專利名稱：：平均伺服控制方法、系統(tǒng)以及目標電平測定方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明是有關(guān)于光驅(qū)，尤其是有關(guān)于平均伺服控制(averageservocontrol)方法和平均伺服控制系統(tǒng)，以及光驅(qū)的目標電平測定(targetleveldetermination)方法。
背景技術(shù)：
：圖1是為現(xiàn)有的光驅(qū)中的平均伺服回路。光驅(qū)中通常包含機械模塊110，增益下降模塊(gaindownstage)120，以及后處理模塊(postprocessingstage)130。機械模塊110—般包含讀寫頭，多個光電檢測器以及其它機械零件如驅(qū)動器(圖中未顯示)。機械模塊110發(fā)出激光束并投射在光盤(圖中未顯示)上，而光電檢測器則負責檢測反射回來的光量。機械模塊110中的驅(qū)動器可根據(jù)后處理模塊130傳回的驅(qū)動信號弁drive調(diào)整激光束的聚焦和軌道位置。機械模塊110中的光電檢測器將檢測到的光檢測結(jié)果糾ight輸入給增益下降模塊120，而增益下降模塊120則根據(jù)某種增益控制機制將這些信號轉(zhuǎn)換為伺服信號弁servo，例如回播(playback)信號(射頻信號)，聚焦誤差信號(FE)和推挽信號(pushpull)。這些射頻信號代表了記錄在光盤中的數(shù)據(jù)，而推挽信號又包含了軌道誤差信號和擺動信號(wobble)。在增益下降模塊120調(diào)整了光檢測結(jié)果糾ight的增益之后，后處理模塊130接收伺服信號弁servo以判斷伺服狀態(tài)，并將驅(qū)動信號弁drive送至機械模塊110。一般來說，可選擇伺服信號^ervo(如回播信號，聚焦誤差信號和推挽信號)的其中之一作為一種索引信號射ndex。比較器122連接增益下降模塊120的輸出端，用來根據(jù)索引信號糾ndex調(diào)整光檢測結(jié)果糾ight的增益。舉例來說，可將射頻信號的總能量(又稱為RFsum)送至比較器122以當成索引信號射ndex使用。而比較器122比較索引信號糾ndex與目標電平針arget，根據(jù)兩者的差異來調(diào)整伺服信號的增益。更具體地說，比較器122產(chǎn)生控制信號弁ctrl并回傳給增益下降模塊120以調(diào)整增益下降模塊120所使用的增益值。藉此，增益下降模塊120所產(chǎn)生的射頻信號、聚焦誤差信號和推挽信號的強度可被調(diào)整至大致符合目標電平射arget的電平。由于伺服信號弁servo主要是用來對伺服回路進行補償，使聚焦和尋軌保持穩(wěn)定，對伺服信號&ervo的增益控制成為關(guān)鍵課題?，F(xiàn)有的比較器122會使用固定的目標電平射arget來保持伺服信號^ervo的增益恒定，然而在某些狀況下，固定的目標電平針arget并不適用，尤其是在光盤涂料不均、反射率改變或是轉(zhuǎn)速不固定而造成光檢測結(jié)果糾ight隨著軌道位置而不一致時。如果在這些情況下使用固定的目標電平針arget進行刻錄程序，可能會導致刻錄失敗。因此一個改良的增益調(diào)整機制是有待開發(fā)的。
發(fā)明內(nèi)容為了解決現(xiàn)有技術(shù)中使用固定的目標電平來進行伺服信號的增益控制，從而降低了光驅(qū)性能的問題，本發(fā)明提出了一種具有動態(tài)目標電平的平均伺服控制方法、平均伺服控制系統(tǒng)和目標電平測定方法。本發(fā)明提出一種應用于光驅(qū)的平均伺服控制方法。首先透過平均伺服回路接收至少一個伺服信號，同時決定伺服信號在光驅(qū)的當前狀態(tài)下所對應的目標電平。接著將目標電平與伺服信號的當前電平進行比較，最后根據(jù)目標電平與伺服信號的當前電平的差異，調(diào)整平均伺服回路增益。