專利名稱：集成電路的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種用于接收高頻信號的前端集成電路，特別是，涉及用單片封裝構成RF電路和數(shù)字解調電路的集成電路。
背景技術：
以下說明有關用單片封裝構成RF(Radio Frequency)電路和數(shù)字解調電路的現(xiàn)有前端集成電路。
如圖8所示，一般的單片封裝前端集成電路100，在單片封裝中具有RF電路部110和數(shù)字解調電路部120。
上述RF電路部110由放大高頻信號的RF可變增益放大器101、I(Inphase同步分量)/Q(Quadrature正交分量)與基帶信號正交調制的調制部102、以及放大I/Q基帶信號的基帶可變增益放大器103構成。
并且，數(shù)字解調電路部120具備把上述I/Q基帶信號變換為I/Q數(shù)字信號的模擬/數(shù)字變換電路121，解調上述I/Q數(shù)字信號。
在用單片封裝構成這種RF電路部110和數(shù)字解調電路部120的前端集成電路100中，RF電路部110與數(shù)字解調電路部120之間通過基帶信號(BBS)線131、131和放大率控制信號(以下，叫做「AGC(Automatic Gain Control)信號」線132，在內部連接起來。
在正常工作狀態(tài)，構成反饋環(huán)，使向數(shù)字解調電路部120的輸入電平保持恒定。即，把作為RF電路部110來的I/Q基帶模擬輸出的I/Q基帶信號(BBS)輸入到數(shù)字解調電路部120，進行模擬數(shù)字變換。在這里，數(shù)字解調電路部120的放大率控制電路122由數(shù)字電路構成，檢測變換為數(shù)字后的基帶輸出電平，根據(jù)測定的電平，輸出數(shù)字AGC信號，使向數(shù)字解調電路部120的輸入信號保持恒定。對該數(shù)字AGC信號進行數(shù)字/模擬變換，送到RF電路部110的AGC輸入端。
對上述RF電路部110的試驗項目來說，例如可舉出下面的各點。
·最大增益、最小增益、以及增益最大可變范圍等的增益特性
·I/Q基帶信號(BBS)的電平差·I/Q基帶信號(BBS)的相位差(正交性)·相位噪聲特性另外，就對上述這樣的單片封裝前端集成電路100的RF電路部110的現(xiàn)有技術試驗方法來說，例如，如日本國公開特許公報「特開2002-232498號公報(2001年8月16日公開)所示，在閉合自動增益控制環(huán)(以下，叫做「AGC環(huán)」)的狀態(tài)下進行試驗。
但是，上述現(xiàn)有的集成電路中，將數(shù)字解調述部120的輸出信號直接連接到RF電路部110內對RF可變增益放大器101的AGC輸入端，構成AGC環(huán)，所以有不能在短時間內試驗RF電路部110中包括的RF可變增益放大器101的放大系數(shù)特性等這一問題。
也就是，假定檢測最大增益和最小增益的值或由此2個值檢測增益的最大可變范圍時，需要清除輸入信號的電平，評價AGC環(huán)收斂后的AGC信號電平，或者，需要一邊監(jiān)視誤差校正前的位誤差率(BERBit Error Ratio)，一邊重復探索位誤差率(BER)除以一定值的電平，將需要很多的檢測時間。
同樣，電壓控制振蕩器(VCOVoltage Controlled Oscillator)的相位噪聲檢測、I/Q相位差等不怎么依賴輸出電平的檢測，在AGC收斂前也需要在檢測程序中設定等待時間，檢測時間浪費。
并且，上述控制即使可能，由于也擔心位誤差率(BER)低下，基帶信號沒有送到集成電路外部，成了僅進行RF部特性檢測時的制約。特別是，所謂I/Q相位差或相位噪聲的特性評價，只有監(jiān)視接收信號的位誤差率(BER)特性等的方法，需要很多檢測時間。
進而，為了進行RF電路部110的試驗，需要在數(shù)字解調電路部120中設置RF電路試驗用的裝置，就有試驗精度惡化、電路大型化這個問題。
假如，輸出端子作為引出線，為了連接到檢測器，在集成電路(IC)外部需要設置驅動電路，處理I/Q信號時，其外部驅動電路的相對性給結果帶來影響，所以使用該分立元件的電路設計必須非常注意。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠容易進行RF電路中包括可變增益放大器的放大系數(shù)特性和其它的RF電路檢測的集成電路。
為達成上述目的，本發(fā)明的集成電路是用于接收高頻信號的前端集成電路，由單片封裝構成具有可變增益放大器的RF電路和具有放大系數(shù)控制電路的數(shù)字解調電路，另一方面，包含轉換部，轉換使用由所述數(shù)字解調電路輸出的自動增益控制環(huán)產(chǎn)生的內部信號場合、和斷開自動增益控制環(huán)后直接提供固定值信號場合，作為向所述RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號的輸入，所述轉換部由轉換控制信號進行轉換。
