電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括工控機(jī)模塊與電磁開(kāi)關(guān)模塊，所述工控機(jī)模塊能發(fā)送信號(hào)分別至一程控穩(wěn)壓電源模塊、一程控恒流電源模塊以及一PCI多功能板模塊；上述程控穩(wěn)壓電源模塊、程控恒流電源模塊以及PCI多功能板模塊均能傳送信號(hào)至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。本實(shí)用新型提出的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括起中央處理器作用的工控機(jī)模塊，以及被其控制的一程控穩(wěn)壓電源模塊、一程控恒流電源模塊以及一PCI多功能板模塊，上述模塊的信號(hào)被電磁開(kāi)關(guān)模塊接收后，反饋出的信號(hào)被PCI多功能模塊接收，直接反應(yīng)各個(gè)具體參數(shù)，達(dá)到直觀、快捷測(cè)試電磁開(kāi)關(guān)性能的目的。
【專(zhuān)利說(shuō)明】電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及電磁開(kāi)關(guān)領(lǐng)域，具體涉及一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)。

【背景技術(shù)】
[0002]根據(jù)QC/T731-2005的要求，對(duì)電磁開(kāi)關(guān)性能測(cè)試，主要的測(cè)試項(xiàng)目有:始吸電壓、釋放電壓、拉入電流、保持電流、主繞組電阻、副繞組電阻、負(fù)載電流、接觸電阻、接觸壓降、R端測(cè)試、始吸電流、釋放電流、吸拉力、保持力。現(xiàn)有技術(shù)下，技術(shù)人員經(jīng)常能夠整合一系列的測(cè)試模塊對(duì)電磁開(kāi)關(guān)的性能進(jìn)行測(cè)試，但都做不到快速有效，因此，如何在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上，整合出更加合理間接的測(cè)試模式一直是電磁開(kāi)關(guān)制造過(guò)程的一個(gè)困擾。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0003]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實(shí)用新型提供了一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，能夠快速對(duì)電磁開(kāi)關(guān)的性能進(jìn)行測(cè)試，大大提高了生產(chǎn)效率，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。
[0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:
[0005]一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括工控機(jī)模塊與電磁開(kāi)關(guān)模塊，工控機(jī)模塊能發(fā)送信號(hào)分別至一程控穩(wěn)壓電源模塊、一程控恒流電源模塊以及一 PCI多功能板模塊；上述程控穩(wěn)壓電源模塊、程控恒流電源模塊以及PCI多功能板模塊均能傳送信號(hào)至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。
[0006]優(yōu)選的，所述程控穩(wěn)壓模塊接收來(lái)自工控機(jī)模塊的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一主繞線(xiàn)組電流采樣模塊以及一副繞線(xiàn)組電流采樣模塊，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)豐吳塊。
[0007]優(yōu)選的，所述主繞線(xiàn)組電流采樣模塊與電磁開(kāi)關(guān)模塊之間還具有一主繞線(xiàn)組開(kāi)關(guān)模塊。
[0008]優(yōu)選的，所述程控恒流電源模塊接收來(lái)自工控機(jī)模塊的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一 R端測(cè)試模塊以及一負(fù)載電流采樣模塊，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。
[0009]優(yōu)選的，所述程控穩(wěn)壓電源模塊與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊之間還有一繞組電壓采樣模塊。
[0010]優(yōu)選的，所述PCI多功能板模塊與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊之間設(shè)有一觸點(diǎn)電壓采樣模塊。
[0011]優(yōu)選的，所述PCI多功能模塊還能發(fā)射信號(hào)至一加載開(kāi)關(guān)模塊。
[0012]本實(shí)用新型提出的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括起中央處理器作用的工控機(jī)模塊，以及被其控制的一程控穩(wěn)壓電源模塊、一程控恒流電源模塊以及一 PCI多功能板模塊，上述模塊的信號(hào)被電磁開(kāi)關(guān)模塊接收后，反饋出的信號(hào)被PCI多功能模塊接收，直接反應(yīng)各個(gè)具體參數(shù)，達(dá)到直觀、快捷測(cè)試電磁開(kāi)關(guān)性能的目的。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0013]為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹。
[0014]圖1是本實(shí)用新型所提供的一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)的結(jié)構(gòu)框圖；
