本發(fā)明涉及金屬探測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種基于頻域的金屬物體探測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù):
隨著社會(huì)的發(fā)展,金屬探測(cè)技術(shù)在現(xiàn)代社會(huì)生活中的應(yīng)用越來(lái)越廣泛。在軍事、安全領(lǐng)域、考古、工程應(yīng)用、工業(yè)等領(lǐng)域都可見(jiàn)到金屬探測(cè)器的身影。如常用的電磁感應(yīng)式金屬探測(cè)器,其基本原理就是利用通電的線圈產(chǎn)生一個(gè)探測(cè)磁場(chǎng),當(dāng)有金屬進(jìn)入探測(cè)磁場(chǎng)范圍時(shí),就會(huì)引起磁場(chǎng)的變化,由此判斷是否有金屬目標(biāo)。同時(shí)也存在多種其他類型的探測(cè)器,如x射線檢測(cè)型、微波檢測(cè)型、激光檢測(cè)型等。但總體來(lái)說(shuō),現(xiàn)有的金屬探測(cè)技術(shù)中,無(wú)論是采用何種探測(cè)原理、何種探測(cè)技術(shù),其目前均不具備區(qū)分不同材質(zhì)金屬目標(biāo)的能力。此外,現(xiàn)有的金屬探測(cè)技術(shù)大多只能用于陸地空氣環(huán)境中的探測(cè)工作,而對(duì)水下工作環(huán)境并不適用。
目前,主要的金屬探測(cè)技術(shù)方法如:基于電渦流的探測(cè)技術(shù)、基于激光偏振特性的探測(cè)技術(shù)、基于電磁法探測(cè)技術(shù)、基于hsv色空間的探測(cè)技術(shù)、基于導(dǎo)熱性能的探測(cè)技術(shù)以及物理識(shí)別方法等。雖然存在一些水下金屬探測(cè)技術(shù),但是這些技術(shù)并不是普遍適應(yīng)的,甚至還有諸多的限制因素導(dǎo)致其不能使用或探測(cè)效果不理想。如基于電渦流傳感器的金屬材質(zhì)探測(cè)技術(shù),其利用探測(cè)線圈產(chǎn)生的交變磁場(chǎng),通過(guò)被測(cè)金屬導(dǎo)體處于該磁場(chǎng)中引起探測(cè)磁場(chǎng)的變化來(lái)探測(cè)出金屬物體。該技術(shù)應(yīng)用于空氣環(huán)境中效果較好,但不能識(shí)別被測(cè)金屬物體的材質(zhì);基于金屬目標(biāo)表面激光的反射偏振特性的探測(cè)技術(shù),通過(guò)對(duì)反射光stokes矢量的分析,線偏振光或圓偏振光經(jīng)過(guò)金屬表面反射后變?yōu)闄E圓偏振光,根據(jù)其橢圓度和方位角的不同來(lái)區(qū)分被探測(cè)金屬物體。雖然該技術(shù)能夠識(shí)別水下金屬物體材質(zhì),但這樣的激光在水中傳播的時(shí)候不可避免的會(huì)發(fā)生一些非線性光學(xué)作用,從而極大的影響金屬探測(cè)的效果;基于hsv色空間的水下物體探測(cè)技術(shù),它也是一種水下物體的光學(xué)識(shí)別技術(shù),利用斯托克斯成像技術(shù)和hsv顏色空間相結(jié)合的方式,將同種顏色不同材料的物體偏振信息在hsv空間中展現(xiàn)出來(lái)。根據(jù)hsv色彩空間的色度(代表偏振度信息)、飽和度(表反射光的偏振方位角信息)、亮度的不同來(lái)對(duì)被測(cè)物體材質(zhì)進(jìn)行區(qū)分,該種技術(shù)與基于激光偏振特性探測(cè)技術(shù)一樣,都要依靠反射光的特性來(lái)開(kāi)展工作,難免會(huì)有同樣的限制條件;而基于導(dǎo)熱性能的水下金屬探測(cè)技術(shù),該技術(shù)是一種接觸式探測(cè)技術(shù),它依靠不同材料具有不同的導(dǎo)熱性能的特性,通過(guò)測(cè)量材料的導(dǎo)熱性即可達(dá)到識(shí)別材料的目的。但缺點(diǎn)是,需要接觸被測(cè)物體才能檢測(cè)出其導(dǎo)熱性能,對(duì)于水下檢測(cè),該類探測(cè)傳感器的探頭暴露在介質(zhì)環(huán)境中,探測(cè)時(shí)難免會(huì)帶入介質(zhì)環(huán)境對(duì)導(dǎo)熱性產(chǎn)生的影響;而物理識(shí)別方法如感官鑒別,火花鑒別,看譜分析等都不宜在水中展開(kāi)工作。
綜上,現(xiàn)有的各種金屬探測(cè)技術(shù)要么不能探測(cè)金屬的具體種類,要么在針對(duì)水下環(huán)境探測(cè)時(shí),易受到諸如探測(cè)環(huán)境、探測(cè)裝置自身功能的限制而不能達(dá)到理想的探測(cè)效果。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中所存在的上述不足,提供一種應(yīng)用在導(dǎo)電液體(如水)中探測(cè)金屬物體的金屬物體探測(cè)裝置;
為了實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供了以下技術(shù)方案:
一種金屬物體探測(cè)裝置,包括,
發(fā)射裝置,包括至少兩個(gè)發(fā)射電極,其中一個(gè)發(fā)射電極接地;所述發(fā)射裝置用于在控制裝置的控制下向目標(biāo)探測(cè)區(qū)域發(fā)射具有指定頻率的第一信號(hào),從而在目標(biāo)探測(cè)區(qū)域建立探測(cè)電場(chǎng);