倘若采用所述的發(fā)明，通過轉換部，就能夠轉換使用由所述數(shù)字解調電路輸出的自動增益控制環(huán)產(chǎn)生的內部信號場合、和斷開自動增益控制環(huán)后直接輸送固定值信號場合，作為向RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號的輸入。
所以，在進行RF電路試驗的時候，可給放大系數(shù)控制信號提供任意的固定值，很容易直接試驗放大系數(shù)特性等。并且，不需要設置自動增益控制環(huán)收斂前的等待時間，可在短時間內作試驗，因而能夠抑制檢測所花的費用。
并且，轉換部借助于轉換控制信號進行轉換，因而容易操作轉換部。
其結果，可提供一種能夠容易進行RF電路中包含的可變增益放大器的放大系數(shù)特性和其它的RF電路檢測的集成電路。
本發(fā)明還有的其它目的、特征、以及優(yōu)點，通過下面所示的記載就會充分理解了。并且，本發(fā)明的好處在參照附圖的以下說明中將變得清楚起來。


圖1是表示本發(fā)明的前端集成電路一實施例的框圖。
圖2是表示從外部輸入AGC信號輸入轉換開關的AGC信號輸入轉換信號的前端集成電路的框圖。
圖3是表示由試驗用轉換信號發(fā)生電路發(fā)生AGC信號輸入轉換開關的AGC信號輸入轉換信號的前端集成電路的框圖。
圖4是表示從外部輸入AGC信號輸入轉換開關的檢測用AGC信號的前端集成電路的框圖。
圖5是表示用試驗用AGC信號發(fā)生電路發(fā)生AGC信號輸入轉換開關的檢測用AGC信號的前端集成電路的框圖。
圖6是表示用試驗用AGC信號發(fā)生電路發(fā)生AGC信號輸入轉換開關的檢測用AGC信號的前端集成電路的框圖。
圖7是表示設置借助于輸出取出轉換用控制信號，轉換把從RF電路部輸出的基帶模擬輸出直接輸入到數(shù)字解調電路部的場合和通過檢查用輸出端子取出到外部的場合的開關電路的前端集成電路的框圖。
圖8是表示現(xiàn)有的前端集成電路構成的框圖。
具體實施例方式若按照圖1到圖5說明本發(fā)明的一個實施例，如以下。
作為本實施例集成電路的前端集成電路1，如圖1所示，在單片封裝中具有作為RF電路的RF電路部10和作為數(shù)字解調電路的數(shù)字解調電路部20。
上述RF電路部10由作為放大高頻信號的可變增益放大器的RF可變增益放大器11、與I/Q基帶信號正交調制的調制器12、以及作為放大I/Q基帶信號的可變增益放大器的基帶可變增益放大器13·13而構成。
并且，數(shù)字解調電路部20具備把上述I/Q基帶信號變換為I/Q數(shù)字信號的模擬/數(shù)字變換電路21和放大系數(shù)控制電路22，并解調RF電路部10來的I/Q數(shù)字信號。
在用單片封裝構成這樣的RF電路部10和數(shù)字解調電路部20的前端集成電路1中，RF電路部10與數(shù)字解調電路部20之間，用基帶信號(BBSBase Band Signal)線2·2連接起來。
另一方面，本實施例中，來自放大系數(shù)控制電路22的放大系數(shù)控制信號(以下，叫做「AGC信號」線3，通過AGC信號輸入轉換開關30輸入到RF電路部10的RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13·13。
即，借助于該放大系數(shù)控制電路22，構成反饋環(huán)，使向數(shù)字解調電路部20的輸入電平保持恒定。
在上述的前端集成電路1中，作為RF電路部10來的I/Q基帶模擬輸出的基帶信號(BBS)被輸入到數(shù)字解調電路部20并進行模擬/數(shù)字變換。這里，數(shù)字解調電路部20的放大系數(shù)控制電路22由數(shù)字電路構成，檢測變換為數(shù)字后的基帶輸出電平，根據(jù)該測定的電平，輸出數(shù)字的AGC(AutomaticGain Control自動增益控制)信號，以便使向數(shù)字解調電路部20的輸入信號電平保持恒定。而且，對該I/Q數(shù)字信號進行數(shù)字/模擬變換，送到RF電路部10的AGC輸入端。
可是，對于RF電路部10，需要試驗例如下列的試驗項目。
·最大增益、最小增益、以及增益最大可變范圍等的增益特性·I/Q基帶信號(BBS)的電平差·I/Q基帶信號(BBS)的相位差(正交性)·相位噪聲特性但是，在現(xiàn)有的集成電路中，將數(shù)字解調電路部的輸出信號直接連接到RF電路內向RF可變增益放大器的AGC輸入端而構成AGC環(huán)，所以有不能在短時間內試驗RF電路部中包括的RF可變增益放大器的放大系數(shù)特性等的問題。
