專利名稱：光拾波器調(diào)節(jié)用光盤、光拾波器裝置的調(diào)節(jié)和制造方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及在調(diào)節(jié)光盤裝置的光拾波器裝置時使用的光拾波器調(diào)節(jié) 用光盤、使用該光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法以及使 用該光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造方法。
背景技術(shù)：
作為光盤，使用中心波長為0.78(am的紅色激光進(jìn)行信息的記錄或再 現(xiàn)的CD (compact disc,光盤)、和使用中心波長為0.65pm的紅色激光 進(jìn)行信息的記錄或再現(xiàn)的DVD (digital versatile disc,數(shù)字通用光盤)已 經(jīng)得到應(yīng)用。并且，使用中心波長為0.405pm的藍(lán)色激光進(jìn)行信息的記 錄或再現(xiàn)的HD—DVD和Blu—ray盤(以下將它們統(tǒng)稱為"藍(lán)光光盤") 也開始被實(shí)際應(yīng)用。并且，為了實(shí)現(xiàn)更高密度記錄，在DVD標(biāo)準(zhǔn)和Blu—ray盤標(biāo)準(zhǔn)中， 層疊有多個信息記錄層的多層式光盤已經(jīng)被標(biāo)準(zhǔn)化。 一般，光盤在激光 入射的一側(cè)具有透明的保護(hù)基板，所以在多層式光盤中，接近表面(較 淺)的層和遠(yuǎn)離表面(較深)的層的保護(hù)基板的厚度不同。例如，在Blu 一ray盤標(biāo)準(zhǔn)中，接近表面的層和遠(yuǎn)離表面的層的間隔為25|im，接近表 面的層的保護(hù)基板的厚度被規(guī)定為75pm (標(biāo)準(zhǔn)值)，遠(yuǎn)離表面的層的保 護(hù)基板的厚度被規(guī)定為100pm (標(biāo)準(zhǔn)值)。在向保護(hù)基板射入通過透鏡被會聚的激光時，產(chǎn)生與保護(hù)基板的厚 度相對應(yīng)的球面像差。該球面像差成為光盤的信號記錄或再現(xiàn)的障礙， 所以光拾波器裝置設(shè)計(jì)有包括透鏡和光檢測器的光學(xué)系統(tǒng)，以使球面像 差達(dá)到極小。如上所述球面像差依賴于保護(hù)基板的厚度，所以為了適用于多層式 光盤，光拾波器裝置自身需要具有能夠改變球面像差的功能。例如，提出了一種光拾波器裝置，其使得用于將從半導(dǎo)體激光器射出的激光轉(zhuǎn)換 為大致平行光束的準(zhǔn)直透鏡沿光軸方向移動，從而可以改變球面像差(例 如參照專利文獻(xiàn)l)。專利文獻(xiàn)l日本特開2005—327395號公報(bào)(第7頁，圖2) 在專利文獻(xiàn)1記載的光拾波器裝置中，要求準(zhǔn)直透鏡理想地只沿光 軸方向移動。但是，實(shí)際的準(zhǔn)直透鏡的移動機(jī)構(gòu)通常伴隨有"游隙"和"松 動"，另外移動機(jī)構(gòu)的各個構(gòu)成部件也存在配置誤差。因此，實(shí)際的準(zhǔn)直 透鏡移動時伴隨有光軸方向之外的方向的位移。這樣，在準(zhǔn)直透鏡產(chǎn)生 了所期望方向之外的方向的位移時，來自光盤的反射激光與接受該反射 激光并檢測信號的光檢測器之間的位置關(guān)系不再處于所期望的位置關(guān) 系。結(jié)果，在以往的光拾波器裝置中，伴隨準(zhǔn)直透鏡的移動，產(chǎn)生從光 檢測器輸出的檢測信號發(fā)生變化的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明就是為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的問題而提出的，其目的在于， 提供一種光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其可以實(shí)現(xiàn)能夠?qū)?zhǔn)直透鏡的光軸方向 之外的方向的位移對光檢測器的檢測信號的影響控制在允許范圍內(nèi)的調(diào) 節(jié)方法。此外，本發(fā)明的另一目的在于，提供一種可以將準(zhǔn)直透鏡的光軸方 向之外的方向的位移對光檢測器的檢測信號的影響控制在允許范圍內(nèi)的 光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法、以及使用該光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法的光拾 波器裝置的制造方法。