電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)、方法及其應(yīng)用設(shè)備的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明是一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)、方法及其應(yīng)用設(shè)備，包含作業(yè)機(jī)構(gòu)、移料機(jī)構(gòu)及檢知機(jī)構(gòu)，作業(yè)機(jī)構(gòu)設(shè)有承置器，該移料機(jī)構(gòu)帶動(dòng)取放器的拾取件位移至作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器處，該檢知機(jī)構(gòu)是在取放器內(nèi)設(shè)有具氣室的負(fù)壓結(jié)構(gòu)，負(fù)壓結(jié)構(gòu)并設(shè)有可控制氣室啟閉的控制部件，一真空單元以真空產(chǎn)生器連通氣室及拾取件的抽氣道，使拾取件具有吸力執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)，真空單元并以裝配于真空產(chǎn)生器與取放器間的真空感測器檢知取放器的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器將負(fù)壓值資料與資料庫的設(shè)定負(fù)壓范圍資料作比對(duì)，以分析取放器的吸附狀態(tài)，進(jìn)而檢知出承置器的異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常，提升作業(yè)效能。
【專利說明】
電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)、方法及其應(yīng)用設(shè)備
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種移料機(jī)構(gòu)的取放器于作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器處執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)時(shí)，可利用檢知機(jī)構(gòu)偵測取放器的負(fù)壓值是否異常，以進(jìn)一步判別承置器是否發(fā)生異常承置狀態(tài)，而即時(shí)排除異常，進(jìn)而提升作業(yè)效能的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)及檢知方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)今，電子元件作業(yè)設(shè)備以具吸附式取放器的移料機(jī)構(gòu)，在不同作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器(例如輸送機(jī)構(gòu)的載臺(tái)、供料機(jī)構(gòu)的供料盤或測試機(jī)構(gòu)的測試座)處取放及移載電子元件，然而作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器于正常承置狀態(tài)下，以一容置槽承置單一水平擺置的待作業(yè)電子元件，以供移料機(jī)構(gòu)的取放器取出移載至另一作業(yè)裝置，由于承置器可能會(huì)發(fā)生容置槽內(nèi)并無承置電子元件或一次承置復(fù)數(shù)個(gè)堆迭電子元件，也或承置傾斜電子元件等異常承置狀態(tài)，一旦未即時(shí)發(fā)現(xiàn)承置器的異常承置狀態(tài)，將會(huì)造成移料機(jī)構(gòu)空跑移載行程或壓損電子元件等問題，進(jìn)而影響后續(xù)作業(yè)流程；因此，目前電子元件作業(yè)設(shè)備是在承置器的側(cè)方均設(shè)置有光感測器，以感測承置器內(nèi)的電子元件是否放置異常，如發(fā)現(xiàn)異常，可立即停機(jī)排除異常。
[0003]請(qǐng)參閱圖1、圖2，該電子元件作業(yè)設(shè)備的機(jī)臺(tái)上配置有具承置器11的輸送機(jī)構(gòu)，該承置器11設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)承置待作業(yè)電子元件12的容置槽111，并可載送待作業(yè)的電子元件12至不同作業(yè)裝置；然為了檢查承置器11是否發(fā)生無承置電子元件或承置二堆迭電子元件等異常承置狀態(tài)，是在承置器11的兩側(cè)方配置相對(duì)應(yīng)容置槽111數(shù)量的復(fù)數(shù)組光散式感測器，各組光散式感測器是在承置器11的一側(cè)設(shè)有光源發(fā)射件13，于另一側(cè)設(shè)有光源接收件14，該光源發(fā)射件13對(duì)承置器11發(fā)射光線，并由光源接收件14接收光線，以感測承置器11的容置槽111內(nèi)的電子元件12對(duì)光線的遮光量，若遮光量為預(yù)設(shè)單一且水平擺置的電子元件12的遮光量，則判別承置器11為正常承置狀態(tài)，而可由移料機(jī)構(gòu)(圖未示出)的取放器取出移載至下一裝置處，若遮光量為非預(yù)設(shè)遮光量，則判別承置器11發(fā)生承置二個(gè)電子元件或傾斜電子元件等異常承置狀態(tài)，進(jìn)而控制作業(yè)設(shè)備立即停機(jī)以排除異常；然而，于使用上具有如下缺失:
[0004]1.由于電子元件日趨精密微小，其放置于容置槽111內(nèi)的遮光量變化也就更小，導(dǎo)致光散式感測器的光源接收件14不易感測到微小的遮光量變化，以致無法確實(shí)檢查出承置器11的異常承置狀態(tài)，進(jìn)而發(fā)生誤判的情形，使得工作人員無法立即排除異常，造成影響后續(xù)作業(yè)的缺失。
[0005]2.由于為確實(shí)檢查承置器11的各容置槽111是否承載異常，配置有相對(duì)應(yīng)容置槽111數(shù)量的光散式感測器，若承置器11的容置槽111數(shù)量繁多，則必須配置更多的光散式感測器，不僅占用空間，也增加設(shè)備成本；再者，作業(yè)設(shè)備大多設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)具有承置器的作業(yè)機(jī)構(gòu)(如供料機(jī)構(gòu)、輸送機(jī)構(gòu)或測試機(jī)構(gòu))，以致必須于不同作業(yè)機(jī)構(gòu)處獨(dú)立配置有光散式感測器，以致整個(gè)作業(yè)設(shè)備需配置相當(dāng)多數(shù)量的光散式感測器，造成更加耗費(fèi)成本的缺失。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于:提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)、方法及其應(yīng)用設(shè)備，解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:
[0008]一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，包含:
[0009]作業(yè)機(jī)構(gòu):設(shè)有至少一承置器，用以承置電子元件；