因此，本實施例中，可以按照作為轉換控制信號的AGC信號輸入轉換信號TEST，通過作為轉換裝置的AGC信號輸入轉換開關30，轉換使用由數(shù)字解調電路部20輸出的自動增益控制環(huán)而產(chǎn)生的內部信號的AGC信號的場合，和斷開自動增益控制環(huán)后直接提供作為固定值信號的檢測用AGC信號的場合，作為向RF電路部10內RF可變增益放大器11的AGC輸入。
即，在正常工作狀態(tài)下，對RF電路部10來的I/Q基帶模擬輸出進行模擬/數(shù)字變換。進而，檢測電平，并對與檢測的電平相應的AGC信號進行數(shù)字/模擬變換，并送到RF電路部10的AGC輸入端。
另一方面，在前端集成電路1的RF特性試驗時，可以按照AGC信號輸入轉換信號TEST，把AGC信號直接送給RF電路部10。
因此，試驗RF電路部10的最大增益和最小增益的時候，不需要清除輸入信號電平，評價AGC收斂后的AGC信號和位誤差率(BERBit ErrorRatio)，可以評價輸出電平。所以，不需要進行輸入信號的清除，在短時間內就能完成試驗。
并且，因為不需要設置AGC環(huán)收斂前的等待時間，所以在這一方面也能在短時間內進行試驗。
可是，至于提供上述AGC信號輸入轉換開關30的AGC信號輸入轉換信號TEST方面，可以考慮各種結構。
例如，如圖2所示，可以通過前端集成電路1的檢查用連接端子31，從外部輸入試驗RF電路部10時的AGC信號輸入轉換信號TEST。
按照這樣構成，就不需要用于在前端集成電路1內發(fā)生試驗用轉換信號的電路，因而不會使前端集成電路1大型化，而且能夠直接提供AGC信號。
并且，就其它構成來說，例如，如圖3所示，可用作為前端集成電路1內設置的轉換控制信號發(fā)生裝置的檢測用轉換信號發(fā)生電路32，發(fā)生AGC信號輸入轉換信號TEST。
就該前端集成電路1內的檢測用轉換信號發(fā)生電路32而言，例如，采用用于局部振蕩器的PLL設定等的串行總線接口的寄存器是理想的。
按照該構成，無須添加檢查用連接端子31，就能直接提供檢測用AGC信號。
另一方面，至于提供檢測用AGC信號方面，也可以考慮各種結構。
例如，如圖4所示，可以通過檢測用AGC信號輸入端子41，從前端集成電路1的外部輸入試驗RF電路部10時提供的檢測用AGC信號。
因此，不需要發(fā)生試驗時AGC信號的電路，因而不會使前端集成電路1大型化，很容易直接提供檢測用AGC信號。
并且，至于提供該檢測用AGC信號方面，不一定限于此，例如，如圖5所示，可以用作為前端集成電路1內設置的試驗用固定值信號發(fā)生裝置的試驗用AGC信號發(fā)生電路42，發(fā)生試驗RF電路部10時提供的檢測用AGC信號。就該前端集成電路1內的試驗用AGC信號發(fā)生電路42來說，例如，采用用于局部振蕩器的PLL設定等的串行總線接口的寄存器是理想的。
按照該構成，無須添加檢測用AGC信號輸入端子41，就可以直接提供檢測用AGC信號。
這樣，本實施例的前端集成電路1中，可以借助于AGC信號輸入轉換開關30，轉換使用作為由數(shù)字解調電路部20輸出的自動增益控制環(huán)而產(chǎn)生內部信號的AGC信號的場合和斷開自動增益控制環(huán)后直接提供檢測用AGC信號的場合，作為向RF電路部10內的RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13·13的AGC信號輸入。
所以，進行RF電路部10試驗的時候，可以給AGC信號提供任意固定值，就能夠很容易直接試驗放大系數(shù)特性等。并且，不需要設置自動增益控制環(huán)收斂之前的等待時間，可在短時間內作試驗，因而可以抑制檢測方面的花費。
并且，AGC信號輸入轉換開關30按照AGC信號輸入轉換信號TEST進行轉換，因而容易操作AGC信號輸入轉換開關30。
其結果，能夠提供很容易進行RF電路部10內包括RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13的放大系數(shù)特性和其它RF電路部10的檢測的前端集成電路1。
并且，本實施例的前端集成電路1中，用于轉換AGC信號輸入轉換開關30的AGC信號輸入轉換信號TEST可從外部輸入，因而無須在前端集成電路1的內部添加檢查用的電路而使前端集成電路1大型化。所以，在抑制制造成本方面，得到縮短試驗時間的結果。特別是，對芯片面積的制約大的時候是有效的。
并且，在本實施例的前端集成電路1中，從檢測用轉換信號發(fā)生電路32輸出用于轉換AGC信號輸入轉換開關30的AGC信號輸入轉換信號TEST。
因而，由于不需要添加外部連接用的檢查用管腳，在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對于檢查用管腳數(shù)的制約大的時候是有效的。
并且，本實施例的前端集成電路1中，當斷開自動增益控制環(huán)時，作為向RF電路部10內RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13·13的AGC信號輸入，可從外部提供試驗用控制電壓，作為檢測用AGC信號。
