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半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的制作方法

文檔序號(hào):6757163閱讀:86來源:國(guó)知局
專利名稱:半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種時(shí)鐘同步的半導(dǎo)體器件存儲(chǔ)器件,具體來說涉及一種采用用于使在內(nèi)部電路中所用的內(nèi)部時(shí)鐘信息與外部時(shí)鐘信息同步的DLL(延遲鎖定環(huán))電路的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件。
背景技術(shù)
最近,例如SDRAM(同步DRAM)這樣的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件采用DLL(Delay Locked Loop,延遲鎖定環(huán))電路用于讀取數(shù)據(jù)的輸出時(shí)序與外部時(shí)鐘信息的同步。通過使用DLL電路,用于控制數(shù)據(jù)輸出電路的控制時(shí)鐘信息的相位被調(diào)節(jié)為外部時(shí)鐘信號(hào)的相位,從而讀取數(shù)據(jù)與外部時(shí)鐘信號(hào)同步地輸出。DLL電路的基本結(jié)構(gòu)例如在日本未審查專利公告No.Hei10-112182中公開。
圖1示出具有DLL電路的SDRAM的操作。SDRAM用其時(shí)鐘緩沖器接收一個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK,并且產(chǎn)生一個(gè)內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK(圖1(a))。內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK延遲時(shí)鐘緩沖器的一段延遲時(shí)間tD。該延遲時(shí)間tD是獨(dú)立于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的頻率的固定時(shí)間。SDRAM還通過使用內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK產(chǎn)生具有與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相同相位的一個(gè)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK(圖1(b))。
在本例中,SDRAM接收與第0個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相關(guān)的讀取命令R1,并且接收與第一個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相關(guān)的寫入命令W1。
一個(gè)數(shù)據(jù)輸出電路把對(duì)應(yīng)于該讀取命令R1的讀取數(shù)據(jù)Q1與對(duì)應(yīng)于第二外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的上升沿相同步地輸出(圖1(c))。也就是說,讀取數(shù)據(jù)Q1被輸出為比第二外部時(shí)鐘信號(hào)的上升沿滯后數(shù)據(jù)輸出電路的延遲時(shí)間tDAC(讀取等待時(shí)間=2)。結(jié)果,對(duì)于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的存取時(shí)間tAC等于延遲時(shí)間tDAC。安裝有SDRAM的系統(tǒng)與第三外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿同步地接收讀取數(shù)據(jù)Q1。
同時(shí),對(duì)應(yīng)于寫入命令W1的寫入數(shù)據(jù)D1被與第一外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿相同步地與寫入命令W1一同提供(圖1(d))。該操作被稱為寫入等待時(shí)間“0”的操作。數(shù)據(jù)輸入電路與內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK的上升沿同步地接收寫入數(shù)據(jù)D1,并且把其輸出作為內(nèi)部數(shù)據(jù)IDQ(圖1(e))。內(nèi)部數(shù)據(jù)IDQ(D1)被如此發(fā)送到內(nèi)部電路,比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK滯后該時(shí)鐘緩沖器的延遲時(shí)間tD。從而,寫入數(shù)據(jù)D1被寫入放大器所放大,并且由讀出放大器通過內(nèi)部數(shù)據(jù)總線寫入到存儲(chǔ)單元。
當(dāng)用于要被讀出的讀取數(shù)據(jù)Q1的存儲(chǔ)單元與要被寫入該寫入數(shù)據(jù)D1的存儲(chǔ)單元相同時(shí),如果在從該存儲(chǔ)單元讀出被寫入數(shù)據(jù)之前把該寫入數(shù)據(jù)D1寫入到該存儲(chǔ)單元,則讀取數(shù)據(jù)Q1可能被延遲。為了避免延遲,這種SDRAM具有一個(gè)地址比較器。然后,地址比較器把該讀取地址和寫入地址相比較,并且如果兩個(gè)地址相同則直接輸出該寫入數(shù)據(jù)D1作為讀取數(shù)據(jù)Q1。
在此,為了輸出具有等待時(shí)間“2”的讀取數(shù)據(jù)Q1,該地址的比較以及根據(jù)比較結(jié)果選擇該讀取數(shù)據(jù)的操作必須在內(nèi)部數(shù)據(jù)IDQ(D1)被輸出時(shí)與當(dāng)輸出電路開始工作時(shí)之間完成。具體來說,地址的比較和讀取數(shù)據(jù)的選擇必須在第一內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK的上升沿到第二外部時(shí)鐘信號(hào)CLK(被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK)的上升沿之間的余量時(shí)間(margin time)tMRG之內(nèi)完成。
最近,SDRAM需要高達(dá)250MHz(時(shí)鐘周期tCK=4納秒)的工作速度。例如,假設(shè)時(shí)鐘周期tCK為4納秒,并且時(shí)鐘緩沖器的操作延遲為2納秒,該余量時(shí)間tMRG必然小于或等于2納秒。如果余量時(shí)間tMRG超過2納秒,則時(shí)鐘周期tCK需要根據(jù)該余量時(shí)間tMRG而延長(zhǎng)。也主不是說,最大時(shí)鐘頻率受到余量時(shí)間tMRG的限制。