[0010]移料機(jī)構(gòu):設(shè)有至少一取放器，該取放器設(shè)有作至少一方向位移的拾取件，該拾取件設(shè)有至少一連通外部的抽氣道，并設(shè)有至少一連通該抽氣道的吸取部，用以取放移載該電子元件；
[0011]檢知機(jī)構(gòu):設(shè)有負(fù)壓結(jié)構(gòu)、真空單元及比對(duì)單元，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)是在該移料機(jī)構(gòu)的拾取件周側(cè)設(shè)有至少一相通至該取放器外部的氣室，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)并設(shè)有至少一控制該氣室啟閉的控制部件，該真空單元設(shè)有真空產(chǎn)生器及真空感測器，該真空產(chǎn)生器連通該抽氣道及該氣室，該真空感測器設(shè)置于該真空產(chǎn)生器與該取放器之間，以感測該取放器的負(fù)壓值，并將感測的負(fù)壓資料傳輸至該比對(duì)單元，該比對(duì)單元設(shè)有資料庫及控制器，該資料庫內(nèi)建有設(shè)定負(fù)壓范圍資料，該控制器將感測的負(fù)壓資料與該資料庫的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)。
[0012]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)中，該移料機(jī)構(gòu)的取放器設(shè)有具有容置空間的本體，并在該容置空間內(nèi)裝設(shè)有該拾取件。
[0013]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)中，該取放器的拾取件在該吸取部裝配有吸盤。
[0014]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)中，該取放器的拾取件在該吸取部的外側(cè)設(shè)有至少一下壓件。
[0015]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)中，該檢知機(jī)構(gòu)的負(fù)壓結(jié)構(gòu)在該控制部件與該本體之間設(shè)有墊片。
[0016]所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)中，該檢知機(jī)構(gòu)的負(fù)壓結(jié)構(gòu)在該移料機(jī)構(gòu)的拾取件外環(huán)面設(shè)有控制部件。
[0017]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案還包括:
[0018]—種電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，包含:
[0019]對(duì)位程序:該移料機(jī)構(gòu)的取放器與該作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器相對(duì)位，以供取料；
[0020]取料程序:該移料機(jī)構(gòu)的取放器于該作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器上執(zhí)行取料作業(yè)；
[0021]抽真空程序:該檢知機(jī)構(gòu)的真空單元的真空產(chǎn)生器抽吸該拾取件的抽氣道及該氣室的空氣；
[0022]檢知比對(duì)程序:該檢知機(jī)構(gòu)的真空單元的真空感測器檢知該取放器的負(fù)壓值，并將感測的負(fù)壓值資料傳輸至該比對(duì)單元，該比對(duì)單元的控制器將感測的負(fù)壓值資料與該資料庫內(nèi)建的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以判別該取放器的吸附狀態(tài)及該承置器的承置狀
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[0023]所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法中，在執(zhí)行該對(duì)位程序前，執(zhí)行負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序，該負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序是在該資料庫內(nèi)建立復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料。
[0024]所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法中，該檢知比對(duì)程序判別出該承置器有異承承置狀態(tài)后，發(fā)出警示訊息，以通知進(jìn)行排除異常。
[0025]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案還包括:
[0026]—種應(yīng)用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設(shè)備，其特征在于，包含:
[0027]機(jī)臺(tái)；
[0028]至少一所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)配置于該機(jī)臺(tái)，并設(shè)有至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)及至少一移料機(jī)構(gòu)及至少一檢知機(jī)構(gòu)，用以對(duì)電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)作業(yè)及檢知作業(yè)；
[0029]中央控制裝置是用以控制及整合各裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。
[0030]與現(xiàn)有技術(shù)相比較，本發(fā)明具有的有益效果是:
[0031]本發(fā)明提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)及檢知方法，該作業(yè)裝置包含作業(yè)機(jī)構(gòu)、移料機(jī)構(gòu)及檢知機(jī)構(gòu)，該作業(yè)機(jī)構(gòu)設(shè)有承置電子元件的承置器，該移料機(jī)構(gòu)帶動(dòng)取放器的拾取件位移至作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器處，該檢知機(jī)構(gòu)是在取放器內(nèi)設(shè)有具氣室的負(fù)壓結(jié)構(gòu)，負(fù)壓結(jié)構(gòu)并設(shè)有可控制氣室啟閉的控制部件，一真空單元以真空產(chǎn)生器連通氣室及拾取件的抽氣道，使拾取件具有吸力執(zhí)行吸取電子元件作業(yè)，真空單元并以裝配于真空產(chǎn)生器與取放器間的真空感測器檢知取放器的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器將負(fù)壓值資料與資料庫的設(shè)定負(fù)壓范圍資料作比對(duì)，以分析取放器的吸附狀態(tài)，進(jìn)而檢知出承置器的異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常，達(dá)到提升作業(yè)效能的實(shí)用效益。
