本申請涉及存儲技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種一次性可編程存儲裝置以及對其進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)的方法。

背景技術(shù)：

為了滿足不同用戶對節(jié)目質(zhì)量和節(jié)目類別的差異化需求，運(yùn)營商可以通過用戶付費(fèi)方式向特定用戶開放相應(yīng)節(jié)目的觀看權(quán)限，這已逐步成為當(dāng)前電視運(yùn)營的主流方式之一。為了實(shí)現(xiàn)對節(jié)目觀看權(quán)限的控制，安全機(jī)頂盒被廣泛使用。安全機(jī)頂盒主芯片內(nèi)部通常會包括一次性可編程(OTP,One time programmable)存儲空間，以存儲某些應(yīng)用數(shù)據(jù)。機(jī)頂盒芯片的OTP空間通常會存儲有三種類型的數(shù)據(jù)內(nèi)容。第一種內(nèi)容是對于每顆芯片的OTP空間都相同的內(nèi)容，如使能位、公共密鑰等；第二種是對于每顆芯片的OTP空間中某些位每顆芯片都不一樣的內(nèi)容，如芯片序列號、唯一密鑰。第三種是OTP空間的某些位的可能是隨機(jī)值的內(nèi)容。

出于一些原因，帶有OTP存儲空間的芯片可能需要進(jìn)行二次檢測或二次燒錄，這通?？梢岳米詣訙y試設(shè)備(ATE，Auto-Test Equipment)來執(zhí)行。一種常見的檢測或燒錄方法是在ATE燒錄時(shí)制作并記錄一檢索文件庫。檢索文件庫針對每顆芯片至少需記錄以下兩部分信息：1)每顆芯片的編號，每顆芯片的編號不同，該編號可用于在檢索文件庫中尋找到該芯片的記錄信息，例如序列號(PID)；2)記錄需二次檢查的OTP信息值，該信息值是直接記錄又或是出于安全的考慮需加密存放，則根據(jù)系統(tǒng)需求決定。

當(dāng)芯片需要ATE二次檢測時(shí)，ATE機(jī)臺讀出該芯片的PID，并通過相同的算法計(jì)算或直接讀取需檢查的OTP信息值。ATE機(jī)臺通過PID搜索燒錄時(shí)保存的檢索文件庫，將當(dāng)前讀到的OTP信息值與文件庫中保留的信息值進(jìn)行比較，從而判斷該OTP二次檢測是否正確。當(dāng)芯片需要二次燒錄時(shí)，需按類似的方式重新制作并更新檢索文件庫。

但是，上述ATE測試方法比較復(fù)雜，會增加ATE測試的難度和成本。因此，有必要提供一種OTP存儲裝置能夠?qū)崿F(xiàn)較為簡便的ATE測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請的一個(gè)目的在于提供一種便于ATE測試的一次性可編程存儲裝置。

在本申請的一個(gè)方面，提供了一種一次性可編程存儲裝置。該存儲裝置包括存儲陣列，所述存儲陣列包括：數(shù)據(jù)存儲區(qū)，用于存儲應(yīng)用數(shù)據(jù)；校驗(yàn)信息區(qū)，其包括至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元，其中每個(gè)校驗(yàn)信息單元包括：校驗(yàn)地址區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)地址信息，所述校驗(yàn)地址信息關(guān)聯(lián)于所述數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗(yàn)區(qū)域的地址；以及參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域，其用于存儲一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其中每個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)是基于一校驗(yàn)算法對所述待校驗(yàn)區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行參考校驗(yàn)計(jì)算所得到的；校驗(yàn)處理器，用于根據(jù)所述校驗(yàn)地址信息從所述待校驗(yàn)區(qū)域讀取應(yīng)用數(shù)據(jù)，并且根據(jù)一選定的校驗(yàn)算法對所述應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行自校驗(yàn)計(jì)算，以得到自校驗(yàn)結(jié)果；以及控制器，其耦接到所述存儲陣列和所述校驗(yàn)處理器，用于從所述校驗(yàn)處理器接收所述自校驗(yàn)結(jié)果，選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來與所述自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較，并且輸出所述比較結(jié)果。