[0015]附圖標(biāo)記說(shuō)明:
[0016]1、工控機(jī)模塊2、電磁開(kāi)關(guān)模塊3、程控穩(wěn)壓電源模塊
[0017]4、程控恒流電源模塊5、PCI多功能板模塊
[0018]6、主繞線(xiàn)組電流采樣模塊7、副繞線(xiàn)組電流采樣模塊
[0019]8、繞組電壓采樣模塊9、R端測(cè)試模塊10、負(fù)載電流采樣模塊
[0020]11、主繞組開(kāi)關(guān)模塊12、觸點(diǎn)電壓采樣模塊13、加載開(kāi)關(guān)模塊
[0021]

【具體實(shí)施方式】
[0022]下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。
[0023]如圖1所示，一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括起控制作用的工控機(jī)模塊I與待測(cè)的電磁開(kāi)關(guān)模塊2，工控機(jī)模塊I能發(fā)送信號(hào)分別至一程控穩(wěn)壓電壓模塊3、一程控恒流電壓模塊4以及一 PCI多功能板模塊5 ;上述程控穩(wěn)壓電壓模塊3、程控恒流電壓模塊4以及PCI多功能板模塊5均能傳送信號(hào)至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊2 ;程控穩(wěn)壓模塊接收來(lái)自工控機(jī)模塊I的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6以及一副繞線(xiàn)組電流采樣模塊7，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊2 ;主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6與電磁開(kāi)關(guān)模塊2之間還具有一主繞線(xiàn)組開(kāi)關(guān)模塊11 ;程控恒流電壓模塊4接收來(lái)自工控機(jī)模塊I的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一 R端測(cè)試模塊9以及一負(fù)載電流采樣模塊10，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊2 ;程控穩(wěn)壓電壓模塊3與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊2之間還有一繞組電壓采樣模塊8 ；PCI多功能板模塊5與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊2之間設(shè)有一觸點(diǎn)電源采樣模塊12 ；PCI多功能板模塊5還能發(fā)射信號(hào)至一加載開(kāi)關(guān)模塊13。
[0024]本實(shí)用新型提出的各個(gè)模塊其實(shí)為現(xiàn)有技術(shù)的一種整合，由于在實(shí)際測(cè)試中的多樣性，本技術(shù)方案在于將現(xiàn)有的技術(shù)整合成一個(gè)個(gè)模塊，通過(guò)有效的步序設(shè)定，達(dá)到快速簡(jiǎn)潔測(cè)定各個(gè)參數(shù)的目的，而各個(gè)步序的信號(hào)反饋流程恰恰是本方案的核心之所在。
[0025]具體實(shí)施時(shí)，一般具有兩種測(cè)試方法:
[0026]方法一:(一般測(cè)試)
[0027]I)、工控機(jī)模塊I首先控制PCI多功能板模塊5，然后控制主繞組開(kāi)關(guān)模塊11閉合，調(diào)節(jié)程控穩(wěn)壓電壓模塊3的電壓到起始電壓，調(diào)節(jié)程控恒流電壓模塊4的電流到負(fù)載測(cè)試電流值，啟動(dòng)程控穩(wěn)壓電壓模塊3輸出電壓慢慢上升，工控機(jī)模塊I通過(guò)PCI多功能板模塊5檢測(cè)來(lái)自:副繞線(xiàn)組電流采樣模塊7、主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6、負(fù)載電流采樣模塊10、繞組電壓采樣模塊8、觸點(diǎn)電壓采樣模塊12、R端測(cè)試模塊9。
[0028]2)、當(dāng)被測(cè)電磁開(kāi)關(guān)模塊2吸合導(dǎo)通時(shí)，電磁開(kāi)關(guān)模塊2上的電壓為始吸電壓。
[0029]3)、工控機(jī)模塊I調(diào)節(jié)程控穩(wěn)壓電壓模塊3的輸出電壓到設(shè)置電壓，得出副繞線(xiàn)組電流采樣模塊7、主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6的電阻和拉入電流。
[0030]4)、測(cè)量觸點(diǎn)電源采樣模塊12和流經(jīng)觸點(diǎn)的負(fù)載電流，計(jì)算出接觸電阻。
[0031 ] 5)、測(cè)量R端測(cè)試模塊9的電壓。
[0032]6)、保持力性能測(cè)試:工控機(jī)模塊I控制加載開(kāi)關(guān)模塊13閉合輸出加載信號(hào),給被測(cè)電磁開(kāi)關(guān)模塊2加載固定的拉力，斷開(kāi)主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6，通過(guò)測(cè)量負(fù)載電流檢測(cè)被測(cè)開(kāi)關(guān)吸合狀態(tài)。判斷保持力性能是否合格。
[0033]7)、釋放電壓測(cè)試:工控機(jī)模塊I調(diào)節(jié)程控穩(wěn)壓電壓模塊3的輸出電壓下降，監(jiān)測(cè)電磁開(kāi)關(guān)模塊2的負(fù)載電流和繞組電壓，當(dāng)電磁開(kāi)關(guān)模塊2釋放時(shí)，負(fù)載電流為0，記錄副繞線(xiàn)組電流采樣模塊7、主繞線(xiàn)組電流采樣模塊6上的電壓為釋放電壓。
[0034]參數(shù)測(cè)試完成，對(duì)照參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)判斷被測(cè)電磁開(kāi)關(guān)是否合格。