上述問題不限于圖1中所示的情況,其中讀取命令R1和寫入命令W1被相繼地輸入。通常,在讀取數(shù)據(jù)Q1被與接收寫入數(shù)據(jù)D1的下一個(gè)時(shí)鐘相同步地輸出的情況中,該問題是普遍的。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個(gè)目的是保證用于半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的內(nèi)部電路的操作容限,以增加時(shí)鐘信息的頻率。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的一個(gè)方面,一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件,其中包括具有存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元陣列;相位調(diào)節(jié)電路,用于使外部時(shí)鐘信號(hào)延遲預(yù)定的時(shí)間,以產(chǎn)生一個(gè)被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào);相位比較器,用于把所述外部時(shí)鐘信號(hào)的相位與所述被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào)的相位相比較,并且根據(jù)該比較結(jié)果輸出一個(gè)相位調(diào)節(jié)信號(hào),以調(diào)節(jié)所述相位調(diào)節(jié)電路的延遲時(shí)間;數(shù)據(jù)輸出電路,用于把來自所述存儲(chǔ)單元陣列的讀取數(shù)據(jù)與所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)同步地輸出到數(shù)據(jù)端;以及數(shù)據(jù)輸入電路,用于與所述被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào)同步地接收寫入到所述存儲(chǔ)單元陣列的寫入數(shù)據(jù),所述寫入數(shù)據(jù)還被提供到所述數(shù)據(jù)端;用于接收命令信號(hào)的外部端子,所述外部端子使所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位偏移;以及可變延遲電路,用于根據(jù)提供所述命令信號(hào)改變將由所述相位比較器所比較的所述外部時(shí)鐘信號(hào)和所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)之一的相位。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的一個(gè)方面,一個(gè)相位調(diào)節(jié)電路使外部時(shí)鐘信號(hào)延遲預(yù)定的量,以產(chǎn)生一個(gè)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)。相位比較器把外部時(shí)鐘信號(hào)的相位與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位相比較,并且根據(jù)該比較結(jié)果輸出一個(gè)相位調(diào)節(jié)信號(hào),以調(diào)節(jié)相位調(diào)節(jié)電路的延遲時(shí)間。數(shù)據(jù)輸出電路把來自存儲(chǔ)單元陣列的讀取數(shù)據(jù)與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)一同輸出到數(shù)據(jù)端。數(shù)據(jù)輸入電路與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)相同步接收寫入到存儲(chǔ)單元陣列的寫入數(shù)據(jù),該寫入數(shù)據(jù)還被提供到該數(shù)據(jù)端。也就是說,該數(shù)據(jù)輸出電路和數(shù)據(jù)輸入電路與相同的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)相同步。
該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的周期與外部時(shí)鐘信號(hào)的同期相同。從而,當(dāng)寫入數(shù)據(jù)的輸入和讀取數(shù)據(jù)的輸出相繼執(zhí)行時(shí),寫入數(shù)據(jù)的輸入操作和讀取數(shù)據(jù)的輸入操作之間的切換控制僅僅必需在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)完成。換句話說,時(shí)鐘周期可以被減小到上述切換控制所需的時(shí)間。結(jié)果,可以避免外部時(shí)鐘信號(hào)的最大頻率受到切換控制所需的時(shí)間的限制。因此,該外部時(shí)鐘信號(hào)可以增加最大頻率。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的另一個(gè)方面,一個(gè)地址端接收選擇要被寫入數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)單元的寫入地址以及選擇要被讀出數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)單元的讀取地址。地址比較器把由地址端所接收的寫入地址和讀取地址相比較。數(shù)據(jù)選擇電路把與寫入地址相一致提供的寫入數(shù)據(jù)輸出到該數(shù)據(jù)輸出電路,當(dāng)由地址比較器比較的結(jié)果表明該寫入地址與讀取地址相互一致時(shí),該寫入數(shù)據(jù)被輸出作為對(duì)應(yīng)于該讀取地址的讀取數(shù)據(jù)。
如上文所述,從寫入數(shù)據(jù)的輸入到讀取數(shù)據(jù)的輸出的操作僅僅必需在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)完成。從而,在地址比較器中的地址比較和在數(shù)據(jù)選擇電路中的數(shù)據(jù)選擇所需的余量時(shí)間可以被擴(kuò)展到一個(gè)時(shí)鐘周期。當(dāng)時(shí)鐘周期受到該余量時(shí)間的限制時(shí),可以相應(yīng)地放松該限制。也就是說,外部時(shí)鐘信號(hào)的最大頻率可以被增加,以提高數(shù)據(jù)傳輸速率。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的另一個(gè)方面,相位調(diào)節(jié)電路產(chǎn)生與外部時(shí)鐘信號(hào)同相的該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)。