本發(fā)明第一方面的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤在調(diào)節(jié)光拾波器裝置時使 用，該光拾波器裝置隔著透明的保護(hù)基板向具有形成于所述保護(hù)基板的 內(nèi)表面?zhèn)鹊亩鄬有畔⒂涗泴拥墓獗P照射激光，而檢測來自所述信息記錄 層的反射激光，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的特征在于，當(dāng)在對作為所述 光拾波器裝置的記錄或再現(xiàn)對象的光盤進(jìn)行規(guī)定的光盤標(biāo)準(zhǔn)中，至少規(guī) 定了從所述保護(hù)基板的外表面到所述信息記錄層的深度為最大的最大深 度信息記錄層、和從所述保護(hù)基板的外表面到所述信息記錄層的深度為最小的最小深度信息記錄層時，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤具有透明的 保護(hù)基板；以及光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層，其形成于所述 保護(hù)基板的內(nèi)表面?zhèn)?，并且形成為所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息 記錄層的深度和所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最小深度信息記錄層的深度中間 的深度。另外，本發(fā)明的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法，使用調(diào)節(jié)裝置和安裝在 所述調(diào)節(jié)裝置上的所述本發(fā)明第一方面所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，來 調(diào)節(jié)光拾波器裝置，其中，所述調(diào)節(jié)裝置具有使光盤旋轉(zhuǎn)的盤驅(qū)動單元、 和根據(jù)所述光拾波器裝置的光檢測器的檢測信號來調(diào)節(jié)所述光檢測器的 位置的光檢測器調(diào)節(jié)單元，其特征在于，所述調(diào)節(jié)方法包括以下步驟 所述調(diào)節(jié)裝置的所述盤驅(qū)動單元使所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤旋轉(zhuǎn)的步 驟；所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的 所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層照射激光，而檢測來自所述 光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層的反射激光的步驟；以及所述調(diào) 節(jié)裝置的所述光檢測器調(diào)節(jié)單元根據(jù)所述反射激光的檢測結(jié)果，來調(diào)節(jié) 所述光拾波器裝置的光檢測器的步驟。另外，本發(fā)明第二方面的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的特征在于，在所述 第一方面的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤中，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤還具有 光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層，其形成為與所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī) 定的最大深度信息記錄層的深度相同的深度；以及光拾波器調(diào)節(jié)用的最 小深度信息記錄層，其形成為與所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最小深度信息記 錄層的深度相同的深度，所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層、 所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層、和所述光拾波器調(diào)節(jié)用的 最小深度信息記錄層，形成為被劃分到所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的半徑 方向上的不同區(qū)域中。另外，本發(fā)明的另一光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法，使用調(diào)節(jié)裝置和安 裝在所述調(diào)節(jié)裝置上的所述本發(fā)明第二方面所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光 盤，來調(diào)節(jié)光拾波器裝置，其中，所述調(diào)節(jié)裝置具有使光盤旋轉(zhuǎn)的盤驅(qū) 動單元、變更所述盤驅(qū)動單元相對光盤的相對位置的移動單元、和根據(jù)所述光拾波器裝置的光檢測器的檢測信號來調(diào)節(jié)所述光檢測器的位置的 光檢測器調(diào)節(jié)單元，其特征在于，所述調(diào)節(jié)方法包括以下步驟所述調(diào) 節(jié)裝置的所述盤驅(qū)動單元使所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤旋轉(zhuǎn)的步驟；所述 