接收裝置,包括接收電極,所述接收裝置用于自所述探測(cè)電場(chǎng)中采集電場(chǎng)信號(hào),并將該電場(chǎng)信號(hào)處理為第二信號(hào)后傳送至控制裝置,所述控制裝置將接收到的第二信號(hào)處理為可以表征不同金屬材質(zhì)的第三信號(hào)。
進(jìn)一步的,所述發(fā)射裝置還包括與所述發(fā)射電極連接的信號(hào)發(fā)生裝置;所述信號(hào)發(fā)生裝置用于根據(jù)控制裝置的指令產(chǎn)生指定頻率的信號(hào)。
進(jìn)一步的,所述接收裝置包括第一接收電極和第二接收電極,還包括同時(shí)跟所述第一接收電極和第二接收電極連接的數(shù)據(jù)采樣器;
所述數(shù)據(jù)采樣器用于將兩個(gè)接收電極分別采集到電場(chǎng)信號(hào)處理為第二信號(hào)。
優(yōu)選的,所述發(fā)射電極為兩個(gè),兩個(gè)發(fā)射電極之間距離為10~90mm;
所述接收電極為兩個(gè),兩個(gè)接收電極之間的距離為5~80mm。
優(yōu)選的,所述發(fā)射電極和接收電極之間至少距離5mm。
本發(fā)明同時(shí)提供一種可以在導(dǎo)電液體中探測(cè)金屬材質(zhì)的金屬物體探測(cè)方法,
具體的,一種金屬物體探測(cè)方法,包括如下步驟:
步驟1:按照指定頻率向目標(biāo)探測(cè)區(qū)域發(fā)射第一信號(hào)建立探測(cè)電場(chǎng);
步驟2:按照指定路線移動(dòng)發(fā)射電極和接收電極,自探測(cè)電場(chǎng)采集電場(chǎng)信號(hào);
步驟3:根據(jù)采集到的電場(chǎng)信號(hào)獲取不同時(shí)刻的信號(hào)幅度值,并形成幅度-時(shí)間曲線;
步驟4:根據(jù)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,調(diào)整或維持所述指定頻率,以獲取待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,進(jìn)而根據(jù)所述轉(zhuǎn)折頻率判斷金屬材質(zhì)。
本方法可以探測(cè)不同金屬材質(zhì)的原理是:不同類型的導(dǎo)電液體(如水)內(nèi)的金屬物體在在交流電激勵(lì)下會(huì)形成復(fù)雜阻抗特性變化,進(jìn)而在擾動(dòng)電場(chǎng)產(chǎn)生電勢(shì)差不同,具體的,在探測(cè)電場(chǎng)中,被測(cè)金屬物體會(huì)由于自身阻抗特性而引起電場(chǎng)擾動(dòng),而不同的水下金屬材質(zhì)會(huì)又因?yàn)槠鋸?fù)雜阻抗特性的不同,引起不同的電場(chǎng)擾動(dòng),從而產(chǎn)生特定的轉(zhuǎn)折頻率,通過(guò)探測(cè)探測(cè)電場(chǎng)中電勢(shì)差變化的趨勢(shì),確定被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率值,進(jìn)而可以比對(duì)獲取金屬材質(zhì);在此原理下,即使被測(cè)金屬物體體積很小,只要其材質(zhì)不同,那么探測(cè)到的轉(zhuǎn)折頻率值也就不同,從而根據(jù)這轉(zhuǎn)折頻率值的不同來(lái)區(qū)分被測(cè)金屬物體的材質(zhì),同時(shí),根據(jù)大量的金屬物體測(cè)試結(jié)果表明,體積近似、材質(zhì)不同的金屬物體轉(zhuǎn)折頻率差距非常明顯,采用本方法判斷金屬物體材質(zhì)準(zhǔn)確率較高。
進(jìn)一步的,自探測(cè)電場(chǎng)采集電場(chǎng)信號(hào)的步驟中,
使用至少兩個(gè)接收電極分別采集所述探測(cè)電場(chǎng)的電場(chǎng)信號(hào),并獲取兩個(gè)電場(chǎng)信號(hào)的差分信號(hào)。
進(jìn)一步的,根據(jù)采集到的電場(chǎng)信號(hào)獲取不同時(shí)刻的信號(hào)幅度值中,對(duì)所述差分信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換,以獲取所述信號(hào)幅度值。
進(jìn)一步的,根據(jù)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,調(diào)整或維持所述指定頻率,以獲取待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率的步驟中,
對(duì)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,如果,幅度-時(shí)間曲線中幅度值包含凸出曲線,則增加所述指定頻率一定數(shù)值,并重新進(jìn)行步驟1~步驟3。
進(jìn)一步的,根據(jù)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,調(diào)整或維持所述指定頻率,以獲取待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率的步驟中,如果,幅度-時(shí)間曲線中幅度值包含凹陷曲線,則降低所述指定頻率一定數(shù)值,并重新進(jìn)行步驟1~步驟3。