可以看出，對于本申請的一次性可編程存儲裝置，其能夠根據(jù)自身存儲的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來判斷數(shù)據(jù)存儲是否存在問題，而不需要由外部模塊提供參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，這種數(shù)據(jù)校驗(yàn)較為簡便，兼容性也較好。此外，對于一次性可編程存儲裝置外部的主控模塊或其他模塊，其僅能夠得到數(shù)據(jù)校驗(yàn)的比較結(jié)果，而不能夠獲得待校驗(yàn)區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)，因而這種一次性可編程存儲裝置的數(shù)據(jù)安全性也更好。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括算法選擇區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)算法標(biāo)識，所述校驗(yàn)算法標(biāo)識指示被選定的校驗(yàn)算法；所述控制器進(jìn)一步用于根據(jù)所述校驗(yàn)算法標(biāo)識來選擇對所述應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算的校驗(yàn)算法。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括數(shù)據(jù)選擇區(qū)域，其用于存儲參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識，所述參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識指示從所述一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)中選擇的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)；所述控制器進(jìn)一步用于根據(jù)所述參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)標(biāo)識來選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括單元控制區(qū)域，其用于存儲單元控制標(biāo)識，所述單元控制標(biāo)識指示所述校驗(yàn)信息單元是否有效；所述控制器進(jìn)一步用于根據(jù)每個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的單元控制標(biāo)識來確定是否基于所述校驗(yàn)信息單元進(jìn)行自校驗(yàn)。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)信息區(qū)的至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元是連續(xù)的，并且其中每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括校驗(yàn)控制區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)控制標(biāo)識，所述校驗(yàn)控制標(biāo)識指示存儲區(qū)域是否為校驗(yàn)信息單元；所述控制器進(jìn)一步用于根據(jù)所述至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的校驗(yàn)控制標(biāo)識來確定是否進(jìn)行自校驗(yàn)。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)地址信息包括校驗(yàn)起始地址信息和校驗(yàn)長度信息。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)信息區(qū)還包括全局信息單元，其用于存儲起始地址單位和長度單位，所述控制器進(jìn)一步根據(jù)所述校驗(yàn)起始地址信息和所述起始地址單位確定校驗(yàn)起始地址，以及根據(jù)所述校驗(yàn)長度信息和所述長度單位確定校驗(yàn)長度，從而根據(jù)所述校驗(yàn)起始地址和所述校驗(yàn)長度從所述待校驗(yàn)區(qū)域讀取應(yīng)用數(shù)據(jù)。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)信息區(qū)被設(shè)置于所述存儲陣列的起始位置或結(jié)束位置。

在本申請的另一方面，還提供了一種對一次性可編程存儲裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)的方法。所述一次性可編程存儲裝置包括存儲陣列，所述存儲陣列包括：數(shù)據(jù)存儲區(qū)，用于存儲應(yīng)用數(shù)據(jù)；校驗(yàn)信息區(qū)，其包括至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元，其中每個(gè)校驗(yàn)信息單元包括：校驗(yàn)地址區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)地址信息，所述校驗(yàn)地址信息關(guān)聯(lián)于所述數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗(yàn)區(qū)域的地址；以及參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域，其用于存儲一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其中每個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)是基于一校驗(yàn)算法對所述待校驗(yàn)區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行參考校驗(yàn)計(jì)算所得到的。所述方法包括：根據(jù)所述校驗(yàn)地址信息從所述待校驗(yàn)區(qū)域讀取應(yīng)用數(shù)據(jù)；根據(jù)一選定的校驗(yàn)算法對所述應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行自校驗(yàn)計(jì)算，以得到自校驗(yàn)結(jié)果；以及選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來與所述自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較，以確定所存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)是否正確。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括算法選擇區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)算法標(biāo)識，所述校驗(yàn)算法標(biāo)識指示被選定的校驗(yàn)算法；所述方法進(jìn)一步包括：根據(jù)所述校驗(yàn)算法標(biāo)識來選擇對所述應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算的校驗(yàn)算法。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括數(shù)據(jù)選擇區(qū)域，其用于存儲參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識，所述參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識指示從所述一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)中選擇的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)；所述方法進(jìn)一步包括根據(jù)所述參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)標(biāo)識來選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。

在一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括單元控制區(qū)域，其用于存儲單元控制標(biāo)識，所述單元控制標(biāo)識指示所述校驗(yàn)信息單元是否有效；所述方法進(jìn)一步包括：根據(jù)每個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的單元控制標(biāo)識來確定是否基于所述校驗(yàn)信息單元進(jìn)行自校驗(yàn)。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)信息區(qū)的至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元是連續(xù)的，并且其中每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括校驗(yàn)控制區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)控制標(biāo)識，所述校驗(yàn)控制標(biāo)識指示存儲區(qū)域是否為校驗(yàn)信息單元；所述方法進(jìn)一步包括：根據(jù)所述至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的校驗(yàn)控制標(biāo)識來確定是否進(jìn)行自校驗(yàn)。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)地址信息包括校驗(yàn)起始地址信息和校驗(yàn)長度信息。

在一些實(shí)施例中，所述校驗(yàn)信息區(qū)還包括全局信息單元，其用于存儲起始地址單位和長度單位；所述方法進(jìn)一步包括：根據(jù)所述校驗(yàn)起始地址信息和所述起始地址單位確定校驗(yàn)起始地址，以及根據(jù)所述校驗(yàn)長度信息和所述長度單位確定校驗(yàn)長度，從而根據(jù)所述校驗(yàn)起始地址和所述校驗(yàn)長度從所述待校驗(yàn)區(qū)域讀取應(yīng)用數(shù)據(jù)。

以上為本申請的概述，可能有簡化、概括和省略細(xì)節(jié)的情況，因此本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)該認(rèn)識到，該部分僅是示例說明性的，而不旨在以任何方式限定本申請范圍。本概述部分既非旨在確定所要求保護(hù)主題的關(guān)鍵特征或必要特征，也非旨在用作為確定所要求保護(hù)主題的范圍的輔助手段。