調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變更所述光拾波器裝置和所述光拾波器調(diào)節(jié)用 光盤的相對位置，所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述光拾波器 調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層照射激光，而 檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層的反射激光的步 驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述光檢測器調(diào)節(jié)單元根據(jù)來自所述光拾波器調(diào)節(jié) 用的中間深度信息記錄層的反射激光的檢測結(jié)果，來調(diào)節(jié)所述光拾波器 裝置的光檢測器的位置的步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變更所述 光拾波器裝置和所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的相對位置，所述光拾波器裝 置隔著所述保護(hù)基板向所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器調(diào)節(jié)用 的最大深度信息記錄層照射激光，而檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最 大深度信息記錄層的反射激光的步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變 更所述光拾波器裝置和所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的相對位置，所述光拾 波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器 調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層照射激光，而檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié) 用的最小深度信息記錄層的反射激光的步驟；以及所述調(diào)節(jié)裝置根據(jù)來 自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層的反射激光的檢測結(jié)果、 和來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層的反射激光的檢測結(jié) 果，來判定信號質(zhì)量的步驟。另外，本發(fā)明的光拾波器裝置的制造方法的特征在于，使用上述光 拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法。使用本發(fā)明的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤來調(diào)節(jié)光拾波器裝置具有以下效 果可以將準(zhǔn)直透鏡的光軸方向之外的方向的位移對光拾波器裝置的光 檢測器的檢測信號的影響控制在允許范圍內(nèi)，可以提高記錄在信息記錄 層中的信號的檢測精度。另外，根據(jù)本發(fā)明的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法或光拾波器裝置的制 造方法，具有以下效果可以將準(zhǔn)直透鏡的光軸方向之外的方向的位移對光拾波器裝置的光檢測器的檢測信號的影響控制在允許范圍內(nèi)，可以 提高記錄在信息記錄層中的信號的檢測精度。


圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的概略剖面 形狀、實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法或使用該調(diào)節(jié)方法的光拾 波器裝置的制造方法所適用的光拾波器裝置的概略平面形狀、以及用于 執(zhí)行實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法而使用的調(diào)節(jié)裝置的概略結(jié) 構(gòu)的圖。圖2 (A)是概略表示實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的結(jié)構(gòu)的剖面圖，圖2 (B)是從圖2 (A)的下方觀察實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié) 用光盤時的仰視圖。圖3是表示實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的概略剖面形狀、以 及利用了光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的中間深度信息記錄層的調(diào)節(jié)方法所適用 的光拾波器裝置的概略平面形狀的圖。