因此，由于從外部輸入檢測用AGC信號，所以無須在前端集成電路1內部添加檢查用的電路而使電路大型化。所以，在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別是，對于芯片面積的制約大的時候是有效的。
并且，本實施例的前端集成電路1中，可用前端集成電路1內設置的試驗用AGC信號發(fā)生電路42發(fā)生直接提供試驗用的試驗用AGC信號。
因此，不需要添加外部連接用的檢查管腳，因而在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別是，對于檢查用管腳數(shù)的制約大的時候是有效的。
若按照圖6說明本發(fā)明的其它實施例，如以下。另外，除本實施例中敘述以外的構成，都與上述實施例1相同。所以，為說明方便，對具有與上述實施例1的附圖中所示的構件相同功能的構件，附加同一符號，并省略其說明。
在上述實施例1中，作為轉換裝置的AGC信號輸入轉換開關30設在前端集成電路部10內部的RF電路部10和數(shù)字解調電路部20以外的部分。
但是，如圖6所示，變成了在數(shù)字解調電路部20的放大系數(shù)控制電路22內部形成本實施例的前端集成電路1的AGC信號輸入轉換開關30。
即，本實施例的前端集成電路1的數(shù)字解調電路部20的放大系數(shù)控制電路22具有電平檢測器51、AGC信號輸入轉換開關30、作為試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生裝置的試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52、以及放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53。
而且，將該數(shù)字解調電路部20的放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53的輸出，通過數(shù)字/模擬變換電路54，輸出到RF電路部10的RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13·13。
上述前端集成電路1中，將數(shù)字解調電路部20的模擬/數(shù)字變換電路21·21的輸出，通過電平檢測器51、和AGC信號輸入轉換開關30，輸入到放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53。進而，放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53的輸出，通過數(shù)字/模擬變換電路54，對RF電路部10反饋輸入AGC信號。
另一方面，本實施例中，試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52來的信號也輸入到上述AGC信號輸入轉換開關30，借助于AGC信號輸入轉換開關30，轉換來自該試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52的信號和來自電平檢測器51的信號，并輸出到放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53。
并且，本實施例中，將AGC信號輸入轉換信號TEST輸入到AGC信號輸入轉換開關30和試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52的雙方。所以，通過將AGC信號輸入轉換信號TEST輸?shù)降竭@些AGC信號輸入轉換開關30和試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52的雙方，由試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52發(fā)生試驗用放大系數(shù)控制信號，同時AGC信號輸入轉換開關30也被選擇在試驗用放大系數(shù)控制信號一側。
其結果，正常工作時，放大系數(shù)控制電路22，按照測定的基帶示出電平輸出數(shù)字AGC信號。但是，RF特性試驗時，放大系數(shù)控制電路22具有輸出與試驗相應的數(shù)字AGC信號作為固定值的功能。因為該放大系數(shù)控制電路22由數(shù)字電路構成，能夠容易地生成試驗用控制信號。
因此，無須添加檢查用管腳，就可直接提供AGC信號。