進(jìn)一步的,根據(jù)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,調(diào)整或維持所述指定頻率,以獲取待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率的步驟中,如果,幅度-時(shí)間曲線為直線,則此時(shí)所述指定頻率為待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明提供的金屬檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法基于主動(dòng)電場(chǎng)探測(cè)技術(shù),硬件結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易小型化,克服了其他檢測(cè)方法硬件和能量開(kāi)銷過(guò)大的問(wèn)題;工作時(shí),裝置中僅發(fā)射電極及接收電極需進(jìn)入待探測(cè)液體中,而發(fā)射電極及接收電極可以方便的集成或設(shè)置在任意滿足要求的航行器或運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上面;使用方便,適用于在具有導(dǎo)電特性的液體(如水)環(huán)境中,對(duì)于液體環(huán)境中已知體積的金屬物體的材質(zhì)檢測(cè)具有良好的效果。
附圖說(shuō)明:
圖1本發(fā)明提供的檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)原理圖。
圖2本發(fā)明實(shí)施例中提供的檢測(cè)裝置在進(jìn)行探測(cè)時(shí)的工作流程圖。
圖3本發(fā)明實(shí)施例中探測(cè)電極(發(fā)射電極和接收電極)與信號(hào)發(fā)射器及采樣器之間的連接圖。
圖4離散信號(hào)的短時(shí)傅里葉變換(stft)變換圖。
圖5a沒(méi)有被測(cè)金屬時(shí),探測(cè)電極(發(fā)射電極和接收電極)在水下建立的電場(chǎng)模擬圖。
圖5b有被測(cè)金屬時(shí),探測(cè)電極(發(fā)射電極和接收電極)在水下建立的電場(chǎng)模擬圖。
圖6a、圖6b被測(cè)金屬物體分別為鋁和銅處于探測(cè)電場(chǎng)中時(shí)導(dǎo)致的探測(cè)電場(chǎng)變化圖。
圖7有效探測(cè)范圍與不同探測(cè)路徑示意圖。
圖8a為探測(cè)頻率為10hz時(shí)鐵圓柱的聯(lián)合時(shí)頻分布圖譜示例。
圖8b為探測(cè)頻率為12hz時(shí)時(shí)鐵圓柱的聯(lián)合時(shí)頻分布圖譜示例。
圖9是探測(cè)裝置實(shí)施例探測(cè)示例圖。
圖10探測(cè)信號(hào)產(chǎn)生的流程圖。
圖11實(shí)例中信號(hào)產(chǎn)生的程序圖。
圖12信號(hào)記錄收集裝置接收回來(lái)的無(wú)金屬時(shí)的探測(cè)波形。
圖13具體探測(cè)示例中信號(hào)幅值變化曲線示例圖。
圖14數(shù)據(jù)記錄收集裝置保存下來(lái)的數(shù)據(jù)圖示例。
圖15被測(cè)物體為金屬鐵圓柱時(shí),探測(cè)介質(zhì)的電導(dǎo)率跟頻率轉(zhuǎn)折點(diǎn)的關(guān)系圖示例。
圖16被測(cè)物體鋁圓柱體采用低于轉(zhuǎn)折頻率、采用轉(zhuǎn)折頻率、高于轉(zhuǎn)折頻率時(shí)探測(cè)得到的聯(lián)合時(shí)頻譜對(duì)比示意圖。
圖17被測(cè)物體鐵圓柱體采用低于轉(zhuǎn)折頻率、采用轉(zhuǎn)折頻率、高于轉(zhuǎn)折頻率時(shí)探測(cè)得到的聯(lián)合時(shí)頻譜對(duì)比示意圖。
圖18被測(cè)物體銅圓柱體采用低于轉(zhuǎn)折頻率、采用轉(zhuǎn)折頻率、高于轉(zhuǎn)折頻率時(shí)探測(cè)得到的聯(lián)合時(shí)頻譜對(duì)比示意圖。
圖中標(biāo)記:1-發(fā)射裝置,10-多功能采集卡,11-發(fā)射電極,12-信號(hào)發(fā)生器,21-數(shù)據(jù)采樣器,22-接收電極,20-被探測(cè)導(dǎo)電液體20,3-控制裝置,4-運(yùn)動(dòng)模塊,5-固定支架,6-被測(cè)金屬,7-信號(hào)傳輸線,100-采樣窗口,200-有效探測(cè)范圍,400-凸出曲線,500-凹進(jìn)曲線,600-直線,s1、s2、s3-探測(cè)路線。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖及具體實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)描述。但不應(yīng)將此理解為本發(fā)明上述主題的范圍僅限于以下的實(shí)施例,凡基于本發(fā)明內(nèi)容所實(shí)現(xiàn)的技術(shù)均屬于本發(fā)明的范圍。
實(shí)施例1:如圖1所示,本實(shí)施例提供一種金屬物體探測(cè)裝置,包括,控制裝置3、發(fā)射裝置1及接收裝置,其中,發(fā)射裝置1包括兩個(gè)發(fā)射電極11,其中一個(gè)發(fā)射電極11接地;所述發(fā)射裝置1用于在控制裝置3的控制下向目標(biāo)探測(cè)區(qū)域發(fā)射具有指定頻率的第一信號(hào),從而在目標(biāo)探測(cè)區(qū)域建立探測(cè)電場(chǎng);接收裝置包括接收電極22,所述接收裝置用于自所述探測(cè)電場(chǎng)中采集電場(chǎng)信號(hào),并將該電場(chǎng)信號(hào)處理為第二信號(hào)后傳送至控制裝置3,所述控制裝置3將接收到的第二信號(hào)處理為可以表征不同金屬材質(zhì)的第三信號(hào)。