附圖說明

通過下面說明書和所附的權(quán)利要求書并與附圖結(jié)合，將會更加充分地清楚理解本申請內(nèi)容的上述和其他特征?？梢岳斫猓@些附圖僅描繪了本申請內(nèi)容的若干實(shí)施方式，因此不應(yīng)認(rèn)為是對本申請內(nèi)容范圍的限定。通過采用附圖，本申請內(nèi)容將會得到更加明確和詳細(xì)地說明。

圖1示出了根據(jù)本申請一個(gè)實(shí)施例的一次性可編程存儲裝置100；

圖2示出了圖1所示的存儲陣列的一個(gè)示例性結(jié)構(gòu)；

圖3示出了根據(jù)本申請一個(gè)實(shí)施例的用于對一次性可編程裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)的方法。

具體實(shí)施方式

在下面的詳細(xì)描述中，參考了構(gòu)成其一部分的附圖。在附圖中，類似的符號通常表示類似的組成部分，除非上下文另有說明。詳細(xì)描述、附圖和權(quán)利要求書中描述的說明性實(shí)施方式并非旨在限定。在不偏離本申請的主題的精神或范圍的情況下，可以采用其他實(shí)施方式，并且可以做出其他變化?？梢岳斫?，可以對本申請中一般性描述的、在附圖中圖解說明的本申請內(nèi)容的各個(gè)方面進(jìn)行多種不同構(gòu)成的配置、替換、組合，設(shè)計(jì)，而所有這些都明確地構(gòu)成本申請內(nèi)容的一部分。

圖1示出了根據(jù)本申請一個(gè)實(shí)施例的一次性可編程存儲裝置100。在一些實(shí)施例中，該一次性可編程存儲裝置100可以被構(gòu)造為單獨(dú)的存儲芯片；或者也可以被集成到一個(gè)集成電路芯片中，例如被集成到片上系統(tǒng)(SOC)芯片中，作為其中的一個(gè)模塊來存儲數(shù)據(jù)。

如圖1所示，該一次性可編程存儲裝置100包括存儲陣列102，該存儲陣列102具有按行、列排布的多個(gè)可尋址的存儲單元(圖中未示出)，并且每個(gè)存儲單元用于存儲1位(bit)數(shù)據(jù)。其中，每個(gè)存儲單元可以被編程(也即被寫入數(shù)據(jù))一次，并且不同的存儲單元可以被同時(shí)編程，或者被不同時(shí)編程。換言之，可以對存儲陣列102中的一部分存儲單元進(jìn)行編程以寫入數(shù)據(jù)，之后，再對另一部分存儲單元進(jìn)行編程(通常被稱為二次編程或二次燒錄)。在一些實(shí)施例中，存儲陣列102中的多個(gè)存儲單元可以構(gòu)成一個(gè)字(word)，例如32個(gè)存儲單元構(gòu)成一個(gè)字，也即單位字的位數(shù)為32。相應(yīng)地，存儲陣列102所包含的存儲單元數(shù)量等于總字?jǐn)?shù)乘以單位字的位數(shù)。

存儲陣列102包括數(shù)據(jù)存儲區(qū)104，其存儲應(yīng)用數(shù)據(jù)，也即用戶實(shí)際希望保存的數(shù)據(jù)內(nèi)容。例如，當(dāng)用于機(jī)頂盒芯片時(shí)，應(yīng)用數(shù)據(jù)可以包括使能位、公共密鑰、芯片序列號、唯一密鑰(私有密鑰)等。

存儲陣列102還包括校驗(yàn)信息區(qū)106，其存儲用于對數(shù)據(jù)存儲區(qū)104中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行自校驗(yàn)的信息。其中，在此所述的自校驗(yàn)是指一次性可編程存儲裝置100無需從其外部(例如通過主控模塊112從外部數(shù)據(jù)庫或存儲器)獲取用于判斷所校驗(yàn)的應(yīng)用數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確、無誤地存儲的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，這是因?yàn)閰⒖夹ｒ?yàn)數(shù)據(jù)可以被預(yù)先燒錄在存儲陣列102中。

圖2示出了圖1所示的存儲陣列的一個(gè)示例性結(jié)構(gòu)。其中，存儲陣列的每一行表示一個(gè)字。可以理解，圖2所示的例子僅用于描述存儲陣列可以采用的示例性結(jié)構(gòu)，而并不作為對本發(fā)明的限制。

如圖2所示，該存儲陣列包括數(shù)據(jù)存儲區(qū)104和校驗(yàn)信息區(qū)106。校驗(yàn)信息區(qū)106包括至少一個(gè)校驗(yàn)信息單元。其中每個(gè)校驗(yàn)信息單元用于指示對數(shù)據(jù)存儲區(qū)104中的一特定區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)。在圖2所示的實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元占用兩個(gè)字的存儲空間，可以理解，在一些其他的實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元也可以占用一個(gè)字或更多個(gè)字的存儲空間。此外需要說明的是，數(shù)據(jù)存儲區(qū)104和校驗(yàn)信息區(qū)106的劃分取決于其中存儲數(shù)據(jù)內(nèi)容以及相應(yīng)的存儲協(xié)議，這兩個(gè)區(qū)域中存儲單元的物理結(jié)構(gòu)以及排列本身可以是相同的。

