本實用新型涉及測量儀器校準技術領域，具體而言，涉及一種校準規(guī)固定裝置。

背景技術：

目前，精密測量儀器(例如千分尺)用于待測量件的直徑等尺寸的精密測量。在測量之前需要利用標準件(量塊、軸類校準規(guī)等)對千分尺進行校準調零。其中，軸類校準規(guī)的尺寸基本固定，相比于組合量塊測量更加精確。在現(xiàn)有技術中，在對千分尺進行校準時，先將千分尺固定在夾持表座上，再手持軸類校準規(guī)，在千分尺的兩個測砧之間來回移動，進而對千分尺進行校準。然而，在上述校準過程中，操作者的手可能會觸碰到軸類校準規(guī)的工作面，影響測量精度，同時手上的汗?jié)n也可能會使軸類校準規(guī)生銹。此外，如果軸類校準規(guī)的尺寸較大，手持軸類校準規(guī)會不太容易穩(wěn)定，從而使千分尺校準不夠準確。

技術實現(xiàn)要素：

本實用新型的主要目的在于提供一種校準規(guī)固定裝置，以解決現(xiàn)有技術中的手持校準規(guī)對精密測量儀器進行校準時，校準不夠準確的問題。

為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供了一種校準規(guī)固定裝置，包括：底部固定主體，具有第一定位結構；支撐結構，設置在底部固定主體上；頂部固定主體，設置在支撐結構上并與底部固定主體間隔設置，頂部固定主體具有第二定位結構，第一定位結構與第二定位結構相對設置以共同夾持校準規(guī)。

進一步地，第二定位結構相對于第一定位結構可移動地設置，以使第二定位結構具有與第一定位結構共同夾持校準規(guī)的第一位置以及與校準規(guī)相分離的第二位置。

進一步地，校準規(guī)固定裝置還包括壓緊結構，當?shù)诙ㄎ唤Y構處于第一位置后，壓緊結構能夠對第二定位結構施加向下的力以使第二定位結構壓緊校準規(guī)。

進一步地，頂部固定主體與支撐結構樞轉連接。

進一步地，壓緊結構包括拉伸件，拉伸件連接在頂部固定主體與底部固定主體之間，以將頂部固定主體及第二定位結構拉向底部固定主體。

進一步地，壓緊結構包括壓縮件，壓縮件的兩端分別與頂部固定主體和第二定位結構相配合，以對第二定位結構施加向下的力。

進一步地，壓緊結構還包括設置在頂部固定主體上的導向套筒，壓縮件沿導向套筒的軸向方向設置在導向套筒內。

進一步地，第二定位結構連接在壓縮件遠離頂部固定主體的一端，壓緊結構還包括限位結構，限位結構用于限制第二定位結構相對于導向套筒的移動行程。

進一步地，限位結構包括：限位擋板，設置在第二定位結構或壓縮件上；限位槽，設置在導向套筒的筒壁上，限位擋板伸入至限位槽內并與限位槽相配合，以限制第二定位結構的移動行程。

進一步地，第一定位結構為向上凸出于底部固定主體的定位凸臺，第二定位結構為定位柱。

應用本實用新型的技術方案，底部固定主體具有第一定位結構，頂部固定主體具有第二定位結構，支撐結構設置在底部固定主體上，頂部固定主體設置在支撐結構上并與底部固定主體間隔設置。當對校準規(guī)進行固定時，將校準規(guī)置于第一定位結構與第二定位結構之間，通過相對設置的第一定位結構與第二定位結構共同夾持校準規(guī)，以將該校準規(guī)固定住，再將精密測量儀器與校準規(guī)相配合，并對校準規(guī)進行測量，從而實現(xiàn)對精密測量儀器的校準，又由于校準規(guī)固定穩(wěn)定，這樣可以使校準更加準確，并且可以防止操作者手上的汗?jié)n使校準規(guī)生銹。

附圖說明

構成本申請的一部分的說明書附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構成對本實用新型的不當限定。在附圖中：

圖1示出了根據(jù)本實用新型的校準規(guī)固定裝置的實施例一的結構示意圖；以及

圖2示出了根據(jù)本實用新型的校準規(guī)固定裝置的實施例二的結構示意圖。

其中，上述附圖包括以下附圖標記：

10、底部固定主體；20、第一定位結構；30、支撐結構；40、頂部固定主體；50、第二定位結構；60、拉伸件；71、壓縮件；72、導向套筒；81、限位擋板；82、限位槽；90、避讓孔。