從而,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件可以與外部時(shí)鐘信號(hào)完全同步地接收寫入數(shù)據(jù)和輸出讀取數(shù)據(jù)。換句話說,安裝有該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的系統(tǒng)僅僅必須由該系統(tǒng)自身所產(chǎn)生的外部時(shí)鐘信號(hào)相同步地輸出寫入數(shù)據(jù),并且確保與該外部時(shí)鐘信號(hào)相同步地接收讀取數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的另一個(gè)方面,該相位調(diào)節(jié)電路產(chǎn)生相位領(lǐng)先該外部時(shí)鐘信號(hào)的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)。因此,可以比與讀取數(shù)據(jù)同步更早地把讀取數(shù)據(jù)輸出到外部時(shí)鐘信號(hào),減少在讀取操作中的存取時(shí)間。
根據(jù)本發(fā)明半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的另一個(gè)方面,一個(gè)可變延遲電路根據(jù)提供到外部端子的命令信號(hào)調(diào)節(jié)要由相位比較器所比較的外部時(shí)鐘信號(hào)的相位或者該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位。因此,根據(jù)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的電特性調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位能夠減輕性能上的缺陷。這增加制造的成品率。
根據(jù)本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的另一個(gè)方面,一個(gè)可變延遲電路根據(jù)命令信號(hào)調(diào)節(jié)要由相位比較器所比較的外部時(shí)鐘信號(hào)的相位或該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位。一個(gè)保護(hù)電路輸出用于設(shè)置可變延遲電路的延遲時(shí)間的命令信號(hào)。根據(jù)半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的電特性,該保護(hù)電路可以被編程為被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位,從而減輕性能上的缺陷。結(jié)果提高制造的成品率。


從下文結(jié)合附圖的詳細(xì)描述中,本發(fā)明的本質(zhì)、原理和用述將更加清楚,在附圖中相同的部件由相同的參考標(biāo)號(hào)所表示,其中圖1為示出具有傳統(tǒng)DLL電路的SDRAM的操作的時(shí)序圖;圖2為示出本發(fā)明的第一實(shí)施例的方框圖;圖3為示出圖2的相位比較器的細(xì)節(jié)的電路圖;圖4為示出圖3的延遲電路的細(xì)節(jié)的電路圖;圖5為示出圖2的相位比較器的操作的時(shí)序圖;圖6為示出在接收一個(gè)增量命令中該相位調(diào)節(jié)電路的操作的時(shí)序圖;圖7為示出在接收一個(gè)減量命令中該相位調(diào)節(jié)電路的操作的時(shí)序圖;圖8為示出圖2的數(shù)據(jù)輸入電路和數(shù)據(jù)輸出電路的電路圖;圖9為示出在第一實(shí)施例中的SDRAM的操作的時(shí)序圖;
圖10為示出在第一實(shí)施例中的SDRAM的另一個(gè)操作的時(shí)序圖;圖11為示出本發(fā)明第二實(shí)施例的方框圖;以及圖12為示出延遲電路的另一個(gè)實(shí)施例的電路圖。
具體實(shí)施例方式
在下文中,將參照附圖描述本發(fā)明的實(shí)施例。
圖2示出本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的第一實(shí)施例。通過使用CMOS工藝,該半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件被形成為在一個(gè)硅基片上的SDRAM。在該圖中,每條粗線表示由多個(gè)數(shù)位所構(gòu)成的信號(hào)線。在圖的左側(cè)所示的雙圓圈表示外部端子。
該SDRAM包括一個(gè)時(shí)鐘緩沖器10、命令緩沖器/解碼器12、數(shù)據(jù)緩沖器14、相位調(diào)節(jié)電路16、相位比較器18、行地址鎖存器20、列地址鎖存器22、地址比較器24、行解碼器26、存儲(chǔ)單元陣列28、讀出放大器部分30、列解碼器32、寫入放大器34、數(shù)據(jù)選擇電路36、數(shù)據(jù)輸入電路38、以及數(shù)據(jù)輸出電路40。
時(shí)鐘緩沖器10接收外部時(shí)鐘信號(hào)CLK,并且把所接收的信號(hào)輸出作為一個(gè)內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK。外部時(shí)鐘信號(hào)CLK是由安裝有SDRAM的系統(tǒng)所產(chǎn)生的一個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘。
命令緩沖器/解碼器12與內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK同步地接收一個(gè)命令信號(hào)CMD,解碼所接收的信號(hào),并且輸出解碼結(jié)果作為一個(gè)內(nèi)部命令信號(hào)ICMD。要被提供的命令信號(hào)CMD除了寫入命令、讀取命令、NOP命令等等之外,還包括增量命令、減量命令和默認(rèn)命令,用于調(diào)節(jié)在下文中所述的一個(gè)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位。
當(dāng)被提供增量命令、減量命令和默認(rèn)命令時(shí),命令緩沖器/解碼器12分別輸出命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF。被解碼的命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF中的一個(gè)命令信號(hào)變?yōu)楦唠娖?,并且保持為高電平直到接收另一個(gè)命令信號(hào)為止。也就是說,命令緩沖器/解碼器12具有用于設(shè)置操作模式的模式寄存器的功能。
數(shù)據(jù)緩沖器14接收與內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK同步地提供到地址端的地址信號(hào)ADD,并且把所接收的信號(hào)輸出作為一個(gè)內(nèi)部地址信號(hào)IADD。地址信號(hào)ADD被以分離的行地址和列地址的形式提供到該地址端。