這樣，本實施例的前端集成電路1中，對數(shù)字解調電路部20來說，在自動增益控制環(huán)內設置放大系數(shù)控制電路22，該放大系數(shù)控制電路22具有RF電路部10內的RF可變增益放大器11和向基帶可變增益放大器13·13發(fā)生AGC信號的放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53。并且，將AGC信號輸入轉換開關30設置在放大系數(shù)控制電路22的放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53的前級。
因此，可以使用從數(shù)字解調電路部20的放大系數(shù)控制電路22來的控制信號，作為斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的RF可變增益放大器11和基帶可變增益放大器13·13的放大系數(shù)控制信號輸入。
所以，本實施例中，在用單片構成RF電路部10和數(shù)字解調電路部20的前端集成電路1中是特別有效的。
并且，在本實施例的前端集成電路1中，斷開自動增益控制環(huán)，在放大系數(shù)控制電路22內設置通過AGC信號輸入轉換開關30把相當于斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的試驗用AGC信號的試驗用放大系數(shù)控制信號輸出給放大系數(shù)控制信號發(fā)生器53的試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器52。
因此，不需要添加外部連接用的檢查用管腳，因而在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對檢查用管腳數(shù)的制約大的時候是有效的。
若按照圖7說明本發(fā)明的其它實施例，如以下。另外，除本實施例中敘述以外的構成，都與上述實施例1相同。所以，為說明方便，對具有與上述實施例1和實施例2的附圖中所示的構件同一功能的構件，附加同一符號，并省略其說明。
在本實施例的前端集成電路1中，除上述實施例1和實施例2的構成以外，如圖7所示，在試驗RF電路部10的時候，可在前端集成電路1的外部取出基帶I/Q模擬輸出，作為檢查用輸出端子的檢查用輸出管腳61·62。
即，本實施例中，在RF電路部10的基帶可變增益放大器13·13的輸出，通過作為開關電路的BBS轉換開關63·64，輸入到數(shù)字解調電路部20的模擬/數(shù)字變換電路21。
而且，BBS轉換開關63·64的其它輸出，通過驅動電路65·66輸入到上述檢查用輸出管腳61·62。
按照上述的結構，在數(shù)字解調電路部20內不設置RF電路試驗用的裝置，而可以直接試驗RF電路部10的放大系數(shù)特性、相位噪聲、及I/Q相位差的特性試驗。
因此，不會使前端集成電路1大型化，能夠高精度進行RF電路部的試驗。
并且，本實施例中，在取出基帶I/Q模擬輸出的時候，設有驅動電路65·66。
因此，即使對于輸入阻抗低的測定器，也能在高精度測定中供給足夠的信號電平。
并且，本實施例中，驅動電路65·66設置在前端集成電路1的內部。因此，前端集成電路1內設置的2個驅動電路65·66，能保持很高的相對性，可以高精度試驗I/Q信號的電平差和相位差。
這樣，在本實施例的前端集成電路1中，通過用未圖示的輸出取出轉換控制信號控制BBS轉換開關63·64，轉換將R F電路部10輸出的基帶模擬輸出直接輸入到數(shù)字解調電路部20的場合和通過檢查用輸出管腳61·62引出外部的場合。
因此，可以直接取出RF電路部10的輸出，因而無須在數(shù)字解調電路部20內設置RF電路試驗用的裝置，就能夠進行RF電路部10的試驗。
所以，不會使前端集成電路1大型化，可以精度良好地、而且以短時間進行RF電路部10的試驗，能夠抑制制造和檢測所花費的成本。
并且，本實施例的前端集成電路1中，在通過檢查用輸出管腳61·62取出到前端集成電路1外的場合，在該輸出信號上附加驅動電路65·66，因而即使對于輸入阻抗低的測定器，也能給高精度測定供給足夠的信號電平。
并且，本實施例中，將驅動電路65·66設置在前端集成電路1的內部，因而驅動電路65·66，能保持高的相對性，可以精度良好地試驗I/Q信號的電平差和相位差。
另外，本發(fā)明不限于上述各實施例，在權利要求所示的范圍內可以有種種變更，即使適當組合不同實施例中分別公開的技術手段而獲得的實施例，也應包括在本發(fā)明的技術范圍內。
如以上的那樣，本發(fā)明的集成電路中，用于轉換轉換裝置的轉換控制信號可從外部輸入。
倘若采用上述的發(fā)明，用于轉換轉換裝置的轉換控制信號由外部輸入，因而無須在集成電路內部添加檢查用的電路而使集成電路大型化。所以，在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對于芯片面積的制約大的時候是有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，設有輸出轉換上述轉換裝置用的轉換控制信號的轉換控制信號發(fā)生裝置。