具體實施方式

需要說明的是，在不沖突的情況下，本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結合實施例來詳細說明本實用新型。

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。以下對至少一個示例性實施例的描述實際上僅僅是說明性的，決不作為對本實用新型及其應用或使用的任何限制。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。

需要注意的是，這里所使用的術語僅是為了描述具體實施方式，而非意圖限制根據(jù)本申請的示例性實施方式。如在這里所使用的，除非上下文另外明確指出，否則單數(shù)形式也意圖包括復數(shù)形式，此外，還應當理解的是，當在本說明書中使用術語“包含”和/或“包括”時，其指明存在特征、步驟、操作、器件、組件和/或它們的組合。

除非另外具體說明，否則在這些實施例中闡述的部件和步驟的相對布置、數(shù)字表達式和數(shù)值不限制本實用新型的范圍。同時，應當明白，為了便于描述，附圖中所示出的各個部分的尺寸并不是按照實際的比例關系繪制的。對于相關領域普通技術人員已知的技術、方法和設備可能不作詳細討論，但在適當情況下，所述技術、方法和設備應當被視為授權說明書的一部分。在這里示出和討論的所有示例中，任何具體值應被解釋為僅僅是示例性的，而不是作為限制。因此，示例性實施例的其它示例可以具有不同的值。應注意到：相似的標號和字母在下面的附圖中表示類似項，因此，一旦某一項在一個附圖中被定義，則在隨后的附圖中不需要對其進行進一步討論。

在本實用新型的描述中，需要理解的是，方位詞如“前、后、上、下、左、右”、“橫向、豎向、垂直、水平”和“頂、底”等所指示的方位或位置關系通常是基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本實用新型和簡化描述，在未作相反說明的情況下，這些方位詞并不指示和暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位或者以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本實用新型保護范圍的限制；方位詞“內、外”是指相對于各部件本身的輪廓的內外。

為了便于描述，在這里可以使用空間相對術語，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用來描述如在圖中所示的一個器件或特征與其他器件或特征的空間位置關系。應當理解的是，空間相對術語旨在包含除了器件在圖中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附圖中的器件被倒置，則描述為“在其他器件或構造上方”或“在其他器件或構造之上”的器件之后將被定位為“在其他器件或構造下方”或“在其他器件或構造之下”。因而，示例性術語“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”兩種方位。該器件也可以其他不同方式定位(旋轉90度或處于其他方位)，并且對這里所使用的空間相對描述作出相應解釋。

此外，需要說明的是，使用“第一”、“第二”等詞語來限定零部件，僅僅是為了便于對相應零部件進行區(qū)別，如沒有另行聲明，上述詞語并沒有特殊含義，因此不能理解為對本實用新型保護范圍的限制。

目前，由于發(fā)動機為汽車提供動力，汽車的性能主要取決于發(fā)動機的性能，發(fā)動機的開發(fā)制造就顯得尤為重要。發(fā)動機的試制(小批量生產)使發(fā)動機從設計轉化為實際，而在實際的試制裝配過程中，需要對設計開發(fā)的零件進行精密測量?，F(xiàn)在發(fā)動機對于油耗、排放、動力性能、NVH、體積、重量等要求越來越嚴格，強化系數(shù)越來越高。因此，對發(fā)動機各個位置的精度要求越來越高。隨著制造水平的不斷提高，間隙、公差帶等也越收越窄，這就要求測量設備具有較高的精度。

在發(fā)動機試驗前后，尤其需要對發(fā)動機的運轉摩擦副進行精密測量，評估發(fā)動機運轉過程中的磨損量，為發(fā)動機后續(xù)的改進提供數(shù)據(jù)支持和積累。在現(xiàn)有技術中，可以使用精密測量儀器對發(fā)動機的摩擦副進行精密測量，在最大限度上保證測量手法能夠一致，盡可能地避免誤差。例如，可以使用千分尺對發(fā)動機的轉動軸的直徑進行測量，在測量時一般多采用比對法。在測量前需要利用軸類校準規(guī)對千分尺進行校準調零。

如圖1所示，實施例一的校準規(guī)固定裝置用于對軸類校準規(guī)的固定，固定之后通過軸類校準規(guī)對千分尺進行校準調零。上述校準規(guī)固定裝置包括底部固定主體10、支撐結構30以及頂部固定主體40。其中，底部固定主體10具有第一定位結構20。支撐結構30設置在底部固定主體10上。頂部固定主體40設置在支撐結構30上并與底部固定主體10間隔設置。頂部固定主體40具有第二定位結構50。第一定位結構20與第二定位結構50相對設置以共同夾持軸類校準規(guī)。

