專利名稱：信息記錄裝置和信息記錄方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于在一個包括用戶區(qū)域和缺陷(defect)替代區(qū)域的信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄裝置和信息記錄方法，以及用于使信息記錄裝置執(zhí)行初始化信息記錄介質(zhì)的初始化處理的程序。
背景技術(shù)：
可重寫盤、例如相變類型光盤和磁光盤一般地具有帶有糾錯碼的數(shù)據(jù)記錄在其上。因此，即使當(dāng)在讀取記錄在這樣的光盤上的數(shù)據(jù)的時候產(chǎn)生小錯誤時，錯誤也可以被校正并且正確的數(shù)據(jù)可以被讀取。
但是，由于使用所述盤的環(huán)境或時期，盤的材料由于灰塵粘附在盤上、盤上產(chǎn)生劃痕、反復(fù)地記錄等而損壞。在盤上材料損壞的區(qū)域中，可能出現(xiàn)超過糾錯碼提供的糾錯能力的水平的錯誤。從盤的可靠性的角度上來看，這樣一個區(qū)域不能用于數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)。(此后，這樣的一個區(qū)域?qū)⒈环Q為“缺陷區(qū)域”。)常規(guī)的可重寫盤一般地具有一個用于補(bǔ)償缺陷區(qū)域的保留區(qū)域(此后，這樣的一個保留區(qū)域?qū)⒈环Q為“缺陷替代區(qū)域”)。當(dāng)在記錄數(shù)據(jù)的同時檢測到一個缺陷區(qū)域時，記錄裝置把本來要記錄在缺陷區(qū)域中的數(shù)據(jù)記錄在缺陷替代區(qū)域的一個正常區(qū)域中。這樣，數(shù)據(jù)的可靠性得到保證。這樣的處理一般地被稱為缺陷管理處理。缺陷管理處理允許一個可重寫盤被看作無誤差的。
此后，參照圖4到7，將以4.7GB DVD-RAM(數(shù)字通用盤-隨機(jī)存取存儲器)為例來描述常規(guī)的缺陷管理方法。
圖4顯示了一個常規(guī)的可重寫盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。如圖4的(a)部分中所示，盤包括一個引入?yún)^(qū)域、一個數(shù)據(jù)區(qū)域和一個導(dǎo)出區(qū)域。
引入?yún)^(qū)域包括一個控制數(shù)據(jù)區(qū)域、一個測試區(qū)域和兩個缺陷管理區(qū)域?？刂茢?shù)據(jù)區(qū)域具有在其中形成的凹陷和凸起部分，并且是不可重寫的。在控制數(shù)據(jù)區(qū)域中，記錄由盤記錄/再現(xiàn)裝置參考的控制數(shù)據(jù)、例如盤的類型和物理參數(shù)。測試區(qū)域是可重寫的并且用于記錄當(dāng)盤的制造者在發(fā)貨之前確認(rèn)質(zhì)量時執(zhí)行的處理或用于記錄當(dāng)記錄裝置調(diào)整控制參數(shù)時執(zhí)行的處理。兩個缺陷管理區(qū)域都是可重寫的。在兩個缺陷管理區(qū)域中，分別記錄缺陷管理信息1和缺陷管理信息2。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2具有相同的內(nèi)容。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2中的每一個都包括依賴于盤結(jié)構(gòu)的內(nèi)容、比如區(qū)段(zone)的數(shù)量等，以及關(guān)于盤上缺陷區(qū)域的信息。缺陷管理信息1和缺陷管理信息2的內(nèi)容的細(xì)節(jié)將在下面參照圖4的(b)部分描述。
數(shù)據(jù)區(qū)段被分成區(qū)段0到區(qū)段34的35個區(qū)段。如圖4的(c)部分中所示，區(qū)段0包括一個包括可用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的第一缺陷替代區(qū)域，和用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域。區(qū)段0到區(qū)段33中的每一個都包括一個用戶區(qū)域。如圖4的(d)部分中所示，區(qū)段34包括一個用戶區(qū)域和一個可以被另外設(shè)置的第二缺陷替代區(qū)域。這里，“可以被另外設(shè)置”意思是第二缺陷替代區(qū)域的存在/不存在以及第二缺陷區(qū)域的大小可以被設(shè)置。
導(dǎo)出區(qū)域包括兩個缺陷管理區(qū)域和一個測試區(qū)域。在兩個缺陷管理區(qū)域中，分別記錄缺陷管理信息3和缺陷管理信息4。缺陷管理信息3和缺陷管理信息4的內(nèi)容與缺陷管理信息1和缺陷管理信息2的內(nèi)容相同。導(dǎo)出區(qū)域的測試區(qū)域用于盤的制造者執(zhí)行的質(zhì)量確認(rèn)和由記錄/再現(xiàn)裝置執(zhí)行的控制參數(shù)的調(diào)整。
圖4的(b)部分顯示了缺陷管理信息的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。缺陷管理信息包括一個介質(zhì)定義結(jié)構(gòu)(DDS；盤定義結(jié)構(gòu))、一個初級缺陷表(PDL；初級缺陷表)和一個次級缺陷表(SDL；次級缺陷表)。在DDS中，記錄了比如盤的缺陷管理組數(shù)(用戶區(qū)域和缺陷替代區(qū)域?qū)?pair)的數(shù)目；在4.7GB DVD-RAM的情況中數(shù)目為1)和更新的次數(shù)的信息。在PDL中，記錄了關(guān)于在盤的物理格式化時檢測到的缺陷區(qū)域的位置的信息。在SDL中，記錄了用于管理在盤的物理格式化后檢測到的缺陷區(qū)域的信息。