本實(shí)施例中,發(fā)射裝置1還包括與所述發(fā)射電極11連接的信號(hào)發(fā)生裝置;所述信號(hào)發(fā)生裝置用于根據(jù)控制裝置3的指令產(chǎn)生指定頻率的信號(hào);所述接收裝置包括第一接收電極22和第二接收電極22,還包括同時(shí)跟所述第一接收電極22和第二接收電極22連接的數(shù)據(jù)采樣器;所述數(shù)據(jù)采樣器用于將兩個(gè)接收電極22分別采集到電場(chǎng)信號(hào)處理為第二信號(hào)。具體的,本實(shí)施例采用ni公司的多功能采集卡10來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)發(fā)生裝置和數(shù)據(jù)采樣器。
同時(shí),本發(fā)明中,控制裝置3可以是一切具有信號(hào)、數(shù)據(jù)處理能力的控制器、處理器、單片機(jī)或者pc機(jī),控制裝置3可以通過(guò)有線或者無(wú)線方式與與信號(hào)發(fā)生裝置和數(shù)據(jù)采樣器連接;而在本實(shí)施例中,控制裝置3為pc機(jī),同時(shí),pc機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)總線與多功能采集卡10連接,而如圖3所示,多功能采集卡10中信號(hào)發(fā)生器模塊以及采樣器模塊分別通過(guò)相應(yīng)端口與兩個(gè)發(fā)射電極11、兩個(gè)接收電極22連接,具體如圖3所示;工作時(shí),pc機(jī)向多能采集卡中信號(hào)發(fā)生器模塊發(fā)出帶參數(shù)(信號(hào)類型,信號(hào)幅值,信號(hào)頻率等)的信號(hào)指令,信號(hào)發(fā)生器模塊根據(jù)指令產(chǎn)生探測(cè)信號(hào),圖11給出了本實(shí)施例中信號(hào)發(fā)生器模塊的具體結(jié)構(gòu)框圖,探測(cè)信號(hào)通過(guò)發(fā)射電極11向目標(biāo)探測(cè)區(qū)域發(fā)出,該探測(cè)信號(hào)可以是任意常見(jiàn)的周期信號(hào),如方波信號(hào)、三角波信號(hào)、鋸齒波信號(hào)、脈沖信號(hào)、正弦波信號(hào),本實(shí)施例中采用正弦波信號(hào),這是由于,如果探測(cè)信號(hào)采用非周期信號(hào),則其在探測(cè)完后采用傅里葉變換展開(kāi)后得到的是一系列頻率不同的周期信號(hào)的疊加,從而造成信號(hào)頻率不固定;而本發(fā)明提供的探測(cè)裝置或方法在工作時(shí)要求探測(cè)信號(hào)具有固定的探測(cè)信號(hào)頻率,因此本發(fā)明中探測(cè)信號(hào)均需要采用周期信號(hào),圖12給出了在待探測(cè)區(qū)域沒(méi)有金屬時(shí),本實(shí)施例提供的裝置進(jìn)行探測(cè)后,信號(hào)記錄收集裝置記錄的信號(hào)波形示例。
本實(shí)施例中,兩個(gè)發(fā)射電極11、兩個(gè)接收電極22采用同樣的結(jié)構(gòu)、材質(zhì),如其可以是高導(dǎo)電率的金屬電極或石墨電極;本實(shí)施例中,采用金屬鈦絲作為探測(cè)電極(包括發(fā)射電極11和接收電極22)。采用相同結(jié)構(gòu)、材質(zhì)的探測(cè)電極可以保證輸入到發(fā)射電極11中的探測(cè)信號(hào),只有電荷或電壓的變化而沒(méi)有其他的因素來(lái)影響發(fā)射極的兩個(gè)電極建立的有規(guī)律變化的探測(cè)電場(chǎng)。
圖2給出了本裝置運(yùn)行的流程圖,具體的,發(fā)射信號(hào)時(shí),信號(hào)發(fā)生器模塊采用的是單端輸出模式,如圖3中所示,兩個(gè)發(fā)射電極11中,a電極傳輸探測(cè)信號(hào),b電極用于水下探測(cè)環(huán)境跟探測(cè)系統(tǒng)共地,實(shí)現(xiàn)以公共地為參考點(diǎn);兩個(gè)接收電極22采用差分輸入方式采集信號(hào),即兩個(gè)接收電極22將探測(cè)到的水下電場(chǎng)信息經(jīng)由兩路信號(hào)線傳輸?shù)綌?shù)據(jù)采樣器,數(shù)據(jù)采樣器進(jìn)行采樣的差分信號(hào)是c電極相對(duì)于共地參考點(diǎn)的電勢(shì)與d電極相對(duì)于共地參考點(diǎn)的電勢(shì)之間的差值信號(hào)f(t),采用差分信號(hào)的優(yōu)點(diǎn)是:接收極的兩根信號(hào)線之間耦合程度很好,當(dāng)探測(cè)環(huán)境中存在干擾信號(hào)時(shí),幾乎會(huì)同時(shí)被耦合到兩條線上,而接收端(這里就是指輸入到采樣器進(jìn)行采樣)關(guān)心的只是兩信號(hào)的差值,所以外界的干擾信號(hào)可以抵消。