應用本實施例的校準規(guī)固定裝置，底部固定主體10具有第一定位結構20，頂部固定主體40具有第二定位結構50，支撐結構30設置在底部固定主體10上，頂部固定主體40設置在支撐結構30上并與底部固定主體10間隔設置。當對軸類校準規(guī)進行固定時，將軸類校準規(guī)置于第一定位結構20與第二定位結構50之間，通過相對設置的第一定位結構20與第二定位結構50共同夾持軸類校準規(guī)，以將該軸類校準規(guī)固定住，再將千分尺的兩個測砧放置在軸類校準規(guī)的兩側卡住軸類校準規(guī)，移動千分尺并對軸類校準規(guī)進行測量，從而實現(xiàn)對千分尺的校準，又由于軸類校準規(guī)固定穩(wěn)定，這樣可以使校準更加準確，并且可以防止操作者手上的汗?jié)n使軸類校準規(guī)生銹。

需要說明的是，在本實施例中，校準規(guī)固定裝置用于對軸類校準規(guī)的固定，固定之后通過軸類校準規(guī)對千分尺進行校準調零。當然，校準規(guī)固定裝置的應用環(huán)境不限于此，在其他實施方式中，校準規(guī)固定裝置可以對其他類型的校準規(guī)進行固定，固定之后通過該校準規(guī)對其他類型的精密測量儀器(例如帶表千分尺)進行校準調零，第一定位結構和第二定位結構可以根據(jù)校準規(guī)的具體類型進行設計。

如圖1所示，在實施例一的校準規(guī)固定裝置中，第二定位結構50相對于第一定位結構20可移動地設置，以使第二定位結構50具有與第一定位結構20共同夾持校準規(guī)的第一位置以及與校準規(guī)相分離的第二位置。當對軸類校準規(guī)進行固定時，先將第二定位結構50移動至第二位置，將軸類校準規(guī)置于第一定位結構20的上方，再將第二定位結構50移動至第一位置，使第一定位結構20與第二定位結構50共同夾持軸類校準規(guī)。當需要取下軸類校準規(guī)時，將第二定位結構50移動至第二位置，再取下軸類校準規(guī)。上述結構便于軸類校準規(guī)的固定和取下。

需要說明的是，第二定位結構50的結構不限于此，在其他實施方式中，第二定位結構可以不移動地設置，只要能順利固定或取下軸類校準規(guī)即可。例如，將第一定位結構和第二定位結構設置為彈性件(橡膠件)，通過該彈性件自身的變形實現(xiàn)軸類校準規(guī)的固定或取下。

如圖1所示，在實施例一的校準規(guī)固定裝置中，校準規(guī)固定裝置還包括壓緊結構。當?shù)诙ㄎ唤Y構50處于第一位置后，壓緊結構能夠對第二定位結構50施加向下的力以使第二定位結構50壓緊校準規(guī)。上述壓緊結構能夠通過第二定位結構50對軸類校準規(guī)施加向下的力，從而使第二定位結構50和第一定位結構20夾緊軸類校準規(guī)，使軸類校準規(guī)不會左右晃動，進而使軸類校準規(guī)固定更加穩(wěn)定。

如圖1所示，在實施例一的校準規(guī)固定裝置中，頂部固定主體40與支撐結構30樞轉連接。在本實施例中，頂部固定主體40與支撐結構30通過扁圓頭鉚釘可樞轉地連接，結構簡單，便于加工制造。由于頂部固定主體40可以相對于支撐結構30轉動，從而驅動第二定位結構50在第一位置與第二位置之間移動，進而能夠方便軸類校準規(guī)的放置與取出，使用更加靈活。

如圖1所示，在實施例一的校準規(guī)固定裝置中，壓緊結構包括拉伸件60。拉伸件60連接在頂部固定主體40與底部固定主體10之間，以將頂部固定主體40及第二定位結構50拉向底部固定主體10。上述拉伸件60能夠對第二定位結構50、軸類校準規(guī)施加向下的力。在本實施例中，拉伸件60為拉伸彈簧。頂部固定主體40的下表面與底部固定主體10的上表面上均設置有拉環(huán)，拉伸彈簧的上下兩端具有拉鉤，通過拉鉤鉤住拉環(huán)將拉伸彈簧連接在頂部固定主體40與底部固定主體10之間。當然，拉伸件60不限于拉伸彈簧，在圖中未示出的其他實施方式中，拉伸件可以為其他拉伸結構。