倘若采用上述的發(fā)明，用于轉換轉換裝置的轉換控制信號就由轉換控制信號發(fā)生裝置輸出。
所以，不需要添加外部連接用的檢查用管腳，因此在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對于檢查用管腳數(shù)的制約大時是有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，作為向上述RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號輸入，斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的固定值信號是從外部輸入的試驗用控制電壓。
倘若采用上述的發(fā)明，就可以在斷開自動增益控制環(huán)時，作為向RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號輸入，可從外部提供試驗用控制電壓作為固定值信號。
因此，從外部輸入試驗用控制電壓，因而無須在集成電路內部添加檢查用的電路而使電路大型化。所以，在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對芯片面積的制約大時是有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，作為向上述RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號輸入，設置輸出斷開自動增益控制環(huán)后直接試驗用固定值信號的提供試驗用固定值信號發(fā)生裝置。
倘若采用上述說明，就用集成電路內所設置的試驗用固定值信號發(fā)生裝置發(fā)生直接提供試驗用的固定值信號。
因此，無須添加外部連接用的電路，因而在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對檢查用管腳數(shù)的制約大時是有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，對上述數(shù)字解調電路而言，在自動增益控制環(huán)內設置具有放大系數(shù)控制信號發(fā)生器的放大系數(shù)控制電路，放大系數(shù)控制信號發(fā)生器發(fā)生向上述RF電路內的可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號，另一方面，將上述轉換裝置設置在上述放大系數(shù)控制電路的上述放大系數(shù)控制信號發(fā)生器的前級。
因此，作為向斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號輸入，可使用數(shù)字解調電路的放大系數(shù)控制電路來的控制信號。
所以，本發(fā)明中，用單片構成RF電路和數(shù)字解調電路的前端集成電路是特別有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，在放大系數(shù)控制電路內設置試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生裝置，該試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生裝置通過上述轉換裝置把相當于斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的試驗用固定值信號的試驗用放大系數(shù)控制信號，輸出到上述放大系數(shù)控制信號發(fā)生器。作為向上述RF電路內可變增益放大器的輸入放大系數(shù)控制信號，因此，無須添加外部連接用的檢查用管腳，因而在抑制制造成本方面，獲得縮短試驗時間的效果。特別，對檢查用管腳數(shù)的制約大時是有效的。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，設置開關電路，用輸出取出轉換用控制信號轉換把從上述RF電路輸出的基帶模擬輸出直接輸入到上述數(shù)字解調電路的場合和通過檢查用輸出端子取出外部的場合。
倘若采用上述發(fā)明，通過用輸出取出轉換控制信號控制開關電路，轉換把RF電路輸出的基帶模擬輸出直接輸入上述數(shù)字解調電路的場合和通過檢查用輸出端子取出到外部的場合。
因此，可直接取出RF電路的輸出，因而不用在數(shù)字解調電路設置RF電路試驗用的裝置，就能夠進行RF電路的試驗。
所以，不會使集成電路大型化，而且能夠精度良好又短時間內進行RF電路的試驗，并能抑制在制造和檢測方面所需的成本。
并且，本發(fā)明的集成電路，在上述記載的集成電路中，在上述開關電路與檢查用輸出端子之間設有驅動電路。
