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一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制的制作方法

文檔序號:12824610閱讀:219來源:國知局
一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制的制作方法與工藝

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)領(lǐng)域,尤其涉及一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制。



背景技術(shù):

內(nèi)嵌式存儲器(embeddedmultimediacard,emmc)是一種主要針對于手機(jī)或平板電腦等電子設(shè)備的內(nèi)嵌式存儲器。其中,內(nèi)嵌式存儲器中包含了nandflash,目前,nandflash逐漸成為嵌入式系統(tǒng)的主要存儲介質(zhì)之一,所存儲的數(shù)據(jù)龐大復(fù)雜,必須使用文件系統(tǒng)予以管理。

為了便于管理nandflash上的數(shù)據(jù),引入了ftl(flashtranslationlayer,文件傳輸層),一旦ftl出現(xiàn)問題,那么會使數(shù)據(jù)讀寫發(fā)生錯(cuò)誤,更為嚴(yán)重的是內(nèi)嵌式存儲器無法被訪問;由此可見,ftl的穩(wěn)定性及效率對內(nèi)嵌式存儲器來說至關(guān)重要。在應(yīng)用ftl對emmc中nandflash上的數(shù)據(jù)進(jìn)行管理時(shí),首先應(yīng)該對ftl進(jìn)行測試,其中測試的重要內(nèi)容之一就是ftl對錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別能力。

現(xiàn)有技術(shù)中,在ftl的測試過程中,需要不斷地訪問nandflash上的數(shù)據(jù),通過反饋結(jié)果判斷ftl的穩(wěn)定性及效率,包括對錯(cuò)誤數(shù)據(jù)識別的穩(wěn)定性及效率,因此,在采用的模擬nandflash裝置存儲的測試數(shù)據(jù)中,需要足夠的錯(cuò)誤數(shù)據(jù),顯然,如何獲得足夠的錯(cuò)誤數(shù)據(jù)是測試ftl的重要技術(shù)環(huán)節(jié)。



技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例提供一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制,系統(tǒng)及方法簡單易行,滿足對ftl錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別能力進(jìn)行測試的需求。

本發(fā)明實(shí)施例提供了一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入系統(tǒng),所述系統(tǒng)設(shè)置在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi),所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)和測試系統(tǒng),所述設(shè)備系統(tǒng)用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)的測試,其特征在于,用于模擬內(nèi)嵌式存 儲器錯(cuò)誤信息的插入,包括:

錯(cuò)誤列表模塊,設(shè)置有錯(cuò)誤列表,用于記錄所有插入的錯(cuò)誤信息;

設(shè)置錯(cuò)誤模塊,用于錯(cuò)誤的設(shè)置,測試系統(tǒng)把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

檢查錯(cuò)誤模塊,用于遍歷錯(cuò)誤列表,檢查錯(cuò)誤的類型、數(shù)值;

觸發(fā)錯(cuò)誤模塊,用于返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)。

優(yōu)選的,所述設(shè)備系統(tǒng)包括前端硬件模擬模塊、文件傳輸層ftl和包括nand模擬模塊的后端硬件模擬模塊,所述前端硬件模擬模塊與測試系統(tǒng)連接,用于對測試命令的解析以及測試命令和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl與前端硬件模擬模塊連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊,后端硬件模擬模塊與ftl連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

所述觸發(fā)錯(cuò)誤模塊,用于返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊。

優(yōu)選的,所述設(shè)置錯(cuò)誤模塊,包括:

錯(cuò)誤接口,用于所述測試系統(tǒng)通過錯(cuò)誤接口把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中。

另一方面,本發(fā)明還公開了一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入方法,所述方法在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi)執(zhí)行,所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)和測試系統(tǒng),所述設(shè)備系統(tǒng)用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)的測試,其特征在于,

包括:

設(shè)置錯(cuò)誤步驟,設(shè)置錯(cuò)誤,測試系統(tǒng)把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

檢查錯(cuò)誤步驟,遍歷錯(cuò)誤列表,檢查錯(cuò)誤的類型、數(shù)值;

觸發(fā)錯(cuò)誤步驟,返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)。

優(yōu)選的,所述方法在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi)執(zhí)行,所述設(shè)備系統(tǒng)包括前端硬件模擬模塊、文件傳輸層ftl和包括nand模擬模塊的后端硬件模擬模塊,所述前端硬件模擬模塊與測試系統(tǒng)連接,用于對測試命令的解析以及測試命令和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl與前端硬件模擬模塊連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊,后端硬件模擬模塊與ftl連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

