本發(fā)明涉及fpga芯片測試，尤其涉及一種clb模塊的功能測試故障定位方法、系統(tǒng)及設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、fpga（field?programmable?gate?array，現(xiàn)場可編程邏輯門陣列）芯片廣泛應(yīng)用于集成電路設(shè)計(jì)中，主要由輸入輸出單元、clb（configurable?logic?block，可配置邏輯模塊）模塊、嵌入式塊ram、互連線資源、底層內(nèi)嵌功能單元、內(nèi)嵌專用硬核組成，其中clb是fpga芯片中最基本的邏輯架構(gòu)，絕大多數(shù)的邏輯功能都由clb模塊實(shí)現(xiàn)，因此fpga中的clb模塊的測試極其重要。

2、clb模塊的常規(guī)測試方法主要是將clb模塊陣列進(jìn)行對等分，每等分中clb模塊同行并行，同列串行配置，通過輸出數(shù)據(jù)與輸入數(shù)據(jù)對比，逐一對clb模塊進(jìn)行自測試。該種測試方式能夠?qū)崿F(xiàn)clb模塊資源的全覆蓋測試，并且如果clb模塊出錯(cuò)，能夠定位到具體位置。然而，由于fpga芯片中clb資源通常較多，該種測試方式fpga代碼的編譯、運(yùn)行時(shí)間過長，對于批量化的fpga測試，測試工作過于繁瑣。本發(fā)明專利提出一種fpga芯片clb模塊的功能測試及故障定位方法，以提高測試效率為目標(biāo)，在fpga中clb?模塊功能測試中增加了快速性測試，若快速性測試通過，則clb模塊測試通過，若快速性測試未通過，則引入故障定位測試，快速性測試能夠簡化測試流程，其中分區(qū)流程也能夠大幅度縮小故障范圍，此方法能夠大幅度縮短fpga編譯時(shí)間，clb模塊測試時(shí)間，提升測試效率，適用于量產(chǎn)fpga批量化測試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明旨在至少解決相關(guān)技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明提供一種clb模塊的功能測試故障定位方法、系統(tǒng)及設(shè)備，實(shí)現(xiàn)fpga的clb模塊快速、規(guī)模化測試。

2、本發(fā)明提供一種clb模塊的功能測試故障定位方法，包括：

3、s1：將主控板卡與測試板卡連接，將主控板卡與上位機(jī)連接，所述測試板卡搭載被測試的fpga芯片；

4、s2：將所述fpga芯片按照測試需求劃分clb區(qū)塊；

5、s3：對所述clb區(qū)塊進(jìn)行快速性測試，并將測試結(jié)果發(fā)送至上位機(jī)；

6、s4：判斷所述clb區(qū)塊是否通過所述快速性測試，若所述快速性測試沒有通過，確定故障所在的故障區(qū)塊，執(zhí)行步驟s5；

7、s5：對所述故障所在的故障區(qū)塊的大小進(jìn)行判定，若所述故障區(qū)塊的大小小于精查找閾值執(zhí)行步驟s6，若所述故障區(qū)塊的大小大于或等于精查找閾值，將所述故障區(qū)塊進(jìn)行劃分，得到分割后的故障區(qū)塊，返回步驟s3；

8、s6：將所述故障區(qū)塊進(jìn)行故障精查找，確定故障點(diǎn)坐標(biāo)。

9、根據(jù)本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法，步驟s2包括：

10、s21：將所述fpga芯片按照測試需求劃分clb區(qū)塊，設(shè)置覆蓋閾值；

11、s22：燒寫測試板卡程序，建立上位機(jī)和主控板卡、主控板卡和測試板卡之間的通信；

12、s23：上位機(jī)向測試板卡下發(fā)測試指令；

13、s24：調(diào)用所述fpga芯片中的fifo（first?in?first?out，先入先出）的ip核（intellectual?property?core，知識產(chǎn)權(quán)核），將所述clb區(qū)塊配置成fifo模式，上位機(jī)生成隨機(jī)輸入數(shù)據(jù)；

