回轉(zhuǎn)體綜合檢具的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及檢測工具【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及回轉(zhuǎn)體綜合檢具。通過底座、底座兩側(cè)分別設(shè)置可移動的支撐裝置、以及設(shè)置在兩支撐裝置之間可移動的測量裝置；所述支撐裝置包括V形支架，該V形支架上設(shè)有通槽，且該通槽兩側(cè)均設(shè)有軸承；所述V形支架兩側(cè)與軸承對應(yīng)位置處均設(shè)有通孔，該通孔內(nèi)設(shè)有貫穿軸承的銷軸；所述測量裝置包括與底座連接的豎桿，該豎桿頂端設(shè)有可移動的劃針裝置；所述劃針裝置包括升降塊，該升降塊頂面設(shè)有與豎桿配合使用的第一安裝孔，且該升降塊側(cè)面設(shè)有第二安裝孔；所述第二安裝孔內(nèi)設(shè)有呈“L”形的劃針；使回轉(zhuǎn)體綜合檢具便于測量回轉(zhuǎn)體零件直線度，且測量精度較高。
【專利說明】回轉(zhuǎn)體綜合檢具

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及檢測工具【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及回轉(zhuǎn)體綜合檢具。

【背景技術(shù)】
[0002]零件是機(jī)械中不可分拆的單個制件，是機(jī)器的基本組成要素，也是機(jī)械制造過程中的基本單元；目前對零件的精度要求越來越高，其中筒類、套類和軸類等回轉(zhuǎn)體零件的直線度誤差較難測量，且測量后直線度誤差較大。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種便于測量回轉(zhuǎn)體零件直線度，且測量精度較高的回轉(zhuǎn)體綜合檢具。
[0004]本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
[0005]回轉(zhuǎn)體綜合檢具，包括底座、底座兩側(cè)分別設(shè)置可移動的支撐裝置、以及設(shè)置在兩支撐裝置之間可移動的測量裝置；所述支撐裝置包括V形支架，該V形支架上設(shè)有通槽，且該通槽兩側(cè)均設(shè)有軸承；所述V形支架兩側(cè)與軸承對應(yīng)位置處均設(shè)有通孔，該通孔內(nèi)設(shè)有貫穿軸承的銷軸；所述測量裝置包括與底座連接的豎桿，該豎桿頂端設(shè)有可移動的劃針裝置；所述劃針裝置包括升降塊，該升降塊頂面設(shè)有與豎桿配合使用的第一安裝孔，且該升降塊側(cè)面設(shè)有第二安裝孔；所述第二安裝孔內(nèi)設(shè)有呈“L”形的劃針。
[0006]所述底座兩側(cè)面分別設(shè)有兩條向外凸出的第一滑軌，所述V形支架底端兩側(cè)分別設(shè)有與第一滑軌配合使用的第一滑槽。
[0007]所述底座頂面上設(shè)有第二滑軌，所述豎桿底面設(shè)有與第二滑軌配合使用的第二滑槽。
[0008]本發(fā)明的有益效果是:利用兩支撐裝置的V形支架架設(shè)被測工件，V形支架兩側(cè)的軸承外表面均與銷軸接觸，由于軸承呈圓柱形，而圓柱形沒有轉(zhuǎn)角處與接角處，支撐力較大，表面較光滑，且對抗彎曲的能力較強(qiáng)，因此采用軸承支撐被測工件，一方面便于被測工件的旋轉(zhuǎn)，另一方面長時間使用后不易變形；利用升降塊調(diào)節(jié)劃針在豎桿上的高度，再通過劃針測量被測零件的直線度。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009]通過下面結(jié)合附圖的詳細(xì)描述，本發(fā)明前述的和其他的目的、特征和優(yōu)點(diǎn)將變得顯而易見。
[0010]其中:圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011]圖2為本發(fā)明右側(cè)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]附圖中，I為底座,2為V形支架,3為通槽,4為軸承,5為通孔,6為銷軸,7為豎桿，8為升降塊,9為第一安裝孔,10為第二安裝孔,11為劃針，12為第一滑塊，13為第一滑槽，14為第二滑塊，15為第二滑槽，16為頂絲。

