本申請(qǐng)涉及晶圓清洗領(lǐng)域,特別是涉及晶圓清洗裝置。
背景技術(shù):
1、現(xiàn)有的晶圓清洗設(shè)備包括單片spm(硫酸和雙氧水的混合溶液)清洗設(shè)備和槽式spm清洗設(shè)備。單片spm清洗設(shè)備由于硫酸和雙氧水混合稀釋后再次回收使用不能滿足大部分工藝,耗硫酸量會(huì)遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于槽式設(shè)備,單片spm清洗設(shè)備對(duì)spm消耗量大,槽式spm清洗設(shè)備對(duì)spm消耗量少。在去顆粒方面,槽式spm清洗設(shè)備相比單片spm清洗設(shè)備差,且小顆粒新增較多。通常而言,槽式spm清洗設(shè)備適用于去除60nm以上顆粒的需求,單片spm清洗設(shè)備適用去除40nm以下顆粒的需求。
2、槽式與單片清洗相結(jié)合的清洗設(shè)備,在確保40nm以下顆粒去除能力的同時(shí),相比單片spm清洗設(shè)備更能節(jié)省spm溶液。但是隨著工藝需求推進(jìn)到去除26nm以下顆粒時(shí),目前的槽式或槽式與單片spm清洗設(shè)備已經(jīng)無(wú)法更進(jìn)一步的節(jié)省spm溶液。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種晶圓清洗裝置,能進(jìn)一步節(jié)省硫酸。
2、根據(jù)本申請(qǐng)實(shí)施例提供的晶圓清洗裝置,包括:
3、第一清洗槽,用于存儲(chǔ)spm溶液,且用于對(duì)晶圓進(jìn)行第一次清洗;
4、第二清洗槽,用于存儲(chǔ)spm溶液,且用于對(duì)晶圓進(jìn)行第二次清洗;
5、存儲(chǔ)槽,用于存儲(chǔ)所述第二清洗槽對(duì)晶圓進(jìn)行第二次清洗之后第二清洗槽排放的spm溶液;
6、第一加熱器,用于對(duì)所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液加熱至預(yù)設(shè)溫度區(qū)間;
7、控制器,用于在所述第一清洗槽進(jìn)行spm溶液置換的情況下,控制所述存儲(chǔ)槽將經(jīng)過(guò)所述第一加熱器加熱至所述預(yù)設(shè)溫度區(qū)間的spm溶液輸送至所述第一清洗槽中。
8、在其中的一些實(shí)施例中,所述晶圓清洗裝置還包括濃度檢測(cè)器,用于在所述第一清洗槽進(jìn)行spm溶液置換的情況下,檢測(cè)所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度且發(fā)送至所述控制器;所述控制器用于將所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度與一預(yù)設(shè)濃度進(jìn)行比較,并在所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度不小于所述預(yù)設(shè)濃度的情況下,控制所述存儲(chǔ)槽將經(jīng)過(guò)所述第一加熱器加熱至所述預(yù)設(shè)溫度區(qū)間的spm溶液輸送至所述第一清洗槽中。
9、在其中的一些實(shí)施例中,所述控制器在檢測(cè)到所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度小于所述預(yù)設(shè)濃度的情況下,控制所述存儲(chǔ)槽將存儲(chǔ)槽中的spm溶液排放掉。
10、在其中的一些實(shí)施例中,所述晶圓清洗裝置還包括第一連通管路,所述第一清洗槽包括第一內(nèi)槽和第一外槽,所述第一內(nèi)槽用于存儲(chǔ)spm溶液,所述第一外槽用于存儲(chǔ)所述第一內(nèi)槽中溢出的spm溶液;其中,所述第一連通管路連通所述第一內(nèi)槽和所述第一外槽。
11、在其中的一些實(shí)施例中,所述第一連通管路上設(shè)置有第一緩沖槽和第二加熱器,所述第一緩沖槽與所述第一外槽連通,所述第一緩沖槽還與所述第一內(nèi)槽連通,在所述第一緩沖槽與所述第一內(nèi)槽之間的第一連通管路上設(shè)置所述第二加熱器。
12、在其中的一些實(shí)施例中,在所述第一連通管路上還設(shè)置有第一過(guò)濾器,所述第一過(guò)濾器設(shè)置在所述第一緩沖槽和所述第二加熱器之間。
13、在其中的一些實(shí)施例中,所述晶圓清洗裝置還包括第二連通管路,所述第二清洗槽包括第二內(nèi)槽和第二外槽,所述第二內(nèi)槽用于存儲(chǔ)spm溶液,所述第二外槽用于存儲(chǔ)從所述第二內(nèi)槽中溢出的spm溶液;其中,所述第二連通管路連通所述第二內(nèi)槽和所述第二外槽。
14、在其中的一些實(shí)施例中,所述第二連通管路上設(shè)置有第二緩沖槽和第三加熱器,所述第二緩沖槽與所述第二外槽連通,所述第二緩沖槽還與所述第二內(nèi)槽連通,在所述第二緩沖槽與所述第二內(nèi)槽之間的第二連通管路上設(shè)置所述第三加熱器。