圖4的(e)部分顯示了PDL的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。一個PDL標(biāo)識符是用于識別一個PDL的特定的識別碼(即，0001h(h是一個十六進(jìn)制數(shù)))。一個PDL登記數(shù)代表位于PDL登記數(shù)之后的登記的缺陷位置信息的條數(shù)。在圖4的(e)部分顯示的例子中，PDL登記數(shù)是m(m是一個正整數(shù))。第一缺陷PSN是一個在物理格式化時檢測為一個缺陷的扇區(qū)的PSN(物理扇區(qū)號)。這里，PSN是分配給每一個扇區(qū)的用于識別盤上的扇區(qū)的一個唯一的號。PDL的一個未使用的區(qū)域被寫入FFh數(shù)據(jù)。缺陷區(qū)域和替代區(qū)域之間的關(guān)系將在下面參照圖6描述。
圖4的(f)部分顯示了SDL的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。SDL標(biāo)識符是用于識別SDL的特定的識別碼(即，0002h(h是十六進(jìn)制數(shù)))。SDL更新數(shù)是SDL被更新的次數(shù)。第二缺陷替代區(qū)域的起始PSN可以被另外設(shè)置?？傔壿媺K數(shù)是可以用作用戶區(qū)域的塊的數(shù)目。
替代區(qū)域用盡標(biāo)志包括顯示在第一缺陷替代區(qū)域中是否存在空區(qū)域的1個二進(jìn)制位和顯示在第二缺陷替代區(qū)域中是否存在空區(qū)域的1個二進(jìn)制位。每一個二進(jìn)制位都被設(shè)置為值1或0。值1指示在各自的缺陷替代區(qū)域中不存在空區(qū)域。值0指示在各自的缺陷替代區(qū)域中存在空區(qū)域。
PDL更新數(shù)是PDL被更新的次數(shù)。DDS和PDL同時地被更新。這樣，PDL更新數(shù)也是DDS被更新的次數(shù)。
SDL登記數(shù)代表位于SDL登記數(shù)后的登記的缺陷位置信息的條數(shù)。在圖4的(f)部分顯示的例子中，SDL登記數(shù)是n(n是一個正整數(shù))。
第一缺陷PSN是一個在SDL中登記的缺陷區(qū)域的引入扇區(qū)的PSN(物理扇區(qū)號)。
第一替代PSN是一個在替代由第一缺陷PSN指定的缺陷區(qū)域的缺陷替代區(qū)域中的替代區(qū)域(正常區(qū)域)的引入扇區(qū)的PSN。
如上所述，在SDL中，缺陷區(qū)域的引入扇區(qū)的PSN(缺陷PSN)和為此的替代區(qū)域的引入扇區(qū)的PSN(替代PSN)被登記為一對。在圖4的(f)部分顯示的例子中，數(shù)目為n的缺陷PSN和替代PSN對在SDL中登記，并且按照缺陷區(qū)域的PSN的順序以升序排列。SDL的一個未使用的區(qū)域被填入FFh數(shù)據(jù)。缺陷區(qū)域和替代區(qū)域之間的關(guān)系將在下面參照圖7描述。
此后，參照圖5，將描述在4.7GB DVD-RAM盤中使用的ECC(糾錯碼)塊。4.7GB DVD-RAM盤的最小單位是扇區(qū)，但是數(shù)據(jù)記錄單位是一個ECC塊。一個ECC塊包括16個扇區(qū)。
圖5的(a)部分顯示了記錄在盤上的ECC塊的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。在一個扇區(qū)中，記錄了12個用戶數(shù)據(jù)行(一個用戶數(shù)據(jù)行等于172個字節(jié)，一個字節(jié)等于8個二進(jìn)制位)、12個內(nèi)部代碼行(一個內(nèi)部代碼行等于10個字節(jié))、一個外部代碼行(172個字節(jié))和一個內(nèi)部和外部代碼行(10個字節(jié))。
當(dāng)從盤中讀取上面提到的數(shù)據(jù)時，這些數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換成具有圖5的(b)部分中所示的ECC塊結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)。對于再現(xiàn)數(shù)據(jù)，首先，12個用戶數(shù)據(jù)行和12個內(nèi)部代碼行被連接在一起。然后，分散排列的全部16個外部代碼行和全部16個內(nèi)部代碼行，即一個外部代碼行和一個內(nèi)部代碼行對一個扇區(qū)，被連接到ECC塊結(jié)構(gòu)的尾部。一個內(nèi)部代碼行m(m是0到11的整數(shù))是附在用戶數(shù)據(jù)行m的糾錯碼，并且用于執(zhí)行圖5的(b)部分中橫向的校正。外部代碼行用于執(zhí)行在整個ECC塊中縱向的校正。
內(nèi)部和外部代碼位于橫向和縱向相交的部分，并且用于校正橫向的外部代碼行和校正縱向的內(nèi)部代碼行。對于記錄數(shù)據(jù)，相反地，如圖5的(b)部分所示，該裝置首先產(chǎn)生對應(yīng)于用戶數(shù)據(jù)行的內(nèi)部代碼、外部代碼以及內(nèi)部和外部代碼。然后，記錄外部代碼行以及內(nèi)部和外部代碼行，使得外部代碼行以及內(nèi)部和外部代碼行被分布在扇區(qū)中。
如上所述，在4.7GB DVD-RAM盤的情況中，糾錯碼的產(chǎn)生和使用糾錯碼執(zhí)行的糾錯處理不能被逐個扇區(qū)地執(zhí)行。因此，用于記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單位是一個包括16個扇區(qū)的ECC塊。參照圖4描述的缺陷區(qū)域到SDL的登記也以一個ECC塊為單位來執(zhí)行。
接著，參照圖6，將描述在物理格式化時檢測的缺陷區(qū)域的常規(guī)缺陷管理方法。圖6的(a)部分顯示在物理格式化時，在區(qū)段0和區(qū)段n(n是0到34的整數(shù))中檢測到的例示缺陷區(qū)域。在物理格式化時，執(zhí)行記錄然后逐個區(qū)段執(zhí)行再現(xiàn)，使得缺陷扇區(qū)被檢測為缺陷區(qū)域。記錄和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的單位是一個包括16個扇區(qū)的ECC塊，但是錯誤可以逐個扇區(qū)檢測，因?yàn)榧m錯僅僅在數(shù)據(jù)再現(xiàn)的時候在橫向執(zhí)行。