如圖1所示，在實施例一的校準規(guī)固定裝置中，軸類校準規(guī)的上下兩端均設置有尼龍手持棒，尼龍手持棒呈筒狀。第一定位結構20為向上凸出于底部固定主體10的定位凸臺，第二定位結構50為定位柱。上述定位凸臺和定位柱能夠分別插入至軸類校準規(guī)下端和上端的尼龍手持棒的中心孔中，從而對軸類校準規(guī)進行定位夾持，固定更加穩(wěn)定。在本實施例中，定位柱的中部設置有避讓孔90，該避讓孔90用于避讓尼龍手持棒內部的螺釘帽。需要說明的是，此時，軸類校準規(guī)不會左右晃動，但是可以沿其中心線轉動，便于千分尺校準。當然，第一定位結構20和第二定位結構50的結構不限于此，在圖中未示出的其他實施方式中，第一定位結構和第二定位結構的結構可以根據(jù)校準規(guī)的具體類型進行設計，例如，可以將第一定位結構和第二定位結構直接設計成頂尖，這樣可以實現(xiàn)對軸類校準規(guī)的自對中。

在本實施例中，不同的軸類校準規(guī)的整體高度基本一致，誤差僅在1～2mm之間。利用軸類校準規(guī)的這一特性可以設計出頂部固定主體40與底部固定主體10之間的距離。當對軸類校準規(guī)進行固定時，先將頂部固定主體40稍微抬起，將軸類校準規(guī)放置在底部固定主體10的定位凸臺上，定位凸臺可以使軸類校準規(guī)保持直立，再將頂部固定主體40壓下，正好通過定位柱夾住軸類校準規(guī)。此時，頂部固定主體40與底部固定主體10之間的拉伸彈簧(圓柱螺旋拉伸彈簧)使得軸類校準規(guī)能更好地被夾緊。

如圖2所示，實施例二的校準規(guī)固定裝置與實施例一的主要區(qū)別在于，壓緊結構包括壓縮件71。壓縮件71的兩端分別與頂部固定主體40和第二定位結構50相配合，以對第二定位結構50施加向下的力。上述壓縮件71能夠對第二定位結構50、軸類校準規(guī)施加向下的力。在本實施例中，壓縮件71為壓縮彈簧。當對軸類校準規(guī)進行固定時，先將壓縮彈簧的下端上移，并帶動第二定位結構50上移。當壓縮彈簧的下端移動至能夠使第二定位結構50與第一定位結構20之間形成足夠大的空間時，將將軸類校準規(guī)放置在底部固定主體10的定位凸臺上，定位凸臺可以使軸類校準規(guī)保持直立，再將壓縮彈簧松開，該壓縮彈簧下壓軸類校準規(guī)，以通過定位柱夾住軸類校準規(guī)。當然，壓縮件71不限于壓縮彈簧，在圖中未示出的其他實施方式中，壓縮件可以為其他壓縮結構。

如圖2所示，在實施例二的校準規(guī)固定裝置中，壓緊結構還包括設置在頂部固定主體40上的導向套筒72。壓縮件71沿導向套筒72的軸向方向設置在導向套筒72內。上述導向套筒72對壓縮件71起到導向作用。在本實施例中，第二定位結構50連接在壓縮件71遠離頂部固定主體40的一端。壓緊結構還包括限位結構。限位結構用于限制第二定位結構50相對于導向套筒72的移動行程。

如圖2所示，在實施例二的校準規(guī)固定裝置中，限位結構包括限位擋板81和限位槽82。其中，限位擋板81設置在第二定位結構50上并位于第二定位結構50與壓縮件71之間。限位槽82設置在導向套筒72的筒壁上。限位擋板81伸入至限位槽82內并與限位槽82相配合，以限制第二定位結構50的移動行程。當然，限位結構的結構不限于此，在圖中未示出的其他實施方式中，限位結構可以為其他形式的限位結構，例如，限位擋板可以設置在壓縮件上。

從以上的描述中，可以看出，本實用新型上述的實施例實現(xiàn)了如下技術效果：

1、在精密測量儀器校準過程中，能夠盡可能地減少對軸類校準規(guī)的觸碰；

2、在精密測量儀器校準過程中，將軸類校準規(guī)穩(wěn)定固定，防止軸類校準規(guī)晃動，減少人為因素帶來的誤差；

3、制作簡單，使用方便。

以上所述僅為本實用新型的優(yōu)選實施例而已，并不用于限制本實用新型，對于本領域的技術人員來說，本實用新型可以有各種更改和變化。凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。