專利名稱：一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光電技術(shù)領(lǐng)域，特別是用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置。
背景技術(shù)：
綠色環(huán)保的LED光源要用于照明領(lǐng)域，大功率、高效率是使其得以普及的關(guān)鍵要素。傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)的LED芯片，也稱正裝結(jié)構(gòu)LED,它的兩個電極在同一面。另外一種垂直結(jié)構(gòu)的LED芯片，它的上下電極分布在外延片的兩個面?，F(xiàn)有技術(shù)中對LED芯片的測試分選設(shè)備大部分是針對正裝結(jié)構(gòu)的。大致的方式是，將切割、裂解為單顆芯粒的正裝結(jié)構(gòu)LED芯片藍寶石一面粘附于藍膜上，用兩個探針分別扎位于同一面的兩個電極，測得其光電性，采用預先制定好的分類規(guī)則將這些不同 光電性能的芯片分成若干個類別，一個類別成為一個bin，然后輸出一個分選文檔。該文檔包含的信息有芯片在藍膜上的相對坐標、所屬的bin以及其光電特性。將這個文檔傳輸給分選設(shè)備，分選設(shè)備會根據(jù)這些信息，將一個個芯片分選到其所屬的bin的藍膜上去完成測試分選過程。垂直結(jié)構(gòu)的LED芯片由于其電極位于芯片的兩側(cè)，采用傳統(tǒng)的藍膜上測試的方式是行不通的，因為藍膜是絕緣體，粘附于藍膜上的下電極無法連接至測試電源。而專用于垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的流水線作業(yè)形式的測試分選設(shè)備國內(nèi)外還未見公開報道過。

發(fā)明內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本發(fā)明的目的是提供一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置。它能自動實現(xiàn)對垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的測試和分選作業(yè)，具有操作簡單、效率高的特點。為了達到上述發(fā)明目的，本發(fā)明的技術(shù)方案以如下兩種方式實現(xiàn)
方式一
一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤、測試盤、分選盤和測試系統(tǒng)。其結(jié)構(gòu)特點是，所述待測試盤、測試盤和分選盤都設(shè)為可旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤。置于測試盤一側(cè)的待測試盤上置有芯片，分選盤置于測試盤的另一側(cè)。測試盤上表面一圈均布多個放置槽，各放置槽底部連接真空管。測試盤上方與測試位置的放置槽的對應處置有探頭和探針，探頭和探針分別與測試系統(tǒng)相連接。待測試盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴，分選盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴。方式二
一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤、測試盤、分選盤和測試系統(tǒng)。所述待測試盤和分選盤都設(shè)為可旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤，置于測試盤一側(cè)的待測試盤上置有芯片，分選盤置于測試盤的另一側(cè)。測試盤上表面一圈均布多個放置槽，各放置槽底部連接真空管，測試盤上方置有能水平移動和上下移動的探頭及探針，探頭和探針分別與測試系統(tǒng)相連接。待測試盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴，分選盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴。
本發(fā)明由于采用了上述的結(jié)構(gòu)，具有如下的有益效果
1.提供了一種用于垂直結(jié)構(gòu)LED芯片測試分選的裝置，解決了目前垂直結(jié)構(gòu)LED芯片解離后無法自動化測試的難題；
2.本發(fā)明裝置充分發(fā)揮了流水作業(yè)的優(yōu)點，將芯片測試與分選有機連接起來且可以同時工作，可以有效提高測試分選的速率。下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步說明。


圖I為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例實施例一
參看圖1，本發(fā)明包括待測試盤102、測試盤104、分選盤110和測試系統(tǒng)108。待測試盤102、測試盤104和分選盤110為能旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤。待測試盤102置于測試盤104的一側(cè)上置芯片101,分選盤110置于測試盤104的另一側(cè)。測試盤104上表面一圈均布多個放置槽105，各放置槽105底部連接真空管。測試盤104上方與測試位置的放置槽105的對應處置有探頭107和探針106，探頭107和探針106分別與測試系統(tǒng)108相連接。待測試盤102和測試盤104之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴103，分選盤110和測試盤104之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴109。本發(fā)明使用時的測試分選步驟為