[0035]方法二:(快速測(cè)試)
[0036](I)被測(cè)電磁開(kāi)關(guān)模塊2在已有固定拉力下，工控機(jī)模塊I調(diào)節(jié)程控穩(wěn)壓電壓模塊3的輸出到設(shè)定的“拉力測(cè)試電壓”，直接通過(guò)PCI多功能板5模塊測(cè)量負(fù)載電流采樣模塊10，根據(jù)電流判斷電磁開(kāi)關(guān)模塊2是否吸合，不吸合判斷為拉力不合格，吸合的判斷為拉力合格。
[0037](2)通過(guò)PCI多功能板模塊5測(cè)量繞組電源采樣模塊8的電壓和主、副繞線(xiàn)組電流采樣模塊(6、7)，計(jì)算出主、副繞線(xiàn)組電流采樣模塊(6、7)的電阻，并判斷出主、副繞線(xiàn)組電流采樣模塊(6、7)的電阻是否合格。
[0038](3)根據(jù)計(jì)算出的電阻，再計(jì)算出在額定電壓下(可以設(shè)定)，主、副繞線(xiàn)組電流采樣模塊(6、7)的電流和為拉入電流，判斷是否合格。
[0039](4)測(cè)量觸點(diǎn)電源采樣模塊12的電壓和電流，計(jì)算出接觸電阻，判斷接觸電壓和觸點(diǎn)電阻是否合格。
[0040](5)測(cè)量R端測(cè)試模塊9的電壓，判斷是否合格。
[0041](6)保持力性能測(cè)試:工控機(jī)模塊I控制加載開(kāi)關(guān)模塊13閉合輸出加載信號(hào),給被測(cè)電磁開(kāi)關(guān)加載固定的拉力，斷開(kāi)主繞組開(kāi)關(guān)模塊11，通過(guò)測(cè)量其負(fù)載電流檢測(cè)被測(cè)開(kāi)關(guān)吸合狀態(tài)。判斷保持力性能是否合格。
[0042]7)、釋放電壓測(cè)試:工控機(jī)模塊I調(diào)節(jié)程控穩(wěn)壓電壓模塊3的輸出電壓到釋放電壓下限值，監(jiān)測(cè)負(fù)載電流判斷電磁開(kāi)關(guān)模塊2是否釋放，已經(jīng)釋放說(shuō)明不合格，反之合格。
[0043]本實(shí)用新型提出的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，包括起中央處理器作用的工控機(jī)模塊1，以及被其控制的一程控穩(wěn)壓電壓模塊3、一程控恒流電壓模塊4以及一PCI多功能板模塊5，上述模塊的信號(hào)被電磁開(kāi)關(guān)模塊2接收后，反饋出的信號(hào)被PCI多功能板模塊接收，直接反應(yīng)各個(gè)具體參數(shù)，達(dá)到直觀、快捷測(cè)試電磁開(kāi)關(guān)性能的目的。
[0044]上述模塊分別對(duì)應(yīng)電磁開(kāi)關(guān)的各個(gè)具體結(jié)構(gòu)，包括觸點(diǎn)，主副繞組等，本技術(shù)方案通過(guò)模塊化設(shè)置，能精確方便測(cè)試電磁開(kāi)關(guān)的各個(gè)結(jié)構(gòu)性能、電源、電阻和電流的測(cè)試，利用模塊間的電連接關(guān)系達(dá)到目的，對(duì)于本領(lǐng)域來(lái)說(shuō)，具有積極的意義。
[0045]對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見(jiàn)的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本實(shí)用新型的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。
【權(quán)利要求】
1.一種電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，包括工控機(jī)模塊與電磁開(kāi)關(guān)模塊，所述工控機(jī)模塊能發(fā)送信號(hào)分別至一程控穩(wěn)壓電源模塊、一程控恒流電源模塊以及一 PCI多功能板模塊；上述程控穩(wěn)壓電源模塊、程控恒流電源模塊以及PCI多功能板模塊均能傳送信號(hào)至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述程控穩(wěn)壓模塊接收來(lái)自工控機(jī)模塊的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一主繞線(xiàn)組電流采樣模塊以及一副繞線(xiàn)組電流采樣模塊，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述主繞線(xiàn)組電流采樣模塊與電磁開(kāi)關(guān)模塊之間還具有一主繞線(xiàn)組開(kāi)關(guān)模塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述程控恒流電源模塊接收來(lái)自工控機(jī)模塊的信號(hào)后，能夠分別發(fā)送信號(hào)至一 R端測(cè)試模塊以及一負(fù)載電流采樣模塊，上述兩組信號(hào)均能至所述電磁開(kāi)關(guān)模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述程控穩(wěn)壓電源模塊與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊之間還有一繞組電壓采樣模塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述PCI多功能板模塊與所述電磁開(kāi)關(guān)模塊之間設(shè)有一觸點(diǎn)電壓采樣模塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試臺(tái)，其特征在于，所述PCI多功能模塊還能發(fā)射信號(hào)至一加載開(kāi)關(guān)模塊。
【文檔編號(hào)】G01R31/327GK204203425SQ201420527271
【公開(kāi)日】2015年3月11日 申請(qǐng)日期:2014年9月12日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月12日
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