具體使用時(shí),發(fā)射電極11和接收電極22應(yīng)按照預(yù)設(shè)距離和方式進(jìn)行固定,如在本實(shí)施例中,探測(cè)電極固定時(shí),兩個(gè)發(fā)射電極11之間距離為10~90mm;兩個(gè)接收電極22之間的距離為5~80mm。所述發(fā)射電極11和接收電極22之間距離30mm;具體應(yīng)用時(shí),探測(cè)電極之間的距離會(huì)根據(jù)具體被探測(cè)金屬的體積大小等因素進(jìn)行調(diào)整,具體的,由于被測(cè)物體只要處于該探測(cè)電場(chǎng)中時(shí)就可以進(jìn)行探測(cè)工作,但實(shí)際探測(cè)時(shí),如果能夠讓被探測(cè)物體在探測(cè)電場(chǎng)的內(nèi)電場(chǎng)內(nèi)(即探測(cè)時(shí)讓被測(cè)物體穿過(guò)兩個(gè)發(fā)射極之間的那片電場(chǎng)區(qū)域,接著穿過(guò)兩個(gè)接收電極之間)進(jìn)行探測(cè),其探測(cè)效果更佳,因?yàn)樵谡麄€(gè)探測(cè)電場(chǎng)中此區(qū)域中電場(chǎng)強(qiáng)度較大,其電場(chǎng)線的密度相對(duì)較高,更有利于接收電極對(duì)水下畸變電場(chǎng)信息的采集,因此無(wú)論是兩個(gè)發(fā)射電極之間的距離,還是兩個(gè)接收電極之間的距離并不是恒定值,具體應(yīng)用中,兩個(gè)電極之間的距離只需保證最好讓被測(cè)物體經(jīng)過(guò)探測(cè)電極之間的那片電場(chǎng)即可獲得最佳的探測(cè)效果。而發(fā)射電極與接收電極之間的距離理論上是越近越好,因?yàn)樵浇咏l(fā)射電極,探測(cè)時(shí)接收電極采集的數(shù)據(jù)越接近于采用發(fā)射電極之間的區(qū)域探測(cè)的到的電場(chǎng)信息,但實(shí)際的電極布置時(shí)跟發(fā)射電極太過(guò)靠近反而影響接探測(cè)介質(zhì)中畸變電場(chǎng)信息的采集,因而設(shè)置讓發(fā)射電極跟接收電極之間留有一點(diǎn)的距離(在實(shí)例中的該距離設(shè)置為30mm時(shí)探測(cè)效果較好)。
在此基礎(chǔ)上,發(fā)射電極11和接收電極22可以設(shè)置在預(yù)設(shè)的固定支架5上,也可以按照上述固定距離的要求,設(shè)置在其他運(yùn)動(dòng)裝置或者航行器(運(yùn)動(dòng)模塊4)上;控制裝置3會(huì)通過(guò)預(yù)設(shè)的指令控制運(yùn)動(dòng)裝置或者航行器按照預(yù)定路線運(yùn)行,該路線如可以是圖7中的s1、s2、s3;其中,被探測(cè)金屬6周?chē)欢ǚ秶鷥?nèi)為有效探測(cè)區(qū)域200,如圖7所示,當(dāng)發(fā)射電極11、接收電極22的運(yùn)行路線經(jīng)過(guò)有效探測(cè)區(qū)域200時(shí),如路線s2、s3,則可以探測(cè)到被探測(cè)金屬,而當(dāng)運(yùn)行路線沒(méi)有能經(jīng)過(guò)探測(cè)區(qū)域200時(shí),如路線s1,則其不能探測(cè)到被探測(cè)金屬;當(dāng)本裝置各個(gè)電極的相對(duì)位置被固定,并發(fā)射指定頻率的探測(cè)信號(hào)后,當(dāng)探測(cè)電場(chǎng)區(qū)域中沒(méi)有目標(biāo)體時(shí),發(fā)射電極11跟接收電極22之間的建立的電場(chǎng)分布是平行分布(如圖5a所示)。當(dāng)電場(chǎng)中有目標(biāo)體(被探測(cè)金屬)存在時(shí),則發(fā)射電極11跟接收電極22之間的建立的電場(chǎng)分布受到影響,具體如圖5b所示;應(yīng)注意的是,接收電極22與被探測(cè)金屬的距離將影響接收電極22上檢測(cè)到的信號(hào)幅度,而被探測(cè)金屬的大小也將影響到這個(gè)電場(chǎng)的分布情況,具體的,被測(cè)目標(biāo)物體將在其周?chē)鷧^(qū)域形成的幅值發(fā)生變化區(qū)域較大,而體積小的該區(qū)域小。
當(dāng)經(jīng)過(guò)有效探測(cè)區(qū)域200時(shí),數(shù)據(jù)采樣器將采集到的差分信號(hào)進(jìn)行離散采樣形成第二信號(hào),并將該第二信號(hào)傳輸至控制裝置3,控制裝置3將該離散數(shù)據(jù)進(jìn)行傅里葉變換以獲取運(yùn)行路線上各個(gè)位置的信號(hào)幅度值,形成幅度-時(shí)間曲線,并根據(jù)該信號(hào)幅度值的變化判斷當(dāng)前信號(hào)頻率是否被探測(cè)金屬物體的轉(zhuǎn)折頻率;如果幅度-時(shí)間曲線如圖8a所示存在凸出曲線,則說(shuō)明當(dāng)前頻率低于被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,如果幅度-時(shí)間曲線如圖8b所示,存在凹陷曲線,則說(shuō)明當(dāng)前探測(cè)信號(hào)頻率高于被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,根據(jù)幅度-時(shí)間曲線調(diào)整探測(cè)信號(hào)頻率,重新按照原有路線進(jìn)行探測(cè),直至幅度-時(shí)間曲線為一直線,則當(dāng)前探測(cè)頻率為被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,根據(jù)被探測(cè)金屬的體積大小、形狀查詢預(yù)設(shè)表格,得出被探測(cè)金屬的材質(zhì)。
具體的,被探測(cè)導(dǎo)電液體20的導(dǎo)電率和被探測(cè)金屬的大小、形狀以及被探測(cè)金屬的材質(zhì)都會(huì)對(duì)轉(zhuǎn)折頻率有響應(yīng)影響,但是,在被探測(cè)液體導(dǎo)電率恒定,被探測(cè)金屬大小、形狀固定的前提下,不同材質(zhì)的被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率差異明顯,因此采用本方法進(jìn)行材質(zhì)探測(cè)的準(zhǔn)確率較高。