相位調(diào)節(jié)電路16調(diào)節(jié)內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK的相位,并且輸出所調(diào)節(jié)的信號(hào)作為被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK。相位調(diào)節(jié)電路16在從相位比較器18接收到增量信號(hào)INC之后,把被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位延遲,并且在接收到減量信號(hào)DEC之后,把被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位提前,以及在接收到保持信號(hào)HLD之后時(shí)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位固定。也就是說,增量信號(hào)INC、減量信號(hào)DEC和保持信號(hào)HLD是用于調(diào)節(jié)相位調(diào)節(jié)電路16的相位的相位調(diào)節(jié)信號(hào)。
相位比較器18把外部時(shí)鐘信號(hào)CLK與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位相比較。當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位領(lǐng)先時(shí),相位比較器18輸出增量信號(hào)INC。當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位落后時(shí),相位比較器18輸出減量信號(hào)DEC。當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位之間的差值小于預(yù)定量時(shí),相位比較器18輸出保持信號(hào)HLD。相位比較器18還具有一個(gè)可變延遲電路DLYB,用于延遲外部時(shí)鐘信號(hào)CLK,如將在下文中描述的圖3中所示??勺冄舆t電路DLYB的延遲時(shí)間被根據(jù)來自命令緩沖器/解碼器12的命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF而調(diào)節(jié)。
當(dāng)行地址鎖存器20接收表示行操作的內(nèi)部命令信號(hào)ICMD時(shí),它與內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK同步地鎖存內(nèi)部地址信號(hào)IADD(行地址),并且把鎖存的地址輸出到行解碼器26。當(dāng)列地址鎖存器22接收到表示列操作的內(nèi)部命令信號(hào)ICMD時(shí),它與內(nèi)部時(shí)鐘信號(hào)ICLK同步地鎖存內(nèi)部地址信號(hào)IADD(列地址),并且把鎖存的地址輸出到列解碼器32。
地址比較器24把與命令信號(hào)CMD相關(guān)連續(xù)提供的兩個(gè)地址信號(hào)ADD相比較,如果該地址信號(hào)ADD相互一致時(shí),把一個(gè)一致信號(hào)COIN輸出到數(shù)據(jù)選擇電路36。
存儲(chǔ)單元陣列28具有設(shè)置為距陣的多個(gè)易失性存儲(chǔ)單元MC,以及連接到存儲(chǔ)單元MC的多條字線WL和多條位線BL。存儲(chǔ)單元MC的每一個(gè)具有用于保存數(shù)據(jù)的電容器和設(shè)置在該電容器與位線BL之間的傳輸晶體管。該傳輸晶體管的柵極連接到字線WL。
行解碼器26解碼來自行地址鎖存器20的行地址,以選擇存儲(chǔ)單元陣列28的字線WL。列解碼器32解碼來自列地址鎖存器22的列地址,以選擇用于建立位線BL與內(nèi)部數(shù)據(jù)總線DB之間的連接。讀出放大器30具有連接到位線BL的多個(gè)讀出放大器和多個(gè)列開關(guān)。該讀出放大器放大從存儲(chǔ)單元讀出到位線BL的數(shù)據(jù)的信號(hào)值,并且通過列開關(guān)把該結(jié)果作為讀取數(shù)據(jù)輸入到內(nèi)部數(shù)據(jù)總線DB。另外,讀出放大器保存從內(nèi)部數(shù)據(jù)總線DB通過列開關(guān)發(fā)送到位線BL的寫入數(shù)據(jù)的信號(hào)值。
在寫入操作中,寫入放大器34把來自數(shù)據(jù)輸入電路38的數(shù)據(jù)DIN輸出到內(nèi)部數(shù)據(jù)總線DB。在讀取操作中,數(shù)據(jù)選擇電路36輸出從存儲(chǔ)單元陣列28讀出的數(shù)據(jù),作為讀取數(shù)據(jù)DOUT?,F(xiàn)在,當(dāng)它接收該一致信號(hào)COIN時(shí),數(shù)據(jù)選擇電路36將不輸出來自存儲(chǔ)單元陣列28的數(shù)據(jù),而是輸出在數(shù)據(jù)輸入電路38中保存的寫入數(shù)據(jù),作為讀取數(shù)據(jù)DOUT。
數(shù)據(jù)輸入電路38在寫入操作中被激活。它與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK同步地接收提供到數(shù)據(jù)端DQ的寫入數(shù)據(jù),并且輸出所接收的數(shù)據(jù),作為寫入數(shù)據(jù)DIN。數(shù)據(jù)輸出電路40在讀出操作中被激活。它把從數(shù)據(jù)選擇電路36輸出的讀取數(shù)據(jù)DOUT輸出到數(shù)據(jù)端DQ。也就是說,在本發(fā)明中不但數(shù)據(jù)輸出電路40而且數(shù)據(jù)輸入電路38都與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK相同步地工作。
圖3示出圖2中所示的相位比較器18的細(xì)節(jié)。相位比較器18具有延遲電路DLYA、DLYB和DLYC、D型觸發(fā)器DFF1和DFF2以及邏輯門。延遲電路DLYA延遲被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK,并且輸出其結(jié)果作為一個(gè)延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1。延遲電路DLYB根據(jù)命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF延遲外部時(shí)鐘信號(hào)CLK,并且把其結(jié)果輸出,作為一個(gè)延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1。也就是說,延遲電路DLYB作為一個(gè)可變延遲電路。延遲電路DLYC延遲該延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1,并且輸出其結(jié)果作為一個(gè)延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK2。如將在下文中所述,當(dāng)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK和被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位差小于延遲電路DLYC的延遲時(shí)間時(shí),相位比較器18確定這兩個(gè)時(shí)鐘信號(hào)相互一致。