【具體實(shí)施方式】
[0013]實(shí)施例1
[0014]參見圖1-圖2所示，回轉(zhuǎn)體綜合檢具，包括底座1、底座兩側(cè)分別設(shè)置可移動的支撐裝置、以及設(shè)置在兩支撐裝置之間可移動的測量裝置；所述支撐裝置包括V形支架2，該V形支架頂面設(shè)有向下的通槽3，且該通槽兩側(cè)均設(shè)有軸承4 ;所述V形支架兩側(cè)與軸承對應(yīng)位置處均設(shè)有通孔5，該通孔內(nèi)設(shè)有貫穿軸承的銷軸6 ;所述測量裝置包括與底座連接的豎桿7，該豎桿頂端設(shè)有可移動的劃針裝置；所述劃針裝置包括升降塊8，該升降塊頂面設(shè)有與豎桿配合使用的第一安裝孔9，且該升降塊側(cè)面設(shè)有第二安裝孔10 ;所述第二安裝孔內(nèi)設(shè)有呈“L”形的劃針11。
[0015]利用兩支撐裝置的V形支架架設(shè)被測工件，V形支架兩側(cè)的軸承外表面均與銷軸接觸，由于軸承呈圓柱形，而圓柱形沒有轉(zhuǎn)角處與接角處，支撐力較大，表面較光滑，且對抗彎曲的能力較強(qiáng)，因此采用軸承支撐被測工件，一方面便于被測工件的旋轉(zhuǎn)，另一方面長時間使用后不易變形；利用升降塊調(diào)節(jié)劃針在豎桿上的高度，再通過劃針測量被測零件的直線度。
[0016]下面說一下具體的測量過程:
[0017]測量時，將被測工件兩端外圓作為定基準(zhǔn)放置在兩V形支架的軸承上，調(diào)整劃針的高度，用手將被測工件轉(zhuǎn)動一周，使劃針的針尖與工件最高度點(diǎn)接觸，在同一截面上用塞尺測出針尖與轉(zhuǎn)動后的被測工件外圓間的最大間隙，取這個最大空隙值的一半作為該截面軸線的直線度誤差；根據(jù)被測工件的彎曲程度，可沿被測工件軸線按上述測量方式移動劃針并測量若干截面，取其中最大的誤差值作為該被測工件的軸線的直線度誤差。
[0018]實(shí)施例2
[0019]在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，所述底座兩側(cè)面分別設(shè)有兩條向外凸出的第一滑軌12，所述V形支架底端兩側(cè)分別設(shè)有與第一滑軌配合使用的第一滑槽13。通過設(shè)置第一滑軌與第一滑槽，使得V形支架可在底座上左右滑動，從而根據(jù)不同長度的被測零件，調(diào)整兩V形支架之間的距離。
[0020]實(shí)施例3
[0021]在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，所述底座上設(shè)有第二滑軌，所述豎桿底面設(shè)有與第二滑軌14配合使用的第二滑槽15。通過設(shè)置第二滑軌與第二滑槽，使得豎桿可在底座上左右滑動，間接使得豎桿上的劃針可以左右移動。
[0022]實(shí)施例4
[0023]在實(shí)施例1的基礎(chǔ)上，所述V形支架頂面設(shè)有緊固銷軸的頂絲16。通過頂絲將銷軸緊固在通孔內(nèi)。
[0024]本發(fā)明并不局限于所述的實(shí)施例，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神即公開范圍內(nèi)，仍可作一些修正或改變，故本發(fā)明的權(quán)利保護(hù)范圍以權(quán)利要求書限定的范圍為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.回轉(zhuǎn)體綜合檢具，其特征在于，包括底座、底座兩側(cè)分別設(shè)置可移動的支撐裝置、以及設(shè)置在兩支撐裝置之間可移動的測量裝置；所述支撐裝置包括V形支架，該V形支架上設(shè)有通槽，且該通槽兩側(cè)均設(shè)有軸承；所述V形支架兩側(cè)與軸承對應(yīng)位置處均設(shè)有通孔，該通孔內(nèi)設(shè)有貫穿軸承的銷軸；所述測量裝置包括與底座連接的豎桿，該豎桿頂端設(shè)有可移動的劃針裝置；所述劃針裝置包括升降塊，該升降塊頂面設(shè)有與豎桿配合使用的第一安裝孔，且該升降塊側(cè)面設(shè)有第二安裝孔；所述第二安裝孔內(nèi)設(shè)有呈“L”形的劃針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回轉(zhuǎn)體綜合檢具，其特征在于，所述底座兩側(cè)面分別設(shè)有兩條向外凸出的第一滑軌，所述V形支架底端兩側(cè)分別設(shè)有與第一滑軌配合使用的第一滑槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的回轉(zhuǎn)體綜合檢具，其特征在于，所述底座頂面上設(shè)有第二滑軌，所述豎桿底面設(shè)有與第二滑軌配合使用的第二滑槽。
【文檔編號】G01B5/25GK104374299SQ201410642770
【公開日】2015年2月25日 申請日期:2014年11月13日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月13日
【發(fā)明者】鄭星宇 申請人:常州市華賢五金廠