一種電容的容值檢測方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種電容的容值檢測方法及裝置，用于在受電設(shè)備工作的過程中對該受電設(shè)備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，能夠兼顧受電設(shè)備的備用供電可靠性和容值檢測準(zhǔn)確度。該電容的容值檢測方法，包括：在該受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測，得到指定檢測值；根據(jù)該指定檢測值和檢測補償值確定該電容的容值；其中，該檢測補償值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，該第一檢測值為采用精確容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，該第二檢測值為采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
【專利說明】一種電容的容值檢測方法及裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及檢測【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種電容的容值檢測方法及裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 目前很多受電設(shè)備中都會設(shè)置儲能電容作為備電模塊，例如，固態(tài)硬盤（Solid State Disk，SSD)中。而隨著使用時間的增加，電容的容值會逐漸減小，電容能夠存儲的電 量逐漸較小，可能會導(dǎo)致電容無法滿足受電設(shè)備備用供電的需求，因此，需要對電容的容值 進(jìn)行周期性檢測。
[0003] 現(xiàn)有的一種電容的容值檢測方法為精確容值檢測法，在精確容值檢測法中，對電 容進(jìn)行深度放電，根據(jù)深度放電前后的電容電壓、深度放電時長以及和電容構(gòu)成放電回路 的放電電阻阻值，能夠精確確定出電容的容值。然而，采用精確容值檢測法，由于需要電容 深度放電，電容存儲的電量會降到受電設(shè)備正常工作所需的電量以下，會導(dǎo)致受電設(shè)備的 備用供電可靠性降低，存在一定的風(fēng)險。
[0004] 現(xiàn)有的另一種電容的容值檢測方法為快速容值檢測法，在快速容值檢測法中，對 電容進(jìn)行淺度放電，根據(jù)淺度放電前后的電容電壓、淺度放電時長以及和電容構(gòu)成放電回 路的放電電阻阻值，確定電容的容值。雖然采用快速容值檢測法，電容存儲的電量不會降到 受電設(shè)備正常工作所需的電量以下，但是，采用快速容值檢測法不能保證容值檢測的準(zhǔn)確 度。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明實施例提供一種電容的容值檢測方法及裝置，能夠兼顧受電設(shè)備的備用供 電可靠性和容值檢測準(zhǔn)確度。
[0006] 第一方面，提供一種電容的容值檢測方法，用于在受電設(shè)備工作的過程中對所述 受電設(shè)備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，包括：
[0007] 在所述受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢 測，得到指定檢測值；
[0008] 根據(jù)所述指定檢測值和檢測補償值確定所述電容的容值；其中，所述檢測補償值 是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，所述第一檢測值為采用精確容值檢測法對所 述電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，所述第二檢測值為采用快速容值檢測法對所述電容 的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
[0009] 結(jié)合第一方面，在第一種可能的實現(xiàn)方式中，在所述采用快速容值檢測法對所述 電容的容值進(jìn)行檢測之前，還包括：
[0010] 根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新；
[0011] 在確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對所述電容的容 值進(jìn)行檢測得到所述第一檢測值，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測得到所 述第二檢測值；根據(jù)所述第一檢測值和所述第二檢測值獲得所述檢測補償值。
[0012] 結(jié)合第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述根據(jù) 預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新，包括：
[0013] 判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻；
[0014] 在確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻時，確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新。
[0015] 結(jié)合第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第三種可能的實現(xiàn)方式中，所述根據(jù) 預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新，包括：
[0016] 判斷上一次確定的所述電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更新條件；