D型觸發(fā)器DFF1與延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1相同步地鎖存該延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1,并且把其輸出作為一個(gè)輸出信號(hào)OUT1。該D型觸發(fā)器DFF2與延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK2相同步地鎖存該延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK2,并且把其輸出作為一個(gè)輸出信號(hào)OUT2。然后,根據(jù)輸出信號(hào)OUT1和OUT2的邏輯,邏輯門GATE輸出保持信號(hào)HLD、增量信號(hào)INC和減量信號(hào)DEC中的任何一個(gè)信號(hào)。
圖4示出圖3中所示的延遲電路DLYA和DLYB的細(xì)節(jié)。
延遲電路DLYA具有一個(gè)延遲級(jí)DS1,其包括串聯(lián)的兩個(gè)CMOS反相器。延遲電路DLYB具有串聯(lián)的兩個(gè)延遲級(jí)DS1、以及用于把這些延遲級(jí)DS1的輸入節(jié)點(diǎn)和輸出節(jié)點(diǎn)分別連接到延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1的三個(gè)開關(guān)電路SW1、SW2和SW3。該開關(guān)電路SW1、SW2和SW3具有CMOS傳輸門以及分別接收用于控制傳輸門的命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF的反相器。
當(dāng)命令信號(hào)CINC處于高電平時(shí),開關(guān)電路SW1導(dǎo)通,從而外部時(shí)鐘信號(hào)CLK被作為延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1而發(fā)送。當(dāng)命令信號(hào)CDEF處于高電平時(shí),開關(guān)電路SW2導(dǎo)通,從而被延遲一個(gè)延遲級(jí)DS1的外部時(shí)鐘信號(hào)CLK被作為延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1而發(fā)送。當(dāng)命令信號(hào)CDEC處于高電平時(shí),開關(guān)電路SW3導(dǎo)通,從而被延遲兩個(gè)延遲級(jí)DS1的外部時(shí)鐘信號(hào)CLK被作為延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1而發(fā)送。
圖5示出圖3中所示的相位比較器18的操作。在本例中,在命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF中的命令信號(hào)CDEF單獨(dú)地變?yōu)楦唠娖?。也就是說,該延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK滯后圖4中所示的延遲級(jí)DS1的延遲時(shí)間。該延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1比被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK滯后延遲級(jí)DS1的延遲時(shí)間。也就是說,延遲時(shí)鐘信號(hào)CLK1相對(duì)于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的延遲時(shí)間等于延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK1相對(duì)于被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的延遲時(shí)間。該延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1實(shí)際上被進(jìn)一步滯后與開關(guān)電路SW2的延遲時(shí)間相同的量。從而,延遲時(shí)鐘信號(hào)CLK1的相位稍微滯后于該延遲的時(shí)間信號(hào)DCLK1的相位。
當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位領(lǐng)先于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK(圖的左側(cè))并且圖3中所示的D型觸發(fā)器DFF1和DFF2分別鎖存高電平的延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK1和DCLK2,并且輸出信號(hào)OUT1和OUT2都變?yōu)楦唠娖?。在此,用于表示相位領(lǐng)先的增量信號(hào)變?yōu)楦唠娖健?br> 當(dāng)D型觸發(fā)器DFF1鎖存高電平的延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK1,以及D型觸發(fā)器DFF2鎖存低電平的延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK2時(shí),如果被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位幾乎與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相同(圖的中央),則輸出信號(hào)OUT1和OUT2分別變?yōu)楦唠娖胶偷碗娖?。在此,用于表示相位一致的保持信?hào)HLD變高電平。
當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位滯后于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位(圖的右側(cè))并且D型觸發(fā)器DFF1和DFF2鎖存低電平的延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK1和DCLK2時(shí),輸出信號(hào)OUT1和OUT2都變?yōu)榈碗娖健T诖?,用于表示相位滯后的減量信號(hào)DEC變?yōu)楦唠娖健H缓髨D2中所示的相位調(diào)節(jié)電路16根據(jù)信號(hào)INC、HLD和DEC調(diào)節(jié)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位。