[0032]本發(fā)明提供一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)及檢知方法，其中，該檢知機(jī)構(gòu)裝配于移料機(jī)構(gòu)上，而可同步位移至不同作業(yè)裝置處，并以真空感測器即時(shí)檢知取放器的負(fù)壓值，且將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，以供判別承置器是否承置異常，檢知機(jī)構(gòu)不需于各承置器側(cè)方或不同作業(yè)裝置處配置繁多數(shù)量的光散式感測器，不僅有效節(jié)省成本，并利于機(jī)臺(tái)空間運(yùn)用，達(dá)到提升使用效能的實(shí)用效益。
[0033]本發(fā)明提供一種應(yīng)用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設(shè)備，其中，該作業(yè)設(shè)備包含機(jī)臺(tái)、作業(yè)裝置及中央控制裝置，該作業(yè)裝置裝配于機(jī)臺(tái)，并設(shè)有至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)及至少一移料機(jī)構(gòu)及至少一檢知機(jī)構(gòu)，用以對(duì)電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)作業(yè)及檢知作業(yè)，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)，達(dá)到提升作業(yè)效能的實(shí)用效益。
【附圖說明】
[0034]圖1是現(xiàn)有光散式感測器與承置器的配置示意圖；
[0035]圖2是現(xiàn)有光散式感測器與承置器的使用示意圖；
[0036]圖3是本發(fā)明第一實(shí)施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0037]圖4是第一實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0038]圖5是第一實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置復(fù)數(shù)電子元件的使用示意圖；
[0039]圖6是第一實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0040]圖7是本發(fā)明檢知方法的流程圖；
[0041]圖8是本發(fā)明第二實(shí)施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0042]圖9是第二實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0043]圖10是第二實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置復(fù)數(shù)電子元件的使用示意圖；
[0044]圖11是第二實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0045]圖12是本發(fā)明第三實(shí)施例作業(yè)裝置的示意圖；
[0046]圖13是第三實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置單一電子元件的使用示意圖；
[0047]圖14是第三實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器承置復(fù)數(shù)電子元件的使用示意圖；
[0048]圖15是第三實(shí)施例作業(yè)裝置的承置器無承置電子元件的使用示意圖；
[0049]圖16是本發(fā)明作業(yè)裝置應(yīng)用于作業(yè)設(shè)備的示意圖。
[0050]附圖標(biāo)記說明:[現(xiàn)有技術(shù)]承置器11 ;容置槽111 ;電子元件12;光源發(fā)射件13;光源接收件14 ;[本發(fā)明]作業(yè)裝置20 ;作業(yè)機(jī)構(gòu)21 ;承置器211 ;容置槽2111 ;移料機(jī)構(gòu)22 ;取放器221 ;本體2211 ;容置空間2212 ;拾取件2213 ;彈簧2214 ;吸取部2215 ;抽氣道2216 ;控制部件2217 ;吸盤2218 ;下壓件2219 ;驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222 ;驅(qū)動(dòng)器2221 ;檢知機(jī)構(gòu)23 ；氣室231 ;墊片232 ;真空產(chǎn)生器233 ;真空感測器234 ;管路235 ;資料庫236 ;控制器237 ;作業(yè)機(jī)構(gòu)24 ;承置器241 ;容置槽2411 ;作業(yè)機(jī)構(gòu)25 ;承置器251 ;容置槽2511 ;供料作業(yè)機(jī)構(gòu)261 ;供料承置器2611 ;收料作業(yè)機(jī)構(gòu)262 ;收料承置器2621 ;第一移料機(jī)構(gòu)263 ;第一檢知機(jī)構(gòu)264 ;輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)265 ;第一入料承置器2651 ;第二入料承置器2652 ;第一出料承置器2653 ;第二出料承置器2654 ;測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266 ;測試承置器2661 ;第二移料機(jī)構(gòu)267 ;第三移料機(jī)構(gòu)268 ;第二檢知機(jī)構(gòu)269 ;第三檢知機(jī)構(gòu)270 ;第四移料機(jī)構(gòu)271 ;第四檢知機(jī)構(gòu)272 ;步驟31?43 ;機(jī)臺(tái)50 ；電子元件A。
【具體實(shí)施方式】
[0051]為使貴審查委員對(duì)本發(fā)明作更進(jìn)一步的了解，茲舉一較佳實(shí)施例并配合圖式，詳述如后:
[0052]請(qǐng)參閱圖3，是本發(fā)明作業(yè)裝置20的第一實(shí)施例，包含至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)21、至少一移料機(jī)構(gòu)22及至少一檢知機(jī)構(gòu)23，該作業(yè)機(jī)構(gòu)21設(shè)有至少一承置器211，用以承置電子元件，更進(jìn)一步，該作業(yè)機(jī)構(gòu)21可為供料作業(yè)機(jī)構(gòu)、收料作業(yè)機(jī)構(gòu)、測試作業(yè)機(jī)構(gòu)或輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)，而執(zhí)行供料作業(yè)、收料作業(yè)、測試作業(yè)或輸送作業(yè)，該承置器211可為供料盤、收料盤、測試座或載臺(tái)，并固定于機(jī)臺(tái)(圖未示出)或于機(jī)臺(tái)上作至少一方向位移，于本實(shí)施例中，該作業(yè)機(jī)構(gòu)21是輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)，并設(shè)有至少一為載臺(tái)的承置器211，該承置器211上設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)承置電子元件的容置槽2111，并作第一方向(如X方向)位移而執(zhí)行載送電子元件作業(yè)；該移料機(jī)構(gòu)22設(shè)有至少一取放器221，用以于作