[0017] 在確定上一次確定的所述電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對所述檢 測補償值進(jìn)行更新。
[0018] 結(jié)合第一方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，第一方面的第二種可能的實現(xiàn)方式，或 者第一方面的第三種可能的實現(xiàn)方式，在第四種可能的實現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述第一檢 測值和所述第二檢測值獲得所述檢測補償值，包括：
[0019] 根據(jù)所述第一檢測值與所述第二檢測值的差值獲得所述檢測補償值。
[0020] 第二方面，提供一種電容的容值檢測裝置，用于在受電設(shè)備工作的過程中對所述 受電設(shè)備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，包括：
[0021] 檢測單元，用于在所述受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對所述電容 的容值進(jìn)行檢測，得到指定檢測值；
[0022] 確定單元，用于根據(jù)所述指定檢測值和檢測補償值確定所述電容的容值；其中，所 述檢測補償值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，所述第一檢測值為采用精確容 值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，所述第二檢測值為采用快速容值檢測 法對所述電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
[0023] 結(jié)合第二方面，在第一種可能的實現(xiàn)方式中，還包括更新單元，用于在所述采用快 速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測之前，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述 檢測補償值進(jìn)行更新；在確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對 所述電容的容值進(jìn)行檢測得到所述第一檢測值，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn) 行檢測得到所述第二檢測值；根據(jù)所述第一檢測值和所述第二檢測值獲得所述檢測補償 值。
[0024] 結(jié)合第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第二種可能的實現(xiàn)方式中，所述更新 單元，用于判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻；在確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻 時，確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新。
[0025] 結(jié)合第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，在第三種可能的實現(xiàn)方式中，所述更新 單元，用于判斷上一次確定的所述電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更新條件；在確定上一次確 定的所述電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新。
[0026] 結(jié)合第二方面的第一種可能的實現(xiàn)方式，第二方面的第二種可能的實現(xiàn)方式，或 者第二方面的第三種可能的實現(xiàn)方式，在第四種可能的實現(xiàn)方式中，所述更新單元，用于根 據(jù)所述第一檢測值與所述第二檢測值的差值獲得所述檢測補償值。
[0027] 根據(jù)第一方面提供的電容的容值檢測方法，第二方面提供的電容的容值檢測裝 置，預(yù)先根據(jù)采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值和采用快速容值檢 測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值確定檢測補償值，在受電設(shè)備工作的過程中，只 需要采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，再根據(jù)得到的檢測值和檢測補償值確定 電容的容值，即不需要每次容值檢測都采用精確容值檢測法進(jìn)行電容深度放電，便可以使 確定的電容的容值接近采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，在保證 了容值檢測的準(zhǔn)確度同時，也保證了受電設(shè)備的備用供電可靠性。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0028] 為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述 中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些 實施例。
[0029] 圖1為本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測方法的流程圖；
[0030] 圖2為本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測方法的詳細(xì)流程圖；
[0031] 圖3為本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0032] 圖4為本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。

