一種信號環(huán)路檢測電路及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電子電路技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及例如在上電或啟動時檢測集成電路信號環(huán)路完整性的檢測電路及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]眾所周知，同一款芯片，由于生產(chǎn)工藝的細(xì)微不同，不同生產(chǎn)批次的芯片性能會有所差異，進(jìn)而影響芯片的功能，導(dǎo)致芯片最終的良率很低。在測試階段，可以通過調(diào)整芯片的初始化配置參數(shù)，改善芯片的性能，提高良率。但是在使用階段，芯片的初始化配置信息不希望被更改，以免影響芯片的正常功能。這樣，我們希望在生產(chǎn)測試階段開放芯片初始化配置參數(shù)的修改權(quán)限，而在正常使用階段禁止對其進(jìn)行修改。
[0003]—般，會通過一個控制信號來管理芯片的訪問權(quán)限?？梢酝ㄟ^很多手段產(chǎn)生這樣一個控制信號，但是，最可靠、最簡單的辦法是通過一根物理信號連線的狀態(tài)來產(chǎn)生此控制信號。在生產(chǎn)測試階段保持物理信號環(huán)路完整，在芯片測試完成后，切斷此物理信號連線，使信號環(huán)路斷開。這樣，芯片內(nèi)部就需要一個信號環(huán)路檢測電路，根據(jù)信號環(huán)路完整性的狀態(tài)，產(chǎn)生一個控制信號。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明提供了一種信號環(huán)路檢測電路及方法，通過檢測信號環(huán)路的斷開或連接狀態(tài)，產(chǎn)生相應(yīng)控制信號，從而使集成電路完成不同的功能。本發(fā)明的目的由以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
[0005]—種信號環(huán)路檢測電路，用于在上電或啟動時對集成電路信號環(huán)路完整性進(jìn)行檢測，其特征在于:包括時鐘單元、計數(shù)器和邏輯運(yùn)算電路;時鐘單元為計數(shù)器提供時鐘，計數(shù)器在集成電路復(fù)位完成后開始計數(shù)，依次產(chǎn)生:01、00、10、11的計數(shù)信號，計數(shù)器的高位計數(shù)信號check_cnt[l]作為輸出檢測信號checkout提供給信號環(huán)路的輸入端;邏輯運(yùn)算電路對計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]、高位計數(shù)信號check_cnt[l]、所述檢測信號checkout及信號環(huán)路輸出端提供的輸入檢測信號check_in進(jìn)行邏輯運(yùn)算并輸出控制信號check_ok和檢測完成信號check_ready，邏輯運(yùn)算電路設(shè)計為:在集成電路上電或啟動時，輸出的控制信號check_ok=l;信號環(huán)路為完整狀態(tài)時，檢測完成后輸出的控制信號check_ok= I;信號環(huán)路為切斷狀態(tài)時，檢測完成后輸出的控制信號check_ok = 0;僅在計數(shù)器的計數(shù)信號為11時，輸出的檢測完成信號check_ready = I，此時輸出的控制信號check_ok有效。
[0006]作為具體的技術(shù)方案，所述邏輯運(yùn)算電路包括異或門、異或非門、或門、第一與門、第二與門及D觸發(fā)器;所述計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt[I ]分別接入異或門的兩個輸入，異或非門的兩個輸入端分別接所述高位計數(shù)信號check_cnt[l]和輸入檢測信號check_in，異或門的輸出和異或非門的輸出連接或門的兩個輸入端，或門的輸出作為第一與門的一個輸入;所述時鐘單元的輸出連接D觸發(fā)器的CP端，D觸發(fā)器的Q端連接第一與門的另一個輸入，第一與門的輸出連接D觸發(fā)器的D端，D觸發(fā)器的Q端作為控制信號check_0k的輸出端；計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt[ I ]分別接入第二與門，第二與門的輸出端作為檢測完成信號check_ready的輸出端。
[0007]—種信號環(huán)路檢測方法，用于對在上電或啟動時對集成電路信號環(huán)路完整性進(jìn)行檢測，其特征在于，包括:
[0008](I)計數(shù)器在集成電路復(fù)位完成后開始計數(shù)，依次產(chǎn)生:01、00、10、11的計數(shù)信號，計數(shù)器的高位計數(shù)信號check_cnt[l]作為輸出檢測信號checkout提供給信號環(huán)路的輸入端；