具體的,為了研究探測(cè)介質(zhì)具有不同導(dǎo)電率時(shí)對(duì)被測(cè)金屬轉(zhuǎn)折頻率的影響,我們以不同導(dǎo)電率的水為實(shí)驗(yàn)對(duì)象,對(duì)導(dǎo)電率對(duì)轉(zhuǎn)折頻率的影響進(jìn)行了測(cè)試,以鐵材質(zhì)的圓柱體(尺寸為:20mm*40mm)為例進(jìn)行說(shuō)明:在平時(shí)探測(cè)試驗(yàn)用的淡水(自來(lái)水)電導(dǎo)率約為400us/cm,我們通過(guò)加碘鹽的方式隨機(jī)配置了五組逐漸增大的水的電導(dǎo)率,經(jīng)電導(dǎo)率儀測(cè)得對(duì)應(yīng)的電導(dǎo)率分別約為400us/cm、5400us/cm、11000us/cm、26000us/cm、40800us/cm。這里主要說(shuō)明電導(dǎo)率發(fā)生變化的時(shí)候探測(cè)得到結(jié)果變化(主要關(guān)注轉(zhuǎn)折頻率點(diǎn)的變化)。通過(guò)其他實(shí)驗(yàn)環(huán)境條件一樣的情況下(都跟電導(dǎo)率為400us/cm時(shí)的環(huán)境一致),控制水的電導(dǎo)率的變化,在介質(zhì)環(huán)境具有不同的電導(dǎo)率的情況下我們得到如表1得實(shí)驗(yàn)結(jié)果。可以看出不同的電導(dǎo)率環(huán)境中對(duì)20mmx40mm鐵圓柱體的主動(dòng)電場(chǎng)探測(cè)實(shí)驗(yàn)對(duì)應(yīng)的頻率轉(zhuǎn)折點(diǎn)不同,并且表現(xiàn)出隨水的電導(dǎo)率的增大對(duì)應(yīng)的頻率轉(zhuǎn)折點(diǎn)也隨之增大,具體如圖15所示。因此,在做水下金屬導(dǎo)體的材質(zhì)判別時(shí),需要注意當(dāng)時(shí)被測(cè)物體所處的介質(zhì)的導(dǎo)電率(平常的淡水環(huán)境電導(dǎo)率約為400us/cm,因此本專利中的實(shí)例說(shuō)明基本以此環(huán)境下的測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)進(jìn)行說(shuō)明,其他電導(dǎo)率不同的介質(zhì)環(huán)境下的測(cè)試原理也都一致)。應(yīng)注意的是,我們以主動(dòng)電場(chǎng)實(shí)驗(yàn)環(huán)境中水的電導(dǎo)率改變,對(duì)導(dǎo)體的主動(dòng)電場(chǎng)探測(cè)實(shí)驗(yàn)接收電極22接收到的電場(chǎng)信息分布變化趨勢(shì)會(huì)有影響,具體的,對(duì)導(dǎo)體主動(dòng)電場(chǎng)探測(cè)對(duì)應(yīng)的頻率轉(zhuǎn)折點(diǎn)會(huì)隨著實(shí)驗(yàn)環(huán)境中水的電導(dǎo)率增大而增大,但不論實(shí)驗(yàn)環(huán)境中水的電導(dǎo)率的大小如何改變,對(duì)導(dǎo)體的主動(dòng)電場(chǎng)探測(cè)過(guò)程中均會(huì)出現(xiàn)“凹凸”現(xiàn)象及對(duì)應(yīng)的頻率轉(zhuǎn)折點(diǎn)。
表1
圖10給出了本實(shí)施例中,多功能采集卡10的啟動(dòng)流程,具體的,控制裝置3首先選擇多功能采集卡10(又稱數(shù)據(jù)采集卡)的模型輸出通道,進(jìn)而選擇所需要的探測(cè)信號(hào)類型(如正弦波),根據(jù)需要調(diào)用庫(kù)函數(shù)產(chǎn)生所需波形的控制信號(hào),控制信號(hào)發(fā)生器12的波形模塊輸出所需信號(hào);具體的,控制裝置3對(duì)信號(hào)發(fā)生器12發(fā)出的指令中包括疊加/單一信號(hào)、偏移量、信號(hào)類型、指定頻率、幅值、方波占空比、頻率倍數(shù)中的一個(gè)或多個(gè)。而圖9則給出了探測(cè)裝置進(jìn)行探測(cè)時(shí)方位的示例圖,由圖9中可見(jiàn),本裝置在使用時(shí),可以是,僅僅將探測(cè)電極(包括發(fā)射電極11和接收電極22)通過(guò)特定的固定支架5按照預(yù)設(shè)距離進(jìn)行固定后放入水中進(jìn)行探測(cè),而探測(cè)電極與多功能采集卡10之間通過(guò)信號(hào)傳輸線7連接。
實(shí)施例2:本實(shí)施例提供一種可以在導(dǎo)電液體中探測(cè)金屬材質(zhì)的金屬物體探測(cè)方法,具體的,包括如下步驟:
步驟1:按照指定頻率向目標(biāo)探測(cè)區(qū)域發(fā)射第一信號(hào)建立探測(cè)電場(chǎng);該指定頻率可以是任意指定的頻率,理論上只要包含了常見(jiàn)待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率范圍即可,因此,本實(shí)施例中,指定頻率為0hz~2000hz;這是由于對(duì)常見(jiàn)的小型金屬物體(如尺寸為20mm*40mm左右的金屬物體)做探測(cè)實(shí)驗(yàn)時(shí),所有金屬物體轉(zhuǎn)折頻率遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于2000hz這一頻率值,所以我們選擇了0hz—2000hz這一段的頻率。實(shí)際上,如表2所示,對(duì)應(yīng)體積在12cm3左右的鐵質(zhì)材料圓柱體來(lái)說(shuō),其轉(zhuǎn)折頻率在5hz左右,這樣,其實(shí)0hz~10hz范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)折頻率就可以探測(cè)出體積在12cm3左右的鐵質(zhì)材料圓柱體。