【具體實施方式】
[0033] 為了使本【技術(shù)領(lǐng)域】的人員更好地理解本發(fā)明方案，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的 附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是 本發(fā)明一部分的實施例，而不是全部的實施例。
[0034] 本發(fā)明實施例提供一種電容的容值檢測方法，用于在受電設(shè)備工作的過程中對該 受電設(shè)備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，如圖1所示，可以包括如下步驟：
[0035] 步驟101、在受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢 測，得到指定檢測值；
[0036] 步驟102、根據(jù)該指定檢測值和檢測補償值確定該電容的容值；其中，該檢測補償 值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，該第一檢測值為采用精確容值檢測法對該 電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，該第二檢測值為采用快速容值檢測法對該電容的容值 進(jìn)行檢測得到的檢測值。
[0037] 可見，本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測方法，將精確容值檢測法和快速容值 檢測法相結(jié)合，相比于僅采用精確容值檢測法的檢測方案提高了受電設(shè)備的備用供電可靠 性，相比于僅采用快速容值檢測法的檢測方案提高了容值檢測準(zhǔn)確度。
[0038] 較佳的，在采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測之前，還包括：根據(jù)預(yù)設(shè) 的更新條件判斷是否需要對檢測補償值進(jìn)行更新；在確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新 時，采用精確容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到第一檢測值，采用快速容值檢測法 對該電容的容值進(jìn)行檢測得到第二檢測值；根據(jù)該第一檢測值和該第二檢測值獲得該檢測 補償值。
[0039] 具體的，可以根據(jù)該第一檢測值與該第二檢測值的差值獲得該檢測補償值，即該 檢測補償值為該第一檢測值與該第二檢測值的差值。
[0040] 在確定需要對該檢測補償值進(jìn)行第二次更新時，采用精確容值檢測法對該電容的 容值進(jìn)行檢測得到第三檢測值，采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到第四檢 測值；根據(jù)該第三檢測值和該第四檢測值獲得該檢測補償值。
[0041] 具體的，可以根據(jù)該第三檢測值與該第四檢測值的差值獲得該檢測補償值，即第 二次更新后的檢測補償值為該第三檢測值與該第四檢測值的差值。
[0042] 依次類推，還可以對檢測補償值進(jìn)行第三次更新、第四次更新……，每次執(zhí)行步驟 102,根據(jù)指定檢測值和檢測補償值確定電容的容值時，均采用最新的檢測補償值。
[0043] 進(jìn)一步的，在確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新時，可以直接確定該電容的容值 為在更新檢測補償值的過程中采用精確容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測 值。
[0044] 通過對檢測補償值的不斷更新，能夠保證檢測補償值的準(zhǔn)確度，因此能夠進(jìn)一步 保證容值檢測準(zhǔn)確度。
[0045] 在本發(fā)明一具體實施例中，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對該檢測補償值進(jìn) 行更新，可以包括：判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻；在確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的 更新時刻時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新。例如，可以預(yù)設(shè)一個更新周期，采用更新 周期更新檢測補償值，此時判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻具體為：判斷當(dāng)前時刻 是否到達(dá)采用更新周期更新檢測補償值的時刻；在確定當(dāng)前時刻到達(dá)采用更新周期更新檢 測補償值的時刻時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新。
[0046] 在本發(fā)明另一具體實施例中，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對該檢測補償 值進(jìn)行更新，可以包括：判斷上一次確定的該電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更新條件；在確 定上一次確定的該電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更 新。例如，可以預(yù)設(shè)當(dāng)上一次確定的電容的容值降至電容的初始容值的90 %、80 %、70 %、 60%......時更新檢測補償值，此時，判斷上一次確定的該電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更 新條件具體為：判斷上一次確定的該電容的容值相比于上上一次確定的該電容的容值是否 降低了該電容的初始容值的10% ;在確定上一次確定的該電容的容值相比于上上一次確定 的該電容的容值降低了該電容的初始容值的10 %時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新。