15、在其中的一些實(shí)施例中,在所述第二連通管路上還設(shè)置有第二過(guò)濾器,所述第二過(guò)濾器設(shè)置在所述第二緩沖槽和所述第三加熱器之間。
16、在其中的一些實(shí)施例中,進(jìn)一步包括至少一個(gè)過(guò)濾器,設(shè)置在所述第一加熱器與所述存儲(chǔ)槽之間。
17、綜上所述,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的晶圓清洗裝置通過(guò)采用存儲(chǔ)槽對(duì)第二清洗槽排放的spm溶液進(jìn)行存儲(chǔ),以及在第一清洗槽進(jìn)行spm溶液置換的情況下,通過(guò)控制器控制存儲(chǔ)槽將經(jīng)過(guò)第一加熱器加熱至預(yù)設(shè)溫度區(qū)間的spm溶液輸送至第一清洗槽中的方式,解決了槽式或槽式與單片spm清洗設(shè)備已經(jīng)無(wú)法更進(jìn)一步的節(jié)省spm溶液的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)了spm溶液的再次利用,進(jìn)一步的節(jié)省了spm溶液。
18、本申請(qǐng)的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施例的細(xì)節(jié)在以下附圖和描述中提出,以使本申請(qǐng)的其他特征、目的和優(yōu)點(diǎn)更加簡(jiǎn)明易懂。
1.一種晶圓清洗裝置,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述晶圓清洗裝置還包括濃度檢測(cè)器,用于在所述第一清洗槽進(jìn)行spm溶液置換的情況下,檢測(cè)所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度且發(fā)送至所述控制器;所述控制器用于將所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度與一預(yù)設(shè)濃度進(jìn)行比較,并在所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度不小于所述預(yù)設(shè)濃度的情況下,控制所述存儲(chǔ)槽將經(jīng)過(guò)所述第一加熱器加熱至所述預(yù)設(shè)溫度區(qū)間的spm溶液輸送至所述第一清洗槽中。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述控制器在檢測(cè)到所述存儲(chǔ)槽中的spm溶液濃度小于所述預(yù)設(shè)濃度的情況下,控制所述存儲(chǔ)槽將存儲(chǔ)槽中的spm溶液排放掉。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述晶圓清洗裝置還包括第一連通管路,所述第一清洗槽包括第一內(nèi)槽和第一外槽,所述第一內(nèi)槽用于存儲(chǔ)spm溶液,所述第一外槽用于存儲(chǔ)所述第一內(nèi)槽中溢出的spm溶液;其中,所述第一連通管路連通所述第一內(nèi)槽和所述第一外槽。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述第一連通管路上設(shè)置有第一緩沖槽和第二加熱器,所述第一緩沖槽與所述第一外槽連通,所述第一緩沖槽還與所述第一內(nèi)槽連通,在所述第一緩沖槽與所述第一內(nèi)槽之間的第一連通管路上設(shè)置所述第二加熱器。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述第一連通管路上還設(shè)置有第一過(guò)濾器,所述第一過(guò)濾器設(shè)置在所述第一緩沖槽和所述第二加熱器之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述晶圓清洗裝置還包括第二連通管路,所述第二清洗槽包括第二內(nèi)槽和第二外槽,所述第二內(nèi)槽用于存儲(chǔ)spm溶液,所述第二外槽用于存儲(chǔ)所述第二內(nèi)槽中溢出的spm溶液;其中,所述第二連通管路連通所述第二內(nèi)槽和所述第二外槽。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述第二連通管路上設(shè)置有第二緩沖槽和第三加熱器,所述第二緩沖槽與所述第二外槽連通,所述第二緩沖槽還與所述第二內(nèi)槽連通,在所述第二緩沖槽與所述第二內(nèi)槽之間的第二連通管路上設(shè)置所述第三加熱器。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,所述第二連通管路上還設(shè)置有第二過(guò)濾器,所述第二過(guò)濾器設(shè)置在所述第二緩沖槽和所述第三加熱器之間。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓清洗裝置,其特征在于,進(jìn)一步包括至少一個(gè)過(guò)濾器,設(shè)置在所述第一加熱器與所述存儲(chǔ)槽之間。