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晶圓研磨設備的制作方法

文檔序號:3331615閱讀:143來源:國知局
晶圓研磨設備的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種晶圓研磨設備,包括研磨盤,研磨盤底部中心處設有驅動裝置一,驅動裝置一底部設有滑塊,滑塊安裝于滑軌上,研磨盤上表面設有研磨布,研磨盤上方設有研磨頭和研磨劑供給裝置,研磨頭上部中心處設有驅動裝置二,研磨頭底部設有襯墊,研磨頭底部周圈設有限位環(huán),限位環(huán)、襯墊以及研磨盤圍成的封閉空間內設有工件,研磨盤的上表面邊緣處設有凹槽,凹槽設于研磨頭的圓形運動軌跡外側。本實用新型由于在研磨盤的上表面邊緣處設有凹槽,當研磨頭對工件完成研磨工序后,研磨盤沿導軌做直線運動,將工件對準凹槽,從而使工件與盤磨盤之間的真空吸附力消失,又能避免在研磨過程中易流失研磨劑的問題。
【專利說明】晶圓研磨設備

【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及工件研磨設備【技術領域】,尤其涉及一種晶圓研磨設備。

【背景技術】
[0002] 晶圓是指硅半導體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓; 在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結構,而成為有特定電性功能之1C產品。
[0003] 現有技術的晶圓研磨設備在研磨工作完成后,由于晶圓被加工面十分光滑,容易 與研磨布形成真空吸附,很難被取下,如果采用機械設備施加一定的力對其抓取,則易破壞 其結構。
[0004] 現有技術還開發(fā)了在研磨盤上設置溝槽來解決真空吸附的問題,但是研磨劑容易 流失,造成資源浪費。 實用新型內容
[0005] 本實用新型要解決的技術問題是提供一種晶圓研磨設備,以解決現有技術的晶圓 研磨設備在研磨時容易流失研磨劑的問題。
[0006] 為解決上述技術問題,本實用新型所采用的技術方案是:一種晶圓研磨設備,包 括研磨盤,研磨盤底部中心處設有驅動裝置一,驅動裝置一底部設有滑塊,滑塊安裝于滑軌 上,研磨盤上表面設有研磨布,研磨盤上方設有研磨頭和研磨劑供給裝置,研磨頭上部中心 處設有驅動裝置二,研磨頭底部設有襯墊,研磨頭底部周圈設有限位環(huán),限位環(huán)、襯墊以及 研磨盤圍成的封閉空間內設有工件,研磨盤的上表面邊緣處設有凹槽,所述凹槽設于研磨 頭的圓形運動軌跡外側。
[0007] 采用以上結構與現有技術相比,本實用新型具有以下優(yōu)點:由于在研磨盤的上表 面邊緣處設有凹槽,當研磨頭對工件完成研磨工序后,研磨盤沿導軌做直線運動,將工件對 準凹槽,從而使工件與盤磨盤之間的真空吸附力消失,又能避免在研磨過程中易流失研磨 劑的問題。
[0008] 作為優(yōu)選,所述襯墊上設有通孔用以供給研磨劑。從襯墊上方將研磨劑供給進入 封閉空腔內,并配合自轉的研磨頭,可對工件上表面和側壁進行研磨,提高了工作效率。
[0009] 作為優(yōu)選,所述研磨頭設有2組,以研磨盤的一直徑為對稱中心線相對稱布置。設 置2組研磨頭,可同時對2個工件進行研磨,提高工作效率。
[0010] 作為優(yōu)選,所述襯墊通過伸縮支桿連接于研磨頭的下表面。伸縮支桿可調節(jié)襯墊 與研磨盤之間的間距,從而適用于不同厚度的工件,應用范圍廣。
[0011] 作為優(yōu)選,所述研磨盤和研磨頭的旋轉方向相反。相反的旋轉方向可提高研磨效 率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0012] 圖1為本實用新型的晶圓研磨設備的結構示意圖。
[0013] 圖2為本實用新型的晶圓研磨設備中襯墊的結構示意圖。
[0014] 圖3為本實用新型的晶圓研磨設備的碾磨頭的研磨運動軌跡示意圖。
[0015] 圖4為本實用新型的晶圓研磨設備的工件運動至凹槽上方的示意圖。
[0016] 圖中所示:1、研磨盤,2、驅動裝置一,3、研磨布,4、研磨頭,5、研磨劑供給裝置,6、 襯墊,7、限位環(huán),8、工件,9、凹槽,10、伸縮支桿,11、通孔,12、滑塊,13、滑軌,14、驅動裝置--〇

