專利名稱：發(fā)光二極管測(cè)試板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
〔0001〕 本發(fā)明涉及發(fā)光二極管電性和光學(xué)測(cè)試領(lǐng)域，具體地涉及一種用于發(fā)光二極管電 性和光學(xué)測(cè)試的測(cè)試板。
背景技術(shù)：
〔0002〕 相比于傳統(tǒng)的發(fā)光源，發(fā)光二極管仏21111^1118 010(16，120具有重量輕、體 積小、污染低、壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)，其作為一種新型的發(fā)光源，已經(jīng)被越來(lái)越廣泛地應(yīng)用。 〔0003〕 發(fā)光二極管經(jīng)封裝完成后，需要測(cè)試其電性或光學(xué)參數(shù)，以確保發(fā)光二極管的良 率或按照發(fā)光波長(zhǎng)范圍對(duì)其進(jìn)行分類。一般的發(fā)光二極管測(cè)試過(guò)程中，通常利用焊錫將發(fā) 光二極管焊接在電路板上，該電路板上形成有電路結(jié)構(gòu)以給焊接在電路板上的發(fā)光二極管 提供電能，從而發(fā)光二極管被焊接固定在電路板上，方便進(jìn)行測(cè)試。然而，該種電路板在使 用過(guò)一次以后，因其焊盤點(diǎn)已經(jīng)粘有焊錫而無(wú)法被再次利用，下次測(cè)試必須采用新的電路 板進(jìn)行，從而造成測(cè)試成本較高。

發(fā)明內(nèi)容
〔0004〕 有鑒于此，本發(fā)明旨在提供一種能降低測(cè)試成本的發(fā)光二極管測(cè)試板。 〔0005〕 一種發(fā)光二極管測(cè)試板，包括本體、收容孔以及電路結(jié)構(gòu)，該本體呈平板狀，該收 容孔設(shè)置在本體上以收容并固持待測(cè)發(fā)光二極管，該收容孔內(nèi)設(shè)置有第一、第二電極，當(dāng)待 測(cè)發(fā)光二極管置入收容孔并被固持時(shí)，該第一、第二電極分別與待測(cè)發(fā)光二極管的正、負(fù)電 極電連接，該電路結(jié)構(gòu)設(shè)置在本體上并與所述收容孔的第一、第二電極電連接，該電路結(jié)構(gòu) 用于從外界獲取電能并通過(guò)第一、第二電極將電能提供給待測(cè)發(fā)光二極管。 〔0006〕 所述發(fā)光二極管測(cè)試板采用收容孔容置并固持待測(cè)發(fā)光二極管，而無(wú)需利用焊錫 將待測(cè)發(fā)光二極管焊接固定在測(cè)試板上，不僅簡(jiǎn)化了固定待測(cè)發(fā)光二極管的工序，而且發(fā) 光二極管測(cè)試板不會(huì)被焊錫污染，從而可以多次利用、降低測(cè)試成本。


〔0007〕圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的發(fā)光二極管測(cè)試板結(jié)構(gòu)示意圖。
〔0008〕圖2為圖1所示發(fā)光二極管測(cè)試板的剖視圖。
〔0009〕圖3為將待測(cè)發(fā)光二極管置入發(fā)光二極管測(cè)試板的示意圖。
〔0010〕圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的發(fā)光二極管測(cè)試板結(jié)構(gòu)示意圖。
〔0011〕圖5為圖4所示發(fā)光二極管測(cè)試板的剖視圖。
〔0012〕主要元件符號(hào)說(shuō)明
^001發(fā)光二極管測(cè)試板 10，20
〔0014〕本體11，21
〔0015〕收容孔12，22
〔0016〕電路結(jié)構(gòu)13，23
第一表面第二表面第一電極第二電極金手指接頭定位孔支撐板
26
30
31
32
110,210 112,212
120 122
14，24 15,25 待測(cè)發(fā)光二極管正電極負(fù)電極
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參見圖1，本發(fā)明第一實(shí)施例提供的發(fā)光二極管測(cè)試板10包括一個(gè)本體11、多個(gè)收容孔12以及電路結(jié)構(gòu)13。該本體11呈平板狀，如圖2所示。該本體11包括第一表面110以及第二表面112。 該第二表面112與第一表面110相對(duì)設(shè)置，且二者均為平坦表面。該多個(gè)收容孔12設(shè)置在本體的第一表面110上，且該多個(gè)收容孔12均為盲孔。該收容孔12用于收容并固持待測(cè)發(fā)光二極管30。該收容孔12的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)置有第一電極 120、第二電極122。參見圖3，當(dāng)待測(cè)發(fā)光二極管30被置入收容孔12時(shí)，該收容孔12固持住待測(cè)發(fā)光二極管30，且該第一電極120、第二電極122分別與待測(cè)發(fā)光二極管30的正電極31、負(fù)電極32電連接。該電路結(jié)構(gòu)13設(shè)置在本體11的第一表面110上或者本體11的內(nèi)部，并且該電路結(jié)構(gòu)13與收容孔12的第一電極120、第二電極122電連接，從而該電路結(jié)構(gòu)13能夠從外界獲取電能并通過(guò)第一電極120、第二電極122將電能提供給待測(cè)發(fā)光二極管30。本實(shí)施例中，該電路結(jié)構(gòu)13延伸至本體11的邊緣處形成金手指接頭14，從而金手指接頭14可與金手指接口(圖未示)相插接配合而與外界電源相接。