圖6示出用于提供增量命令以把命令信號(hào)CINC變?yōu)楦唠娖降那闆r的相位比較器18的操作。
在初始狀態(tài)中(圖左側(cè)所示的時(shí)序圖),用默認(rèn)命令CDEF設(shè)置命令緩沖器/解碼器1 2。如結(jié)合圖4所示,延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1相對(duì)于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的延遲時(shí)間T1約等于該延遲的時(shí)鐘信號(hào)DCLK1相對(duì)于被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的延遲時(shí)間T2。因此,當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位相一致時(shí),相位比較器18輸出保持信號(hào)HLD。
在該狀態(tài)中,增量命令被從SDRAM的外部提供,從而命令信號(hào)CINC變?yōu)楦唠娖?。圖4中所示的延遲電路DLYB把延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1相對(duì)于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的延遲時(shí)間T1增加到等于延遲級(jí)DS1的延遲時(shí)間。如在該圖中央的時(shí)序圖所示,圖3中所示的D型觸發(fā)器DFF1和DFF2的鎖存時(shí)間相應(yīng)地滯后。從而,當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位相一致時(shí),輸出信號(hào)OUT1和OUT2都變?yōu)楦唠娖?。也就是說,相位比較器18輸出該增量信號(hào)INC。
接著,在圖的右側(cè)所示的時(shí)序圖中,圖2中所示的相位調(diào)節(jié)電路16根據(jù)增量信號(hào)INC延遲被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位。然后,當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位落后一個(gè)差值DIF1時(shí),相位比較器18再次輸出保持信號(hào)HLD,確定該相位相互一致。按照這種方式,在來自SDRAM外部的增量命令(CINC)之下,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK可以比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位滯后(DLL調(diào)節(jié))。
圖7示出用于提供增量命令以把命令信號(hào)CDEC變?yōu)楦唠娖降那闆r的相位比較器18的操作。下面將省略與圖6相同的操作的詳細(xì)描述。
在初始狀態(tài)中(圖的左側(cè)所示的時(shí)序圖),用默認(rèn)命令CDEF設(shè)置命令緩沖器/解碼器12。當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位相一致時(shí),相位比較器18輸出保持信號(hào)HLD。
在該狀態(tài)中,減量信號(hào)被從SDRAM的外部提供,從而命令信號(hào)CDEC變?yōu)楦唠娖?。如該圖中央的時(shí)序圖所示,延遲電路DLYB消除該延遲的時(shí)鐘信號(hào)CLK1與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位差。這把D型觸發(fā)器DFF1和DFF2的鎖存時(shí)序提前。相應(yīng)地,輸出信號(hào)OUT1和OUT2分別變?yōu)榈碗娖胶透唠娖剑瑥亩敵鲈摐p量信號(hào)DEC。
接著,在圖的右側(cè)所示的時(shí)序圖中,圖2中所示的相位調(diào)節(jié)電路16根據(jù)減量信號(hào)DEC提前被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位。然后,當(dāng)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位領(lǐng)先一個(gè)差值DIF2時(shí),相位比較器18再次輸出保持信號(hào)HLD,確定該相位相互一致。按照這種方式,在來自SDRAM外部的減量命令(CDEC)之下,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位可以比外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位領(lǐng)先(DLL調(diào)節(jié))。
圖8示出圖2中所示的數(shù)據(jù)輸入電路38和數(shù)據(jù)輸出電路40的細(xì)節(jié)。
數(shù)據(jù)輸入電路38具有差分放大器AMP和D型觸發(fā)器DFF。差分放大器AMP放大通過數(shù)據(jù)端DQ提供的數(shù)據(jù)信號(hào)與參考電壓VREF之間的電壓差。D型觸發(fā)器DFF與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK同步地鎖存從差分放大器AMP輸出的數(shù)據(jù)信號(hào),并且輸出鎖存的信號(hào)作為寫入數(shù)據(jù)DIN。
數(shù)據(jù)輸出電路40與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK同步地鎖存從數(shù)據(jù)選擇電路36輸出的讀取數(shù)據(jù)DOUT,并且把鎖存的信號(hào)輸出到數(shù)據(jù)端DQ。
圖9示出根據(jù)本發(fā)明的SDRAM的操作。下面將省略與圖1中所示相同的操作。在本例中,默認(rèn)命令CDEF被保存在命令緩沖器/解碼器12中。與圖1中相同,SDRAM接收與第0個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相關(guān)的讀取命令R1,并且接收與第一個(gè)外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相關(guān)的寫入命令W1。讀取等待時(shí)間為“2”,并且寫入等待時(shí)間為“0”。
在本例中,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位相一致(圖9(a))。數(shù)據(jù)輸入電路38如此與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿同步地接收寫入數(shù)據(jù)D1(圖9(b))。在該圖中,虛線所示的內(nèi)部數(shù)據(jù)信號(hào)IDQ表示常規(guī)的接收時(shí)序。寫入數(shù)據(jù)D1的接收時(shí)序比以前(圖1)提前時(shí)鐘緩沖器10的延遲時(shí)間tD。