[0047] 上述預(yù)設(shè)的更新條件僅為示例，并不用于限定本發(fā)明。
[0048] 較佳的，在根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對檢測補償值進(jìn)行更新之前，還可 以包括確定當(dāng)前時刻已到達(dá)檢測電容的容值時刻，可以避免檢測補償值不必要的更新。較 佳的，也可以預(yù)設(shè)一個檢測周期檢測電容的容值，并且，該檢測周期小于上述更新周期。
[0049] 下面結(jié)合附圖，以受電設(shè)備具體為SSD為例，對本發(fā)明提供的電容的容值檢測方 法進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0050] SSD在寫入數(shù)據(jù)時主要有兩種模式：透寫模式和回寫模式。SSD采用透寫模式寫 入數(shù)據(jù)時，SSD的控制器直接將數(shù)據(jù)寫入SSD的閃存（Flash)陣列中；SSD采用回寫模式寫 入數(shù)據(jù)時，SSD的控制器先將數(shù)據(jù)寫入SSD的同步動態(tài)隨機存儲器（Synchronous Dynamic Random Access Memory，SDRAM)中，待SSD的控制器空閑時，再將SDRAM中的數(shù)據(jù)寫入Flash 陣列中。
[0051] 由于SSD采用回寫模式寫入數(shù)據(jù)性能更優(yōu)，所以實際應(yīng)用中為保證SSD的寫性能， 通常會采用回寫模式。但由于SDRAM具有斷電數(shù)據(jù)丟失的特性，因此SSD中就需要設(shè)置儲 能電容作為備電模塊，在SSD外部電源斷電時能夠為SSD供電一定時長，使SSD的控制器能 夠?qū)DRAM中的數(shù)據(jù)寫入Flash陣列中。
[0052] 圖2為本發(fā)明實施例提供的SSD中電容的容值檢測方法的詳細(xì)流程圖，包括如下 步驟：
[0053] 步驟201、SSD上電，并延遲其開始工作時間。
[0054] 在此期間，不對SSD下發(fā)讀寫數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)指令。
[0055] 步驟202、采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，得到檢測值C1 ;以及采用 快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，得到檢測值C2。
[0056] 在采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測完畢后，SSD可以開始工作，SSD采 用回寫模式寫入數(shù)據(jù)。
[0057] 在本步驟202中，采用精確容值檢測法得到的電容的容值檢測值C1較為準(zhǔn)確，采 用快速容值檢測法得到的電容的容值檢測值C2較為不準(zhǔn)確。
[0058] 因此，此時可以確定在上電初始時的電容的容值C為檢測值C1。
[0059] 步驟203、根據(jù)步驟202中得到的檢測值C1和檢測值C2,確定檢測補償值Λ C。
[0060] 在本實施例中，檢測補償值具體可以為采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢 測得到的檢測值減去采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值的差值，即 AC = C1-C2 ;在其它實施例中，檢測補償值具體也可以為采用快速容值檢測法對電容的容 值進(jìn)行檢測得到的檢測值減去采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值 的差值，g卩AC = C2_C1。本發(fā)明對此不做限定。
[0061] 確定出檢測補償值Λ C后，可以將該檢測補償值Λ C存儲于SSD內(nèi)非易失存儲空 間備用。
[0062] 步驟204、判斷當(dāng)前時刻是否到達(dá)采用預(yù)設(shè)檢測周期檢測電容的容值時刻。
[0063] 若當(dāng)前時刻已到達(dá)采用預(yù)設(shè)檢測周期檢測電容的容值時刻，進(jìn)入步驟205;若當(dāng) 前時刻未到達(dá)采用預(yù)設(shè)檢測周期檢測電容的容值時刻，循環(huán)執(zhí)行本步驟204,進(jìn)行循環(huán)判 斷。
[0064] 上述預(yù)設(shè)檢測周期可以根據(jù)SSD對可靠性要求進(jìn)行設(shè)定，在本實施例中，預(yù)設(shè)檢 測周期具體可以為1個月。
[0065] 步驟205、判斷當(dāng)前時刻是否到達(dá)采用預(yù)設(shè)更新周期更新檢測補償值的時刻，其 中，預(yù)設(shè)檢測周期小于預(yù)設(shè)更新周期。
[0066] 若當(dāng)前時刻已到達(dá)采用預(yù)設(shè)更新周期更新檢測補償值的時刻，進(jìn)入步驟206 ;若 當(dāng)前時刻未到達(dá)采用預(yù)設(shè)更新周期更新檢測補償值的時刻，進(jìn)入步驟208。
[0067] 上述預(yù)設(shè)更新周期也可以根據(jù)SSD對可靠性要求進(jìn)行設(shè)定，在本實施例中，預(yù)設(shè) 更新周期具體可以為1年。
[0068] 步驟206、采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，得到檢測值C1' ；以及采 用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，得到檢測值C2'。
[0069] 并且，此時可以確定本次電容的容值檢測，電容的容值C為檢測值C1'。