具體地，每個(gè)校驗(yàn)信息單元可以包括用于存儲校驗(yàn)地址信息的校驗(yàn)地址區(qū)域，其中該校驗(yàn)地址信息關(guān)聯(lián)于待校驗(yàn)區(qū)域的地址。在一些實(shí)施例中，校驗(yàn)地址信息可以包括校驗(yàn)起始地址和校驗(yàn)結(jié)束地址，或者可以包括校驗(yàn)起始地址和校驗(yàn)長度，再或者也可以包括校驗(yàn)結(jié)束地址和校驗(yàn)長度。在另一些實(shí)施例中，校驗(yàn)地址信息也可以是能夠用于計(jì)算或確定校驗(yàn)起始地址、結(jié)束地址和/或長度的信息。例如，檢驗(yàn)地址信息可以包括校驗(yàn)起始字序號、校驗(yàn)結(jié)束字序號和/或校驗(yàn)字長度；同時(shí)，校驗(yàn)信息區(qū)還可以提供一區(qū)域，例如圖2所示的全局信息區(qū)120，用于存儲與校驗(yàn)起始字序號、校驗(yàn)結(jié)束字序號和/或校驗(yàn)字長度對應(yīng)的單位字長度。例如，校驗(yàn)起始地址等于校驗(yàn)起始字序號乘以校驗(yàn)起始字的單位字長度；校驗(yàn)長度等于校驗(yàn)字長度乘以單位字長度。通過這種方式來設(shè)置校驗(yàn)地址信息可以減少校驗(yàn)地址信息對存儲陣列中存儲空間的占用，特別是在存儲陣列中包括較多個(gè)校驗(yàn)信息單元的情況下。

每個(gè)校驗(yàn)信息單元還包括參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域，其存儲一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，其中每個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)是基于一校驗(yàn)算法對待校驗(yàn)區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行參考校驗(yàn)計(jì)算所得到的。例如，在對數(shù)據(jù)存儲區(qū)進(jìn)行初次燒錄(編程)時(shí)，數(shù)據(jù)存儲區(qū)中的待校驗(yàn)區(qū)域中可以被寫入數(shù)據(jù)。與此同時(shí)，利用校驗(yàn)算法來對被寫入的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算，以得到校驗(yàn)數(shù)據(jù)。這樣，可以將計(jì)算得到的校驗(yàn)數(shù)據(jù)寫入到參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域中，以作為參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。取決于參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域的大小，一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)可以被寫入到參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域中。例如，在圖2所示的校驗(yàn)信息單元1中，參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)11是初次燒錄時(shí)寫入的，而參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12是二次燒錄時(shí)寫入的。其中，二次燒錄可能會對待校驗(yàn)區(qū) 域中某些位進(jìn)行了數(shù)據(jù)更新，例如對數(shù)據(jù)存儲區(qū)和校驗(yàn)信息單元進(jìn)行了更新，因而需要提供更新的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12?？梢岳斫?，在一些其他的實(shí)施例中，參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域還可以存儲三個(gè)或更多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，或者僅存儲有一個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。

仍參考圖1所示，一次性可編程存儲裝置100還包括校驗(yàn)處理器108，其根據(jù)校驗(yàn)信息區(qū)106中存儲的校驗(yàn)地址信息從待校驗(yàn)區(qū)域讀取應(yīng)用數(shù)據(jù)，并且根據(jù)一選定的校驗(yàn)算法對讀取的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行自校驗(yàn)計(jì)算，以得到自校驗(yàn)結(jié)果。根據(jù)具體應(yīng)用的需要，校驗(yàn)處理器108可以實(shí)施各種數(shù)據(jù)校驗(yàn)算法，例如CRC16算法、CRC32算法、MD5算法、簽名算法等。

一次性可編程存儲裝置100還包括控制器110，其耦接到存儲陣列102和校驗(yàn)處理器108?？刂破?10從校驗(yàn)處理器108接收計(jì)算得到的自校驗(yàn)結(jié)果，從校驗(yàn)信息區(qū)106中選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來與該自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較，并且輸出比較結(jié)果。可以理解，計(jì)算所選擇的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)的校驗(yàn)算法應(yīng)與計(jì)算自校驗(yàn)結(jié)果所采用的校驗(yàn)算法一致。該比較結(jié)果指示了待校驗(yàn)區(qū)域存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)是否準(zhǔn)確：如果自校驗(yàn)結(jié)果與參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致，則說明應(yīng)用數(shù)據(jù)的存儲是準(zhǔn)確、可靠的；反之，則認(rèn)為該存儲裝置100存在問題。在圖1中，控制器110還耦接到主控模塊112，例如是中央處理器，以向其提供比較結(jié)果。