所述觸發(fā)錯(cuò)誤步驟,返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊;

識別錯(cuò)誤步驟,ftl識別錯(cuò)誤數(shù)據(jù),并報(bào)告測試系統(tǒng)。

優(yōu)選的,所述設(shè)置錯(cuò)誤步驟,包括:

所述測試系統(tǒng)通過錯(cuò)誤接口把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中。

本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn):

本發(fā)明提供了一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制,即錯(cuò)誤插入系統(tǒng)及方法,該系統(tǒng)設(shè)置在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi),方法也在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi)執(zhí)行,用于模擬內(nèi)嵌式存儲器錯(cuò)誤信息的插入,滿足對ftl進(jìn)行測試的需要,易于操作和使用。

附圖說明

圖1是本發(fā)明一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入系統(tǒng)實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)圖;

圖2是本發(fā)明一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入系統(tǒng)實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)圖;

圖3是本發(fā)明一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入方法實(shí)施例1的流程圖;

圖4是本發(fā)明的一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入方法實(shí)施例2的流程圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂,下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

參照圖1,示出了本發(fā)明一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入系統(tǒng)103實(shí)施例1的結(jié)構(gòu)圖,所述系統(tǒng)設(shè)置在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi),所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)101和測試系統(tǒng)102,所述設(shè)備系統(tǒng)101用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)102用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)101的測試,所述設(shè)備系統(tǒng)101包括前端硬件模擬模塊111、文件傳輸層ftl121和包括nand模擬模塊1311的后端硬件模擬模塊131,所述前端硬件模擬模塊111與測試系統(tǒng)102連接,用于對測試命令的解析以及測試命令 和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl121與前端硬件模擬模塊111連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊131,后端硬件模擬模塊131與ftl121連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

該錯(cuò)誤插入系統(tǒng)103用于模擬內(nèi)嵌式存儲器錯(cuò)誤信息的插入,包括:

錯(cuò)誤列表模塊113,設(shè)置有錯(cuò)誤列表,用于記錄所有插入的錯(cuò)誤信息;

設(shè)置錯(cuò)誤模塊143,用于錯(cuò)誤的設(shè)置,測試系統(tǒng)把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

檢查錯(cuò)誤模塊133,用于遍歷錯(cuò)誤列表,檢查錯(cuò)誤的類型、數(shù)值;

觸發(fā)錯(cuò)誤模塊123,用于返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊131,即是nand模擬模塊1311。

參照圖2,示出了本發(fā)明一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入系統(tǒng)203實(shí)施例2的結(jié)構(gòu)圖,所述系統(tǒng)設(shè)置在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi),所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)201和測試系統(tǒng)202,所述設(shè)備系統(tǒng)201用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)202用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)201的測試,所述設(shè)備系統(tǒng)201包括前端硬件模擬模塊211、文件傳輸層ftl221和包括nand模擬模塊2311的后端硬件模擬模塊231,所述前端硬件模擬模塊211與測試系統(tǒng)202連接,用于對測試命令的解析以及測試命令和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl221與前端硬件模擬模塊211連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊231,后端硬件模擬模塊231與ftl221連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

該錯(cuò)誤插入系統(tǒng)203用于模擬內(nèi)嵌式存儲器錯(cuò)誤信息的插入,包括:

錯(cuò)誤列表模塊213,設(shè)置有錯(cuò)誤列表,用于記錄所有插入的錯(cuò)誤信息;

設(shè)置錯(cuò)誤模塊243,用于錯(cuò)誤的設(shè)置,測試系統(tǒng)把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

檢查錯(cuò)誤模塊233,用于遍歷錯(cuò)誤列表,檢查錯(cuò)誤的類型、數(shù)值;

觸發(fā)錯(cuò)誤模塊223,用于返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊231,即是nand模擬模塊2311。

所述設(shè)置錯(cuò)誤模塊243,包括:

錯(cuò)誤接口2431,用于所述測試系統(tǒng)202通過錯(cuò)誤接口2431把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中。

參照圖3,示出了本發(fā)明的一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入方法實(shí)施例1的流程圖,所述方法在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi)執(zhí)行,所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)和測試系統(tǒng),所述設(shè)備系統(tǒng)用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)的測試,所述設(shè)備系統(tǒng)包括前端硬件模擬模塊、文件傳輸層ftl和包括nand模擬模塊的后端硬件模擬模塊,所述前端硬件模擬模塊與測試系統(tǒng)連接,用于對測試命令的解析以及測試命令和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl與前端硬件模擬模塊連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊,后端硬件模擬模塊與ftl連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