圖4 (A)表示實(shí)施方式1的光拾波器裝置的光檢測器的感光面的形 狀和激光的照射位置，圖4 (B)表示圖4 (A)所示情況時的焦點(diǎn)誤差 信號特性，圖4 (C)表示實(shí)施方式1的光拾波器裝置的光檢測器的感光 面的形狀和激光的照射位置，圖4 (D)表示圖4 (C)所示情況時的焦 點(diǎn)誤差信號特性。圖5是表示實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的概略剖面形狀、以 及利用了光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的最大深度信息記錄層的檢查所適用的光 拾波器裝置的概略平面形狀的圖。圖6是表示實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的概略剖面形狀、以 及利用了光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的最小深度信息記錄層的檢查所適用的光 拾波器裝置的概略平面形狀的圖。圖7是表示實(shí)施方式1的光拾波器裝置的光檢測器的感光面形狀和 準(zhǔn)直透鏡移動時的激光的照射位置的圖。圖8是概略表示實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法的流程圖。圖9是概略表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的結(jié)構(gòu) 的剖面圖。圖10是概略表示本發(fā)明的實(shí)施方式3的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的結(jié)構(gòu)的剖面圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施方式l圖1是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的概略剖 面形狀、實(shí)施方式1的調(diào)節(jié)方法所適用的光拾波器裝置10的概略平面形 狀、以及用于執(zhí)行實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法而使用的調(diào)節(jié) 裝置20的概略結(jié)構(gòu)的圖。如圖1所示，在執(zhí)行實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法或光拾 波器裝置的制造方法時，將光拾波器裝置如圖1所示進(jìn)行組裝，之后將 組裝好的光拾波器裝置10安裝在調(diào)節(jié)裝置20上，并在調(diào)節(jié)裝置20的主 軸電動機(jī)28上安裝光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30。光拾波器裝置10適合于多 層光盤的標(biāo)準(zhǔn)。光拾波器裝置10向具有形成于透明保護(hù)基板的內(nèi)表面?zhèn)?的多層信息記錄層的光盤，從同一方向通過保護(hù)基板照射激光，并檢測 來自多層信息記錄層中的任一層的反射激光。并且，在對作為光拾波器 裝置10的記錄或再現(xiàn)對象的光盤進(jìn)行規(guī)定的光盤標(biāo)準(zhǔn)中，至少規(guī)定了從 保護(hù)基板的外表面到信息記錄層的深度為最大的最大深度信息記錄層， 和從保護(hù)基板的外表面到所述信息記錄層的深度為最小的最小深度信息 記錄層。但是，在對作為光拾波器裝置10的記錄或再現(xiàn)對象的光盤進(jìn)行 規(guī)定的光盤標(biāo)準(zhǔn)中，除最大深度信息記錄層和最小深度信息記錄層之外， 也有規(guī)定其他信息記錄層的情況，即信息記錄層為三層以上的情況。如圖1所示，光拾波器裝置10主要由射出激光的半導(dǎo)體激光器 11、光束分離器12、準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13、物鏡14、柱面透鏡15、和 光檢測器16構(gòu)成。準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13具有準(zhǔn)直透鏡131、保持準(zhǔn)直透 鏡131的透鏡支架132、支撐透鏡支架132并使其可以沿箭頭Da方向移 動的導(dǎo)向軸133、電動機(jī)134、與透鏡支架132的螺紋孔配合并與電動機(jī)134連接的絲杠135。透鏡支架132、導(dǎo)向軸133、電動機(jī)134和絲杠135 構(gòu)成準(zhǔn)直透鏡移動機(jī)構(gòu)，使準(zhǔn)直透鏡131沿與從半導(dǎo)體激光器11到物鏡 14的光學(xué)系統(tǒng)的光軸(以下也稱為"物鏡的光軸")AX大致平行的箭頭 Da方向移幼。通過利用電動機(jī)134使絲杠135旋轉(zhuǎn)，透鏡支架132沿著 導(dǎo)向軸133向箭頭da方向滑動。在光拾波器裝置10中，從半導(dǎo)體激光器11射出的激光L,透射過光 束分離器12入射到準(zhǔn)直透鏡131。