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211處取放及移載電子元件，于本實(shí)施例中，該取放器221設(shè)有具至少一容置空間2212的本體2211，并于容置空間2212內(nèi)裝設(shè)一套置彈簧2214的拾取件2213，該拾取件2213的一端設(shè)有為剛性管體的吸取部2215，用以取放及壓測電子元件，并于內(nèi)部設(shè)有連通吸取部2215的抽氣道2216，另該移料機(jī)構(gòu)22設(shè)有驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222，該驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222設(shè)有至少一驅(qū)動(dòng)器2221，用以帶動(dòng)取放器221作至少一方向位移，于本實(shí)施例中，該移料機(jī)構(gòu)22的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第二、三方向(如Y、Z方向)位移；該檢知機(jī)構(gòu)23包含負(fù)壓結(jié)構(gòu)、真空單元及比對(duì)單元，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)是在取放器221的拾取件2213周側(cè)設(shè)有至少一氣室231，氣室231連通取放器221的外部，負(fù)壓結(jié)構(gòu)并設(shè)有至少一可控制氣室231啟閉的控制部件，于本實(shí)施例中，是在拾取件2213的周側(cè)設(shè)有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設(shè)有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設(shè)有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設(shè)有真空產(chǎn)生器233及真空感測器234，該真空產(chǎn)生器233以管路235連通取放器221的抽氣道2216及負(fù)壓結(jié)構(gòu)的氣室231，使抽氣道2216及氣室231形成真空負(fù)壓狀態(tài)，以使取放器221的拾取件2213具有吸力而吸取電子元件，該真空感測器234設(shè)置于真空產(chǎn)生器233與取放器221之間，以感測取放器221內(nèi)的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，該比對(duì)單元設(shè)有資料庫236及控制器237，該資料庫236內(nèi)建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設(shè)定負(fù)壓范圍資料，該控制器237用以接收真空感測器234傳輸?shù)呢?fù)壓值資料，并將負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0053]請(qǐng)參閱圖4，若作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211承置單一且平整擺置的電子元件A位移至移料機(jī)構(gòu)22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對(duì)位于取放器221的拾取件2213時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213剛性的吸取部2215接觸且壓抵電子元件A，電子元件A會(huì)對(duì)拾取件2213產(chǎn)生一反作用力，由于拾取件2213的吸取部2215是剛性材質(zhì)，該吸取部2215于承受反作用力時(shí)，直接帶動(dòng)拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，由于拾取件2213僅承受單一電子元件A的反作用力頂推，并不會(huì)作過當(dāng)?shù)牡谌较蛭灰?，使得拾取?213的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止取放器221內(nèi)的氣室231泄壓，由于氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而可防止破真空，當(dāng)檢知機(jī)構(gòu)23以真空產(chǎn)生器233抽吸該氣室231及抽氣道2216內(nèi)的空氣時(shí)，可令氣室231及抽氣道2216形成真空狀態(tài)，使取放器221以預(yù)設(shè)負(fù)壓值的吸力吸取電子元件A，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0054]請(qǐng)參閱圖5，若作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211承置二個(gè)堆迭的電子元件A位移至移料機(jī)構(gòu)22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對(duì)位于取放器221的拾取件2213時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第三方向向下位移，取放器221以拾取件2213剛性的吸取部2215接觸且壓抵電子元件A，由于二個(gè)迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會(huì)作過當(dāng)壓抵二個(gè)迭置電子元件A，二個(gè)迭置電子元件A即對(duì)拾取件2213產(chǎn)生較大的反作用力，以致拾取件2213作較大的第三方向向上位移，并壓縮彈簧2214，令拾取件2213的控制部件2217脫離墊片232，雖然拾取件2213被電子元件A封閉，但拾取件2213的控制部件2217與墊片232間具有間隙，令氣室231可發(fā)生微量泄壓，當(dāng)真空單元的真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時(shí)，可利用氣室231的微量泄壓，促使取放器221內(nèi)的負(fù)壓值發(fā)生變化，令取放器221的負(fù)壓值低于預(yù)設(shè)負(fù)壓值，并以較低的吸力吸附承置器211上的電子元件A，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0055]請(qǐng)參閱圖6，若作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211無承置電子元件位移至移料機(jī)構(gòu)22的取放器221下方，并令承置器211的容置槽2111對(duì)位于取放器221的拾取件2213時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第三方向向下位移而執(zhí)行取料動(dòng)作，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣，由于承置器211的容置槽2111內(nèi)并無電子元件，以致取放器221的拾取件2213未被封閉而形成破真空狀態(tài)，并不具吸力，該檢知機(jī)構(gòu)23的真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器211是否有異常承置狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