【具體實施方式】
[0017] 下面結合附圖和實施例,對本實用新型的【具體實施方式】作進一步詳細描述。以下 實施例用于說明本實用新型,但不用來限制本實用新型的范圍。
[0018] 一種晶圓研磨設備,包括研磨盤1,所述研磨盤1底部中心處設有電機,該電機底 部設有滑塊12,所述滑塊12安裝于滑軌13上,所述研磨盤1上表面設有研磨布3,所述研 磨盤1上方設有研磨頭4和研磨劑供給裝置5,所述研磨頭4設有2組,以研磨盤1的一直 徑為對稱中心線相對稱布置,所述研磨頭4上部中心處設有另一電機用以驅動該研磨頭4 繞其中軸自轉,所述研磨頭4底部通過伸縮支桿10連接襯墊6,所述研磨頭4底部周圈設有 限位環(huán)7,所述限位環(huán)7、襯墊6以及研磨盤1圍成的封閉空間內設有工件8,所述襯墊6上 設有通孔11用以供給研磨劑,所述研磨盤1的上表面邊緣處設有凹槽9,所述凹槽9設于研 磨頭4的圓形運動軌跡外側。所述研磨盤1和研磨頭4的旋轉方向相反。
[0019] 本實用新型的工作原理是:將工件放置于限位環(huán)、襯墊以及研磨盤圍成的封閉空 間內,伸縮支桿調節(jié)封閉空間的厚度以適應工件,研磨時,研磨劑供給裝置分別給襯墊的通 孔和研磨布供給研磨劑,研磨盤和研磨頭同時旋轉對工件進行全方位的研磨,由于在研磨 盤的上表面邊緣處設有凹槽,當研磨頭對工件完成研磨工序后,研磨盤沿導軌直線運動,將 工件對準凹槽,從而使工件與盤磨盤之間的真空吸附力消失,又能避免在研磨過程中易流 失研磨劑的問題。
[0020] 以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式,應當指出,對于本【技術領域】的普通技 術人員來說,在不脫離本實用新型技術原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改 進和潤飾也應視為本實用新型的保護范圍。
【權利要求】
1. 一種晶圓研磨設備,其特征在于:包括研磨盤(1),所述研磨盤(1)底部中心處設有 驅動裝置一(2),所述驅動裝置一(2)底部設有滑塊(12),所述滑塊(12)安裝于滑軌(13) 上,所述研磨盤(1)上表面設有研磨布(3),所述研磨盤(1)上方設有研磨頭(4)和研磨劑 供給裝置(5),所述研磨頭(4)上部中心處設有驅動裝置二(14),所述研磨頭(4)底部設有 襯墊(6),所述研磨頭(4)底部周圈設有限位環(huán)(7),所述限位環(huán)(7)、襯墊(6)以及研磨盤 (1)圍成的封閉空間內設有工件(8),所述研磨盤(1)的上表面邊緣處設有凹槽(9),所述凹 槽(9)設于研磨頭(4)的圓形運動軌跡外側。
2. 根據權利要求1所述的晶圓研磨設備,其特征在于:所述襯墊(6)上設有通孔(11) 用以供給研磨劑。
3. 根據權利要求2所述的晶圓研磨設備,其特征在于:所述研磨頭(4)設有2組,以研 磨盤(1)的一直徑為對稱中心線相對稱布置。
4. 根據權利要求3所述的晶圓研磨設備,其特征在于:所述襯墊(6)通過伸縮支桿 (10)連接于研磨頭(4)的下表面。
5. 根據權利要求4所述的晶圓研磨設備,其特征在于:所述研磨盤(1)和研磨頭(4)的 旋轉方向相反。
【文檔編號】B24B37/16GK203863494SQ201420307930
【公開日】2014年10月8日 申請日期:2014年6月11日 優(yōu)先權日:2014年6月11日
【發(fā)明者】史愛波 申請人:史愛波
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