一種小型電阻測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試裝置，具體涉及一種小型電阻測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的用于測(cè)量電阻的小型測(cè)試裝置，包括萬(wàn)用的測(cè)試裝置，一般包括測(cè)試儀以及插接在測(cè)試儀的兩根測(cè)試筆，測(cè)試筆帶有較長(zhǎng)的導(dǎo)線，在使用過(guò)程中，這些導(dǎo)線容易拌在一起或是姅?shù)脚赃吰渌矬w，需使用者耗費(fèi)時(shí)間整理這些導(dǎo)線，減低測(cè)試效率。另外在一些沒(méi)地方可放置測(cè)試儀的場(chǎng)合，需要一手握測(cè)試儀，一手握兩根導(dǎo)線進(jìn)行測(cè)試，顯得比較麻煩。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為解決現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種具有卷線器、測(cè)試筆可固定在測(cè)試儀上的小型電阻測(cè)試裝置。
[0004]本發(fā)明解決問(wèn)題采用的技術(shù)方案是:
一種小型電阻測(cè)試裝置，包括測(cè)試儀主體和均帶有導(dǎo)線的左、右測(cè)試筆，所述左、右測(cè)試筆的導(dǎo)線分別卷繞在左、右自動(dòng)卷繞器上，所述左、右自動(dòng)卷繞器分別固定連接在測(cè)試儀主體的左右側(cè)面上，所述左、右自動(dòng)卷繞器的出線端設(shè)置有左、右安裝孔，所述左、右測(cè)試筆可分別與左、右安裝孔緊密配合。
[0005]作為上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述左、右測(cè)試筆分別帶有左、右接頭，所述測(cè)試儀主體的左右側(cè)面分別設(shè)置有左插孔和右插孔，所述左、右接頭別插接進(jìn)左插孔和右插孔內(nèi)。
[0006]作為上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)，所述左、右安裝孔的開(kāi)口處的端面低于測(cè)試儀主體的下端面。
[0007]本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明在測(cè)試儀主體上設(shè)置自動(dòng)卷線器，使用過(guò)程中將導(dǎo)線從自動(dòng)卷線器拉出至合適的長(zhǎng)度即可，使留在自動(dòng)卷線器外部的導(dǎo)線不會(huì)過(guò)長(zhǎng)而出現(xiàn)姅在一起的情況；收起時(shí)導(dǎo)線卷繞進(jìn)自動(dòng)卷線器內(nèi)部，測(cè)試筆插進(jìn)安裝孔內(nèi)，保證測(cè)試裝置的整潔，此時(shí)測(cè)試筆的筆尖留在安裝孔外部，可手握測(cè)試儀主體，使測(cè)試筆的筆尖去接觸需要測(cè)試的電阻的引線，實(shí)現(xiàn)單手即可測(cè)試電阻，使用更為方便。
【附圖說(shuō)明】
[0008]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明:
圖1是本發(fā)明的局部剖視示意圖；
圖2是本發(fā)明的左視示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0009]參照?qǐng)D1和圖2，一種小型電阻測(cè)試裝置，包括測(cè)試儀主體I和均帶有導(dǎo)線的左、右測(cè)試筆2、3，所述左、右測(cè)試筆2、3的導(dǎo)線分別卷繞在左、右自動(dòng)卷繞器4、5上，所述左、右自動(dòng)卷繞器4、5分別固定連接在測(cè)試儀主體I的左右側(cè)面上，所述左、右自動(dòng)卷繞器4、5的出線端設(shè)置有左、右安裝孔6、7，所述左、右測(cè)試筆2、3可分別與左、右安裝孔6、7緊密配合。
[0010]作為進(jìn)一步優(yōu)選的實(shí)施方式，所述左、右測(cè)試筆2、3分別帶有左、右接頭8、9，所述測(cè)試儀主體I的左右側(cè)面分別設(shè)置有左插孔和右插孔，所述左、右接頭8、9別插接進(jìn)左插孔和右插孔內(nèi)。將左插孔和右插孔設(shè)置在測(cè)試儀主體I的側(cè)面，便于左、右接頭8、9與其連接，減少裸露在外的導(dǎo)線的長(zhǎng)度。