本發(fā)明另提出一種目標電平測定方法，用來計算光驅(qū)的平均伺服回路所產(chǎn)生的伺服信號的目標電平，目標電平測定方法首先測定光驅(qū)的當前狀態(tài)，接著根據(jù)該當前狀態(tài)測定目標電平。-本發(fā)明進一步提出一種平均伺服控制系統(tǒng)，用于具有平均伺服回路的光驅(qū)，以產(chǎn)生至少一個伺服信號，包含電平測定模塊，用以決定伺服信號在光驅(qū)在當前狀態(tài)下所對應的目標電平。比較模塊將目標電平與伺服信號的當前電平進行比較。增益調(diào)整模塊根據(jù)目標電平與伺服信號的當前電平的差異，調(diào)整平均伺服回路增益。本發(fā)明提出的平均伺服控制方法、平均伺服控制系統(tǒng)和目標電平測定方法通過提供動態(tài)的目標電平來增進光驅(qū)性能，避免出現(xiàn)讀取和刻錄失敗。圖1為光驅(qū)中所用的現(xiàn)有的平均伺服回路。圖2繪示了使用于光驅(qū)中的平均伺服控制系統(tǒng)的實施方式。圖3為由平均伺服控制系統(tǒng)所執(zhí)行的平均伺服控制方法的流程圖。圖4是根據(jù)光盤地址所產(chǎn)生的目標曲線的示意圖。具體實施例方式下列實施方式具體的說明如何以較佳的方式實現(xiàn)本發(fā)明。實施方式僅供說明一般應用的方式，而非用來限縮本發(fā)明的范圍。實際范圍以權(quán)利要求書為準。圖2繪示了光驅(qū)10中平均伺服控制系統(tǒng)14的實施方式。圖3為應用在平均伺服控制系統(tǒng)14中的平均伺服控制方法的流程圖。光驅(qū)10包含平均伺服回路12和平均伺服控制系統(tǒng)14。平均伺服回路12包含機械模塊110，增益下降模塊120和后處理模塊130。在機械模塊110中有一或多個光電檢測器負責檢測反射光，所測得的光檢測結(jié)果糾ight被傳至增益下降模塊120中。增益下降模塊120接著根據(jù)一個增益值將光檢測結(jié)果Wight放大，來產(chǎn)生伺服信號弁servo。后處理模塊130接收這些伺服信號^ervo來檢測誤差，并產(chǎn)生驅(qū)動信號^drive回傳至機械模塊110做為補償誤差的依據(jù)。在本實施方式—，光驅(qū)810中的平均伺服控制系統(tǒng)14包含電平測定模塊(leveldeterminingmodule)210，比較模塊220和增益調(diào)整模塊(gainadjustingmodule)230。電平測定模塊210連接到增益下降模塊120。在步驟402中，電平測定模塊210根據(jù)光驅(qū)10的狀態(tài)值^ondition提供動態(tài)的目標電平射arget。狀態(tài)值弁condition可以是光驅(qū)10的讀寫頭的所在軌道位置。在步驟404中，比較模塊220接收伺服信號弁servo并獲得適合的目標電平針arget，接著比較目標電平針arget和伺服信號弁servo的當前電平，以產(chǎn)生誤差信號弁Diff作為比較值。在步驟406中，增益調(diào)整模塊230根據(jù)誤差信號弁Diff調(diào)整伺服增益。在一個實施方式中，該增益下降模塊120包含多個放大單元，用以根據(jù)增益調(diào)整模塊230提供的控制信號#加1放大光檢測結(jié)果別ight。伺服信號^ervo實際上是根據(jù)多個光電檢測器獲取的檢測信號而產(chǎn)生。其中每一個光電檢測器具有一個相對應的放大單元，分別根據(jù)增益值來放大該檢測信號，以分別提供一部分的增益值，最后組成伺服信號&ervo。增益調(diào)整模塊230所產(chǎn)生的控制信號&trl可用來調(diào)整放大伺服信號&ervo的增益值，或調(diào)整放大伺服信號^ervo其中一部分的增益值。增益下降模塊120所產(chǎn)生的伺服信號^ervo包含了射頻信號，聚焦誤差信號，軌道誤差信號，以及平均射頻信號(averageRFsignal)。伺服信號弁servo的其中之一可用來當作索引信號糾ndex。