0056]再請(qǐng)參閱圖3，然于執(zhí)行檢知作業(yè)前，先執(zhí)行負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序，該負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序是在資料庫236內(nèi)建立復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料，以區(qū)別取放器221的不同吸附狀態(tài)，而供判別承置器211的不同承置情況，于本實(shí)施例中，是在資料庫236設(shè)定有第一種預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)、第二種低于預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)及第三種非負(fù)壓狀態(tài)，其中，第一種預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)，其負(fù)壓值范圍設(shè)定為-90?-80kpa，當(dāng)真空感測器234感測到取放器221的負(fù)壓值為-90?-SOkpa時(shí)，即表示取放器221為正常吸附狀態(tài)，也表示承置器211是承置單一且水平擺置電子元件的正常承置情況(如圖4);第二種低于預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)，其負(fù)壓值范圍設(shè)定為-80?-lOkpa，當(dāng)真空感測器234感測到取放器221的負(fù)壓值為-80?-lOkpa，即表示取放器221為異常吸附狀態(tài)，也表示承置器211是承置傾斜電子元件或復(fù)數(shù)個(gè)電子元件等異常承置情況(如圖5);第三種非負(fù)壓狀態(tài)，其負(fù)壓值范圍設(shè)定為-10?Okpa，當(dāng)真空感測器234感測到取放器221的負(fù)壓值為-10?Okpa，即表示取放器221為異常破真空吸附狀態(tài)，也表示承置器211是無承置電子元件的異常承置情況(如圖6);因此，本發(fā)明可于資料庫236設(shè)定不同負(fù)壓值狀態(tài)，以供對(duì)照取放器221的負(fù)壓值，進(jìn)而比對(duì)出取放器221的吸附狀態(tài)及承置器211的承置情況。
[0057]請(qǐng)參閱圖4、圖7，是本發(fā)明的檢知方法，在執(zhí)行作業(yè)時(shí)，進(jìn)行對(duì)位程序，執(zhí)行步驟31，其移料機(jī)構(gòu)22的取放器221與作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211相對(duì)位，更進(jìn)一步，該移料機(jī)構(gòu)22可驅(qū)動(dòng)取放器221位移至作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211的上方，也或作業(yè)機(jī)構(gòu)21驅(qū)動(dòng)承置器211位移至移料機(jī)構(gòu)22的取放器221下方，于本實(shí)施例中，作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211作第一方向位移至移料機(jī)構(gòu)22的取放器221下方，令承置器211的容置槽2111對(duì)應(yīng)于取放器221的拾取件2213，以供取放器221取料；接著進(jìn)行取料程序，執(zhí)行步驟32，其該移料機(jī)構(gòu)22以取放器221于作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211上執(zhí)行取料，于本實(shí)施例中，移料機(jī)構(gòu)22的取放器221作第三方向向下位移，令取放器221的拾取件2213于承置器211的容置槽2111執(zhí)行取料；接著進(jìn)行抽真空程序，執(zhí)行步驟33，其檢知機(jī)構(gòu)23的真空單元以真空產(chǎn)生器233抽吸該拾取件2213的抽氣道2216及氣室231的空氣；同時(shí)，進(jìn)行檢知比對(duì)程序，執(zhí)行步驟34，其該檢知機(jī)構(gòu)23以真空單元的真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將感測的負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，該比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236內(nèi)建的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以判別該取放器221的吸附狀態(tài)及該承置器211的承置狀態(tài)，該比對(duì)單元的控制器237即可將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236內(nèi)建設(shè)定的復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)；接著執(zhí)行步驟35，比對(duì)單元的控制器237先判斷取放器221的負(fù)壓值是否符合資料庫236內(nèi)建的第一種預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)(-90?_80kpa)，若不符合，則執(zhí)行步驟36，若符合，則執(zhí)行步驟37，因此，當(dāng)控制器237將取放器221的負(fù)壓值(如為-90kpa)與資料庫236內(nèi)建的復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，而判斷符合第一種預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)(-90?-SOkpa)，即表示取放器221以預(yù)設(shè)負(fù)壓值吸附電子元件A，而為正常吸附狀態(tài)，即接著執(zhí)行步驟37，由于取放器221為正常吸附狀態(tài)，控制器237可進(jìn)一步判斷承置器211是承置單一且水平擺置電子元件A的正常承置情況(請(qǐng)配合參閱圖4);接著執(zhí)行步驟38，該移料機(jī)構(gòu)22的取放器222于作業(yè)機(jī)構(gòu)21的承置器211處執(zhí)行取出移載電子元件A的作業(yè)；然，若取放器221的負(fù)壓值(如為-70kpa)不符合資料庫236的第一種預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)，執(zhí)行步驟36，控制器237判斷取放器221的負(fù)壓值(如為_70kpa)是否符合第二種低于預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)(-80?-1Okpa)，若不符合，則執(zhí)行步驟39，若符合，則執(zhí)行步驟40，因此，當(dāng)控制器237依據(jù)資料庫236內(nèi)建的復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料，而判斷取放器221的負(fù)壓值(如為_70kpa)符合第二種低于預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)(-80?