所述發(fā)光二極管測(cè)試板10采用收容孔12容置并固持待測(cè)發(fā)光二極管30，而無(wú)需利用焊錫將待測(cè)發(fā)光二極管30焊接固定在發(fā)光二極管測(cè)試板10上，不僅簡(jiǎn)化了固定待測(cè)發(fā)光二極管30的工序，而且發(fā)光二極管測(cè)試板10不會(huì)被焊錫污染，從而可以多次利用、降低測(cè)試成本。需要說(shuō)明的是，該發(fā)光二極管測(cè)試板10的本體11上還可設(shè)置有定位孔15，該定位孔15為貫穿本體11的通孔，從而通過(guò)貫穿該定位孔15的固定件，如螺絲、螺栓等，即可將發(fā)光二極管測(cè)試板10固定在其他工件之上，以滿足工序需要。請(qǐng)參見圖4和圖5，本發(fā)明第二實(shí)施例還提供一種發(fā)光二極管測(cè)試板20，該發(fā)光二極管測(cè)試板20與第一實(shí)施例提供的發(fā)光二極管測(cè)試板10結(jié)構(gòu)大體相同，該發(fā)光二極管測(cè)試板20包括一個(gè)平板狀本體21、多個(gè)收容孔22以及電路結(jié)構(gòu)23。該本體21包括第一表面210以及與該第一表面210相對(duì)設(shè)置的第二表面212。該收容孔22設(shè)置在本體的第一表面210上。與發(fā)光二極管測(cè)試板10的不同之處在于，發(fā)光二極管測(cè)試板20的收容孔22為貫穿本體21的通孔，同時(shí)為保證待測(cè)發(fā)光二極管30置入收容孔22的固定，該發(fā)光二極管測(cè)試板20還包括一位于本體21的第二表面212 —側(cè)的支撐板26。該支撐板沈遮蓋收容孔 22在第二表面212上形成的開口，從而避免待測(cè)發(fā)光二極管30從第一表面210 —側(cè)置入收容孔22后由收容孔22在第二表面212上形成的開口處滑出。當(dāng)然，該發(fā)光二極管測(cè)試板20也可與發(fā)光二極管測(cè)試板10 —樣設(shè)置有金手指接頭M以及定位孔25，以分別滿足與外界電源插接、與其他工件固定的工序需求。本發(fā)明的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特點(diǎn)已揭露如上，然而本領(lǐng)域技術(shù)人員仍可能基于本發(fā)明的教示及揭示而作出種種不背離本發(fā)明精神的替換及修飾。因此，本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)不限于實(shí)施例所揭示的內(nèi)容，而應(yīng)包括各種不背離本發(fā)明的替換及修飾，并為所附的權(quán)利要求所涵蓋。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管測(cè)試板，包括本體，該本體呈平板狀；收容孔，該收容孔設(shè)置在本體上以收容并固持待測(cè)發(fā)光二極管，該收容孔內(nèi)設(shè)置有第一、第二電極，當(dāng)待測(cè)發(fā)光二極管置入收容孔并被固持時(shí)，該第一電極與待測(cè)發(fā)光二極管的正電極電連接且該第二電極與待測(cè)發(fā)光二極管的負(fù)電極電連接；電路結(jié)構(gòu)，該電路結(jié)構(gòu)設(shè)置在本體上或本體內(nèi)，該電路結(jié)構(gòu)與所述收容孔的第一、第二電極電連接，且該電路結(jié)構(gòu)用于從外界獲取電能并通過(guò)第一、第二電極將電能提供給待測(cè)發(fā)光二極管。
2.如權(quán)利要求1所述發(fā)光二極管測(cè)試板，其特征在于，該收容孔為形成在平板狀本體一個(gè)表面上的盲孔。
3.如權(quán)利要求1所述發(fā)光二極管測(cè)試板，其特征在于，該收容孔為貫穿平板狀本體的通孔，該發(fā)光二極管測(cè)試板還包括設(shè)置在本體一側(cè)的支撐板，該支撐板遮蓋收容孔在本體一側(cè)表面上形成的開口。
4.如權(quán)利要求2或3所述發(fā)光二極管測(cè)試板，其特征在于，該第一、第二電極設(shè)置在收容孔的內(nèi)側(cè)壁上。
5.如權(quán)利要求2或3所述發(fā)光二極管測(cè)試板，其特征在于，該本體上還設(shè)置有貫穿本體的定位孔。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管測(cè)試板，包括本體、收容孔以及電路結(jié)構(gòu)，該本體呈平板狀，該收容孔設(shè)置在本體上以收容并固持待測(cè)發(fā)光二極管，該收容孔內(nèi)設(shè)置有第一、第二電極，當(dāng)待測(cè)發(fā)光二極管置入收容孔并被固持時(shí)，該第一、第二電極分別與待測(cè)發(fā)光二極管的正、負(fù)電極電連接，該電路結(jié)構(gòu)設(shè)置在本體上并與所述收容孔的第一、第二電極電連接，該電路結(jié)構(gòu)用于從外界獲取電能并通過(guò)第一、第二電極將電能提供給待測(cè)發(fā)光二極管。該種發(fā)光二極管測(cè)試板可以多次利用，具有成本低的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01M11/02GK102486497SQ201010569189
公開日2012年6月6日 申請(qǐng)日期2010年12月1日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月1日
發(fā)明者林厚德 申請(qǐng)人:展晶科技(深圳)有限公司, 榮創(chuàng)能源科技股份有限公司