假設(shè)，如圖6的(a)部分所示，在區(qū)段0中檢測到兩個缺陷扇區(qū)(缺陷扇區(qū)#1和#2)，在區(qū)段n中檢測到三個缺陷扇區(qū)(缺陷扇區(qū)#3、#4和#5)。在這個情況中，PSN被登記到PDL，作為代表這些缺陷扇區(qū)的位置的信息。
在區(qū)段0中的兩個扇區(qū)中檢測到缺陷的情況下，在區(qū)段0的尾部形成一個不用于記錄用戶數(shù)據(jù)的區(qū)域。這個區(qū)域稱為小片段(fraction)。在圖6的(a)部分中所示的例子中，小片段中的扇區(qū)的數(shù)目是14。調(diào)整小片段中的扇區(qū)的數(shù)目使得區(qū)段0中可使用扇區(qū)的數(shù)目是包括在一個ECC塊中的扇區(qū)數(shù)目的倍數(shù)(即16)。
類似地，在區(qū)段n中的三個扇區(qū)中檢測到缺陷的情況下，在區(qū)段n的尾部形成一個包括13個扇區(qū)的小片段。
等于由缺陷扇區(qū)#1到#5(在圖6的(a)部分中所示的例子中，2ECC塊＝32個扇區(qū))減小了的用戶區(qū)域的大小的第一缺陷替代區(qū)域的尾部的一個區(qū)域被用作用戶區(qū)域。這樣，通過用第一缺陷替代區(qū)域的一部分替代用戶區(qū)域，可以保證用戶區(qū)域的可使用的大小。例如，通過把被分配了邏輯扇區(qū)號(LSN)0(即，LSN0)的扇區(qū)的位置從用戶區(qū)域向第一缺陷替代區(qū)域移動相當(dāng)于由缺陷扇區(qū)#1到#5減小的用戶區(qū)域的大小來實(shí)現(xiàn)這樣的替代。
數(shù)據(jù)的記錄和再現(xiàn)以一個ECC塊為單位(以16個扇區(qū)為單位)從用戶區(qū)域的前端執(zhí)行。那時，跳過PDL中登記的缺陷扇區(qū)。
接著，參照圖7，將描述在用戶數(shù)據(jù)的記錄時檢測到的缺陷區(qū)域的常規(guī)管理方法。
圖7的(a)部分顯示了在用戶數(shù)據(jù)的記錄時在區(qū)段0和區(qū)段n(n是0到34的整數(shù))中檢測的例示缺陷區(qū)域和用于替代缺陷區(qū)域的替代區(qū)域。
假設(shè)，如圖7的(a)部分中所示，在區(qū)段0中檢測到兩個缺陷扇區(qū)(缺陷扇區(qū)#1和#2)，在區(qū)段n中檢測到三個缺陷扇區(qū)(缺陷扇區(qū)#3、#4和#5)。在這個情況中，在第一缺陷替代區(qū)域中的替代塊#1被分配給缺陷塊#1，并且作為一對的缺陷塊#1的PSN和替代塊#1的PSN登記在SDL的SDL入口#1(見圖7的(b)部分)。有缺陷的塊#2到#5以類似的方式處理。
在這里，“缺陷塊”指包括缺陷扇區(qū)的以一個ECC塊為單位的缺陷區(qū)域。“替代塊”指可用于替代缺陷塊的以一個ECC塊為單位的替代區(qū)域。
在圖7的(a)部分中顯示的例子中，區(qū)段0的缺陷塊#1由相同區(qū)段的缺陷替代區(qū)域中的替代塊#1替代。因此，當(dāng)發(fā)出用于在缺陷塊中記錄數(shù)據(jù)的請求時，要記錄在有缺陷的塊#1中的數(shù)據(jù)被記錄在替代塊#1中。結(jié)果，數(shù)據(jù)記錄被無誤地完成。以這種方式，缺陷替代處理通過由替代塊替代缺陷塊來實(shí)現(xiàn)，使得即使當(dāng)該用戶區(qū)域包括缺陷區(qū)域時該介質(zhì)也可以表現(xiàn)得好象沒有缺陷。
如上所述，缺陷替代區(qū)域僅僅用于對在用戶區(qū)域中產(chǎn)生的缺陷區(qū)域的替代處理。該缺陷替代區(qū)域在不存在缺陷區(qū)域時不用于數(shù)據(jù)存儲。為了在SDL中登記一個替代區(qū)域時設(shè)置替代塊地址，將一個沒有替代的標(biāo)志(圖7的(c)部分)設(shè)置為0。
在用戶區(qū)域中產(chǎn)生的缺陷塊被順序地從其端部分配到第一缺陷替代區(qū)域。這有助于選擇下面可以使用的替代塊。當(dāng)在一個替代塊中的數(shù)據(jù)記錄失敗時，嘗試把數(shù)據(jù)記錄到緊挨著第一個塊的下一個塊中。當(dāng)在第一缺陷替代區(qū)域中沒有更多可使用的區(qū)域時(即，當(dāng)在第一缺陷替代區(qū)域中沒有空區(qū)域時)，在SDL中，關(guān)于第一缺陷替代區(qū)域的替代區(qū)域用盡標(biāo)志被設(shè)置。在第二缺陷替代區(qū)域被分配到缺陷替代區(qū)域的情況中，此后產(chǎn)生的缺陷由第二缺陷替代區(qū)域來替代。
從上面可以看到，當(dāng)一張物理格式化的盤被用于記錄用戶數(shù)據(jù)時，在物理格式化時初始地確定登記在PDL中的缺陷扇區(qū)的數(shù)目，但是隨著由于盤上的手印或灰塵產(chǎn)生的缺陷的數(shù)目增多，登記在SDL中的缺陷塊的數(shù)目可以增加。例如，登記在SDL中的缺陷塊的數(shù)目上的這種增加導(dǎo)致了記錄和再現(xiàn)的執(zhí)行速度的降低以及數(shù)據(jù)可靠性的減小。
可以通過擦去盤上的手印或灰塵然后再次物理格式化來減少在SDL中登記的缺陷塊的數(shù)目。
但是，盤的物理格式化需要整個盤的記錄和再現(xiàn)，并且盤的初始化太費(fèi)時間。例如，使用4.7GB DVD-RAM驅(qū)動器物理格式化一張4.7GB的盤需要大約一個小時。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目標(biāo)是提供一個信息記錄裝置、信息記錄方法和用于以短的時間初始化一張盤的程序。
依據(jù)本發(fā)明，提供一個用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄裝置，所述信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括可用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，所述裝置包括缺陷列表更新部分，用于更新具有在其中登記的表示用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及，記錄部分，用于基于更新的缺陷列表在信息記錄介質(zhì)上記錄信息。缺陷列表更新部分判定由在缺陷列表中登記的缺陷地址指定的區(qū)域是否是一個缺陷區(qū)域，并且當(dāng)缺陷地址指定的區(qū)域被判定不是缺陷區(qū)域時，缺陷列表更新部分從該缺陷列表中刪除這個登記在缺陷列表中的缺陷地址。這樣，達(dá)到了上述目標(biāo)。
