專利名稱：一種雜光測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種雜光測試裝置，特別涉及一種測試光學(xué)鏡頭雜光系數(shù)的雜光測試裝置。
背景技術(shù)：
雜光系數(shù)這項技術(shù)指標是評價光學(xué)鏡頭成像質(zhì)量的一個比較重要的指標。如果雜光系數(shù) 大將使像面的像對比降低，像對比低就意味著光學(xué)鏡頭目標傳遞質(zhì)量的下降，成像質(zhì)量差。 所以雜光系數(shù)的檢測結(jié)果是否準確至關(guān)重要。申請人于2007年10月11日提交了發(fā)明名稱為"一種雜光測試儀"的發(fā)明專利申請(專 利申請?zhí)枮?00710056151.9)，該雜光測試儀包括積分球，光源，目標板，可變光欄，探測 器，調(diào)整架，四維移動機構(gòu)；探測器可以在四維移動機構(gòu)上作三維(X、 Y、 Z)方向平移， 并且在水平方向可繞Y軸旋轉(zhuǎn)的。這種雜光測試儀存在的問題是沒有光準直系統(tǒng)，僅能測 量焦距〈300mm的有限遠物距和無限遠物距光學(xué)系統(tǒng)。實用新型內(nèi)容本實用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種可對任意焦距的有限遠物距和無限遠物距光 學(xué)系統(tǒng)進行雜光測試的雜光測試裝置。本實用新型的雜光測試裝置包括積分球，光源，目標板，準直物鏡，可變光欄，探測器， 調(diào)整架，四維移動機構(gòu)；積分球上的可變光欄一側(cè)安裝準直物鏡，并且積分球內(nèi)的目標板、 準直物鏡、可變光欄、被測光學(xué)系統(tǒng)和探測器在同一光軸上順序放置。積分球漫反射的發(fā)散 光經(jīng)過準直物鏡轉(zhuǎn)換成平行光束后，再經(jīng)可變光欄調(diào)節(jié)光束孔徑后照射到被測光學(xué)系統(tǒng)，可 對任意焦距的有限遠物距和無限遠物距光學(xué)系統(tǒng)進行雜光測試。
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本實用新型作進一步詳細說明。

圖1、為本實用新型雜光測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖，也是摘要附圖。圖中l(wèi)-積分球，2-光源， 3-目標板，4-準直物鏡，5-可變光欄，6-被測光學(xué)系統(tǒng)，7-探測器，8-支架，9-X軸方向粗調(diào) 導(dǎo)軌，IO-X軸方向細調(diào)導(dǎo)軌，ll-Y軸方向?qū)к墸?2-Z軸方向粗調(diào)導(dǎo)軌，13-轉(zhuǎn)臺，14-Z 軸方向細調(diào)導(dǎo)軌，15-調(diào)整架。
具體實施方式
如圖1所示，本實用新型的雜光測試裝置包括積分球l，光源2，目標板3，準直物鏡4， 可變光欄5，探測器7，調(diào)整架13和四維移動機構(gòu)；在積分球1上的可變光欄5—側(cè)安裝準 直物鏡4，積分球1內(nèi)的目標板3、準直物鏡4、可變光欄5、被測光學(xué)系統(tǒng)6和探測器7在 同一光軸上順序放置；積分球1漫反射的發(fā)散光經(jīng)過準直物鏡4轉(zhuǎn)換成平行光束后，再經(jīng)可 變光欄5調(diào)節(jié)光束孔徑后照射到被測光學(xué)系統(tǒng)6，可對任意焦距的有限遠物距和無限遠物距 光學(xué)系統(tǒng)進行雜光測試。其中準直物鏡4采用雙凸透鏡，目標板放置在準直物鏡4的焦點上。
權(quán)利要求1、一種雜光測試裝置，包括積分球，光源，目標板，準直物鏡，可變光欄，探測器，調(diào)整架，四維移動機構(gòu)，其特征在于還包括準直物鏡(4)；積分球(1)上的可變光欄(5)一側(cè)安裝準直物鏡(4)，并且積分球(1)內(nèi)的目標板(3)、準直物鏡(4)、可變光欄(5)、被測光學(xué)系統(tǒng)(6)和探測器(7)在同一光軸上順序放置。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的雜光測試裝置，其特征在于準直物鏡(4)采用雙凸透鏡。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的雜光測試裝置，其特征在于目標板放置在準直物鏡(4)的焦 點上。
專利摘要本實用新型涉及一種雜光測試裝置，該雜光測試裝置包括積分球，光源，目標板，準直物鏡，可變光欄，探測器，調(diào)整架，四維移動機構(gòu)；積分球上的可變光欄一側(cè)安裝準直物鏡，并且積分球內(nèi)的目標板、準直物鏡、可變光欄、被測光學(xué)系統(tǒng)和探測器在同一光軸上順序放置。積分球漫反射的發(fā)散光經(jīng)過準直物鏡轉(zhuǎn)換成平行光束后，再經(jīng)可變光欄調(diào)節(jié)光束孔徑后照射到被測光學(xué)系統(tǒng)，可對任意焦距的有限遠物距和無限遠物距光學(xué)系統(tǒng)進行雜光測試。
文檔編號G01M11/02GK201173854SQ20082007166
公開日2008年12月31日 申請日期2008年4月10日 優(yōu)先權(quán)日2008年4月10日
發(fā)明者張曉輝, 王立朋, 谷立山 申請人:中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所