步驟2:按照指定路線移動(dòng)發(fā)射電極11和接收電極22,自探測(cè)電場(chǎng)采集電場(chǎng)信號(hào);具體的,使用至少兩個(gè)接收電極22分別采集所述探測(cè)電場(chǎng)的電場(chǎng)信號(hào),并獲取兩個(gè)電場(chǎng)信號(hào)的差分信號(hào)。數(shù)據(jù)采樣器對(duì)差分信號(hào)f(t)進(jìn)行采樣處理得到采樣信號(hào)fm(n),其中,m為第m次采樣,n為采樣時(shí)間段內(nèi)的運(yùn)動(dòng)時(shí)間t的離散值;
步驟3:根據(jù)采集到的電場(chǎng)信號(hào)獲取不同時(shí)刻的信號(hào)幅度值,并形成幅度-時(shí)間曲線;具體的,對(duì)所述差分信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換,以獲取所述信號(hào)幅度值。
具體的,設(shè)置采樣窗口100,對(duì)采樣窗口100內(nèi)的探測(cè)信號(hào)fm(n)進(jìn)行傅里葉變換,其傅里葉變換函數(shù)為:
計(jì)算傅里葉變換后的幅度值fm(k),結(jié)合采樣的時(shí)間n及采樣時(shí)所用的檢測(cè)信號(hào)頻率f,并繪制出如圖8a、圖8b、圖16、圖17、圖18所示的時(shí)頻聯(lián)合分布譜圖。具體采用聯(lián)合時(shí)頻分析方法,該方法通過(guò)呈現(xiàn)信號(hào)在不同時(shí)間和特定頻率時(shí)的能量密度的方式,描述信號(hào)頻率隨時(shí)間變化的情況。聯(lián)合時(shí)頻分析方法中主要用到的短時(shí)傅里葉變換(stft)的主要思想是將信號(hào)加窗函數(shù)將加窗函數(shù)后的信號(hào)再進(jìn)行傅里葉變換,加窗函數(shù)后使得其變?yōu)楹苄r(shí)間上的局部譜,窗函數(shù)可以根據(jù)時(shí)間的變化在整個(gè)時(shí)間軸上平移,利用窗函數(shù)可以實(shí)現(xiàn)得到任意位置附近的時(shí)間段頻譜實(shí)現(xiàn)時(shí)間局部化,具體如附圖4所示為離散信號(hào)的短時(shí)傅里葉變換(stft)變換圖。
根據(jù)短時(shí)傅里葉變換(stft)我們可以通過(guò)滑動(dòng)窗口到合適的時(shí)間點(diǎn)并且計(jì)算新的頻譜來(lái)建立一個(gè)完整的三維聯(lián)合時(shí)頻譜圖。在三維聯(lián)合時(shí)頻譜圖中,x軸表示的是激勵(lì)信號(hào)的頻率其單位赫茲(hz)、y軸表示的是定位裝置單個(gè)探測(cè)過(guò)程運(yùn)行的時(shí)間其單位為秒(s)、z軸表示的是傅里葉變換后振幅峰值(fftamplitudepeak簡(jiǎn)稱fap)大小以顏色色彩顯示,其單位為伏特(v)。傅里葉變換后振幅峰值大小(fap)與加窗函數(shù)后的信號(hào)在時(shí)域上的點(diǎn)的數(shù)量有關(guān)??梢杂靡韵碌墓接?jì)算傅里葉變換后振幅峰值大小(fap):
real[fft(a)]和imag[fft(a)]分別表示傅里葉變換后的信號(hào)數(shù)據(jù)的實(shí)部和虛部,n表示輸入信號(hào)的大小。
而對(duì)于待探測(cè)物體來(lái)說(shuō),通常其周?chē)欢ǚ秶鷥?nèi)是有效探測(cè)范圍200,如圖7所示,被探測(cè)金屬6附近的一定范圍內(nèi),如該范圍可能是30cm*30cm*30cm的立體范圍,也可能是其他的常見(jiàn)范圍,該有效探測(cè)范圍200的具體尺寸并不重要,這是由于,當(dāng)探測(cè)電極(包括發(fā)射電極11、接收電極22)移動(dòng)的路線如路線s1一般不在有效探測(cè)范圍200內(nèi)時(shí),探測(cè)電場(chǎng)不會(huì)發(fā)生被干擾現(xiàn)象,這時(shí)探測(cè)信號(hào)不會(huì)發(fā)生任何變化,而只有探測(cè)電極移動(dòng)路線如路線s2及路線s3般通過(guò)有效探測(cè)范圍200時(shí),探測(cè)信號(hào)才會(huì)由于被探測(cè)金屬對(duì)探測(cè)電場(chǎng)產(chǎn)生干擾,進(jìn)而對(duì)探測(cè)信號(hào)的幅度值造成影響;具體的,分別以同樣大小的圓柱形鋁金屬和圓柱形銅金屬為例,我們?cè)?00hz頻率的探測(cè)信號(hào)下,均勻采集了被探測(cè)金屬周?chē)?0cm*30cm范圍內(nèi)的400點(diǎn)離散數(shù)據(jù),具體如圖6a、圖6b所示,圖中的z軸表示為該采集點(diǎn)處信號(hào)經(jīng)過(guò)傅里葉變換后的幅度值,單位為v;x、y軸表示的該方向的數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)。圖中幅值最高點(diǎn)或是最低點(diǎn)就是物體的中心位置(當(dāng)探測(cè)頻率大于物體的轉(zhuǎn)折頻率時(shí)最低點(diǎn)為物體的中心點(diǎn),反之,則最高點(diǎn)為物體的中心點(diǎn))。