缺陷列表可以是一個次級缺陷列表，包括代表當(dāng)在信息記錄介質(zhì)上記錄信息時檢測的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的位置的替代地址。
當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定是一個缺陷區(qū)域時，缺陷列表更新部分可以更新缺陷列表使得替代地址不會分配給缺陷地址。
缺陷列表進(jìn)一步可以包括一個指示替代地址是否已經(jīng)被分配給缺陷地址的標(biāo)志，并且可以由該標(biāo)志顯示替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)。
缺陷區(qū)域可以是包括一個缺陷扇區(qū)的ECC塊，并且可以以一個ECC塊為單位執(zhí)行由替代區(qū)域替代缺陷區(qū)域的缺陷替代處理。
依據(jù)本發(fā)明，一提供種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄方法，所述信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括可用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，所述信息記錄方法包括更新具有在其中登記的代表用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步驟；以及，基于更新的缺陷列表在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的步驟。更新缺陷列表的步驟包括如下步驟，判定由登記在缺陷列表中的缺陷地址指定的區(qū)域是否是缺陷區(qū)域，并且，當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定不是一個缺陷區(qū)域時，從缺陷列表刪除登記在缺陷列表中的缺陷地址。這樣，達(dá)到了上述目標(biāo)。
依據(jù)本發(fā)明的一個程序是用于使一個信息記錄裝置執(zhí)行初始化一個信息記錄介質(zhì)的初始化處理的程序，其中信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域。初始化處理包括更新一個具有在其中登記的代表用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步驟。更新缺陷列表的步驟包括如下步驟，判定由登記在缺陷列表的缺陷地址指定的區(qū)域是否是缺陷區(qū)域，并且當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定不是缺陷區(qū)域時，從缺陷列表刪除登記在缺陷列表中的缺陷地址。
依據(jù)本發(fā)明，提供一種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄裝置，其中信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括可用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，缺陷替代區(qū)域的大小可以可變地設(shè)置，所述信息記錄裝置包括缺陷列表更新部分，用于更新具有在其中登記的表示用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表；以及，記錄部分，用于基于更新的缺陷列表在信息記錄介質(zhì)上記錄信息。缺陷列表更新部分判定缺陷替代區(qū)域的至少一個部分是否將替代用戶區(qū)域，當(dāng)判定缺陷替代區(qū)域的至少一部分將替代用戶區(qū)域時，缺陷列表更新部分檢查將替代用戶區(qū)域的缺陷替代區(qū)域的那部分是否包括一個缺陷區(qū)域，并且缺陷列表更新部分在缺陷列表中登記代表由檢查檢測到的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址。這樣，達(dá)到了上述目標(biāo)。
缺陷列表可以是一個次級缺陷列表，包括代表當(dāng)在信息記錄介質(zhì)上記錄信息時檢測的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的位置的替代地址。
缺陷列表更新部分可以登記缺陷地址以便提供替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)。
缺陷列表進(jìn)一步可以包括一個指示替代地址是否已經(jīng)被分配給缺陷地址的標(biāo)志，并且可以由該標(biāo)志來顯示替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)。
缺陷區(qū)域可以是一個包括缺陷扇區(qū)的ECC塊，并且可以以一個ECC塊為單位執(zhí)行用替代區(qū)域替代缺陷區(qū)域的缺陷替代處理。
依據(jù)本發(fā)明，用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的另一種信息記錄方法，其中信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括可用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，缺陷替代區(qū)域的大小可以可變地設(shè)置，所述信息記錄方法包括更新一個具有在其中登記代表用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步驟；以及，基于更新的缺陷列表在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的步驟。更新缺陷列表的步驟包括判定是否缺陷替代區(qū)域的至少一個部分將替代用戶區(qū)域，當(dāng)判定缺陷替代區(qū)域的至少一個部分將替代用戶區(qū)域時，檢查將替代用戶區(qū)域的缺陷替代區(qū)域的那部分是否包括一個缺陷區(qū)域，并且在缺陷列表中登記代表由檢查檢測到的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址。這樣，達(dá)到上述目標(biāo)。