因此，在作為檢查用管腳引出到集成電路外的場合，給驅動電路加上該輸出信號，因而即使對輸入阻抗低的測定器，也能為高精度的測定提供足夠的信號電平。
并且，本發(fā)明中，在集成電路內部設置驅動電路，因而驅動電路能夠具有很高的相對性，能夠高精度試驗I/Q信號的電平差和相位差。
另外，在本發(fā)明詳細地說明的事項中舉出的具體性實施方式或實施例始終是搞清楚本發(fā)明技術內容的，而不應該狹義地解釋只限定于這樣的具體例，在本發(fā)明的構思和如下記載的權利要求書范圍內，可以進行各種變更并實施。
權利要求
1.一種集成電路(1)，是用單片封裝構成具有可變增益放大器(11、13)的RF電路(10)和具有放大系數(shù)控制電路(22)的數(shù)字解調電路(20)的前端集成電路(1)，其特征是設置轉換裝置(30)，轉換使用由所述數(shù)字解調電路(20)輸出的自動增益控制環(huán)而產(chǎn)生內部信號的場合和斷開自動增益控制環(huán)直接提供固定值信號的場合，作為向所述RF電路內可變增益放大器的放大系數(shù)控制信號輸入，所述轉換裝置(30)，用轉換控制信號(AGC信號輸入轉換信號TEST)進行轉換。
2.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是用于轉換所述轉換裝置(30)的轉換控制信號(AGC信號輸入轉換信號TEST)由外部輸入。
3.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是設置轉換控制信號發(fā)生裝置(32)，輸出轉換控制信號(AGC信號輸入轉換信號TEST，用于轉換所述轉換裝置(30)。
4.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的固定值信號是從外部輸入的試驗用控制電壓，作為向所述RF電路部(10)內可變增益放大器(11、13)的放大系數(shù)控制信號(AGC信號)輸入。
5.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是設置試驗用固定值信號發(fā)生裝置(42)，輸出后直接提供的試驗用固定值信號，作為向所述RF電路部(10)內可變增益放大器(11、13)的放大系數(shù)控制信號(AGC信號)的輸入。
6.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是在所述數(shù)字解調電路(20)中，在自動增益控制環(huán)內設置具有放大系數(shù)控制信號發(fā)生器(53)的放大系數(shù)控制電路(22)，所述放大系數(shù)控制信號發(fā)生器(53)發(fā)生給RF電路部(10)內可變增益放大器(11、13)的放大系數(shù)控制信號(AGC信號)，另一方面，上述轉換裝置(30)設置在所述放大系數(shù)控制電路(22)的所述放大系數(shù)控制信號發(fā)生器(53)的前級。
7.按照權利要求6所述的集成電路(1)，其特征是在放大系數(shù)控制電路(22)內設置試驗用放大系數(shù)控制信號發(fā)生器(52)，通過所述轉換裝置(30)把相當于斷開自動增益控制環(huán)后直接提供的試驗用固定值信號的試驗用放大系數(shù)控制信號輸出到所述大系數(shù)控制信號發(fā)生器(53)，作為向所述RF電路部(10)內可變增益放大器(11、13)的放大系數(shù)控制信號(AGC信號)的輸入。
8.按照權利要求1所述的集成電路(1)，其特征是設置開關電路(63)，利用輸出取出轉換用控制信號轉換把從所述RF電路部(10)輸出的基帶模擬輸出直接輸入到所述數(shù)字解調電路部(20)的場合和通過檢查用輸出端子(61、62)引出到外部的場合。
9.按照權利要求8所述的集成電路(1)，其特征是在所述開關電路(63)與檢查用輸出端子(61、62)之間設置驅動電路(65、66)。
全文摘要
前端集成電路由單片封裝構成具有可變增益放大器的RF電路部和具有放大系數(shù)控制電路的數(shù)字解調電路部。就向RF電路部內的RF電路部和基帶可變增益放大器的AGC信號的輸入來說，設置AGC信號輸入轉換開關，用于轉換使用由數(shù)字解調電路部輸出的自動增益控制環(huán)而產(chǎn)生的內部信號的場合和斷開自動增益控制環(huán)后直接提供檢測用AGC信號的場合。AGC信號輸入轉換開關通過AGC信號輸入轉換信號TEST進行轉換。因此，能夠提供很容易進行RF電路中包括的可變增益放大器的放大系數(shù)特性和其它RF電路的檢測的集成電路。
文檔編號H03G3/20GK1527555SQ200310122299
公開日2004年9月8日 申請日期2003年12月23日 優(yōu)先權日2003年3月5日
發(fā)明者蘆田伸之 申請人:夏普株式會社