實際上索引信號糾ndex可以直接采用射頻信號的總能量(RFsum)，用來代表反射光的總光量。在本實施方式中，電平測定模塊210會預先進行目標電平校準程序以建立查找表(lookuptable)。查找表中記錄了對應光驅(qū)多個不同狀態(tài)的多個目標電平。光驅(qū)的當前狀態(tài)值&ondition至少根據(jù)下列因素其中之一決定光驅(qū)中光盤的存取地址，光驅(qū)的讀取/刻錄速度，光驅(qū)的運作模式，以及光盤的轉(zhuǎn)速。光驅(qū)的運作模式有讀取模式和刻錄模式兩種。目標電平校準程序可在讀取模式迸行，來求出對應至少兩個不同軌道位置的讀取索引值。所謂的讀取索引值是指在讀取模式下所獲取的索引信號糾ndex，其值因軌道位置而異。更具體地說，讀取索引值的變化和軌道位置可呈線性正相關(guān)，所以可以使用一階或二階曲線來模擬其關(guān)聯(lián)性。電平測定模塊210可利用內(nèi)插法根據(jù)校準程序所求得的索引信號糾ndex來產(chǎn)生目標曲線(targetcurve)。舉例來說，想要建立一階目標曲線至少需要兩個索引信號糾ndex，而想要建立二階目標曲線至少需要三個索引信號射ndex。藉此，軌道位置和目標電平針arget之間的關(guān)聯(lián)性可以通過目標曲線或査找表的方式來呈現(xiàn)。在讀取模式中所獲得的校準結(jié)果可被使用在刻錄模式中。在刻錄模式中，首先根據(jù)軌道位置和目標曲線計算刻錄目標電平。具體地說，電平測定模塊210可產(chǎn)生目標電平射arget，而比較器220則根據(jù)目標電平弁target和索引信號弁index產(chǎn)生誤差信號弁Diff以決定增益下降模塊120的控制信號&trl。如前所述，各種的伺服信號弁servo，例如軌道誤差信號，聚焦誤差信號，主推挽平移(MainPushPullOffset;MPPO)信號，側(cè)推挽平移(SidePushPullOffset;SPPO)信號和射頻信號的總能量(RFsum)都通過增益下降模塊120依據(jù)控制信號^trl放大光檢測結(jié)果糾ight而產(chǎn)生。所以這些射頻信號，軌道誤差信號，聚焦誤差信號和推挽信號的增益值都隨著軌道位置而適當改變。在刻錄模式中，增益下降模塊120輸出的索引信號糾ndex又稱為刻錄索引值，相對于讀取索引值具有不同的強度。由于在刻錄模式中的激光束強度至少是在讀取模式中的五倍，所獲取的伺服信號弁servo和刻錄索引值也會具有更高的電平。為了提供適當?shù)哪繕穗娖浇o刻錄模式使用，電平測定模塊210可先根據(jù)軌道位置進行一次校準。舉例來說，先將軌道位置代入目標曲線來求得讀取目標值，再根據(jù)線性轉(zhuǎn)換公式將讀取目標值轉(zhuǎn)換為刻錄目標值y=ax+b(1)其中y代表刻錄目標值，而x代表讀取目標值。a和b分別代表斜率和平移常數(shù)。這樣的轉(zhuǎn)換可以補償讀取模式和刻錄模式之間的電平差異，使刻錄目標值的電平更適合用在刻錄程序中。>隨后，比較模塊220比較索引信號糾ndex和目標電平射arget來產(chǎn)生誤差信號^Diff。增益調(diào)整模塊230接收誤差信號SDiff并產(chǎn)生控制信號弁ctrl來調(diào)整增益值。該增益值可用來放大伺服信號^ervo或是放大伺服信號^ervo其中一檢測部分。圖4為根據(jù)軌道位置所算出的目標曲線的示意圖。在讀取模式中，可先從兩個不同的軌道位置PA和PB上求得讀取索引值A和B，并且因為索引值和軌道位置是線性關(guān)系，所以可使用內(nèi)插法建立目標曲線。在刻錄模式中，當機械模塊110存取軌道位置弁P時，可查找出對應的讀取目標值C。而透過公式(l)，可進一步算出刻錄目標值，用來供伺服控制系統(tǒng)控制增益。在另一個實施方式中，內(nèi)插法也可以采用二階近似的算法。除此之外，可在讀取模式中建立查找表，收集所有的關(guān)聯(lián)于每一個軌道位置的讀取目標值，然后刻錄目標值就可以直接通過査找表搭配公式(l)的轉(zhuǎn)換而求得。