依據(jù)本發(fā)明的一個程序是用于使一個信息記錄裝置執(zhí)行初始化一個信息記錄介質(zhì)的初始化處理的程序，其中信息記錄介質(zhì)包括一個用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和一個包括用來替代用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，缺陷替代區(qū)域的大小可以可變地設(shè)置。初始化處理包括更新一個具有在其中登記的代表用戶區(qū)域中缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表的步驟。更新缺陷列表的步驟包括判定缺陷替代區(qū)域的至少一個部分是否將替代用戶區(qū)域，當(dāng)判定缺陷替代區(qū)域的至少一個部分將替代用戶區(qū)域時，檢查將替代用戶區(qū)域的缺陷替代區(qū)域的那部分是否包括一個缺陷區(qū)域，并且在缺陷列表中登記代表由檢查檢測到的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址。這時，達(dá)到上述目標(biāo)。
附圖簡要說明

圖1是顯示依據(jù)本發(fā)明的一個例子的盤記錄驅(qū)動器(信息記錄裝置)110的結(jié)構(gòu)的框圖；圖2是顯示用于初始化盤130的初始化處理的流程的流程圖；
圖3是顯示根據(jù)圖2中顯示的初始化處理更新的缺陷列表的具體的例子；圖4顯示了常規(guī)可重寫盤的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)；圖5顯示了一個ECC塊；圖6顯示了在物理格式化時檢測的缺陷區(qū)域的常規(guī)缺陷管理方法；以及圖7顯示了在用戶數(shù)據(jù)的記錄時檢測的缺陷區(qū)域的常規(guī)缺陷管理方法。
具體實(shí)施例方式
下面，將參照附圖描述本發(fā)明的一個例子。
圖1顯示了依據(jù)本發(fā)明的一個例子的盤記錄驅(qū)動器(信息記錄裝置)110的結(jié)構(gòu)。
盤記錄驅(qū)動器110通過一個驅(qū)動器I/F總線102被連接到一個高級控制部分101。例如，該高級控制部分101是一臺個人計(jì)算機(jī)。例如，驅(qū)動器I/F總線102是一個SCSI(小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口)，它是個人計(jì)算機(jī)的外圍設(shè)備的總線。
高級控制部分101通過驅(qū)動器I/F總線102與盤記錄驅(qū)動器110通信，并且命令該盤記錄驅(qū)動器110在可重寫盤130上記錄數(shù)據(jù)或再現(xiàn)記錄在可重寫盤130上的數(shù)據(jù)。假設(shè)，可重寫盤130基本上具有與圖4中所示的盤相同的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。例如，可重寫盤130是一個DVD-RAM。盡管在下面的描述中可重寫盤將被顯示為信息記錄介質(zhì)的一個例子，本發(fā)明可用于任何信息記錄裝置和任何用于在任何類型的可重寫盤上記錄信息的信息記錄方法。
盤記錄驅(qū)動器110包括I/F控制部分111，用于根據(jù)規(guī)定的協(xié)議(例如，SCSI協(xié)議)發(fā)送和接收指令和數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)緩沖器112，它是用于臨時存儲將要記錄的數(shù)據(jù)和將要被再現(xiàn)的數(shù)據(jù)的存儲器；數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113，用于執(zhí)行到盤130的記錄處理和從盤130的再現(xiàn)處理；以及，缺陷列表管理部分120，用于管理缺陷列表。I/F控制部分111、數(shù)據(jù)緩沖器112、數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113和缺陷列表管理部分120通過控制總線114彼此連接。
包括在盤記錄驅(qū)動器110中的每一部分可以由軟件、硬件或軟件和硬件的組合來實(shí)現(xiàn)。
缺陷列表管理部分120包括檢查位置設(shè)置部分121，用于設(shè)置被檢查的區(qū)域的位置；缺陷列表更新部分122，用于根據(jù)檢查結(jié)果來更新缺陷列表；缺陷列表存儲部分123，用于存儲具有在其中登記的代表存在于用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址的缺陷列表；和第二缺陷替代區(qū)域信息存儲部分124，用于存儲代表第二缺陷替代區(qū)域的大小的信息。
數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113用作用于根據(jù)由缺陷列表更新部分122更新的缺陷列表在盤130上記錄信息的記錄部分。
圖2顯示了用于初始化盤130的初始化處理的流程?？梢蕴峁┦贡P記錄驅(qū)動器110執(zhí)行初始化處理的程序。例如，這樣一個程序可以存儲在盤記錄驅(qū)動器110中的存儲器(未顯示)中。這樣一個程序例如可以由盤記錄驅(qū)動器110中的處理器(未顯示)響應(yīng)于來自高級控制部分101的初始化請求來執(zhí)行。