通過準(zhǔn)直透鏡131變?yōu)榇笾缕叫袪顟B(tài) 的激光"入射到物鏡14，并聚光于光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30。在光拾波器 調(diào)節(jié)用光盤30反射的激光L2反向透射物鏡14和準(zhǔn)直透鏡131，并在光 束分離器12被反射后，透射過柱面透鏡15而入射到光檢測器16。并且，如圖1所示，調(diào)節(jié)裝置20具有再現(xiàn)信號檢測電路21，其 根據(jù)從光檢測器16獲取的信號來檢測再現(xiàn)信號；控制信號檢測電路22， 其根據(jù)從光檢測器16獲取的信號來檢測控制信號；信號校正電路23，其 獲取從再現(xiàn)信號檢測電路21輸出的再現(xiàn)信號；光檢測器調(diào)節(jié)電路24a， 其獲取從再現(xiàn)信號檢測電路21輸出的再現(xiàn)信號和從控制信號檢測電路22 輸出的控制信號，并生成調(diào)節(jié)信號；光檢測器調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)24b，其由獲取從 光檢測器調(diào)節(jié)電路24a輸出的調(diào)節(jié)信號的、例如步進(jìn)電動機(jī)等構(gòu)成。光 檢測器調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)24b與設(shè)于光檢測器16的位置調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(在圖中利用虛 線表示)連接，根據(jù)從光檢測器調(diào)節(jié)電路24a輸出的調(diào)節(jié)信號，調(diào)節(jié)設(shè) 于光檢測器16的位置調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)(未圖示)，來調(diào)節(jié)光檢測器16的位置。 并且，調(diào)節(jié)裝置20具有透鏡移動電路25，其獲取信號校正電路23的 輸出信號，向光拾波器裝置10的電動機(jī)134輸出透鏡移動信號；層選擇 信號生成部26;主軸電動機(jī)移動電路27a;根據(jù)主軸電動機(jī)移動電路27a 的輸出信號而動作的主軸電動機(jī)移動機(jī)構(gòu)27b;主軸電動機(jī)28，其設(shè)于 主軸電動機(jī)移動機(jī)構(gòu)27b上，使光盤旋轉(zhuǎn)。透鏡移動電路25的輸出信號 被輸入光拾波器裝置10的電動機(jī)134。層選擇信號生成部26向透鏡移動 電路25和主軸電動機(jī)移動電路27a輸出由未圖示的系統(tǒng)控制部生成的、 與光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30選擇的層相關(guān)的信號。主軸電動機(jī)移動電路27a 的輸出信號被輸出給主軸電動機(jī)移動機(jī)構(gòu)27b，并構(gòu)成為主軸電動機(jī)移動機(jī)構(gòu)27b可以使得主軸電動機(jī)28在沿著光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的半徑的箭頭DB方向上移動。圖2 (A)是概略表示實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的結(jié)構(gòu)的剖 面圖，圖2 (B)是從圖2 (A)的下方觀察實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié) 用光盤時的仰視圖。如圖2 (A)和圖2 (B)所示，光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30具有透明保 護(hù)基板31、形成于保護(hù)基板31的內(nèi)表面?zhèn)鹊男畔⒂涗泴?2、和覆蓋信 息記錄層32的保護(hù)層33。在實(shí)施方式l中，信息記錄層32包括光拾 波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層32max，其形成為與光盤標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最 大深度信息記錄層相同的深度Dmax;光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記 錄層32min，其形成為與光盤標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最小深度信息記錄層相同的深度 Dmin;以及光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層32mid，其形成為光盤 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最大深度信息記錄層的深度Dm^和最小深度信息記錄層的深 度Dmin的中間的深度D扁。另外，信息記錄層的深度相當(dāng)于保護(hù)基板31 的厚度，即相當(dāng)于從保護(hù)基板31的外表面到信息記錄層的距離。