現(xiàn)在,如果對(duì)應(yīng)于讀取命令R1的讀取地址和對(duì)應(yīng)于寫入命令W1的寫入地址相同,則SDRAM必須輸出還沒有寫入到存儲(chǔ)單元MC的寫入數(shù)據(jù)W1作為讀取數(shù)據(jù)Q1,從而保證讀取等待時(shí)間為“2”。在此,由圖2所示的地址比較器24執(zhí)行的讀取地址和寫入地址的比較操作以及由數(shù)據(jù)選擇電路36根據(jù)在一致信號(hào)COIN所執(zhí)行的讀取信號(hào)的選擇操作可以在從第一外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿到第二外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿的余量時(shí)間tMRG過程中執(zhí)行。也就是說,該余量時(shí)間tMRG變?yōu)楸认惹伴L(zhǎng)延遲時(shí)間tD的長(zhǎng)度。
例如,假設(shè)時(shí)間周期tCK為4納秒(250MHz)并且時(shí)鐘緩沖器10的延遲時(shí)間tD為2納秒,該余量時(shí)間tMRG為4納秒,即是現(xiàn)有技術(shù)的兩倍。增加余量時(shí)間tMRG使得時(shí)鐘周期tCK被減小,而不受到余量時(shí)間tMRG的限制。也就是說,避免外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的最大頻率受到該余量時(shí)間tMRG的限制。
圖10示出根據(jù)本發(fā)明的SDRAM的另一個(gè)操作。下面將省略與圖1中相同的詳細(xì)描述。
在本例中,減量命令CDEC被保持在命令緩沖器/解碼器12中。如圖7中所示,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位如此領(lǐng)先外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的相位(圖10(a))。被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的領(lǐng)先相位使得寫入數(shù)據(jù)D1的接收時(shí)序和讀取數(shù)據(jù)Q1的輸出時(shí)序比圖9中更早(圖10(b))。從而,相對(duì)于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的存取時(shí)間tAC可以被減少,并且余量時(shí)間tMRG被保持在時(shí)鐘周期tCK。在該圖中,虛線所示的數(shù)據(jù)信號(hào)DQ表示常規(guī)的輸出時(shí)序。
順便提及,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位可以被調(diào)節(jié)在該范圍內(nèi),其中第三外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的上升沿如果在讀取數(shù)據(jù)Q1的輸出周期內(nèi)。在此,圖4中所示的延遲電路DLYB的延遲級(jí)DS1的數(shù)目以及命令信號(hào)的位數(shù)可以被增加,以更加精細(xì)地對(duì)該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK進(jìn)行調(diào)節(jié)。
如上文所述,在本實(shí)施例中,數(shù)據(jù)輸入電路38和數(shù)據(jù)輸出電路40都與被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK相同步地工作。從而,當(dāng)寫入數(shù)據(jù)D1的輸入和讀取數(shù)據(jù)Q1的輸出相繼地對(duì)相同的存儲(chǔ)單元執(zhí)行時(shí),在地址比較器24中的地址比較與在數(shù)據(jù)選擇電路36中的數(shù)據(jù)選擇所需的余量時(shí)間可以被擴(kuò)展到單個(gè)時(shí)鐘周期tCK。換句話說,該時(shí)鐘周期tCK可以被減少到上述余量時(shí)間。結(jié)果,外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的最大頻率可以被增加,用于提高數(shù)據(jù)傳遞速率。具體來說,如果外部時(shí)鐘信號(hào)CLK是其系統(tǒng)時(shí)鐘,則安裝有SDRAM的系統(tǒng)可以提高性能。
根據(jù)被提供到命令端CMD的命令信號(hào)CMD,可變延遲電路DLYB的延遲時(shí)間被調(diào)節(jié),以調(diào)節(jié)要在相位比較器18中比較的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位。例如,相位調(diào)節(jié)電路16可以產(chǎn)生具有與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相同相位的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK,從而SDRAM完全與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK同步地接收寫入數(shù)據(jù)D1并且輸出讀出數(shù)據(jù)Q1。結(jié)果,安裝有SDRAM的系統(tǒng)僅僅必須與由其自身所產(chǎn)生的外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相步地輸出寫入數(shù)據(jù)D1,從而確保與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相同步地接收讀取數(shù)據(jù)Q1。
另外,相位調(diào)節(jié)電路16可以產(chǎn)生相位領(lǐng)先于外部時(shí)鐘信號(hào)CLK的被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK,從而讀取數(shù)據(jù)Q1比與外部時(shí)鐘信號(hào)CLK相同步更早地輸出。結(jié)果,可以減少在讀取操作中的存取時(shí)間tAC。也就是說,根據(jù)SDRAM的電特性,被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)DLLCLK的相位可以被調(diào)節(jié)以減輕操作缺陷(AC缺陷)。這導(dǎo)致增加制造的成品率。
圖11示出本發(fā)明的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件的第二實(shí)施例。與現(xiàn)有技術(shù)和第一實(shí)施例相同的電路和信號(hào)將由相同的參考標(biāo)號(hào)所表示。在此將省略對(duì)它們的詳細(xì)描述。