步驟S201I/F控制部分111接收來自高級控制部分101的“初始化盤130”的初始化請求和第二缺陷替代區(qū)域的指定大小，并且命令檢查位置設(shè)置部分121初始化盤130。
步驟S202檢查位置設(shè)置部分121參考存儲在缺陷列表存儲部分123中的缺陷列表來判定是否有登記在缺陷列表中的缺陷地址(代表缺陷區(qū)域的位置的地址)。
步驟S203當(dāng)存在登記在缺陷列表中的缺陷地址時，數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113被命令來檢查由缺陷地址指定的區(qū)域(例如，從缺陷地址指定的扇區(qū)開始的1個ECC塊的區(qū)域)。數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113提供的檢查結(jié)果被傳送到缺陷列表更新部分122。
在步驟S203中的檢查例如通過把規(guī)定的數(shù)據(jù)記錄在要檢查的區(qū)域中、然后再現(xiàn)數(shù)據(jù)、并且判定所記錄的數(shù)據(jù)是否與再現(xiàn)的數(shù)據(jù)匹配來實(shí)現(xiàn)。
步驟S204缺陷列表更新部分122判定步驟S203中檢查的結(jié)果。當(dāng)檢查的結(jié)果被判定為“OK”(即當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定不是缺陷地址時)，處理前進(jìn)到步驟S205。當(dāng)檢查的結(jié)果被判定為“NG”時(即當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定是缺陷地址時)，處理前進(jìn)到步驟S206。
步驟S205缺陷列表更新部分122從缺陷列表中刪除登記在缺陷列表中的缺陷地址。
步驟S206缺陷列表更新部分122把登記在缺陷列表中的登記的缺陷地址保留在缺陷列表中。
重復(fù)執(zhí)行步驟S203到步驟S206，直到對登記在缺陷列表中的全部缺陷地址的檢查完成(步驟S202)。
以這種方式，缺陷列表被更新?；凇皺z查由登記在缺陷列表中的缺陷地址指定的區(qū)域；并且當(dāng)作為檢查目標(biāo)的區(qū)域被確認(rèn)不是缺陷區(qū)域時，從缺陷列表刪除缺陷地址”的技術(shù)思想執(zhí)行缺陷列表的更新處理。這樣，當(dāng)盤的區(qū)域通過擦去盤上的手印或灰塵從缺陷的狀態(tài)恢復(fù)時，這樣的恢復(fù)可以反映在缺陷列表上。
如上所述，盤130通過更新缺陷列表來初始化。與通過物理格式化來初始化盤130的情況不一樣，初始化處理消除了在整個盤130上執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)的需求。結(jié)果，與通過物理格式化來初始化盤130相比，可以在短得多的時間內(nèi)初始化盤130。
缺陷列表典型地是包括代表當(dāng)數(shù)據(jù)被記錄在盤130上時檢測的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址和代表用于替代缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的位置的替代地址的次級缺陷列表(SDL)。但是，缺陷列表不只局限于SDL。只要代表缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址可以登記在缺陷列表中，缺陷列表可以具有任何數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。
缺陷區(qū)域可能是包括缺陷扇區(qū)的ECC塊。在這種情況中，用替代區(qū)域替代缺陷區(qū)域的缺陷替代處理以ECC塊為單位執(zhí)行。
假設(shè)缺陷列表是SDL。在這種情況中，當(dāng)由缺陷地址指定的區(qū)域被判定為缺陷區(qū)域時，缺陷列表更新部分122最好更新SDL使得替代地址不分配給缺陷地址。SDL以這種方式被更新，使得當(dāng)實(shí)際在盤130上記錄數(shù)據(jù)時新的替代地址可以分配給缺陷地址。結(jié)果，缺陷替代區(qū)域可以沒有浪費(fèi)地有效地使用。
在SDL包括指示替代地址是否已經(jīng)被分配給缺陷地址的標(biāo)志的情況中，標(biāo)志可以被設(shè)置為一個具體的值(例如，1)以便顯示“替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)”。在“替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)”的情況下，替代地址的值可以被設(shè)置為任意的值。在這種情況中，原因是替代地址的值沒有被參考。否則，替代地址的值可以被設(shè)置為0。或者，“替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)”可以通過把替代地址的值設(shè)置為一個具體值(例如，0)而不使用上面提到的標(biāo)志來顯示。在這種情況下，消除了在SDL中為存儲標(biāo)志提供一個區(qū)域的需要。
步驟S207缺陷列表更新部分122判定其大小可以可變地設(shè)置的缺陷替代區(qū)域(在圖4中所示的例子中，是第二缺陷替代區(qū)域)的至少一部分是否將替代用戶區(qū)域，如同盤130的初始化處理所進(jìn)行的。
例如，這樣的判定可以通過比較由高級控制部分101發(fā)出的初始化請求指定的第二缺陷替代區(qū)域的大小(大小1)和當(dāng)前第二缺陷替代區(qū)域的大小(大小2)來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)前第二缺陷替代區(qū)域的大小可以通過參考存儲在第二缺陷替代區(qū)域信息存儲部分124中的信息來獲得。或者，當(dāng)前第二缺陷替代區(qū)域的大小可以基于記錄在SDL中的“第二缺陷替代區(qū)域的起始PSN”上的信息來計(jì)算(圖4)。