并且， 各個信息記錄層構(gòu)成為按照各種光盤(例如CD、 DVD、 HD—DVD、或 Bhi—Ray盤)標(biāo)準(zhǔn)，利用與各種光盤相同的結(jié)構(gòu)和材質(zhì)構(gòu)成。如圖2 (A)和圖2 (B)所示，最大深度信息記錄層32max、中間深 度信息記錄層32mid和最小深度信息記錄層32min，從光拾波器調(diào)節(jié)用光盤 30的中心朝向徑向外側(cè)依序排列。在最大深度信息記錄層32max、中間深 度信息記錄層32mid和最小深度信息記錄層32min中，分別記錄有用于調(diào)節(jié) 光拾波器裝置10的信號(例如凹凸(pit)) S。另外，圖2 (A)和圖2 (B)示出信息記錄層的深度為三種的情況，但也可以具有除此之外的深 度的信息記錄層。并且，信息記錄層的排列也不限于圖示的例子。下面，說明使用了光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的光拾波器裝置10的調(diào) 節(jié)方法或使用該調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造方法。首先，把如圖1 所示那樣組裝好而將要進(jìn)行調(diào)節(jié)的光拾波器裝置10安裝在調(diào)節(jié)裝置20 上。然后，在調(diào)節(jié)裝置20上安裝光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30。安裝之后成為 圖1所示狀態(tài)。 '12然后，根據(jù)來自層選擇信號生成部26的層選擇信號，光拾波器調(diào)節(jié) 用的光盤30的中間深度信息記錄層32mid被選擇，根據(jù)主軸電動機(jī)移動電路27a的輸出，主軸電動機(jī)移動機(jī)構(gòu)27b使光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30移 動，以使光拾波器調(diào)節(jié)用的光盤30的中間深度信息記錄層32mid與物鏡 14相向。然后，利用主軸電動機(jī)28使光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30旋轉(zhuǎn)。然后，光拾波器裝置10根據(jù)層選擇信號生成部26的指示，使準(zhǔn)直 透鏡光學(xué)系統(tǒng)13的電動機(jī)134動作，使準(zhǔn)直透鏡131的光軸方向的位置 處于適合于中間深度信息記錄層32mid的深度、即保護(hù)基板31的厚度Dmid 的位置(后面敘述的圖3中的Pmid)。然后，使半導(dǎo)體激光器11發(fā)光，通過光檢測器16受光在光拾波器 調(diào)節(jié)用光盤30的中間深度信息記錄層32^反射的激光L2。在此，反射 激光L2的檢測光學(xué)系統(tǒng)采用利用了基于柱面透鏡15的動作的、公知的像 散法(Astigmatic method)的焦點(diǎn)檢測方式。光撿測器16輸出強(qiáng)度與所 受光的激光L2相對應(yīng)的電信號，并輸入到再現(xiàn)信號檢測電路21和控制信 號檢測電路22。在再現(xiàn)信號檢測電路21和控制信號檢測電路22中分別 檢測再現(xiàn)信號和焦點(diǎn)誤差信號等的控制信號，光檢測器調(diào)節(jié)電路24a計(jì) 算光檢測器16應(yīng)該調(diào)節(jié)的位置，使光檢測器調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)24b動作，使光檢 測器16被調(diào)節(jié)到最佳位置，以便使反射激光L2與光檢測器16的位置關(guān) 系處于最佳狀態(tài)。另外，除了使光檢測器16的位置為最佳的調(diào)節(jié)之外，為了進(jìn)一步提 高再現(xiàn)信號的質(zhì)量，執(zhí)行按照下面所述變更光學(xué)像差而調(diào)節(jié)再現(xiàn)信號質(zhì) 量的動作。在信號校正電路23中分析從再現(xiàn)信號檢測電路21輸出的再 現(xiàn)信號的質(zhì)量，使準(zhǔn)直透鏡131向沿著移動軸136的箭頭DA方向移動， 以使再現(xiàn)信號的質(zhì)量達(dá)到最佳。另外，在圖1中，描述了使準(zhǔn)直透鏡131 的移動軸136與物鏡14的光軸AX —致的情況，但實(shí)際上如后面的圖3 所示存在偏差。因此，根據(jù)透鏡移動電路25的信號，準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng) 13的電動機(jī)134旋轉(zhuǎn)，通過與該旋轉(zhuǎn)聯(lián)動的絲杠135的旋轉(zhuǎn)，透鏡支架 132沿著導(dǎo)向軸133向箭頭DA方向移動，由此準(zhǔn)直透鏡131被調(diào)節(jié)為從像差的觀點(diǎn)考慮為最佳的位置。如上所述，光檢測器16的位置調(diào)節(jié)首先在光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的中間深度信息記錄層32^進(jìn)行。