專利名稱：智能型測試機(jī)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試機(jī)，特別是涉及一種可記錄測試樣本的測試結(jié)果的智能型測試機(jī)。
參照

圖1，其所示為已知TCP測試機(jī)的示意圖。帶狀傳輸包裝(TapeCarrier Package，以下簡稱TCP)測試機(jī)，包括第一轉(zhuǎn)盤10、第二轉(zhuǎn)盤20、測試裝置30、打孔器頭40以及傳輸帶50。
在已知的TCP測試機(jī)上，將尚未測試的晶片樣本以焊接或者黏著的技術(shù)固定于傳輸帶50上，并將傳輸帶50卷曲置于第一轉(zhuǎn)盤10上，而傳輸帶50則沿著一定的路線經(jīng)過測試裝置30，最后回到第二轉(zhuǎn)盤20，完成整個(gè)測試的動(dòng)作。
參照圖2，其所示為傳輸帶上的晶片樣本的位置圖。傳輸帶50上，每個(gè)晶片樣本52置于傳輸帶50上，當(dāng)傳輸帶50上的晶片樣本52到達(dá)測試裝置30時(shí)，晶片樣本52開始接受測試機(jī)的測試，當(dāng)測試不通過時(shí)，該不通過的晶片樣本52通過傳輸帶50送至打孔器頭40時(shí)會(huì)被直接打掉，亦即此不通過的晶片樣本52系為損壞或者不正常的晶片，當(dāng)測試通過時(shí)，該通過的晶片樣本52通過傳輸帶50可以通過打孔器頭40而不會(huì)被打掉，并送至第二轉(zhuǎn)盤20，所以到達(dá)第二轉(zhuǎn)盤20的晶片樣本52即是正?？捎玫木?。
然而，當(dāng)測試機(jī)受到環(huán)境的影響，或者操作上的問題，會(huì)導(dǎo)致測試機(jī)的誤判，而測試機(jī)的誤判，極有可能將許多正常的晶片樣本52直接由打孔器頭40打掉，造成正常晶片樣本無故損失。
因此，本發(fā)明的目的在于提供一種智能型測試機(jī)，將測試機(jī)連接至探測記錄器，用以記錄每一個(gè)晶片樣本的測試結(jié)果。
本發(fā)明的目的還在于提供一種智能型測試機(jī)，其可記錄所有晶片樣本的測試結(jié)果，測試工程師可根據(jù)這些測試結(jié)果，對晶片樣本進(jìn)行再次測試，用以降低由于測試機(jī)誤判所造成的損失。
因此，根據(jù)本發(fā)明提出一種智能型測試機(jī)，其中包括一帶狀傳輸包裝測試機(jī)，用以測試復(fù)數(shù)個(gè)晶片樣本；一硬件接口，該硬件接口耦接于所述帶狀傳輸包裝測試機(jī)，通過所述帶狀傳輸包裝測試機(jī)測試晶片樣本，并獲得相對應(yīng)于所述各個(gè)晶片樣本的復(fù)數(shù)個(gè)測試結(jié)果，通過所述硬件接口送出這些測試結(jié)果；以及一探測記錄器，該探測記錄器耦接于所述硬件接口，用以接收并記錄所述測試結(jié)果。
如上所述的智能型測試機(jī)，其中所述的每個(gè)測試結(jié)果為通過/不通過信號或?yàn)槎鄠€(gè)不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)；所述的探測記錄器為一電腦裝置或?yàn)橐挥?jì)數(shù)器電路。
另外，根據(jù)本發(fā)明還提出一種智能型測試機(jī)，其中包括一帶狀傳輸包裝測試機(jī)，該帶狀傳輸包裝測試機(jī)內(nèi)包括一硬件接口，通過該帶狀傳輸包裝測試機(jī)測試晶片樣本，并獲得相對應(yīng)于各個(gè)晶片樣本的復(fù)數(shù)個(gè)測試結(jié)果，通過所述硬件接口送出這些測試結(jié)果；以及一探測記錄器，該探測記錄器耦接于所述硬件接口，用以接收并記錄所述測試結(jié)果。
如上所述的智能型測試機(jī)，其中所述的每個(gè)測試結(jié)果為通過/不通過信號或?yàn)槎鄠€(gè)不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)；所述的探測記錄器為一電腦裝置或?yàn)橐挥?jì)數(shù)器電路。
根據(jù)以上所述，測試工程師可以根據(jù)探測記錄器上的編號來對應(yīng)每個(gè)晶片樣本，并根據(jù)測試不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)，對晶片樣本進(jìn)行再次的測試，從而達(dá)到降低由于測試機(jī)誤判所造成的損失，實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的最主要目的。
為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的描述。
圖1為已知TCP測試機(jī)的示意圖；圖2為傳輸帶上的晶片樣本位置圖；圖3為本發(fā)明智能型測試機(jī)的示意圖。
參照圖3，其所示為本發(fā)明智能型測試機(jī)的示意圖。與已知測試機(jī)的最大的差別在于本發(fā)明的測試機(jī)利用硬件接口60連接至探測記錄器70，該探測記錄器70可以是電腦裝置或者計(jì)數(shù)器電路，當(dāng)尚未測試的晶片樣本52以焊接或者黏著的技術(shù)固定于傳輸帶150上后，并將傳輸帶150卷曲置于第一轉(zhuǎn)盤110上，而傳輸帶150則沿著一定的路線通過測試裝置130，最后回到第二轉(zhuǎn)盤120，完成整個(gè)測試動(dòng)作。