當(dāng)大小1＜大小2時，缺陷列表更新部分122判定缺陷替代區(qū)域的至少一部分將替代用戶區(qū)域。結(jié)果，處理前進(jìn)到步驟S208。
當(dāng)大小1≥大小2時，缺陷列表更新部分122判定缺陷替代區(qū)域的沒有任何部分將替代用戶區(qū)域。結(jié)果，處理前進(jìn)到步驟S211，初始化處理完成。
步驟S208缺陷列表更新部分122命令數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113檢查可以用用戶區(qū)域替代的缺陷替代區(qū)域的一部分是否包括一個缺陷區(qū)域。數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)部分113提供的檢查結(jié)果被傳送到缺陷列表更新部分122。
例如，步驟S208中的檢查可以通過在一個要被檢查的區(qū)域中記錄規(guī)定的數(shù)據(jù)、然后再現(xiàn)該數(shù)據(jù)、并判定所記錄的數(shù)據(jù)是否與再現(xiàn)的數(shù)據(jù)匹配來達(dá)到。
步驟S209缺陷列表更新部分122對步驟S208中檢查的結(jié)果作出判定。當(dāng)判定可被用戶區(qū)域替代的缺陷替代區(qū)域的所述部分包括一個缺陷區(qū)域時，處理前進(jìn)到步驟S210。當(dāng)判定所述部分不包括一個缺陷區(qū)域時，處理前進(jìn)到步驟S211，初始化處理完成。
步驟S210缺陷列表更新部分122在缺陷列表中登記一個缺陷地址，它代表在步驟S208中由檢查檢測出的缺陷區(qū)域的位置。
缺陷列表如在步驟S207到S210中一樣更新，這樣代表存在于缺陷替代區(qū)域中但是沒有登記在缺陷列表中的缺陷區(qū)域位置的缺陷地址現(xiàn)在可以登記在缺陷列表中。
在缺陷列表是SDL并且可被用戶區(qū)域替代的缺陷替代區(qū)域的所述部分包括一個缺陷區(qū)域的情況中，缺陷列表更新區(qū)域122最好更新SDL，使得替代地址不分配給代表缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址。SDL以這種方式更新，使得當(dāng)在盤130上實(shí)際記錄數(shù)據(jù)時可以將一個新的替代地址分配給缺陷地址。其結(jié)果是，缺陷替代區(qū)域可以沒有浪費(fèi)地有效地使用。
在SDL包括一個指示替代地址是否已經(jīng)分配給缺陷地址的標(biāo)志的情況中，標(biāo)志可以被設(shè)定為一個具體的值(例如，1)以便顯示“替代地址沒有分配給缺陷地址的狀態(tài)”。替代地址的值可以設(shè)置為0。
接著，參照圖3，描述了如何依據(jù)圖2中顯示的初始化處理來更新缺陷列表。在這個例子中，缺陷列表是一個SDL。
圖3的(a)部分顯示了在SDL被更新前盤130和SDL的一個狀態(tài)。圖3的(b)部分顯示了在SDL被更新后盤130和SDL的一個狀態(tài)。假設(shè)SDL的初始化處理將盤130從圖3的(a)部分中顯示的包括第二缺陷替代區(qū)域的狀態(tài)初始化為圖3的(b)部分中顯示的不包括第二缺陷替代區(qū)域的狀態(tài)。
在SDL被更新前的狀態(tài)中(圖3的(a)部分)，假設(shè)如下缺陷塊1由替代塊1替代，缺陷塊2由替代塊2替代，以及用于將缺陷塊3替代為替代塊3的缺陷替代處理失敗；結(jié)果，缺陷塊3由替代塊4替代。還假設(shè)盤130的缺陷狀態(tài)已經(jīng)由于盤130的表面被清潔等原因改變，這樣缺陷塊2變成一個正常塊。
在這樣的條件下，執(zhí)行圖2中顯示的初始化處理。然后，由在SDL中登記的缺陷塊地址指定的缺陷塊被順序地檢查。結(jié)果，缺陷塊1的地址和缺陷塊3的地址保留在SDL中，而缺陷塊2的地址從SDL刪除。原因是缺陷塊1和3仍然是缺陷塊，但是缺陷塊2已經(jīng)變成一個正常塊。
然后，檢查可以由用戶區(qū)域替代的第二缺陷替代區(qū)域的一部分(在圖3中顯示的例子中，第二缺陷替代區(qū)域的全部)是否包括一個缺陷區(qū)域。結(jié)果，在圖3的(a)部分中所示的替代塊3被檢測為缺陷塊。這樣，替代塊3在SDL中被登記為缺陷塊4(圖3的(b)部分)。
在圖3的(b)部分中所示的例子中，對應(yīng)于缺陷塊1、3和4的無替代標(biāo)志的值被設(shè)置為1，并且替代塊地址的值被設(shè)置為0。這里，“無替代標(biāo)志”指一個指示一個替代塊地址是否已經(jīng)分配給缺陷塊地址的標(biāo)志。無替代標(biāo)志的值0指示一個替代塊地址已經(jīng)分配給缺陷塊地址，無替代標(biāo)志的值1指示該替代塊地址被分配給缺陷塊地址。
在圖3中顯示的例子中，數(shù)據(jù)區(qū)域包括具有固定大小的第一缺陷替代區(qū)域和大小可以變化地設(shè)置的第二缺陷替代區(qū)域。包括在數(shù)據(jù)區(qū)域中的缺陷替代區(qū)域的數(shù)目和缺陷替代區(qū)域的排列不局限于圖3中顯示的那些情況。只要一個數(shù)據(jù)區(qū)域包括至少一個缺陷替代區(qū)域，其大小可以變化地設(shè)置，則本發(fā)明可應(yīng)用于用于在包括這樣的數(shù)據(jù)區(qū)域的任何信息記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)的任何信息記錄裝置和任何信息記錄方法。
在本發(fā)明的上述例子中，通過使用記錄和再現(xiàn)的數(shù)據(jù)比較來檢查塊?？梢酝ㄟ^僅僅從所述塊再現(xiàn)數(shù)據(jù)來執(zhí)行檢查。
工業(yè)實(shí)用性依據(jù)本發(fā)明的信息記錄裝置，信息記錄介質(zhì)可以通過僅僅更新缺陷列表來初始化。這個初始化處理消除了在整個信息記錄介質(zhì)上執(zhí)行數(shù)據(jù)記錄和再現(xiàn)的需要，與通過物理格式化來初始化信息記錄介質(zhì)的情況不同。結(jié)果，與通過物理格式化來初始化信息記錄介質(zhì)相比，信息記錄介質(zhì)可以以顯著縮短的時間被初始化。