可以看出，對于一次性可編程存儲裝置100來說，其能夠根據(jù)自身存儲的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來判斷數(shù)據(jù)存儲是否存在問題，而不需要由外部模塊提供參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，這種數(shù)據(jù)校驗(yàn)較為簡便，兼容性也較好。此外，對于一次性可編程存儲裝置100外部的主控模塊或其他模塊，其僅能夠得到數(shù)據(jù)校驗(yàn)的比較結(jié)果，而不能夠獲得待校驗(yàn)區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)，因而這種一次性可編程存儲裝置的數(shù)據(jù)安全性也更好。

在圖1所示的實(shí)施例中，存儲陣列102和校驗(yàn)處理器108是通過控制器110相互耦接以傳輸數(shù)據(jù)的；在一些其他的實(shí)施例中，存儲陣列102也可以不經(jīng)由控制器110而直接耦接到校驗(yàn)處理器108。在這種情況下，控制器110向校驗(yàn)處理器108發(fā)出校驗(yàn)指令，指示校驗(yàn)處理器108從存儲陣列102讀取數(shù)據(jù)以進(jìn)行校驗(yàn)；之后，控制器110再從校驗(yàn)處理器108接收自校驗(yàn)結(jié)果。

再參考圖2所示，正如前述，一個(gè)校驗(yàn)信息單元的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域可以僅存儲一個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，因此控制器可以將自校驗(yàn)結(jié)果與該參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。在另一些實(shí)施例中，一個(gè)校驗(yàn)信息單元的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域可以存儲多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，這些參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)可以分別是在初次燒錄、二次燒錄或后續(xù)燒錄時(shí)根據(jù)所寫入的數(shù)據(jù)計(jì)算得到的參考校 驗(yàn)數(shù)據(jù)。因此，這些參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)中至少有一個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)對應(yīng)于一次性可編程存儲裝置最新存儲的數(shù)據(jù)。在這種情況下，控制器可以選擇讀取所有的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)來與自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較，并且得到多個(gè)比較結(jié)果：如果多個(gè)比較結(jié)果中的一個(gè)比較結(jié)果指示自校驗(yàn)結(jié)果與對應(yīng)的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)一致，通常即可認(rèn)為自校驗(yàn)結(jié)果與最新寫入的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)相同，因而確定一次性可編程存儲裝置沒有出現(xiàn)存儲故障。

替代地，控制器也可以從參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)區(qū)域中存儲的多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)中選擇一個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，以與自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。如果自校驗(yàn)結(jié)果與所選擇的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)相同，則可以確定沒有出現(xiàn)存儲故障。相應(yīng)地，每個(gè)校驗(yàn)信息單元可以包括數(shù)據(jù)選擇區(qū)域，其用于存儲參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識。其中，參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識指示從一個(gè)或多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)中選擇的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。例如，圖2所示的校驗(yàn)信息單元1中存儲有參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)11和參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12，那么數(shù)據(jù)選擇區(qū)域可以存儲1位的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識?？刂破骺梢宰x取該參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識，并且根據(jù)其具體值來選擇對應(yīng)的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。例如，當(dāng)該標(biāo)識的值為“0”時(shí)，控制器可以選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)11；而當(dāng)該標(biāo)識的值為“1”時(shí)，控制器可以選擇參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12。通過參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識的識別，控制器只需要進(jìn)行一次參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)的比較操作，因此效率更高。

由于每個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)是基于燒錄時(shí)選擇的校驗(yàn)算法計(jì)算得到的，因此在不同校驗(yàn)信息單元中存儲的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)采用不同的校驗(yàn)算法計(jì)算的情況下，校驗(yàn)信息單元還可以包括算法選擇區(qū)域。該算法選擇區(qū)域用于存儲校驗(yàn)算法標(biāo)識，其中該校驗(yàn)算法標(biāo)識指示計(jì)算參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)的校驗(yàn)算法。相應(yīng)地，在進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，控制器或校驗(yàn)處理器可以從一個(gè)校驗(yàn)信息單元讀取校驗(yàn)算法標(biāo)識，并且根據(jù)該校驗(yàn)算法標(biāo)識來選擇對讀取自待校驗(yàn)區(qū)域的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算的校驗(yàn)算法。例如，該校驗(yàn)算法標(biāo)識可以為3位數(shù)據(jù)，最多可以指示8種校驗(yàn)算法。根據(jù)預(yù)先的定義，當(dāng)該標(biāo)識的值為“000”時(shí)，可以選擇CRC16算法；而當(dāng)該標(biāo)識的值為“001”時(shí)，可以選擇例如MD5算法，等等。