而每個(gè)晶片樣本置于傳輸帶150上，當(dāng)傳輸帶150上的第一個(gè)晶片樣本到達(dá)測試裝置130時(shí)，晶片樣本開始接受測試機(jī)130的測試，當(dāng)測試不通過時(shí)，該不通過的晶片樣本52通過傳輸帶150送至打孔器頭140時(shí)會(huì)被直接打掉，而不管測試結(jié)果為通過或者不通過時(shí)，通過硬件接口60，探測記錄器70賦予第一個(gè)晶片樣本一個(gè)編號，并依照此編號來記錄第一個(gè)晶片樣本的狀態(tài)，例如通過/不通過訊號，以及不通過時(shí)的所有不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。依此類推，每一個(gè)晶片樣本都在探測記錄器70上留下樣本晶片的編號以及測試結(jié)果，并且測試工程師可以根據(jù)探測記錄器70上的編號來對應(yīng)每個(gè)晶片樣本，并根據(jù)測試不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)，對晶片樣本進(jìn)行再次的測試，達(dá)到降低由于測試機(jī)誤判所造成的損失。
所以，當(dāng)測試機(jī)受到環(huán)境的影響或者操作上的問題而導(dǎo)致測試機(jī)誤判時(shí)，測試工程師可以根據(jù)探測記錄器70上的數(shù)據(jù)來判斷是否是測試機(jī)的誤判，并找出影響誤判的因素，并將晶片樣本做再一次的測試，以減少正常晶片樣本的無故損失。
因此，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于提出一種智能型測試機(jī)，其中將測試機(jī)連接至探測記錄器，用以記錄每一個(gè)晶片樣本的測試結(jié)果。
本發(fā)明所提出的智能型測試機(jī)，由于可記錄所有晶片樣本的測試結(jié)果，測試工程師可根據(jù)測試結(jié)果，對晶片樣本進(jìn)行再次的測試，用以降低由于測試機(jī)誤判所造成的損失。
綜上所述，雖然本發(fā)明已通過最佳實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)的描述，然而其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的任何熟練人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，可對其作出各種的修改與變形，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以本發(fā)明權(quán)利要求書所界定的范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種智能型測試機(jī)，其特征在于所述智能型測試機(jī)包括一帶狀傳輸包裝測試機(jī)，用以測試復(fù)數(shù)個(gè)晶片樣本；一硬件接口，該硬件接口耦接于所述帶狀傳輸包裝測試機(jī)，通過所述帶狀傳輸包裝測試機(jī)測試晶片樣本，并獲得相對應(yīng)于所述各個(gè)晶片樣本的復(fù)數(shù)個(gè)測試結(jié)果，通過所述硬件接口送出這些測試結(jié)果；以及一個(gè)探測記錄器，該探測記錄器耦接于所述硬件接口，用以接收并記錄所述測試結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述每一測試結(jié)果為一通過/不通過訊號。
3.如權(quán)利要求1所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述每一測試結(jié)果為復(fù)數(shù)個(gè)不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。
4.如權(quán)利要求1所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述探測記錄器為一電腦裝置。
5.如權(quán)利要求1所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述探測記錄器為一計(jì)數(shù)器電路。
6.一種智能型測試機(jī)，其特征在于該智能型測試機(jī)包括一帶狀傳輸包裝測試機(jī)，該帶狀傳輸包裝測試機(jī)內(nèi)包括一硬件接口，通過該帶狀傳輸包裝測試機(jī)測試晶片樣本，并獲得相對應(yīng)于各個(gè)晶片樣本的復(fù)數(shù)個(gè)測試結(jié)果，通過所述硬件接口送出這些測試結(jié)果；以及一探測記錄器，該探測記錄器耦接于所述硬件接口，用以接收并記錄所述測試結(jié)果。
7.如權(quán)利要求6所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述每一測試結(jié)果為一通過/不通過訊號。
8.如權(quán)利要求6所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述每一測試結(jié)果為復(fù)數(shù)個(gè)不通過項(xiàng)目的數(shù)據(jù)。
9.如權(quán)利要求6所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述探測記錄器為一電腦裝置。
10.如權(quán)利要求6所述的智能型測試機(jī)，其特征在于所述探測記錄器為一計(jì)數(shù)器電路。
全文摘要
一種智能型測試機(jī),將測試機(jī)連接至探測記錄器,用以記錄每一個(gè)晶片樣本的測試結(jié)果,本發(fā)明的智能型測試機(jī)由于可記錄所有晶片樣本的測試結(jié)果,在環(huán)境改變或者其它因素使得測試機(jī)的測試結(jié)果呈現(xiàn)不通過時(shí),測試工程師可根據(jù)測試結(jié)果,對晶片樣本進(jìn)行再次的測試,用以降低由于測試機(jī)誤判所造成的損失。
文檔編號H01L21/66GK1379456SQ0111029
公開日2002年11月13日 申請日期2001年4月6日 優(yōu)先權(quán)日2001年4月6日
發(fā)明者江宏澤 申請人:華邦電子股份有限公司