目標曲線可以是任何與軌道位置有關(guān)的轉(zhuǎn)換函數(shù)，本發(fā)明不限定于實施方式所述。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施方式，凡依本發(fā)明權(quán)利要求所做的均等變化與修飾，都應屬于本發(fā)明的涵蓋范圍。權(quán)利要求1.一種平均伺服控制方法，應用于光驅(qū)，其特征在于，所述平均伺服控制方法包含透過平均伺服回路接收至少一個伺服信號；同時決定所述伺服信號在所述光驅(qū)的當前狀態(tài)下所對應的目標電平；將所述目標電平與所述伺服信號的當前電平進行比較；以及根據(jù)所述目標電平與所述伺服信號的當前電平的差異，調(diào)整平均伺服回路增益。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平均伺服控制方法，其特征在于，所述平均伺服控制方法進一步包含-根據(jù)所述伺服信號進行目標電平校準，以獲取對應多個不同狀態(tài)的多個預設目標電平；將所述多個不同狀態(tài)和其相對應的所述多個預設目標電平儲存起來成為査找表。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平均伺服控制方法，其特征在于，所述平均伺服控制方法進一步包含，査詢所述査找表以獲取對應當前狀態(tài)的所述目標電平。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的平均伺服控制方法，其特征在于，獲取所述目標電平的步驟包含-將至少兩個鄰近的預設目標電平進行內(nèi)插運算來產(chǎn)生目標曲線；以及根據(jù)當前狀態(tài)，在所述目標曲線上標定出所述目標電平。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平均伺服控制方法，其特征在于，所述光驅(qū)的當前狀態(tài)至少與下列因素之一有關(guān)所述光驅(qū)中光盤的存取地址，所述光驅(qū)的讀取/刻錄速度，所述光驅(qū)的運作模式，以及所述光盤的轉(zhuǎn)速。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平均伺服控制方法，其特征在于，所述伺服信號是從下列信號中選擇射頻信號，聚焦誤差信號，軌道誤差信號，以及平均射頻信號。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平均伺服控制方法，其特征在于，所述伺服信號是由多個光電檢測器獲取，而每一個光電檢測器各提供部分增益值來組成所述伺服信號；以及所述平均伺服回路增益從下列信號中選擇用來放大所述伺服信號的增益值、或是放大所述伺服信號其中一部分的增益值。8.—種目標電平測定方法，用以計算光驅(qū)的平均伺服回路所產(chǎn)生的伺服信號的目標電平，其特征在于，所述目標電平測定方法包含-測定所述光驅(qū)的當前狀態(tài)；以及根據(jù)所述當前狀態(tài)測定所述目標電平。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的目標電平測定方法，其特征在于，所述目標電平測定方法進一步包含根據(jù)所述伺服信號進行目標電平校準程序，以獲取分別對應多個不同狀態(tài)的多個預設目標電平；將所述多個不同狀態(tài)和其對應的所述多個預設目標電平儲存起來成為查找表。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標電平測定方法，其特征在于，所述目標電平測定方法進一步包含，查詢所述查找表以獲取對應當前狀態(tài)的所述目標電平。11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標電平測定方法，其特征在于，獲取所述目標電平的步驟包含將至少兩個鄰近的預設目標電平進行內(nèi)插運算來產(chǎn)生目標曲線；以及根據(jù)當前狀態(tài)，在所述目標曲線上標定出所述目標電平。