依據(jù)本發(fā)明的信息記錄介質(zhì)，第二缺陷列表可以被更新使得替代地址不分配給次級缺陷列表中的缺陷地址。次級缺陷列表以這種方式更新，使得當(dāng)在信息記錄介質(zhì)上實(shí)際記錄數(shù)據(jù)時，新的替代地址可以被分配給缺陷地址。結(jié)果，可以不浪費(fèi)地高效率地使用缺陷替代區(qū)域。
依據(jù)本發(fā)明的信息記錄裝置，在可以被用戶區(qū)域替代的缺陷替代區(qū)域的一部分包括一個缺陷區(qū)域的情況中，代表缺陷區(qū)域的部分的缺陷地址被登記在缺陷列表中。結(jié)果，代表存在于缺陷替代區(qū)域中但是沒有在缺陷列表中登記的缺陷區(qū)域位置的缺陷地址現(xiàn)在可以登記在缺陷列表中。
依據(jù)本發(fā)明的信息記錄方法和程序?qū)嵸|(zhì)上提供了與上述描述相同的效果。
權(quán)利要求
1.一種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄裝置，其中，該信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和包括可用于替代該用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，該缺陷替代區(qū)域的大小可變化地設(shè)置，所述信息記錄裝置包括缺陷列表更新部分，用于更新缺陷列表，所述缺陷列表中登記有代表在該用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址；以及記錄部分，用于基于該更新的缺陷列表在該信息記錄介質(zhì)上記錄信息，其中基于所述缺陷替代區(qū)域的大小與一個由初始化請求指定的缺陷替代區(qū)域的大小的比較結(jié)果，該缺陷列表更新部分判定該缺陷替代區(qū)域的至少一部分是否將替代該用戶區(qū)域，當(dāng)判定該缺陷替代區(qū)域的至少一部分將替代該用戶區(qū)域時，該缺陷列表更新部分用該缺陷替代區(qū)域的至少一部分替代該用戶區(qū)域，以便擴(kuò)大用戶區(qū)域的大小，并檢查將替代該用戶區(qū)域的該缺陷替代區(qū)域的所述部分是否包括一個缺陷區(qū)域，以及該缺陷列表更新部分在該缺陷列表中登記代表由所述檢查檢測出的該缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址。
2.依據(jù)權(quán)利要求1的信息記錄裝置，其中，該缺陷列表是一個次級缺陷列表，該次級缺陷列表包括代表在該信息記錄介質(zhì)上記錄信息時檢測的該缺陷區(qū)域的位置的該缺陷地址和代表用于替代該缺陷區(qū)域的該替代區(qū)域的位置的替代地址。
3.依據(jù)權(quán)利要求2的信息記錄裝置，其中，該缺陷列表更新部分登記該缺陷地址，以便提供該替代地址不分配給該缺陷地址的狀態(tài)。
4.依據(jù)權(quán)利要求3的信息記錄裝置，其中，該缺陷列表進(jìn)一步包括一個指示該替代地址是否已經(jīng)被分配給該缺陷地址的標(biāo)志，并且所述標(biāo)志指示該替代地址沒有被分配給該缺陷地址的狀態(tài)。
5.依據(jù)權(quán)利要求1的信息記錄裝置，其中，該缺陷區(qū)域是一個包括一個缺陷扇區(qū)的ECC塊，并且以一個ECC塊為單位執(zhí)行用該替代區(qū)域替代該缺陷區(qū)域的缺陷替代處理。
6.一種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄方法，其中，該信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和包括可用于替代該用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的替代區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，該缺陷替代區(qū)域的大小可變化地設(shè)置，所述信息記錄方法包括如下步驟更新缺陷列表，所述缺陷列表中登記有代表該用戶區(qū)域中的該缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址；以及基于該更新的缺陷列表在該信息記錄介質(zhì)上記錄信息，其中，更新該缺陷列表的步驟包括如下步驟基于所述缺陷替代區(qū)域的大小與一個由初始化請求指定的缺陷替代區(qū)域的大小的比較結(jié)果，判定是否該缺陷替代區(qū)域的至少一部分將替代該用戶區(qū)域，當(dāng)判定該缺陷替代區(qū)域的至少一部分將替代該用戶區(qū)域時，用該缺陷替代區(qū)域的至少一部分替代該用戶區(qū)域，以便擴(kuò)大該用戶區(qū)域的大小，并檢查將替代該用戶區(qū)域的該缺陷替代區(qū)域的所述部分是否包括一個缺陷區(qū)域，以及在該缺陷列表中登記代表由所述檢查檢測到的該缺陷區(qū)域的位置的該缺陷地址。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄裝置，其中，該信息記錄介質(zhì)包括用于記錄用戶數(shù)據(jù)的用戶區(qū)域和包括可用于替代該用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的缺陷替代區(qū)域，該缺陷替代區(qū)域的大小可變化地設(shè)置，所述信息記錄裝置包括缺陷列表更新部分，用于更新缺陷列表，所述缺陷列表中登記有代表在該用戶區(qū)域中的缺陷區(qū)域的位置的缺陷地址；以及記錄部分，用于基于該更新的缺陷列表在該信息記錄介質(zhì)上記錄信息。本發(fā)明還公開了一種用于在信息記錄介質(zhì)上記錄信息的信息記錄方法。
文檔編號G11B20/18GK1691178SQ20051006244
公開日2005年11月2日 申請日期2001年4月4日 優(yōu)先權(quán)日2000年4月5日
發(fā)明者植田宏, 高內(nèi)健次, 三井義隆, 伊藤基志 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社