-1Okpa)，即表示取放器221的負(fù)壓值低于預(yù)設(shè)負(fù)壓值，以較低的吸力吸附電子元件A，而為異常吸附狀態(tài)，即執(zhí)行步驟40，由于取放器221為異常吸附狀態(tài)，控制器237可進(jìn)一步判斷承置器211是承置復(fù)數(shù)個(gè)電子元件A或傾斜電子元件A等異常承置情況(請(qǐng)配合參閱圖5);接著執(zhí)行步驟41，檢知機(jī)構(gòu)23的比對(duì)單元發(fā)出警告訊息，以通知工作人員即時(shí)排除異常；再者，若取放器221的負(fù)壓值(如為Okpa)不符合資料庫236的第二種低于預(yù)設(shè)負(fù)壓狀態(tài)，執(zhí)行步驟39 (請(qǐng)配合參閱圖6)，控制器237判斷取放器221的負(fù)壓值(如為Okpa)符合第三種非負(fù)壓狀態(tài)，即表示取放器221并無吸附電子元件A，而為異常破真空，接著執(zhí)行步驟42，由于取放器221為異常破真空，控制器237依據(jù)資料庫236內(nèi)建的復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料，進(jìn)一步判斷承置器211是無承置電子元件A的異常承置情況；接著執(zhí)行步驟43，檢知機(jī)構(gòu)23的比對(duì)單元發(fā)出警告訊息，以通知工作人員即時(shí)排除異常。
[0058]請(qǐng)參閱圖8，本發(fā)明作業(yè)裝置20的第二實(shí)施例，包含至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)24、至少一移料機(jī)構(gòu)22及至少一檢知機(jī)構(gòu)23，于本實(shí)施例中，該作業(yè)機(jī)構(gòu)24是供料作業(yè)機(jī)構(gòu)，其承置器241是供料盤，用以容置復(fù)數(shù)個(gè)待作業(yè)的電子元件；該移料機(jī)構(gòu)22另于取放器221的拾取件2213套置彈簧2214，并于剛性的吸取部2215處裝設(shè)有相通且為軟質(zhì)的吸盤2218，用以接觸電子元件；該檢知機(jī)構(gòu)23包含負(fù)壓結(jié)構(gòu)、真空單元及比對(duì)單元，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)是在拾取件2213的周側(cè)設(shè)有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設(shè)有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設(shè)有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設(shè)有真空產(chǎn)生器233及真空感測器234，該真空產(chǎn)生器233以管路235連通拾取件2213的抽氣道2216及負(fù)壓結(jié)構(gòu)的氣室231，使抽氣道2216及氣室231形成真空負(fù)壓狀態(tài)，以供取放器221的拾取件2213吸取待作業(yè)的電子元件，該真空感測器234設(shè)置于真空產(chǎn)生器233與取放器221之間，以感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓資料傳輸至比對(duì)單元，該比對(duì)單元設(shè)有資料庫236及控制器237，該資料庫236內(nèi)建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設(shè)定負(fù)壓范圍資料，該控制器237于接收到的負(fù)壓資料后，即與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器211是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0059]請(qǐng)參閱圖9，若作業(yè)機(jī)構(gòu)24的承置器241承置單一且平整擺置的電子元件A時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，電子元件A會(huì)對(duì)吸盤2218產(chǎn)生一反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，由于取放器221的拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止拾取件2213周側(cè)的氣室231泄壓，令氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而防止破真空，進(jìn)而檢知機(jī)構(gòu)23以真空產(chǎn)生器233抽吸該氣室231及抽氣道2216內(nèi)的空氣，使取放器221的拾取件2213以預(yù)設(shè)負(fù)壓值的吸力吸取電子元件A，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0060]請(qǐng)參閱圖10，若作業(yè)機(jī)構(gòu)24的承置器241承置二個(gè)迭置的電子元件A時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，由于二個(gè)迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會(huì)過當(dāng)壓抵二個(gè)迭置電子元件A，二個(gè)迭置電子元件A即會(huì)對(duì)拾取件2213及吸盤2218產(chǎn)生較大的反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，并頂推帶動(dòng)拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脫離墊片232，于檢知機(jī)構(gòu)23的真空單元以真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時(shí)，該控制部件2217與墊片232間之間隙，即會(huì)令拾取件2213周側(cè)的氣室231發(fā)生微量泄壓，并可利用此一微量泄壓而促使改變?nèi)》牌?21的負(fù)壓值，使取放器221的負(fù)壓值低于預(yù)設(shè)負(fù)壓值，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0061]請(qǐng)參閱圖11，若作業(yè)機(jī)構(gòu)24的承置器241無承置電子元件時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，而以拾取件2213執(zhí)行取料動(dòng)作，由于承置器241的容置槽2411內(nèi)并無承置電子元件，而未封閉該取放器221的吸盤2218，當(dāng)檢知機(jī)構(gòu)23的真空單元以真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時(shí)，取放器221的拾取件2213即形成破真空狀態(tài)，而不具吸力，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器241是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0062]請(qǐng)參閱圖12，本發(fā)明作業(yè)裝置20的第三實(shí)施例，包含至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)25、至少一移料機(jī)構(gòu)22及至少一檢知機(jī)構(gòu)23，于本實(shí)施例中，該作業(yè)機(jī)構(gòu)25是測試作業(yè)機(jī)構(gòu)，其承置器251是測試座，用以容置待測試的電子元件；該移料機(jī)構(gòu)22另于取放器221的拾取件2213套置彈簧2214，并于剛性的吸取部2215處裝設(shè)有相通且為軟質(zhì)的吸盤2218，用以接觸電子元件，并于拾取件2213的剛性吸取部2215外側(cè)設(shè)有至少一剛性的下壓件，該下壓件可與拾取件2213 —體成型，或?yàn)橐华?dú)立元件裝配于拾取件2213，于本實(shí)施例中，是在拾取件2213的底部一體成型有下壓件2219，用以壓抵電子元件執(zhí)行測試作業(yè)，以及防止取放器221于移載電子元件時(shí)發(fā)生偏斜，使取放器221平穩(wěn)移載電子元件；該檢知機(jī)構(gòu)23包含負(fù)壓結(jié)構(gòu)、真空單元及比對(duì)單元，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)是在拾取件2213的周側(cè)設(shè)有氣室231，并于拾取件2213的外環(huán)面凸設(shè)有控制部件2217，以控制氣室231啟閉，控制部件2217下方與本體2211間則設(shè)有墊片232，該拾取件2213以本身重量壓抵于墊片232上，而防止氣室231破真空，該真空單元設(shè)有真空產(chǎn)生器233及真空感測器234，該真空產(chǎn)生器233以管路235連通取放器221的抽氣道2216及負(fù)壓結(jié)構(gòu)的氣室231，用以抽氣，使抽氣道2216及氣室231形成真空負(fù)壓狀態(tài)，以供取放器221的拾取件2213吸取待作業(yè)的電子元件，該真空感測器234設(shè)置于真空產(chǎn)生器233與取放器221之間，以感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓資料傳輸至比對(duì)單元，該比對(duì)單元設(shè)有資料庫236及控制器237，該資料庫236內(nèi)建有取放器221不同吸附狀態(tài)的設(shè)定負(fù)壓范圍資料，該控制器237于接收到的負(fù)壓資料后，將感測的負(fù)壓資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0063]請(qǐng)參閱圖13，當(dāng)作業(yè)機(jī)構(gòu)25的承置器251承置單一且平整擺置的電子元件A時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸且壓抵電子元件A，并以下壓件2219壓抵電子元件A，電子元件A會(huì)對(duì)拾取件2213的吸盤2218產(chǎn)生一反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，由于拾取件2213并未作第三方向位移，使得拾取件2213上的控制部件2217仍保持壓抵于墊片232上，以防止拾取件2213周側(cè)的氣室231泄壓，令氣室231及拾取件2213的抽氣道2216均保持封閉而防止破真空，進(jìn)而檢知機(jī)構(gòu)23以真空產(chǎn)生器233抽吸該氣室231及拾取件2213的抽氣道2216內(nèi)的空氣，使取放器221以預(yù)設(shè)負(fù)壓值的吸力吸取電子元件A，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0064]請(qǐng)參閱圖14，若作業(yè)機(jī)構(gòu)25的承置器251承置二個(gè)迭置的電子元件A時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，令取放器221的吸盤2218接觸電子元件A，并以下壓件2219壓抵電子元件A，由于二個(gè)迭置電子元件A的高度較高，以致取放器221的拾取件2213會(huì)過當(dāng)壓抵二個(gè)迭置電子元件A，二個(gè)迭置電子元件A即會(huì)對(duì)拾取件2213及吸盤2218產(chǎn)生較大的反作用力，而頂壓吸盤2218扁平變形，并頂推帶動(dòng)拾取件2213作第三方向向上位移，且壓縮彈簧2214，使得拾取件2213上的控制部件2217脫離墊片232，于檢知機(jī)構(gòu)23以真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時(shí)，該控制部件2217與墊片232間之間隙，即會(huì)令拾取件2213周側(cè)的氣室231發(fā)生微量泄壓，并可利用此一微量泄壓狀態(tài)而促使改變?nèi)》牌?21的負(fù)壓值，使取放器221的負(fù)壓值低于預(yù)設(shè)負(fù)壓值，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0065]請(qǐng)參閱圖15，若作業(yè)機(jī)構(gòu)25的承置器251無承置電子元件時(shí)，該移料機(jī)構(gòu)22以驅(qū)動(dòng)結(jié)構(gòu)222的驅(qū)動(dòng)器2221帶動(dòng)取放器221作第一、二、三方向向下位移，由于承置器251的容置槽2511內(nèi)并無承置電子元件，而未封閉該取放器221的吸盤2218，于檢知機(jī)構(gòu)23的真空產(chǎn)生器233抽吸取放器221的抽氣道2216及氣室231的空氣時(shí)，取放器221的拾取件2213即形成破真空狀態(tài)，而不具吸力，同時(shí)，該檢知機(jī)構(gòu)23以真空感測器234感測取放器221的負(fù)壓值，并將負(fù)壓值資料傳輸至比對(duì)單元，比對(duì)單元的控制器237將感測的負(fù)壓值資料與資料庫236的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以分析出取放器221目前的吸附狀態(tài)，而進(jìn)一步檢知出承置器251是否有異常承置的狀態(tài)，以便立即排除異常。
[0066]請(qǐng)參閱圖16，本發(fā)明作業(yè)裝置20可應(yīng)用于測試作業(yè)設(shè)備，該測試作業(yè)設(shè)備包含機(jī)臺(tái)50、作業(yè)裝置20及中央控制裝置(圖未示出)，于本實(shí)施例中，該作業(yè)裝置20裝配于機(jī)臺(tái)50，并設(shè)有供料作業(yè)機(jī)構(gòu)261、收料作業(yè)機(jī)構(gòu)262、第一移料機(jī)構(gòu)263、第一檢知機(jī)構(gòu)264、輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)265、測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266、第二移料機(jī)構(gòu)267、第三移料機(jī)構(gòu)268、第二檢知機(jī)構(gòu)269、第三檢知機(jī)構(gòu)270、第四移料機(jī)構(gòu)271及第四檢知機(jī)構(gòu)272 ;該供料作業(yè)機(jī)構(gòu)261設(shè)有至少一為料盤的供料承置器2611，用以容納至少一待測的電子元件；該收料作業(yè)機(jī)構(gòu)262設(shè)有至少一為料盤的收料承置器2621，用以容納至少一已測的電子元件；該第一移料機(jī)構(gòu)263是在供料作業(yè)機(jī)構(gòu)261的供料承置器2611處取出待測的電子元件，該第一檢知機(jī)構(gòu)264相同上述檢知機(jī)構(gòu)23，用以檢知供料承置器2611是否異常承置電子元件，第一移料機(jī)構(gòu)263將待測電子元件分別輸送至輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)265可為載臺(tái)的第一入料承置器2651或第二入料承置器2652，第一入料承置器2651或第二入料承置器2652分別將待測電子元件載送至測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266側(cè)方，以供第二移料機(jī)構(gòu)267及第三移料機(jī)構(gòu)268取出待測的電子元件，并載送至測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266可為測試座的測試承置器2661而執(zhí)行測試作業(yè)，另該輸送作業(yè)機(jī)構(gòu)265設(shè)有可為載臺(tái)的第一出料承置器2653及第二出料承置器2654，可位移至測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266的側(cè)方，以分別承載第二移料機(jī)構(gòu)267及第三移料機(jī)構(gòu)268置入的已測電子元件，并載出測試作業(yè)機(jī)構(gòu)266，該第二檢知機(jī)構(gòu)269及第三檢知機(jī)構(gòu)270相同上述檢知機(jī)構(gòu)23，用以檢知第一、二入料承置器2651、2652及測試承置器2661及第一、二出料承置器2653、2654是否異常承置電子元件，該第四移料機(jī)構(gòu)271是在第一出料承置器2653或第二出料承置器2654上取出已測電子元件，并依據(jù)測試結(jié)果，將已測電子元件輸送至該收料作業(yè)機(jī)構(gòu)262的收料承置器2621分類放置，第四檢知機(jī)構(gòu)272相同上述檢知機(jī)構(gòu)23，用以檢知第一、二出料承置器2653、2654及收料承置器2621，該中央控制裝置用以控制及整合各裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)，達(dá)到提升作業(yè)效能的實(shí)用效益。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，包含: 作業(yè)機(jī)構(gòu):設(shè)有至少一承置器，用以承置電子元件； 移料機(jī)構(gòu):設(shè)有至少一取放器，該取放器設(shè)有作至少一方向位移的拾取件，該拾取件設(shè)有至少一連通外部的抽氣道，并設(shè)有至少一連通該抽氣道的吸取部，用以取放移載該電子元件； 檢知機(jī)構(gòu):設(shè)有負(fù)壓結(jié)構(gòu)、真空單元及比對(duì)單元，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)是在該移料機(jī)構(gòu)的拾取件周側(cè)設(shè)有至少一相通至該取放器外部的氣室，該負(fù)壓結(jié)構(gòu)并設(shè)有至少一控制該氣室啟閉的控制部件，該真空單元設(shè)有真空產(chǎn)生器及真空感測器，該真空產(chǎn)生器連通該抽氣道及該氣室，該真空感測器設(shè)置于該真空產(chǎn)生器與該取放器之間，以感測該取放器的負(fù)壓值，并將感測的負(fù)壓資料傳輸至該比對(duì)單元，該比對(duì)單元設(shè)有資料庫及控制器，該資料庫內(nèi)建有設(shè)定負(fù)壓范圍資料，該控制器將感測的負(fù)壓資料與該資料庫的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，該移料機(jī)構(gòu)的取放器設(shè)有具有容置空間的本體，并在該容置空間內(nèi)裝設(shè)有該拾取件。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，該取放器的拾取件在該吸取部裝配有吸盤。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，該取放器的拾取件在該吸取部的外側(cè)設(shè)有至少一下壓件。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，該檢知機(jī)構(gòu)的負(fù)壓結(jié)構(gòu)在該控制部件與該本體之間設(shè)有墊片。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)，其特征在于，該檢知機(jī)構(gòu)的負(fù)壓結(jié)構(gòu)在該移料機(jī)構(gòu)的拾取件外環(huán)面設(shè)有控制部件。7.一種電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，包含: 對(duì)位程序:該移料機(jī)構(gòu)的取放器與該作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器相對(duì)位，以供取料； 取料程序:該移料機(jī)構(gòu)的取放器于該作業(yè)機(jī)構(gòu)的承置器上執(zhí)行取料作業(yè)； 抽真空程序:該檢知機(jī)構(gòu)的真空單元的真空產(chǎn)生器抽吸該拾取件的抽氣道及該氣室的空氣； 檢知比對(duì)程序:該檢知機(jī)構(gòu)的真空單元的真空感測器檢知該取放器的負(fù)壓值，并將感測的負(fù)壓值資料傳輸至該比對(duì)單元，該比對(duì)單元的控制器將感測的負(fù)壓值資料與該資料庫內(nèi)建的設(shè)定負(fù)壓范圍資料進(jìn)行比對(duì)，以判別該取放器的吸附狀態(tài)及該承置器的承置狀態(tài)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，在執(zhí)行該對(duì)位程序前，執(zhí)行負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序，該負(fù)壓狀態(tài)設(shè)定程序是在該資料庫內(nèi)建立復(fù)數(shù)種不同負(fù)壓范圍資料。9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電子元件作業(yè)裝置的檢知方法，其特征在于，該檢知比對(duì)程序判別出該承置器有異承承置狀態(tài)后，發(fā)出警示訊息，以通知進(jìn)行排除異常。10.一種應(yīng)用電子元件作業(yè)裝置的作業(yè)設(shè)備，其特征在于，包含: 機(jī)臺(tái)； 至少一如權(quán)利要求1所述的電子元件作業(yè)裝置的氣壓式檢知機(jī)構(gòu)配置于該機(jī)臺(tái)，并設(shè)有至少一作業(yè)機(jī)構(gòu)及至少一移料機(jī)構(gòu)及至少一檢知機(jī)構(gòu)，用以對(duì)電子元件執(zhí)行預(yù)設(shè)作業(yè)及檢知作業(yè)；中央控制裝置是用以控制及整合各裝置作動(dòng)，以執(zhí)行自動(dòng)化作業(yè)。
【文檔編號(hào)】B65G47/91GK105984723SQ201510099829
【公開日】2016年10月5日
【申請(qǐng)日】2015年3月6日
【發(fā)明人】謝旼達(dá), 蔡志欣
【申請(qǐng)人】鴻勁科技股份有限公司