在本實(shí)施例中,形成命令緩沖器/解碼器42以取代第一實(shí)施例的命令緩沖器/解碼器12。命令緩沖器/解碼器42僅僅接收與SDRAM相關(guān)的那些命令,例如寫入命令、讀取命令和NOP命令。因此,與第一實(shí)施例不同,命令緩沖器/解碼器42不接收增量命令(CINC)、減量命令(CDEC)和默認(rèn)命令(CDEF)。
該SDRAM還具有一個(gè)附加的保護(hù)電路44。該保護(hù)電路44具有多個(gè)保險(xiǎn)絲。該保險(xiǎn)絲在完成在晶片上形成多個(gè)SDRAM之后的制造工藝(測(cè)試處理)中被編程。該保護(hù)電路44根據(jù)保險(xiǎn)絲編程把命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF保持在高電平。其余結(jié)構(gòu)與第一實(shí)施例相同。
該實(shí)施例可以提供與上述第一實(shí)施例相同的效果。另外,在本實(shí)施例中,保護(hù)電路44保持命令信號(hào)CINC、CDEC和CDEF中的任何一個(gè)信號(hào)為高電平。從而,根據(jù)產(chǎn)品規(guī)格對(duì)該保護(hù)電路44編程例如可以促進(jìn)不同存取時(shí)間tAC的SDRAM的制造。另外,當(dāng)在命令信號(hào)CDEF之下,存取時(shí)間tAC不符合規(guī)格的SDRAM可以用命令信號(hào)CDEC來編程,以使得該存取時(shí)間tAC符合標(biāo)準(zhǔn)。結(jié)果,可以把具有存儲(chǔ)缺陷的SDRAM變?yōu)榉蠘?biāo)準(zhǔn)的器件,這增加了成品率。
上述第一和第二實(shí)施例處理圖4中所示的延遲電路DLYB被構(gòu)造為一個(gè)可變延遲電路從而該延遲時(shí)間信號(hào)CLK1的相位被相對(duì)于延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK而調(diào)節(jié)。但是,本發(fā)明不限于這些實(shí)施例。例如,如圖12中所示,相位比較器可以被構(gòu)造為一個(gè)可變延遲電路,從而延遲時(shí)鐘信號(hào)DCLK1用延遲時(shí)鐘信號(hào)CLK1來調(diào)節(jié)。
上述第二實(shí)施例處理處理保護(hù)電路44被編程以設(shè)置任何一個(gè)增量命令CINC、減量命令CDEC以及默認(rèn)命令CDEF。但是,本發(fā)明不限于這一實(shí)施例。例如,取代保護(hù)電路44,根據(jù)用于SDRAM的制造工藝中所用的光掩膜的圖案形狀而要形成在該SDRAM上的預(yù)定位置中的導(dǎo)電層可以被用于設(shè)置任何一個(gè)增量命令CINC、減量命令CDEC以及默認(rèn)命令CDEF。
本發(fā)明不限于上述實(shí)施例,并且可以做出各種變型而不脫離本發(fā)明的精神和范圍??梢詫?duì)部分或所有部件進(jìn)行任何改進(jìn)。
權(quán)利要求
1.一種半導(dǎo)體存儲(chǔ)器件,其中包括具有存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元陣列;相位調(diào)節(jié)電路,用于使外部時(shí)鐘信號(hào)延遲預(yù)定的時(shí)間,以產(chǎn)生一個(gè)被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào);相位比較器,用于把所述外部時(shí)鐘信號(hào)的相位與所述被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào)的相位相比較,并且根據(jù)該比較結(jié)果輸出一個(gè)相位調(diào)節(jié)信號(hào),以調(diào)節(jié)所述相位調(diào)節(jié)電路的延遲時(shí)間;數(shù)據(jù)輸出電路,用于把來自所述存儲(chǔ)單元陣列的讀取數(shù)據(jù)與所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)同步地輸出到數(shù)據(jù)端;以及數(shù)據(jù)輸入電路,用于與所述被調(diào)節(jié)的時(shí)鐘信號(hào)同步地接收寫入到所述存儲(chǔ)單元陣列的寫入數(shù)據(jù),所述寫入數(shù)據(jù)還被提供到所述數(shù)據(jù)端;用于接收命令信號(hào)的外部端子,所述外部端子使所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位偏移;以及可變延遲電路,用于根據(jù)提供所述命令信號(hào)改變將由所述相位比較器所比較的所述外部時(shí)鐘信號(hào)和所述被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)之一的相位。
全文摘要
一個(gè)相位調(diào)節(jié)電路使外部時(shí)鐘信號(hào)延遲預(yù)定的量,以產(chǎn)生一個(gè)被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)。相位比較器把外部時(shí)鐘信號(hào)的相位與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)的相位相比較,輸出一個(gè)相位調(diào)節(jié)信號(hào),以調(diào)節(jié)相位調(diào)節(jié)電路的延遲時(shí)間。數(shù)據(jù)輸出電路把讀取數(shù)據(jù)與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)同步地輸出到數(shù)據(jù)端。數(shù)據(jù)輸入電路與該被調(diào)節(jié)時(shí)鐘信號(hào)相同步接收提供到該數(shù)據(jù)端的寫入數(shù)據(jù)。當(dāng)寫入數(shù)據(jù)的輸入和讀取數(shù)據(jù)的輸出相繼執(zhí)行時(shí),寫入數(shù)據(jù)的輸入操作和讀取數(shù)據(jù)的輸入操作之間的切換控制僅僅必需在一個(gè)時(shí)鐘周期內(nèi)完成。時(shí)鐘周期可以被減小到上述切換控制所需的時(shí)間。結(jié)果,該外部時(shí)鐘信號(hào)的最大頻率可以增加。
文檔編號(hào)G11C29/02GK1674149SQ200510062689
公開日2005年9月28日 申請(qǐng)日期2002年11月29日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月9日
發(fā)明者奧田正樹, 小林広之 申請(qǐng)人:富士通株式會(huì)社
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