該錯(cuò)誤插入方法包括:

設(shè)置錯(cuò)誤步驟301,設(shè)置錯(cuò)誤,測試系統(tǒng)通過錯(cuò)誤接口把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

檢查錯(cuò)誤步驟302,遍歷錯(cuò)誤列表,檢查錯(cuò)誤的類型、數(shù)值;

觸發(fā)錯(cuò)誤步驟303,返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊即是nand模擬模塊;

還包括ftl識別錯(cuò)誤步驟304,ftl識別錯(cuò)誤數(shù)據(jù),并報(bào)告測試系統(tǒng)。

參照圖4,示出了本發(fā)明的一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入方法實(shí)施例2的流程圖,該實(shí)施例引入了用例來更進(jìn)一步的說明本錯(cuò)誤插入方法,所述誤插入方法在內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺內(nèi)執(zhí)行,所述平臺包括設(shè)備系統(tǒng)401和測試系統(tǒng)402,所述設(shè)備系統(tǒng)401用于模擬內(nèi)嵌式存儲器,所述測試系統(tǒng)用于模擬外界pc,實(shí)現(xiàn)對設(shè)備系統(tǒng)402的測試,所述設(shè)備系統(tǒng)401包括前端硬件模擬模塊、文件傳輸層ftl和包括nand模擬模塊的后端硬件模擬模塊,所述前端硬件模擬模塊與測試系統(tǒng)連接,用于對測試命令的解析以及測試命令和數(shù)據(jù)的傳輸,ftl與前端硬件模擬模塊連接,用于分析測試命令和錯(cuò)誤數(shù)據(jù)的識別,并將數(shù)據(jù)進(jìn)行地址映射管理,將數(shù)據(jù)存入后端硬件模擬模塊,后端硬件模擬模塊與ftl連接,用于數(shù)據(jù)的存儲,

該錯(cuò)誤插入方法包括:

用例建立:測試系統(tǒng)402用例啟動開始;

設(shè)置錯(cuò)誤步驟403,設(shè)置錯(cuò)誤,測試系統(tǒng)402通過錯(cuò)誤接口把錯(cuò)誤插入錯(cuò)誤列表中;

測試系統(tǒng)402指令設(shè)備系統(tǒng)401開始nand模擬模塊(寫入、讀取、拭檫)操作404;

設(shè)置錯(cuò)誤步驟403完成后,進(jìn)行檢查錯(cuò)誤步驟405,遍歷錯(cuò)誤列表,包括檢查錯(cuò)誤的類型,寫入錯(cuò)誤、讀取錯(cuò)誤、拭檫錯(cuò)誤,以及錯(cuò)誤數(shù)值;

檢查錯(cuò)誤步驟405完成后,進(jìn)行觸發(fā)錯(cuò)誤步驟406,返回錯(cuò)誤給設(shè)備系統(tǒng)后端硬件模擬模塊即是nand模擬模塊;

觸發(fā)錯(cuò)誤步驟406完成后,測試系統(tǒng)402開始執(zhí)行發(fā)送ftl訪問nand模擬模塊命令步驟407;

之后開始進(jìn)行ftl識別錯(cuò)誤步驟408,并將識別結(jié)果報(bào)告測試系統(tǒng);

最后執(zhí)行用例銷毀步驟409,完成使用用例過程。

其位本說明書中的各個(gè)實(shí)施例均采用遞進(jìn)的方式描述,每個(gè)實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處,各個(gè)實(shí)施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于方法實(shí)施例而言,由于其與系統(tǒng)實(shí)施例基本相似,所以描述的比較簡單,相關(guān)之處參見方法實(shí)施例的部分說明即可。

以上對本發(fā)明所提供的一種內(nèi)嵌式存儲器模擬測試開發(fā)平臺的錯(cuò)誤插入機(jī)制(系統(tǒng)和方法),進(jìn)行了詳細(xì)介紹,本文中應(yīng)用了具體個(gè)例對本發(fā)明的原理及實(shí)施方式進(jìn)行了闡述,以上實(shí)施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想;同時(shí),對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員,依據(jù)本發(fā)明的思想,在具體實(shí)施方式及應(yīng)用范圍上均會有改變之處,綜上所述,本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本發(fā)明的限制。

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