正如前述，校驗(yàn)信息區(qū)可以包括多個(gè)校驗(yàn)信息單元。這些校驗(yàn)信息單元可以分別指示對數(shù)據(jù)存儲區(qū)一特定區(qū)域中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。在一些實(shí)施例中，控制器可以讀取所有校驗(yàn)信息單元的校驗(yàn)信息，并且進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。在另一些實(shí)施例中，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還可以包括用于存儲單元控制標(biāo)識的單元控制區(qū)域，該單元控制標(biāo)識指示校驗(yàn)信息單元是否有效。相應(yīng)地，控制器可以根據(jù)每個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的單元控制標(biāo)識來確定是否基于該校驗(yàn)信息單元進(jìn)行自校驗(yàn)。換言之，如果一個(gè)校驗(yàn)信息單元中存儲的單元控制 標(biāo)識為有效，則控制器繼續(xù)讀取該校驗(yàn)信息單元的其他校驗(yàn)信息以進(jìn)行校驗(yàn)；然而，如果控制器確定讀取的單元控制標(biāo)識為無效，則放棄該校驗(yàn)信息單元。單元控制區(qū)域中存儲的單元控制標(biāo)識的值可以默認(rèn)設(shè)置為有效；當(dāng)需要二次燒錄時(shí)，根據(jù)校驗(yàn)需要，例如待校驗(yàn)區(qū)域的值被改變且沒有空間寫入新的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，或者校驗(yàn)算法發(fā)生變化，則可以將該單元控制標(biāo)識的值修改一次，也即修改為無效，以廢棄該校驗(yàn)信息單元。優(yōu)選地，可以將單元控制區(qū)域設(shè)置在校驗(yàn)信息單元的較高位或較低位，其讀取順序可以優(yōu)先于校驗(yàn)地址信息和/或參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，以提高校驗(yàn)效率。

在一些實(shí)施例中，為了區(qū)分?jǐn)?shù)據(jù)存儲區(qū)和校驗(yàn)信息區(qū)，每個(gè)校驗(yàn)信息單元還可以包括校驗(yàn)控制區(qū)域，其用于存儲校驗(yàn)控制標(biāo)識，其校驗(yàn)控制標(biāo)識指示該存儲區(qū)域是否為校驗(yàn)信息單元。控制器可以根據(jù)所讀取的校驗(yàn)控制標(biāo)識來確定是否進(jìn)行自校驗(yàn)。例如校驗(yàn)控制標(biāo)識為1位數(shù)據(jù)以表示有效或無效，例如其值為“1”時(shí)表示該存儲區(qū)域是校驗(yàn)信息單元，因而需要進(jìn)行自校驗(yàn)；而當(dāng)其值為“0”時(shí)表示該存儲區(qū)域不是校驗(yàn)信息單元，因而不需要自校驗(yàn)。校驗(yàn)信息區(qū)的這些校驗(yàn)信息單元可以是連續(xù)的，例如被設(shè)置于存儲陣列的起始位置或結(jié)束位置。例如，在圖2所示的示例中，校驗(yàn)信息單元1和校驗(yàn)信息單元2的最高位均為“1”。在控制器讀取存儲陣列時(shí)，讀取到這兩個(gè)校驗(yàn)信息單元1和2對應(yīng)字的最高位均為“1”，其即判定需要進(jìn)行自校驗(yàn)。相反，對于與校驗(yàn)信息單元2相鄰的緩沖區(qū)，其最高位被設(shè)置為“0”，那么控制器在讀取到該值“0”時(shí)，則認(rèn)為自校驗(yàn)可以結(jié)束。在一些實(shí)施例中，校驗(yàn)控制標(biāo)識的值被默認(rèn)設(shè)置為“0”，也即無效，僅當(dāng)一個(gè)新的校驗(yàn)信息單元被寫入后，該校驗(yàn)控制標(biāo)識才被修改為“1”，也即有效，以指示需要進(jìn)行相應(yīng)的校驗(yàn)操作。優(yōu)選地，在單元控制區(qū)域被設(shè)置在校驗(yàn)信息單元較高位的情況下，可以將校驗(yàn)控制區(qū)域設(shè)置在單元控制區(qū)域的較高位，以提高校驗(yàn)效率。

圖3示出了根據(jù)本申請一個(gè)實(shí)施例的用于對一次性可編程存儲裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)的方法200。該方法200可以用于對圖1和2所示的一次性可編程存儲裝置進(jìn)行校驗(yàn)。接下來，結(jié)合圖1至圖3，對該方法200的具體步驟進(jìn)行詳述。

首先，自動測試裝置或主控模塊發(fā)出指令，控制器響應(yīng)該指令啟動數(shù)據(jù)校驗(yàn)。

接著，控制器讀取校驗(yàn)信息區(qū)，開始進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)。在一些實(shí)施例中，控制器可以在讀取校驗(yàn)信息區(qū)中的每個(gè)校驗(yàn)信息單元之后，立即基于該校驗(yàn)信息單元存儲的校驗(yàn)信息來控制校驗(yàn)處理器進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算和比較。在另一些實(shí)施例中，控制器可以在讀取所有校驗(yàn)信息單元之后，再對控制校驗(yàn)處理器進(jìn)行校驗(yàn)計(jì)算。