[0070] 為避免數(shù)據(jù)丟失，在采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，可以切換SSD 采用透寫模式寫入數(shù)據(jù)，待采用精確容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測完畢后，再切換SSD 恢復(fù)采用回寫模式寫入數(shù)據(jù)。
[0071] 步驟207、根據(jù)步驟206中得到的檢測值C1'和檢測值C2'，更新檢測補償值Λ C， 并返回步驟204。
[0072] 若在步驟203中Λ C = C1-C2,則在本步驟207中更新Λ C = Cl' -C2' ；若在步驟 203中Λ C = C2-C1，則在本步驟207中更新Λ C = C2' -Cl'。
[0073] 更新后的檢測補償值替換存儲于SSD內(nèi)非易失存儲空間中的原檢測補償值。
[0074] 步驟208、采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，得到檢測值C2"。
[0075] 步驟209、根據(jù)檢測值C2"和最新的檢測補償值A(chǔ)C，確定電容的容值C。
[0076] 若在步驟203中Λ C = C1-C2,則在本步驟209中電容的容值為指定檢測值和檢測 補償值的和值，即C = C2" +AC;若在步驟203中AC = C2-C1，則在本步驟209中電容的 容值為指定檢測值減去檢測補償值的差值，即C = C2" - Λ C。
[0077] 在確定出電容的容值后，還可以和預(yù)設(shè)容值進(jìn)行比較，該預(yù)設(shè)容值為能夠滿足受 電設(shè)備備用供電的需求的電容的容值，在本實施例中，該預(yù)設(shè)容值即為在SSD外部電源斷 電時，能夠為SSD供電一定時長，使SSD的控制器能夠?qū)DRAM中的數(shù)據(jù)寫入Flash陣列中 的電容的容值。
[0078] 具體的，當(dāng)確定出的電容的容值小于該預(yù)設(shè)容值時，可以按既定策略處理，例如切 換SSD采用透寫模式寫入數(shù)據(jù)、發(fā)出告警等。
[0079] 可見，本發(fā)明實施例提供的電容的容值檢測方法，在SSD工作的過程中，在不需要 對檢測補償值進(jìn)行更新時，只需要采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢測，再根據(jù)得 到的檢測值和檢測補償值確定電容的容值，可以使確定的電容的容值接近采用精確容值檢 測法對電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值；在需要對檢測補償值進(jìn)行更新時，更新檢測補 償值，供后續(xù)檢測使用，并可以直接確定電容的容值為在更新檢測補償值的過程中采用精 確容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。顯然，采用本發(fā)明實施例提供的電 容的容值檢測方法，兼顧了備用供電可靠性和容值檢測準(zhǔn)確度，保證了 SSD的寫性能。
[0080] 基于同一發(fā)明構(gòu)思，根據(jù)本發(fā)明上述實施例提供的電容的容值檢測方法，相應(yīng)地， 本發(fā)明實施例還提供一種電容的容值檢測裝置，用于在受電設(shè)備工作的過程中對該受電設(shè) 備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖3所示，具體包括：
[0081] 檢測單元301，用于在受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對電容的容值 進(jìn)行檢測，得到指定檢測值；
[0082] 確定單元302,用于根據(jù)該指定檢測值和檢測補償值確定該電容的容值；其中，該 檢測補償值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，該第一檢測值為采用精確容值檢 測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，該第二檢測值為采用快速容值檢測法對該電 容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
[0083] 較佳的，該電容的容值檢測裝置還包括更新單元303,用于在該采用快速容值檢 測法對該電容的容值進(jìn)行檢測之前，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對該檢測補償值進(jìn) 行更新；在確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對該電容的容值進(jìn) 行檢測得到該第一檢測值，采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到該第二檢測 值；根據(jù)該第一檢測值和該第二檢測值獲得該檢測補償值。
[0084] 進(jìn)一步的，更新單元303,用于判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻；在確定當(dāng) 前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新。
[0085] 進(jìn)一步的，更新單元303,用于判斷上一次確定的該電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更 新條件；在確定上一次確定的該電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對該檢測補 償值進(jìn)行更新。
[0086] 進(jìn)一步的，更新單元303,用于根據(jù)該第一檢測值與該第二檢測值的差值獲得該檢 測補償值。
[0087] 上述各模塊的功能可對應(yīng)于圖1或圖2所示流程中的相應(yīng)處理步驟，在此不再贅 述。