[0011]作為進(jìn)一步優(yōu)選的實(shí)施方式，所述左、右安裝孔6、7的開(kāi)口處的端面低于測(cè)試儀主體I的下端面。當(dāng)左、右測(cè)試筆2、3分別插進(jìn)左、右安裝孔6、7內(nèi)時(shí)，其筆尖會(huì)低于測(cè)試儀主體I的下端面，便于與需被測(cè)的電阻的引線接觸。
[0012]本發(fā)明在使用時(shí)，將左、右測(cè)試筆2、3拉出，使拉伸出來(lái)的導(dǎo)線長(zhǎng)度合適需要即可，其余的卷繞在左、右自動(dòng)卷繞器4、5內(nèi)部，解決現(xiàn)有的測(cè)試裝置導(dǎo)線過(guò)長(zhǎng)而容易出現(xiàn)姅在一起的問(wèn)題。收起時(shí)，稍微在拉動(dòng)一下左、右測(cè)試筆2、3，左、右自動(dòng)卷繞器4、5便自動(dòng)分別將相應(yīng)的導(dǎo)線收起，最后手動(dòng)將左、右測(cè)試筆2、3插進(jìn)左、右安裝孔6、7內(nèi)，由于左、右測(cè)試筆2、3固定，此時(shí)可手握測(cè)試儀主體I使左、右測(cè)試筆2、3去接觸電阻的引線，實(shí)現(xiàn)單手測(cè)試電阻。
[0013]以上所述只是本發(fā)明較佳的實(shí)施方式，其并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明保護(hù)范圍的限制，只要是以基本相同的手段實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的目的都應(yīng)屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種小型電阻測(cè)試裝置，包括測(cè)試儀主體(I)和均帶有導(dǎo)線的左、右測(cè)試筆(2、3)，其特征在于:所述左、右測(cè)試筆(2、3)的導(dǎo)線分別卷繞在左、右自動(dòng)卷繞器(4、5)上，所述左、右自動(dòng)卷繞器(4、5)分別固定連接在測(cè)試儀主體(I)的左右側(cè)面上，所述左、右自動(dòng)卷繞器(4、5)的出線端設(shè)置有左、右安裝孔(6、7)，所述左、右測(cè)試筆(2、3)可分別與左、右安裝孔(6、7)緊密配合。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小型電阻測(cè)試裝置，其特征在于所述左、右測(cè)試筆(2、3)分別帶有左、右接頭(8、9)，所述測(cè)試儀主體(I)的左右側(cè)面分別設(shè)置有左插孔和右插孔，所述左、右接頭(8、9)別插接進(jìn)左插孔和右插孔內(nèi)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種小型電阻測(cè)試裝置，其特征在于所述左、右安裝孔(6、7)的開(kāi)口處的端面低于測(cè)試儀主體(I)的下端面。
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種小型電阻測(cè)試裝置，包括測(cè)試儀主體和均帶有導(dǎo)線的左、右測(cè)試筆，所述左、右測(cè)試筆的導(dǎo)線分別卷繞在左、右自動(dòng)卷繞器上，所述左、右自動(dòng)卷繞器分別固定連接在測(cè)試儀主體的左右側(cè)面上，所述左、右自動(dòng)卷繞器的出線端設(shè)置有左、右安裝孔，所述左、右測(cè)試筆可分別與左、右安裝孔緊密配合。本發(fā)明使用過(guò)程中利用左、右自動(dòng)卷繞器，無(wú)論在測(cè)試或者收起的狀態(tài)下，可保證測(cè)試裝置的整潔。另外收起時(shí)左、右測(cè)試筆封閉固定在左、右自動(dòng)卷繞器上，可手握測(cè)試儀主體，使測(cè)試筆的筆尖去接觸需要測(cè)試的電阻的引線，實(shí)現(xiàn)單手即可測(cè)試電阻，使用更為方便。
【IPC分類】G01R27/02, G01R15/00
【公開(kāi)號(hào)】CN105044466
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510489176
【發(fā)明人】繆昌谷
【申請(qǐng)人】太倉(cāng)市高泰機(jī)械有限公司
【公開(kāi)日】2015年11月11日
【申請(qǐng)日】2015年8月11日