12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的目標電平測定方法，其特征在于，所述光驅(qū)的當前狀態(tài)至少與下列因素之一有關(guān)所述光驅(qū)中光盤的存取地址，所述光驅(qū)的讀取/刻錄速度，所述光驅(qū)的運作模式，以及所述光盤的轉(zhuǎn)速。13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的目標電平測定方法，其特征在于，所述伺服信號是從下列信號中選擇射頻信號，聚焦誤差信號，軌道誤差信號，以及平均射頻信號。14.一種平均伺服控制系統(tǒng)，用于具有平均伺服回路的光驅(qū)，以產(chǎn)生至少一個伺服信號，其特征在于，所述平均伺服控制系統(tǒng)包含電平測定模塊，用來決定所述伺服信號在所述光驅(qū)的當前狀態(tài)下所對應的目標電平；比較模塊，用來將所述目標電平與所述伺服信號的當前電平進行比較；以及增益調(diào)整模塊，用來根據(jù)所述目標電平與所述伺服信號的當前電平的差異，調(diào)整平均伺服回路增益。15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于，所述電平測定模塊進一步根據(jù)所述伺服信號進行目標電平校準，以獲取對應多個不同狀態(tài)的多個預設目標電平，并將所述多個不同狀態(tài)和其相對應的所述多個預設目標電平儲存起來成為査找表。16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于，所述電平測定模塊查詢所述查找表來獲取對應當前狀態(tài)的所述目標電平。17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于，所述電平測定模塊將至少兩個鄰近的預設目標電平進行內(nèi)插運算來產(chǎn)生目標曲線，并根據(jù)當前狀態(tài)，在所述目標曲線上標定出所述目標電平。18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于，所述光驅(qū)的當前狀態(tài)至少與下列因素之一有關(guān)-所述光驅(qū)中光盤的存取地址，所述光驅(qū)的讀取/刻錄速度，所述光驅(qū)的運作模式，以及所述光盤的轉(zhuǎn)速。19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于，所述伺服信號是從下列信號中選擇射頻信號，聚焦誤差信號，軌道誤差信號，以及平均射頻信號。20.根據(jù)權(quán)利要求14所述的平均伺服控制系統(tǒng)，其特征在于所述伺服信號是由多個光電檢測器獲取，而每一光電檢測器各提供部分增益值來組成所述伺服信號；以及所述平均伺服回路增益是從下列信號中選擇用來放大所述伺服信號的增益值、或是放大所述伺服信號其中一部分的增益值。全文摘要本發(fā)明提出一種應用于光驅(qū)的平均伺服控制方法、系統(tǒng)以及目標電平測定方法。該平均伺服控制方法包括首先透過平均伺服回路接收至少一個伺服信號，同時決定伺服信號在光驅(qū)的當前狀態(tài)下所對應的目標電平。接著將目標電平與伺服信號的當前電平進行比較，最后根據(jù)目標電平與伺服信號的當前電平的差異，調(diào)整平均伺服回路增益。本發(fā)明提出的平均伺服控制方法、平均伺服控制系統(tǒng)和目標電平測定方法通過提供動態(tài)的目標電平來增進光驅(qū)性能，避免出現(xiàn)讀取和刻錄失敗。文檔編號G11B7/09GK101540175SQ20081011024公開日2009年9月23日申請日期2008年6月18日優(yōu)先權(quán)日2008年3月20日發(fā)明者張伯維申請人:聯(lián)發(fā)科技股份有限公司