本公開屬于芯片測試，具體涉及一種用于芯片老化測試的數(shù)據(jù)采集裝置。

背景技術(shù)：

1、目前，數(shù)字集成電路老化是影響集成電路可靠性的重要因素之一，數(shù)字集成電路一旦發(fā)生老化，芯片的某些參數(shù)將會發(fā)生變化，其性能也將會大幅度下降，不同層次的電路老化會表現(xiàn)為不同的物理特征。因此，為了延長電路的使用壽命和降低維護成本，對數(shù)字集成電路進行老化測試顯得尤為重要?，F(xiàn)有的芯片測試方案是為被測芯片制作專用的老化測試板，測試板每個ic旁邊設(shè)有l(wèi)ed指示燈，待被測芯片老化測試結(jié)束后，工作人員根據(jù)led燈的狀態(tài)對被測芯片進行人工分選和數(shù)據(jù)記錄(例如，綠燈表示芯片測試正常，紅燈表示測試異常)，但是由于人為操作難免出錯，有可能會因疏忽導(dǎo)致芯片分選錯誤的情況，因此該方案存在效率低下、人力成本過高、數(shù)據(jù)易錯等缺陷，同時，還存在老化測試過程中有些芯片由于輸出電壓信號過弱而導(dǎo)致led燈不閃爍進而無法判別芯片是否存在異常。因此，有必要提出一種新的芯片老化測試數(shù)據(jù)采集裝置以解決上述問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本公開的目的在于提供一種用于芯片老化測試的數(shù)據(jù)采集裝置，該裝置在對芯片輸出的電壓信號進行采集的過程中進行三級濾波，從而能夠確保芯片輸出的電壓信號的準確性。

2、為實現(xiàn)上述目的，本公開提供以下技術(shù)方案：

3、一種用于芯片老化測試的數(shù)據(jù)采集裝置，包括第一數(shù)據(jù)采集單元、第二數(shù)據(jù)采集單元和第三數(shù)據(jù)采集單元，其中，

4、所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸入端與芯片老化測試板的輸出端電連接，所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第二數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；

5、所述第二數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第三數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；

6、所述采集裝置還包括數(shù)據(jù)存儲單元，所述數(shù)據(jù)存儲單元的輸入端與所述第三數(shù)據(jù)采集單元的輸出端電連接。

7、優(yōu)選的，所述第一數(shù)據(jù)采集單元包括多個對應(yīng)的一級濾波電路和子mcu，每個一級濾波電路的輸入端與芯片老化測試板的輸出端電連接，每個一級濾波電路的輸出端與所對應(yīng)的子mcu的輸入端電連接。

8、優(yōu)選的，所述一級濾波電路采用sn74lvc8t245dwr芯片。

9、優(yōu)選的，所述第二數(shù)據(jù)采集單元包括多個對所述子mcu對應(yīng)的二級濾波電路和一個主mcu，每個二級濾波電路的輸入端與所對應(yīng)的子mcu的輸出端電連接，每個二級濾波電路的輸出端與主mcu的輸入端電連接。

10、優(yōu)選的，所述二級濾波電路采用iic信號隔離電路。

11、優(yōu)選的，所述第三數(shù)據(jù)采集單元包括一個三級濾波電路和一個fpga采集卡，三級濾波電路的輸入端與主mcu的輸出端電連接，三級濾波電路的輸出端與fpga采集卡的輸入端電連接。

12、優(yōu)選的，所述三級濾波電路采用spi差分信號處理電路。

13、優(yōu)選的，所述數(shù)據(jù)存儲單元采用上位機。

14、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本公開帶來的有益效果為：

15、本公開通過多級電路結(jié)構(gòu)對老化測試后的芯片的輸出電壓信號進行逐級的處理，能夠準確獲得芯片的輸出電壓信號，從而能夠?qū)π酒欠翊嬖诋惓Ｗ鞒龈庇^、更準確的判斷，進而能夠?qū)崿F(xiàn)芯片的智能分選。

技術(shù)特征：

1.一種用于芯片老化測試的數(shù)據(jù)采集裝置，包括第一數(shù)據(jù)采集單元、第二數(shù)據(jù)采集單元和第三數(shù)據(jù)采集單元，其中，

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置，其中，所述第一數(shù)據(jù)采集單元包括多個對應(yīng)的一級濾波電路和子mcu，每個一級濾波電路的輸入端與芯片老化測試板的輸出端電連接，每個一級濾波電路的輸出端與所對應(yīng)的子mcu的輸入端電連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述裝置，其中，所述一級濾波電路采用sn74lvc8t245dwr芯片。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述裝置，其中，所述子mcu采用m0a23ec1ac芯片。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述裝置，其中，所述第二數(shù)據(jù)采集單元包括多個對所述子mcu對應(yīng)的二級濾波電路和一個主mcu，每個二級濾波電路的輸入端與所對應(yīng)的子mcu的輸出端電連接，每個二級濾波電路的輸出端與主mcu的輸入端電連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述裝置，其中，所述二級濾波電路采用iic信號隔離電路。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述裝置，其中，所述第三數(shù)據(jù)采集單元包括一個三級濾波電路和一個fpga采集卡，三級濾波電路的輸入端與主mcu的輸出端電連接，三級濾波電路的輸出端與fpga采集卡的輸入端電連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述裝置，其中，所述三級濾波電路采用spi差分信號處理電路。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置，其中，所述數(shù)據(jù)存儲單元采用上位機。

技術(shù)總結(jié)
本公開揭示了一種用于芯片老化測試的數(shù)據(jù)采集裝置，包括第一數(shù)據(jù)采集單元、第二數(shù)據(jù)采集單元和第三數(shù)據(jù)采集單元，其中，所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸入端與芯片老化測試板的輸出端電連接，所述第一數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第二數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；所述第二數(shù)據(jù)采集單元的輸出端與第三數(shù)據(jù)采集單元的輸入端電連接；所述采集裝置還包括數(shù)據(jù)存儲單元，所述數(shù)據(jù)存儲單元的輸入端與所述第三數(shù)據(jù)采集單元的輸出端電連接。本公開通過具體多級電路能夠準確獲得老化測試后的芯片的輸出電壓信號，從而能夠準確檢測出老化測試后的芯片是否存在異常。

技術(shù)研發(fā)人員：邱仁鋒,盧旭坤,謝凱
受保護的技術(shù)使用者：廣東利揚芯片測試股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240305
技術(shù)公布日：2024/12/30