[0088] 基于同一發(fā)明構(gòu)思，本發(fā)明實施例還提供一種電容的容值檢測設(shè)備，用于在受電 設(shè)備工作的過程中對該受電設(shè)備的備電模塊中電容的容值進(jìn)行檢測，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖4 所示，包括存儲器401、處理器402和通信總線400。
[0089] 通信總線400用于設(shè)備各部分之間的連接通信。
[0090] 存儲器401可能包含高速隨機存取存儲器（Random Access Memory, RAM)，也可能 還包括非不穩(wěn)定的存儲器（non-volatile memory),例如磁盤存儲器。
[0091] 處理器402用于執(zhí)行存儲器401中存儲的可執(zhí)行模塊，例如計算機程序。
[0092] 在一些實施方式中，存儲器401存儲了程序4011，程序4011可以被處理器402執(zhí) 行，程序4011包括：在受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對電容的容值進(jìn)行檢 測，得到指定檢測值；根據(jù)該指定檢測值和檢測補償值確定該電容的容值；其中，該檢測補 償值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，該第一檢測值為采用精確容值檢測法對 該電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，該第二檢測值為采用快速容值檢測法對該電容的容 值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
[0093] 在一些實施方式中，程序4011還包括：在該采用快速容值檢測法對該電容的容值 進(jìn)行檢測之前，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對該檢測補償值進(jìn)行更新；在確定需要 對該檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到該第一檢 測值，采用快速容值檢測法對該電容的容值進(jìn)行檢測得到該第二檢測值；根據(jù)該第一檢測 值和該第二檢測值獲得該檢測補償值。
[0094] 在一些實施方式中，程序4011包括：判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻；在 確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻時，確定需要對該檢測補償值進(jìn)行更新。
[0095] 在一些實施方式中，程序4011包括：判斷上一次確定的該電容的容值是否滿足預(yù) 設(shè)的更新條件；在確定上一次確定的該電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對該 檢測補償值進(jìn)行更新。
[0096] 在一些實施方式中，程序4011包括：根據(jù)該第一檢測值與該第二檢測值的差值獲 得該檢測補償值。
[0097] 綜上所述，采用本發(fā)明實施例提供的方案，將精確容值檢測法和快速容值檢測法 相結(jié)合，兼顧了受電設(shè)備的備用供電可靠性和容值檢測準(zhǔn)確度。
[0098] 本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員應(yīng)明白，本發(fā)明的實施例可提供為方法、系統(tǒng)、或計算機程序 產(chǎn)品。因此，本發(fā)明可采用完全硬件實施例、完全軟件實施例、或結(jié)合軟件和硬件方面的實 施例的形式。而且，本發(fā)明可采用在一個或多個其中包含有計算機可用程序代碼的計算機 可用存儲介質(zhì)（包括但不限于磁盤存儲器、CD-ROM、光學(xué)存儲器等）上實施的計算機程序產(chǎn) 品的形式。
[0099] 本發(fā)明是參照根據(jù)本發(fā)明實施例的方法、設(shè)備（系統(tǒng)）、和計算機程序產(chǎn)品的流程 圖和/或方框圖來描述的。應(yīng)理解可由計算機程序指令實現(xiàn)流程圖和/或方框圖中的每一 流程和/或方框、以及流程圖和/或方框圖中的流程和/或方框的結(jié)合?？商峁┻@些計算 機程序指令到通用計算機、專用計算機、嵌入式處理機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理 器以產(chǎn)生一個機器，使得通過計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備的處理器執(zhí)行的指令產(chǎn)生 用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或多個方框中指定的功能 的裝置。
[0100] 這些計算機程序指令也可存儲在能引導(dǎo)計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備以特 定方式工作的計算機可讀存儲器中，使得存儲在該計算機可讀存儲器中的指令產(chǎn)生包括指 令裝置的制造品，該指令裝置實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖一個方框或 多個方框中指定的功能。
[0101] 這些計算機程序指令也可裝載到計算機或其他可編程數(shù)據(jù)處理設(shè)備上，使得在計 算機或其他可編程設(shè)備上執(zhí)行一系列操作步驟以產(chǎn)生計算機實現(xiàn)的處理，從而在計算機或 其他可編程設(shè)備上執(zhí)行的指令提供用于實現(xiàn)在流程圖一個流程或多個流程和/或方框圖 一個方框或多個方框中指定的功能的步驟。
[0102] 盡管已描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員一旦得知了基本創(chuàng)造 性概念，則可對這些實施例做出另外的變更和修改。所以，所附權(quán)利要求意欲解釋為包括優(yōu) 選實施例以及落入本發(fā)明范圍的所有變更和修改。
