技術(shù)特征：

1.一種基板翹曲量的測(cè)量裝置，用于測(cè)量顯示母板的基板翹曲量，所述顯示母板包括相對(duì)而置的第一基板和第二基板，其特征在于，所述測(cè)量裝置包括：光源、測(cè)量目鏡及處理器；

所述光源，用于向所述顯示母板的待測(cè)量區(qū)域發(fā)射單色光，在所述待測(cè)量區(qū)域的基板翹曲位置形成牛頓環(huán)干涉圖案；

所述測(cè)量目鏡，用于采集所述牛頓環(huán)干涉圖案，并測(cè)量出所述牛頓環(huán)干涉圖案中每條干涉條紋的直徑及對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)；

所述處理器，與所述測(cè)量目鏡連接，用于根據(jù)每條干涉條紋的直徑、對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)及所述單色光的波長(zhǎng)，得到每條干涉條紋處的空氣層厚度，以獲得所述顯示母板的待測(cè)量區(qū)域的翹曲量；

其中，所述顯示母板的待測(cè)量區(qū)域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述處理器，還用于：

根據(jù)每條干涉條紋處的空氣層厚度以及預(yù)設(shè)盒厚，獲得與所述牛頓環(huán)干涉圖案臨近的顯示面板的顯示區(qū)域邊緣處的盒厚；

根據(jù)所述顯示區(qū)域邊緣的盒厚，判定所述顯示區(qū)域邊緣處的發(fā)黃程度。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述處理器，具體用于：

根據(jù)每條干涉條紋的直徑、對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)及所述單色光的波長(zhǎng)，采用公式一得到每條干涉條紋處的空氣層厚度：

其中，n、m均表示干涉條紋的級(jí)數(shù)，且n>m，d_n為第n級(jí)干涉條紋處的空氣層厚度，D_n為第n級(jí)干涉條紋的直徑，D_m為第m級(jí)干涉條紋的直徑，λ為所述單色光的波長(zhǎng)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述處理器，具體用于：

根據(jù)每條干涉條紋處的空氣層厚度，以及預(yù)設(shè)盒厚，采用公式二得到與所述牛頓環(huán)干涉圖案臨近的顯示區(qū)域邊緣處的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n為顯示區(qū)域邊緣處的盒厚，d為預(yù)設(shè)盒厚，d_n為干涉條紋處的空氣層的厚度；d_n至顯示區(qū)域與非顯示區(qū)域分界處的第一封框膠的距離與d1_n至所述第一封框膠的距離相等。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)量裝置，其特征在于，所述處理器，還用于：

根據(jù)所述d1_n-d的值，判定d1_n對(duì)應(yīng)的所述顯示區(qū)域邊緣處的發(fā)黃程度。

6.一種基板翹曲量的測(cè)量方法，其特征在于，包括：

光源向顯示母板的待測(cè)量區(qū)域發(fā)射單色光，在所述待測(cè)量區(qū)域的基板翹曲位置形成牛頓環(huán)干涉圖案；

測(cè)量目鏡采集所述牛頓環(huán)干涉圖案，并測(cè)量出所述牛頓環(huán)干涉圖案中每條干涉條紋的直徑及對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)；

處理器根據(jù)每條干涉條紋的直徑、對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)及所述單色光的波長(zhǎng)，得到每條干涉條紋處的空氣層厚度，以獲得所述顯示面板的待測(cè)量區(qū)域的翹曲量；

其中，所述顯示母板的待測(cè)區(qū)域包括：水平的第二基板和向所述第二基板凹陷呈曲面的第一基板。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述光源向顯示母板的待測(cè)量區(qū)域發(fā)射單色光，在所述待測(cè)量區(qū)域的基板翹曲位置形成牛頓環(huán)干涉圖案，包括：

所述光源向顯示母板的待測(cè)量區(qū)域發(fā)射垂直于所述第二基板的多束單色光，在所述待測(cè)量區(qū)域的基板翹曲位置形成牛頓環(huán)干涉圖案。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述處理器根據(jù)每條干涉條紋處的空氣層厚度以及預(yù)設(shè)盒厚，獲得與所述牛頓環(huán)干涉圖案臨近的顯示面板的顯示區(qū)域邊緣處的盒厚；

所述處理器根據(jù)所述顯示區(qū)域邊緣的盒厚，判定所述顯示區(qū)域邊緣處的發(fā)黃程度。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述根據(jù)每條干涉條紋的直徑、對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)及所述單色光的波長(zhǎng)，得到每條干涉條紋處的空氣層厚度，包括：

根據(jù)每條干涉條紋的直徑、對(duì)應(yīng)的級(jí)數(shù)及所述單色光的波長(zhǎng)，采用公式一得到每條干涉條紋處的空氣層厚度：

其中，n、m均表示干涉條紋的級(jí)數(shù)，且n>m，d_n為第n級(jí)干涉條紋處的空氣層厚度，D_n為第n級(jí)干涉條紋的直徑，D_m為第m級(jí)干涉條紋的直徑，λ為所述單色光的波長(zhǎng)。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述根據(jù)每條干涉條紋處的空氣層厚度以及預(yù)設(shè)盒厚，獲得與所述牛頓環(huán)干涉圖案臨近的顯示面板的顯示區(qū)域邊緣處的盒厚，包括：

根據(jù)每條干涉條紋處的空氣層厚度，以及預(yù)設(shè)盒厚，采用公式二得到與所述牛頓環(huán)干涉圖案臨近的顯示區(qū)域邊緣處的盒厚：

d1_n-d＝d-d_n 公式二

其中，d1_n為顯示區(qū)域邊緣處的盒厚，d為預(yù)設(shè)盒厚，d_n為干涉條紋處的空氣層的厚度；d_n至顯示區(qū)域與非顯示區(qū)域分界處的第一封框膠的距離與d1_n至所述第一封框膠的距離相等。

11.根據(jù)權(quán)利要求12所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述根據(jù)所述顯示區(qū)域邊緣的盒厚，判定所述顯示區(qū)域邊緣處的發(fā)黃程度，包括：

根據(jù)所述d1_n-d的值，判定d1_n對(duì)應(yīng)的所述顯示區(qū)域邊緣處的發(fā)黃程度。

12.根據(jù)權(quán)利要求6～11中任一項(xiàng)所述的測(cè)量方法，其特征在于，所述方法還包括：

所述處理器根據(jù)插值計(jì)算，獲得所述牛頓環(huán)干涉圖案對(duì)應(yīng)區(qū)域的第一基板的形變曲線。