第一步經(jīng)擴晶后的芯片101位于待測試盤102上，待測試盤102可以選用行業(yè)通用的藍膜。由測試吸嘴103將芯片101吸取至測試盤104測試位置的放置槽105中。然后，測試盤104升高，測試位置真空打開。測試位置上方的探頭107根據(jù)測試系統(tǒng)108中預先設(shè)定的標準圖形來辨別芯片101的左右位置與旋轉(zhuǎn)角度是否合適。第二步，測試盤104上升，并根據(jù)辨別的芯片101位置情況移動一個修正量，最終使得芯片101上的電極可準確碰到探針106，開始測試芯片101的光電特性，然后根據(jù)預先設(shè)定的分bin條件生成該芯片101所對應的bin屬性檔并保存。每測試完一個芯片101的光電特性，測試盤104轉(zhuǎn)動一個步長，使得下一個空置的放置槽105位于測試位置，供測試吸嘴103吸取下一個芯片101放置在該放置槽105中。第三步，測試盤104下降并將芯片101旋轉(zhuǎn)至分選位置，分選位置真空關(guān)閉。分選位置設(shè)有分選攝像頭，分選攝像頭根據(jù)預先設(shè)定的標準圖形來辨別該芯片101的位置，電腦會根據(jù)測試盤104轉(zhuǎn)動的步長數(shù)調(diào)出該芯片101對應的bin屬性檔。分選吸嘴109將分選位置的芯片101吸取至分選盤110上。需要更換分選盤110時，測試盤104會停止轉(zhuǎn)動，待新的分選盤110就位后再重新轉(zhuǎn)動。第四步，重復以上步驟可最終完成對多個芯片101的測試分選。實施例二
本發(fā)明實施例二的結(jié)構(gòu)及方法與實施例一的區(qū)別在于，測試盤104是固定不動的，而測試吸嘴103、探頭107及探針106、分選吸嘴109則通過水平移動和上下移動來對測試盤104上的每一個芯片101完成測試分選。
大部分情況下，本發(fā)明裝置中的測試吸嘴103、測試盤104、分選吸嘴109是同步作業(yè)的，因此可以同時進行測試與分選工作， 提高了工作效率。
權(quán)利要求
1.一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤(102)、測試盤(104)、分選盤(110)和測試系統(tǒng)(108)，其特征在于，所述待測試盤(102)、測試盤(104)和分選盤(110)都設(shè)為可旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤，置于測試盤(104) —側(cè)的待測試盤(102)上置有芯片(101),分選盤(110)置于測試盤(104)的另一側(cè),測試盤(104)上表面一圈均布多個放置槽(105)，各放置槽(105)底部連接真空管，測試盤(104)上方與測試位置的放置槽(105)的對應處置有探頭(107)和探針(106)，探頭(107)和探針(106)分別與測試系統(tǒng)(108)相連接，待測試盤(102)和測試盤(104)之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴(103)，分選盤(110)和測試盤(104)之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴(109)。
2.一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置，它包括待測試盤(102)、測試盤(104)、分選盤(110)和測試系統(tǒng)(108)，其特征在于，所述待測試盤(102)和分選盤(110)都設(shè)為可旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤，置于測試盤(104) —側(cè)的待測試盤(102)上置有芯片(101),分選盤(110)置于測試盤(104)的另一側(cè)，測試盤(104)上表面一圈均布多個放置槽(105)，各放置槽(105)底部連接真空管，測試盤(104)上方置有能水平移動和上下移動的探頭(107)及探針(106)，探頭(107)和探針(106)分別與測試系統(tǒng)(108)相連接，待測試盤(102)和測試盤(104)之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴(103)，分選盤(110)和測試盤(104)之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴(109)。
全文摘要
一種用于垂直發(fā)光二極管的測試分選裝置，涉及光電技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括待測試盤、測試盤、分選盤和測試系統(tǒng)。其結(jié)構(gòu)特點是，所述待測試盤、測試盤和分選盤都設(shè)為可旋轉(zhuǎn)、水平移動及上下移動的圓盤。置于測試盤一側(cè)的待測試盤上置有芯片，分選盤置于測試盤的另一側(cè)。測試盤上表面一圈均布多個放置槽，各放置槽底部連接真空管。測試盤上方與測試位置的放置槽的對應處置有探頭和探針，探頭和探針分別與測試系統(tǒng)相連接。待測試盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的測試吸嘴，分選盤和測試盤之間設(shè)有能旋轉(zhuǎn)換位的分選吸嘴。本發(fā)明能自動實現(xiàn)對垂直結(jié)構(gòu)LED芯片的測試和分選作業(yè)，具有操作簡單、效率高的特點。
文檔編號B07C5/34GK102728562SQ20111009183
公開日2012年10月17日 申請日期2011年4月13日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月13日
發(fā)明者劉穎 申請人:同方光電科技有限公司