其中圖6a是圓柱形鋁金屬的探測(cè)信號(hào)幅值,圖6b為圓柱形銅金屬探測(cè)信號(hào)幅度值,可以發(fā)現(xiàn),在探測(cè)信號(hào)頻率不是被測(cè)金屬6轉(zhuǎn)折頻率的前提下,探測(cè)電極經(jīng)過(guò)有效探測(cè)區(qū)域200時(shí),不論路線是否經(jīng)過(guò)被測(cè)金屬6所在中心位置,其幅值一定會(huì)發(fā)生向上或者向下的變化,單次固定路線的檢測(cè)結(jié)果可以如圖13所示,而信號(hào)記錄收集裝置保存數(shù)據(jù)如圖14所示。而實(shí)際探測(cè)時(shí),幅值是向上還是向下彎曲,與探測(cè)信號(hào)的頻率大于被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率還是小于轉(zhuǎn)折頻率直接相關(guān),由此,本方法還有步驟4,具體的。
步驟4:根據(jù)如圖8a、圖8b所示的幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,調(diào)整或維持所述指定頻率,以獲取待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,具體的,對(duì)幅度-時(shí)間曲線進(jìn)行判斷,如果,幅度-時(shí)間曲線中幅度值包含凸出曲線400,則說(shuō)明當(dāng)前探測(cè)信號(hào)的指定頻率小于被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率,此時(shí),增加所述指定頻率一定數(shù)值,并重新進(jìn)行步驟1~步驟3;如果,幅度-時(shí)間曲線中幅度值包含凹陷曲線,則說(shuō)明當(dāng)前指定頻率大于轉(zhuǎn)折頻率,此時(shí),降低所述指定頻率一定數(shù)值,并重新進(jìn)行步驟1~步驟3;如果,幅度-時(shí)間曲線變成直線,則此時(shí)所述指定頻率為待探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率;進(jìn)而根據(jù)該轉(zhuǎn)折頻率判斷金屬材質(zhì)。當(dāng)然,在一些情況下,幅度-時(shí)間曲線為直線也可能是運(yùn)行路線沒(méi)有進(jìn)入有效探測(cè)區(qū)域,因此,實(shí)際探測(cè)時(shí),應(yīng)至少保證該路線下,出現(xiàn)一次突出曲線400或出現(xiàn)一次凹陷曲線500,進(jìn)而才能證明當(dāng)前探測(cè)路線是經(jīng)過(guò)有效探測(cè)區(qū)域的。
本方法可以探測(cè)不同金屬材質(zhì)的原理是:不同類型的水下金屬物體的在交流激勵(lì)下其顯示復(fù)雜阻抗特性不同,進(jìn)而在擾動(dòng)電場(chǎng)產(chǎn)生電勢(shì)差不同,具體的,在探測(cè)電場(chǎng)中,被測(cè)水下金屬6物體會(huì)由于自身阻抗特性而引起電場(chǎng)擾動(dòng),而不同的金屬材質(zhì)會(huì)又因?yàn)樽杩固匦缘牟煌?,引起不同的電?chǎng)擾動(dòng),通過(guò)探測(cè)探測(cè)電場(chǎng)中電勢(shì)差變化的趨勢(shì),確定被探測(cè)金屬的轉(zhuǎn)折頻率值,進(jìn)而可以比對(duì)獲取金屬材質(zhì);在此原理下,即使被測(cè)金屬6物體體積很小,只要其材質(zhì)不同,那么探測(cè)到的轉(zhuǎn)折頻率值也就不同,從而根據(jù)這轉(zhuǎn)折頻率值的不同來(lái)區(qū)分被測(cè)金屬6物體的材質(zhì),同時(shí),根據(jù)大量的金屬物體測(cè)試結(jié)果表明,體積近似、材質(zhì)不同的金屬物體轉(zhuǎn)折頻率差距非常明顯,采用本方法判斷金屬物體材質(zhì)準(zhǔn)確率較高。
圖16為被測(cè)物體鋁圓柱體在一個(gè)方向上采用不同探測(cè)頻率得到的聯(lián)合時(shí)頻譜圖,圖中x軸表示頻率(hz),y軸表示時(shí)間(s),z軸表示fft變換后的幅度峰值,單位為伏特(v)。其對(duì)應(yīng)的探測(cè)頻率分別為50hz、150hz、170hz,當(dāng)探測(cè)頻率為小于轉(zhuǎn)折頻率150hz時(shí)頻譜圖中表現(xiàn)為“上凸”的現(xiàn)象,即出現(xiàn)凸出曲線400,此時(shí)表示為探測(cè)電極在由遠(yuǎn)離被測(cè)物體到接近物體過(guò)的過(guò)程中其幅值逐漸增大,電極處于物體正上方時(shí),其幅值達(dá)到最大。然后在探測(cè)電極逐漸遠(yuǎn)離物體時(shí)其幅值又逐漸變小。對(duì)于小于這一轉(zhuǎn)折頻值150hz得情況,探測(cè)頻率越小,其“上凸”的顯現(xiàn)表現(xiàn)的越明顯。當(dāng)探測(cè)頻率為大于這一值時(shí)表現(xiàn)為”下凹”的現(xiàn)象,即出現(xiàn)凹陷曲線500,且探測(cè)頻率越大“下凹”顯現(xiàn)也越明顯。在多次調(diào)整探測(cè)頻率得到的聯(lián)合時(shí)頻譜圖中,在頻率為150hz時(shí)其fft幅值表現(xiàn)出現(xiàn)常值現(xiàn)象,即圖中,幅值為直線600,此時(shí)說(shuō)明該圓柱體的轉(zhuǎn)折頻率在150hz附近。而圖17、圖18則分別給出了鐵圓柱體、銅圓柱體的采用不同探測(cè)頻率得到的聯(lián)合時(shí)頻譜圖,表2則給出了常見(jiàn)的不同金屬材質(zhì)不同形狀下的轉(zhuǎn)折頻率值。
表2