[0009](2)通過邏輯運(yùn)算電路對計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]、高位計數(shù)信號check_cnt[l]、所述檢測信號check_out及信號環(huán)路輸出端提供的輸入檢測信號check_in進(jìn)行邏輯運(yùn)算并輸出控制信號Check_0k和檢測完成信號check_ready，邏輯運(yùn)算電路設(shè)計為:在集成電路上電或啟動時，輸出的控制信號check_ok = I ；信號環(huán)路為完整狀態(tài)時，檢測完成后輸出的控制信號check_0k=l;信號環(huán)路為切斷狀態(tài)時，檢測完成后輸出的控制信號(:11601^_01^ = 0;僅在計數(shù)器的計數(shù)信號為11時，輸出的檢測完成信號check_ready = l，此時輸出的控制信號check_ok有效。
[0010]作為具體的技術(shù)方案，所述邏輯運(yùn)算電路由以下結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn):包括異或門、異或非門、或門、第一與門、第二與門及D觸發(fā)器;所述計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt [ I ]分別接入異或門的兩個輸入，異或非門的兩個輸入端分別接所述高位計數(shù)信號check_cnt[l]和輸入檢測信號check_in，異或門的輸出和異或非門的輸出連接或門的兩個輸入端，或門的輸出作為第一與門的一個輸入;所述時鐘單元的輸出連接D觸發(fā)器的CP端，D觸發(fā)器的Q端連接第一與門的另一個輸入，第一與門的輸出連接D觸發(fā)器的D端，D觸發(fā)器的Q端作為控制信號check_ok的輸出端;計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt[ I ]分別接入第二與門，第二與門的輸出端作為檢測完成信號check_ready的輸出端。
[0011]本發(fā)明提供的信號環(huán)路檢測電路及方法，通過計數(shù)器產(chǎn)生特定的計數(shù)信號序列并配合巧妙的邏輯運(yùn)算電路，當(dāng)集成電路在進(jìn)行初始化信息配置時，通過檢測信號環(huán)路是否完整，進(jìn)入不同的工作模式，進(jìn)而選擇加載不同的配置信息。
【附圖說明】
[0012]圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的信號環(huán)路檢測電路與集成電路信號環(huán)路配合的示意圖。
[0013]圖2本發(fā)明實(shí)施例提供的信號環(huán)路檢測電路的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0014]以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0015]如圖1及圖2所示，本實(shí)施例提供的信號環(huán)路檢測電路用于對在上電或啟動時對集成電路信號環(huán)路完整性進(jìn)行檢測，包括時鐘單元、計數(shù)器和邏輯運(yùn)算電路。邏輯運(yùn)算電路包括異或門、異或非門、或門、第一與門、第二與門及D觸發(fā)器。
[0016]時鐘單元為計數(shù)器提供時鐘，計數(shù)器為兩位計數(shù)器，計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt[l]分別接入異或門的兩個輸入，高位計數(shù)信號check_cnt[ I ]還作為輸出檢測信號check_out接入信號環(huán)路的輸入端;異或非門的兩個輸入端分別接高位計數(shù)信號check_cnt[l]和輸入檢測信號check_in，輸入檢測信號check_in由信號環(huán)路的輸出端提供;異或門的輸出和異或非門的輸出連接或門的兩個輸入端，或門的輸出作為第一與門的一個輸入，時鐘的輸出連接D觸發(fā)器的CP端，D觸發(fā)器的Q端連接第一與門的另一個輸入，第一與門的輸出連接D觸發(fā)器的D端，D觸發(fā)器的Q端作為控制信號check_ok的輸出端;計數(shù)器的低位計數(shù)信號check_cnt[0]和高位計數(shù)信號check_cnt[l]還分別接入第二與門，第二與門的輸出端作為檢測完成信號check_ready的輸出端。
[0017]上述環(huán)路檢測電路的工作原理及方法如下:
[0018]集成電路內(nèi)部的環(huán)路檢測電路輸出檢測信號check_0ut，通過集成電路外圍的環(huán)路電路后，送回給檢測電路作為輸入檢測信號check_in。如果集成電路外圍的信號環(huán)路沒有斷開，那么集成電路內(nèi)部的信號環(huán)路檢測電路在檢測完成后CheCk_ok=l;如果集成電路外圍的信號環(huán)路被切斷，那么集成電路內(nèi)部的信號環(huán)路檢測電路在檢測完成后check_0k =
O。這樣，在集成電路測試階段保持外圍環(huán)路完整，使控制信號check_0k=l，開放集成電路初始化配置參數(shù)的修改權(quán)限;在集成電路測試完成后，切斷外圍環(huán)路，