專利名稱：過孔尺寸測試輔助裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及印刷電路板，尤其涉及一種便于測試印刷電路板上過孔尺寸的輔助裝置。
背景技術(shù)：
目前，印刷電路板(printed circuit board, PCB)上一般設(shè)置有若干不同類型及尺寸，例如直徑為10±3密爾(mil，相當(dāng)于O. 001英寸)、直徑為14±3mil、直徑為35±3mil的鍍銅過孔(Plated Via)，以滿足不同的信號走線需求。當(dāng)需要檢測一批PCB上的過孔尺寸是否符合偏差要求，以判斷這批PCB板是否滿足客戶需求時，必須從這批PCB中選擇樣品剖開，再對過孔的橫截面積進(jìn)行量測。顯然，該種方式必須破壞作為測試樣品的PCB，從而造成浪費(fèi)。
實(shí)用新型內(nèi)容鑒于上述內(nèi)容，有必要提供一種可對PCB過孔進(jìn)行有效量測的過孔尺寸測試輔助
>J-U ρ α裝直。一種過孔尺寸測試輔助裝置，適用于一設(shè)置有若干不同類型的過孔的印刷電路板；所述過孔尺寸測試輔助裝置包括板體，所述板體上設(shè)置有與所述若干不同類型的過孔一一對應(yīng)的若干測試孔，通過剖開該板體，以露出該板體上的各種類型的測試孔的橫截面，進(jìn)而分別對每一類型測試孔的尺寸進(jìn)行測量，以判斷與該類型測試孔相應(yīng)的印刷電路板上的過孔的尺寸是否符合規(guī)范。優(yōu)選地，所述板體位于所述印刷電路板的一側(cè)，且與該印刷電路板一體設(shè)置。優(yōu)選地，所述板體獨(dú)立于該印刷電路板設(shè)置。優(yōu)選地，所述若干測試孔的大小及形狀互不相同。上述過孔尺寸測試輔助裝置在測試該印刷電路板上的過孔尺寸時，僅需將所述板體剖開，進(jìn)而對設(shè)置于其上的測試孔的尺寸進(jìn)行測試，便可得知該印刷電路板上相應(yīng)的過孔規(guī)格是否符合標(biāo)準(zhǔn)。本實(shí)用新型的過孔尺寸測試輔助裝置在測試所述過孔的尺寸時，無需破壞該印刷電路板，使得分板后的印刷電路板可繼續(xù)使用，避免造成浪費(fèi)。
圖I為本實(shí)用新型較佳實(shí)施方式的過孔尺寸測試輔助裝置的示意圖。圖2為圖I所示過孔尺寸測試輔助裝置中測試孔的尺寸示意圖。主要元件符號說明
WC及寸測試輔助裝置 1100
PCB_200
過孔
板體Ill
權(quán)利要求1.一種過孔尺寸測試輔助裝置，適用于一設(shè)置有若干不同類型的過孔的印刷電路板；其特征在于所述過孔尺寸測試輔助裝置包括板體，所述板體上設(shè)置有與所述若干不同類型的過孔一一對應(yīng)的若干測試孔，通過剖開該板體，以露出該板體上的各種類型的測試孔的橫截面，進(jìn)而分別對每一類型測試孔的尺寸進(jìn)行測量，以判斷與該類型測試孔相應(yīng)的印刷電路板上的過孔的尺寸是否符合規(guī)范。
2.如權(quán)利要求I所述的過孔尺寸測試輔助裝置，其特征在于所述板體位于所述印刷電路板的一側(cè)，且與該印刷電路板一體設(shè)置。
3.如權(quán)利要求I所述的過孔尺寸測試輔助裝置，其特征在于所述板體獨(dú)立于該印刷電路板設(shè)置。
4.如權(quán)利要求I所述的過孔尺寸測試輔助裝置，其特征在于所述若干測試孔的大小及形狀互不相同。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種過孔尺寸測試輔助裝置，適用于一設(shè)置有若干不同類型的過孔的印刷電路板；所述過孔尺寸測試輔助裝置包括板體，所述板體上設(shè)置有與所述若干不同類型的過孔一一對應(yīng)的若干測試孔，通過剖開該板體，以露出該板體上的各種類型的測試孔的橫截面，進(jìn)而分別對每一類型測試孔的尺寸進(jìn)行測量，以判斷與該類型測試孔相應(yīng)的印刷電路板上的過孔的尺寸是否符合規(guī)范。本實(shí)用新型的過孔尺寸測試輔助裝置無需破壞該印刷電路板，使得分板后的印刷電路板可繼續(xù)使用，避免造成浪費(fèi)。
文檔編號G01B21/10GK202547625SQ201220105799
公開日2012年11月21日 申請日期2012年3月20日 優(yōu)先權(quán)日2012年3月20日
發(fā)明者石宇, 黎潔 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司