[0103] 顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明實施例進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本發(fā) 明實施例的精神和范圍。這樣，倘若本發(fā)明實施例的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求 及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1. 一種電容的容值檢測方法，用于在受電設(shè)備工作的過程中對所述受電設(shè)備的備電模 塊中電容的容值進(jìn)行檢測，其特征在于，包括： 在所述受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測，得 到指定檢測值； 根據(jù)所述指定檢測值和檢測補償值確定所述電容的容值；其中，所述檢測補償值是預(yù) 先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，所述第一檢測值為采用精確容值檢測法對所述電 容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，所述第二檢測值為采用快速容值檢測法對所述電容的容 值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述采用快速容值檢測法對所述電容 的容值進(jìn)行檢測之前，還包括： 根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新； 在確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對所述電容的容值進(jìn) 行檢測得到所述第一檢測值，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測得到所述第 二檢測值；根據(jù)所述第一檢測值和所述第二檢測值獲得所述檢測補償值。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要 對所述檢測補償值進(jìn)行更新，包括： 判斷當(dāng)前時刻是否滿足預(yù)設(shè)的更新時刻； 在確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻時，確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要 對所述檢測補償值進(jìn)行更新，包括： 判斷上一次確定的所述電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更新條件； 在確定上一次確定的所述電容的容值滿足預(yù)設(shè)的更新條件時，確定需要對所述檢測補 償值進(jìn)行更新。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2-4任一所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述第一檢測值和所述 第二檢測值獲得所述檢測補償值，包括： 根據(jù)所述第一檢測值與所述第二檢測值的差值獲得所述檢測補償值。
6. -種電容的容值檢測裝置，用于在受電設(shè)備工作的過程中對所述受電設(shè)備的備電模 塊中電容的容值進(jìn)行檢測，其特征在于，包括： 檢測單元，用于在所述受電設(shè)備工作的過程中，采用快速容值檢測法對所述電容的容 值進(jìn)行檢測，得到指定檢測值； 確定單元，用于根據(jù)所述指定檢測值和檢測補償值確定所述電容的容值；其中，所述檢 測補償值是預(yù)先根據(jù)第一檢測值和第二檢測值確定的，所述第一檢測值為采用精確容值檢 測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值，所述第二檢測值為采用快速容值檢測法對 所述電容的容值進(jìn)行檢測得到的檢測值。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，還包括更新單元，用于在所述采用快速容 值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢測之前，根據(jù)預(yù)設(shè)的更新條件判斷是否需要對所述檢測 補償值進(jìn)行更新；在確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新時，采用精確容值檢測法對所述 電容的容值進(jìn)行檢測得到所述第一檢測值，采用快速容值檢測法對所述電容的容值進(jìn)行檢 測得到所述第二檢測值；根據(jù)所述第一檢測值和所述第二檢測值獲得所述檢測補償值。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述更新單元，用于判斷當(dāng)前時刻是否滿 足預(yù)設(shè)的更新時刻；在確定當(dāng)前時刻滿足預(yù)設(shè)的更新時刻時，確定需要對所述檢測補償值 進(jìn)行更新。
9. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述更新單元，用于判斷上一次確定的所 述電容的容值是否滿足預(yù)設(shè)的更新條件；在確定上一次確定的所述電容的容值滿足預(yù)設(shè)的 更新條件時，確定需要對所述檢測補償值進(jìn)行更新。
10. 根據(jù)權(quán)利要求7-9任一所述的裝置，其特征在于，所述更新單元，用于根據(jù)所述第 一檢測值與所述第二檢測值的差值獲得所述檢測補償值。
【文檔編號】G01R27/26GK104111382SQ201410325214
【公開日】2014年10月22日 申請日期:2014年7月9日 優(yōu)先權(quán)日:2014年7月9日
【發(fā)明者】章根林, 余霄, 張睿夫 申請人:華為技術(shù)有限公司