處。另外于每一滑道13內(nèi)的相對位置并具有一探針開 口 133，該探針開口 133的位置是對應(yīng)著前述探針單元41的所在之 處。
接著就本實用新型的作動流程作一說明:待測存儲卡呈堆棧方 式放置于堆棧料管后，該堆桟料管再插入料管機構(gòu)15內(nèi)。當(dāng)待測存 儲卡進入滑道13內(nèi)時，利用滑道13的斜面及第一送片機構(gòu)16使待 測存儲卡由料管機構(gòu)15底部之間隙依序向下滑行，此時該閘門模塊 3為關(guān)閉狀態(tài)，使待測存儲卡依序排列分布于滑道13內(nèi)。欲進行測 試時，該固定模塊2的第一壓板機構(gòu)21及第二壓板機構(gòu)22作動， 施壓鄰近閘門模塊3的第一排待測存儲卡及第二排的待測存儲卡。 之后，該探針模塊4作動，使得探針單元41上升與第一排的待測存 儲卡接觸，并進行相關(guān)的測試工作。完成測試后，根據(jù)測試結(jié)果通 知位于滑板單元ll后段的電磁阻擋閥18作動。之后探針單元41下 降，第一壓板機構(gòu)21上升。該閥門模塊3呈開啟狀態(tài)，第一排的測 試完成的存儲卡滑過閘門單元31進入滑道13的出口區(qū)域。此時將
依預(yù)先設(shè)定狀態(tài)，該電磁阻擋閥18使不良品暫時無法滑出，良品則 先行滑出而被收集，之后再由另一組收集裝置移動至與滑道13的出
口區(qū)域，而該電磁阻擋閥18則下降使得不良品滑出而被收集。之后 閘門模塊3再度關(guān)閉，第二壓板機構(gòu)22上升使第二排的待測存儲卡 移動至第一排位置。如此不斷循環(huán)進行，即能以自動化方式進行存 儲卡的測試作業(yè)。
但是，以上所述，僅為本實用新型的列舉實施例而已，當(dāng)不能 以此限定本實用新型實施的范圍。即凡是依本實用新型權(quán)利要求書 范圍所作的均等變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實用新型專利涵蓋的范圍 內(nèi)。
權(quán)利要求1、一種具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其特征在于，包括一滑道模塊，包括一模板單元以及一機架，該模板單元呈一傾斜角度設(shè)置于機架處，該模板單元的上表面具有多個滑道，該滑道供待測存儲卡滑動；一固定模塊，設(shè)置于前述模板單元之上，具有第一壓板機構(gòu)及第二壓板機構(gòu)，該第一、第二壓板機構(gòu)采用緊鄰方式橫向跨設(shè)于前述模板單元處，能適時將不同位置的待測存儲卡暫時固定于滑道內(nèi)；一閘門模塊，設(shè)置于前述模板單元之上，鄰緊著前述固定模塊，該閘門模塊具有一閘門單元，該閘門單元能適當(dāng)產(chǎn)生橫向的位移，使得模板單元的多個滑道被關(guān)閉或開啟；一探針模塊，設(shè)置于前述模板單元之下，具有多組探針單元，該探針單元能適時上升與待測存儲卡相接觸。
2、 如權(quán)利要求l所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該模板單元的多個滑道的進料區(qū)段具有一料管機構(gòu)。
3、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該模板單元的多個滑道的進料區(qū)段具有一第一送片 機構(gòu)。
4、 如權(quán)利要求l所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中第一送片機構(gòu)包括有一馬達、 一主動輪軸、 一從動 輪軸，該主動輪軸具有多個滾輪，該模板單元的每一滑道的進料區(qū) 段內(nèi)具有一導(dǎo)引孔，該主動輪軸與從動輪軸采用分別設(shè)置于模板單 元的上方及下方，該主動輪軸的滾輪位于該滑道的導(dǎo)引孔內(nèi)。
5、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該模板單元的多個滑道的中段區(qū)域具有一第二送片 機構(gòu)。
6、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該模板單元的多個滑道的后段區(qū)域具有多個阻擋電 磁閥，讓阻擋電磁閥設(shè)置于模板單元底面，每一個阻擋電磁閥對應(yīng) 著一滑道，該阻擋電磁閥具有一伸縮頂針，當(dāng)阻擋電磁閥作動時該 伸縮頂針會縮回至滑道下方。
7、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該第一壓板機構(gòu)包括多個施壓單元及一升降單元， 該升降單元能適時該多個施壓單元產(chǎn)生同步的上升或下降動作。
8、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其特征在于，其中該第二壓板機構(gòu)包括多個施壓單元及一升降單元， 該升降單元能適時讓多個施壓單元產(chǎn)生同步的上升或下降動作。
9、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，其 特征在于，其中該探針模塊包括一探針升降單元及多組探針單元， 該探針單元是由多根彈簧探針所構(gòu)成，該彈簧探針的數(shù)目及分布位 置則依所待測的存儲卡規(guī)格而定，另外于每一滑道內(nèi)具有一探針開 口，該探針開口的位置是對應(yīng)著前述探針單元的所在之處，該探針 升降單元能適時帶動多組探針單元產(chǎn)生同步的升降動作。
10、 如權(quán)利要求1所述的具有角度的滑道式存儲卡測試裝置， 其特征在于，其中該滑道模塊的模板單元為可調(diào)整角度方式，該滑 道模塊包括一機架、 一模板單元及至少一可調(diào)式支撐桿組，該模板 單元的一側(cè)邊是樞接于機架處，該模板單元相對于樞接處的另一側(cè) 邊則以該可調(diào)整式支撐桿結(jié)合機架的另一側(cè)邊，使該模板單元傾斜 一角度，欲調(diào)整角度時，轉(zhuǎn)動該可調(diào)整式支撐桿使其伸長或縮短， 即可改變模板單元的傾斜角度。
專利摘要本實用新型為一種具有角度的滑道式存儲卡測試裝置，包括滑道模塊、固定模塊、閘門模塊及探針模塊，該滑道模塊包括模板單元以及機架，該模板呈一傾斜角度設(shè)置于機架處，該模板單元的上表面具有多道滑道，該滑道可供待測存儲卡滑動。該固定模塊包括第一壓板機構(gòu)及第二壓板機構(gòu)，該第一、第二壓板機構(gòu)采用緊鄰方式橫向設(shè)置前述模板單元處，能適時將不同位置的待測存儲卡暫時固定于滑道內(nèi)。該探針模塊設(shè)置于前述模板單元的下方位置，具有多組探針單元，該探針單元能適時上升與待測存儲卡相接觸。該閘門模塊鄰近前述固定模塊，使測試后的存儲卡得以經(jīng)該滑道輸出。由此提供一種體積小、結(jié)構(gòu)簡單、且快速穩(wěn)定性佳、又低耗能的自動化存儲卡測試讀寫裝置。
文檔編號G11C29/56GK201194167SQ20082000919
公開日2009年2月11日 申請日期2008年4月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月23日
發(fā)明者邱士榮 申請人:邱士榮