具體地，在步驟S202中，控制器讀取全局信息區(qū)，確定與校驗(yàn)起始字節(jié)序號、校驗(yàn)結(jié)束字序號和/或校驗(yàn)字長度對應(yīng)的單位字長度。

在步驟S204中，控制器讀取校驗(yàn)信息單元，例如校驗(yàn)信息單元1和/或校驗(yàn)信息單元2，以獲得其中存儲的各種校驗(yàn)相關(guān)的信息。

對于每個(gè)校驗(yàn)信息單元，在步驟S206中，控制器確定校驗(yàn)控制區(qū)域中存儲的校驗(yàn)控制標(biāo)識是否有效。如果校驗(yàn)控制標(biāo)識無效，則進(jìn)入步驟S207，校驗(yàn)結(jié)束，校驗(yàn)結(jié)果正確。因?yàn)楫?dāng)校驗(yàn)控制標(biāo)識為無效(值為“0”)時(shí)，表示該存儲區(qū)域不是校驗(yàn)信息單元，因而不需要自校驗(yàn)，即可返回校驗(yàn)結(jié)果正確，以便后續(xù)對一次性可編程存儲裝置的操作可以繼續(xù)進(jìn)行。在一些實(shí)施例中，有些一次性可編程存儲裝置中沒有寫入任何校驗(yàn)數(shù)據(jù)，也即不需要自校驗(yàn)，因此在一開始讀取校驗(yàn)信息區(qū)時(shí)，所讀取到的校驗(yàn)標(biāo)識就是無效的。在一些實(shí)施例中，校驗(yàn)控制標(biāo)識無效是指已無下一校驗(yàn)信息單元，即校驗(yàn)結(jié)束且返回校驗(yàn)正確的結(jié)果。如果校驗(yàn)控制標(biāo)識有效，則繼續(xù)步驟S208，控制器確定單元控制區(qū)域中存儲的單元控制標(biāo)識是否有效。如果單元控制標(biāo)識無效，則繼續(xù)步驟S210，讀取下一個(gè)校驗(yàn)信息單元的校驗(yàn)信息；如果單元控制標(biāo)識有效，則繼續(xù)步驟S212，根據(jù)算法選擇區(qū)域存儲的校驗(yàn)算法標(biāo)識，校驗(yàn)處理器選擇對應(yīng)的校驗(yàn)算法。接著，在步驟S214，根據(jù)校驗(yàn)地址區(qū)域存儲的校驗(yàn)地址信息，數(shù)據(jù)存儲區(qū)中存儲的應(yīng)用數(shù)據(jù)被讀出，并且提供給校驗(yàn)處理器，以計(jì)算得到自校驗(yàn)結(jié)果。之后，在步驟S216，控制器根據(jù)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識從校驗(yàn)信息單元中選擇對應(yīng)的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并且將其與自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。如果比較結(jié)果相同，則繼續(xù)步驟S210，讀取下一個(gè)校驗(yàn)信息單元的校驗(yàn)信息；但是如果比較結(jié)果不同，則繼續(xù)步驟S218，校驗(yàn)結(jié)束，并且同時(shí)向主控模塊反饋校驗(yàn)結(jié)果錯(cuò)誤?？梢岳斫?，如果校驗(yàn)信息區(qū)包括多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)但不包括參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識，則在步驟S216中，控制器可以將多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)和自校驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較：在自校驗(yàn)結(jié)果與多個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)均不同時(shí)，繼續(xù)步驟S218；而在自校驗(yàn)結(jié)果與其中的一個(gè)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)相同時(shí)，繼續(xù)步驟S210。

這樣，根據(jù)控制器反饋的校驗(yàn)結(jié)果，主控模塊即可判斷被校驗(yàn)的一次性可編程存儲裝置是否存在數(shù)據(jù)存儲錯(cuò)誤，而不需要由主控模塊或其他外部模塊提供參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，這種數(shù)據(jù)校驗(yàn)較為簡便，兼容性也較好。

本申請的一次性可編程存儲裝置特別適用于其內(nèi)部數(shù)據(jù)發(fā)生二次或多次燒錄的情況。

具體地，在進(jìn)行二次燒錄之前，一次性可編程存儲裝置中的部分存儲區(qū)域已經(jīng)被寫入了應(yīng)用數(shù)據(jù)。相應(yīng)地，該存儲裝置的校驗(yàn)信息區(qū)中已寫入了校驗(yàn)信息。例如，如圖2所示， 校驗(yàn)信息單元1的校驗(yàn)地址區(qū)域1被寫入了校驗(yàn)地址信息，其指示數(shù)據(jù)存儲區(qū)中待校驗(yàn)區(qū)域的地址。同時(shí)，校驗(yàn)信息單元1的算法選擇區(qū)域被寫入了相應(yīng)的校驗(yàn)算法標(biāo)識，而圖1所示的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)11也被寫入到校驗(yàn)信息單元1中。