14、s25：將所述隨機(jī)輸入數(shù)據(jù)輸入至所述clb區(qū)塊；若所述clb區(qū)塊的輸出數(shù)據(jù)與所述隨機(jī)輸入數(shù)據(jù)相同，則生成clb正確信號；若clb區(qū)塊的輸出數(shù)據(jù)與所述隨機(jī)輸入數(shù)據(jù)不同，則clb錯(cuò)誤信號；

15、s26：檢測測試覆蓋率是否達(dá)到所述覆蓋閾值，若達(dá)到則生成覆蓋成功信號；若未達(dá)到，則生成覆蓋失敗信號；

16、s27：所述測試結(jié)果包括clb正確信號、clb錯(cuò)誤信號、覆蓋成功信號和覆蓋失敗信號，將所述測試結(jié)果發(fā)送至上位機(jī)。

17、根據(jù)本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法，步驟s4包括：所述測試結(jié)果為clb正確信號和覆蓋成功信號時(shí)，所述快速性測試通過，否則，所述快速性測試沒有通過。

18、根據(jù)本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法，步驟s6包括：

19、s61：所述故障區(qū)塊的每行的clb單元串聯(lián)使用，所述上位機(jī)向所述每行的clb單元從起始輸入精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)，從所述每行的clb單元結(jié)尾輸出精查找數(shù)據(jù)，對所述精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)與所述精查找數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；對所述精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)與所述精查找數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若一致，則此行clb單元正常，若不一致，則記錄當(dāng)前的行坐標(biāo)；

20、s62：所述故障區(qū)塊的每列的clb單元串聯(lián)使用，所述上位機(jī)向所述每列的clb單元從起始輸入精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)，從所述每列的clb單元結(jié)尾輸出精查找數(shù)據(jù)，對所述精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)與所述精查找數(shù)據(jù)進(jìn)行比較；對所述精查找隨機(jī)數(shù)據(jù)與所述精查找數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，若一致，則此列clb單元正常，若不一致，則記錄當(dāng)前的列坐標(biāo)；

21、s63：根據(jù)所述行坐標(biāo)和列坐標(biāo)，結(jié)合所述故障區(qū)塊的分區(qū)情況，即可得出clb故障具體坐標(biāo)。

22、根據(jù)本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法，燒寫測試板卡例程包括：

23、通過fpga仿真器連接所述測試板卡燒寫軟件、fpga以及測試板卡的flash芯片。

24、根據(jù)本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法，所述上位機(jī)下發(fā)測試指令程序，包括當(dāng)前測試分區(qū)、測試次數(shù)。

25、本發(fā)明還提供一種伺服系統(tǒng)電機(jī)換相零位自動標(biāo)定系統(tǒng)，包括：

26、準(zhǔn)備模塊：將主控板卡與測試板卡連接，將主控板卡與上位機(jī)連接，所述測試板卡搭載被測試的fpga芯片；

27、快速性測試模塊：將所述fpga芯片按照測試需求進(jìn)行劃分為clb區(qū)塊，對所述clb區(qū)塊進(jìn)行快速性測試，并將測試結(jié)果發(fā)送至上位機(jī)判斷所述clb區(qū)塊是否通過所述快速性測試，若所述快速性測試通過，測試結(jié)束，若所述快速性測試沒有通過，確定故障所在的故障區(qū)塊，執(zhí)行分割區(qū)塊模塊；

28、分割區(qū)塊模塊：對所述故障所在的故障區(qū)塊的大小進(jìn)行判定，若所述故障區(qū)塊的大小小于精查找閾值執(zhí)行精查找模塊，若所述故障區(qū)塊的大小大于或等于精查找閾值返回快速性測試模塊；

29、精查找模塊：將所述分割后的故障區(qū)塊進(jìn)行故障精查找，確定故障點(diǎn)坐標(biāo)。

30、本發(fā)明還提供一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述任一種所述一種clb模塊的功能測試故障定位方法的步驟。

31、本發(fā)明實(shí)施例中的上述一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案，至少具有如下技術(shù)效果之一：

32、本發(fā)明提供的一種clb模塊的功能測試故障定位方法、系統(tǒng)及設(shè)備，通過使用fifo的ip核對clb模塊進(jìn)行檢測，提升測試效率，適用于量產(chǎn)fpga批量化測試。

33、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。