因此，在進(jìn)行二次燒錄之前，可以首先檢查待燒錄的存儲裝置的存儲功能是否正常，例如采用圖2所示的流程進(jìn)行驗(yàn)證。具體地，ATE機(jī)臺可以讀取校驗(yàn)地址信息以相應(yīng)地讀取數(shù)據(jù)存儲區(qū)中對應(yīng)區(qū)域的應(yīng)用數(shù)據(jù)，并且利用校驗(yàn)算法標(biāo)識所對應(yīng)的校驗(yàn)算法來計(jì)算自校驗(yàn)結(jié)果。之后，ATE機(jī)臺讀取參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并且將自校驗(yàn)結(jié)果與參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。如果比較結(jié)果顯示這兩者一致，則機(jī)臺可以繼續(xù)進(jìn)行二次燒錄操作。

在一些情況下，二次燒錄的數(shù)據(jù)修改較少，例如當(dāng)新數(shù)據(jù)寫入全部或主要發(fā)生在校驗(yàn)地址區(qū)域1中已寫入校驗(yàn)地址信息對應(yīng)的存儲區(qū)域時(shí)，ATE機(jī)臺可以讀取這一存儲區(qū)域中全部寫入的應(yīng)用數(shù)據(jù)，并且采用原有校驗(yàn)算法確定新的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)，并且將該新的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)作為參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12寫入到校驗(yàn)信息單元1中。相應(yīng)地，校驗(yàn)信息單元1的數(shù)據(jù)選擇區(qū)域的值可以被修改，以指示參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)的更新，也即指示二次燒錄后有效的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)由參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)11變?yōu)閰⒖夹ｒ?yàn)數(shù)據(jù)12。對于二次燒錄后的存儲裝置，當(dāng)ATE機(jī)臺再對其進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)時(shí)，正如前述圖2的流程所說明的，其會根據(jù)參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)選擇標(biāo)識的值來選擇讀取參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)12來用于自校驗(yàn)。

在另一些情況下，二次燒錄可能會對存儲裝置進(jìn)行較多的修改，例如數(shù)據(jù)存儲區(qū)的大部分區(qū)域被新寫入數(shù)據(jù)，校驗(yàn)信息單元1中原有的校驗(yàn)地址信息已不能夠反映數(shù)據(jù)的變更。這時(shí)，可能需要擴(kuò)大待校驗(yàn)區(qū)域的范圍，因此需要對校驗(yàn)地址信息進(jìn)行更新。由于校驗(yàn)信息單元1中的校驗(yàn)地址區(qū)域1已經(jīng)被占用，因此，需要新增校驗(yàn)信息單元2并且在該校驗(yàn)信息單元2的校驗(yàn)地址區(qū)域2中寫入新的校驗(yàn)地址信息。相應(yīng)地，可以將在該校驗(yàn)信息單元2中寫入新的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)21。由于原有的校驗(yàn)信息單元1中存儲的校驗(yàn)信息已經(jīng)不再使用，因此可以將校驗(yàn)信心單元1的單元控制區(qū)域中的單元控制標(biāo)識設(shè)置為無效，而將新增的校驗(yàn)信息單元2的單元控制標(biāo)識設(shè)置為有效。這樣，對于二次燒錄后的存儲裝置，當(dāng)ATE機(jī)臺再對其進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)時(shí)，正如前述圖2的流程所說明的，其會根據(jù)單元校驗(yàn)標(biāo)識的判斷結(jié)果來選擇讀取參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)21來用于自校驗(yàn)。

在一些情況下，出于各種考慮，需要采用新的校驗(yàn)算法。這時(shí)，原有的校驗(yàn)信息單元1中存儲的校驗(yàn)信息同樣不能夠使用。類似地，可以廢棄校驗(yàn)信息單元1，并且新增一個(gè)或多個(gè)校驗(yàn)信息單元來更新校驗(yàn)算法以及對應(yīng)的參考校驗(yàn)數(shù)據(jù)。相應(yīng)地，當(dāng)進(jìn)行二次校驗(yàn) 時(shí)，可以按照二次燒錄更新的校驗(yàn)信息來進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)，以確定存儲裝置的存儲是否存在問題。

本技術(shù)領(lǐng)域的一般技術(shù)人員可以通過研究說明書、公開的內(nèi)容及附圖和所附的權(quán)利要求書，理解和實(shí)施對披露的實(shí)施方式的其他改變，上述實(shí)施方案僅僅是為了說明的目的而列舉的示例，而不是對本申請的限制，本申請的實(shí)施方式可以通過硬件、軟件或其組合的形式來實(shí)現(xiàn)。凡在本申請的教導(dǎo)和權(quán)利要求保護(hù)范圍下所作的任何修改、等同替換等，均應(yīng)包含在本申請要求保護(hù)的范圍內(nèi)。在權(quán)利要求中，措詞“包括”不排除其他的元素和步驟，并且措辭“一”、“一個(gè)”不排除復(fù)數(shù)。在本申請的實(shí)際應(yīng)用中，一個(gè)零件可能執(zhí)行權(quán)利要求中所引用的多個(gè)技術(shù)特征的功能。權(quán)利要求中的任何附圖標(biāo)記不應(yīng)理解為對范圍的限制。