另外，確認(rèn)能夠在光盤標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的保 護(hù)基板的厚度范圍內(nèi)沒有問題地進(jìn)行光檢測器16的位置調(diào)節(jié)。為此，使 用光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的最大深度信息記錄層32n^和最小深度信息 記錄層32^，確認(rèn)再現(xiàn)信號和焦點(diǎn)誤差信號等的控制信號的質(zhì)量。另外， 在使照射激光的位置分別移動到最大深度信息記錄層32^^和最小深度信 息記錄層32^的情況下(后面敘述的圖5和圖6所示的情況)，準(zhǔn)直透 鏡131向沿著導(dǎo)向軸136的箭頭DA方向移動，以使在最大深度信息記錄 層32m^和最小深度信息記錄層32^中各自的再現(xiàn)信號的質(zhì)量為最佳。 例如，在最大深度信息記錄層32^^中，由于保護(hù)基板的厚度較大，所以 準(zhǔn)直透鏡131向遠(yuǎn)離物鏡14的方向移動(后面敘述的圖5所示的情況)， 相反，在最小深度信息記錄層32min中，由于保護(hù)基板的厚度較小，所以 準(zhǔn)直透鏡131向接近物鏡14的方向移動(后面敘述的圖6所示的情況)。下面，使用圖3 圖7，說明通過按照以上說明的步驟執(zhí)行的光拾波 器裝置10的調(diào)節(jié)方法，光檢測器16的檢測信號的質(zhì)量變良好的情況。圖3是表示利用了實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的中間深度 信息記錄層32mid的調(diào)節(jié)方法所適用的光拾波器裝置10的概略平面形狀 的圖。在圖3中沒有示出圖1中示出的調(diào)節(jié)裝置20，但是實(shí)際上如圖1所 示，光拾波器裝置10被安裝在調(diào)節(jié)裝置20上。圖3表示光拾波器裝置 10的準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13從理想配置狀態(tài)傾斜的情況。實(shí)際上不可能使 借助準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13的電動機(jī)134而移動的準(zhǔn)直透鏡131的移動軸 136 (箭頭DA方向)與光軸AX完全沒有誤差地一致，會多少存在一些 傾斜和平行偏差。并且，這種傾斜和平行偏差受到存在于透鏡支架132 和導(dǎo)向軸133之間的游隙的影響。由于該準(zhǔn)直透鏡131的移動軸136相 對光軸AX的傾斜，在適合于最大深度信息記錄層32m^的深度(最大深度信息記錄層32max的保護(hù)基板31的厚度)Dmw的準(zhǔn)直透鏡131的位置 即位置Pmax、和適合于最小深度信息記錄層32min的深度(最小深度信息記錄層32一的保護(hù)基板31的厚度)D^的準(zhǔn)直透鏡131的位置即位置 Pmin，在與光軸AX正交的箭頭Dc方向產(chǎn)生位移。圖4 (A)表示實(shí)施方式1的光檢測器的感光面10a的形狀和激光的 位置，圖4 (B)表示該圖(A)所示情況時的焦點(diǎn)誤差信號特性，圖4 (C)表示實(shí)施方式1的光檢測器的感光面10a的形狀和激光的位置，圖 4 (D)表示圖4 (C)所示情況時的焦點(diǎn)誤差信號特性。圖4 (A)和圖4(B) 表示在準(zhǔn)直透鏡131的移動軸136與光軸AX —致的配置條件下進(jìn) 行了光檢測器16的調(diào)節(jié)的情況，圖4 (C)和圖4 (D)表示為了從圖4(A)所示狀態(tài)變?yōu)檫m合于其他保護(hù)基板的厚度的狀態(tài)，準(zhǔn)直透鏡131移 動而且該移動伴隨有在與光軸AX正交的箭頭Dc方向的位移的情況。如圖4 (A)和圖4 (C)所示，光檢測器16例如具有可以進(jìn)行基于 像散法的焦點(diǎn)誤差檢測的、被劃分為4塊的田字型(矩陣狀)感光面10a。 各個感光面被賦予了標(biāo)號A D，在以下的說明中，通過各個感光面檢測 的檢測信號的強(qiáng)度也用A D表示。如圖4 (A)和圖4 (B)所示，在準(zhǔn) 直透鏡131準(zhǔn)確位于光軸AX上的條件下進(jìn)行了光檢測器16的調(diào)節(jié)時， 可以調(diào)節(jié)光檢測器16，使激光L2均等地入射到光檢測器16的感光面A D。在這種狀態(tài)下，在感光面A D中(各個感光面的檢測信號的強(qiáng)度也 用A D表示)，利用下式計(jì)算焦點(diǎn)誤差信號FE。 FE= (A+C) — (B+D)基于進(jìn)行該運(yùn)算的像散法的焦點(diǎn)誤差信號可以設(shè)為是沒有偏移成分的信 號。但是，在準(zhǔn)直透鏡131未能準(zhǔn)確地在光軸AX上移動時，例如圖4(C) 和圖4 (D)所示，激光L2在特定的感光面的方向(感光面A的方 向)偏移。結(jié)果，焦點(diǎn)誤差信號成為具有偏移成分d的信號，產(chǎn)生與偏 移成分d相對應(yīng)的焦點(diǎn)誤差，在該焦點(diǎn)誤差量增大時，將對信息的記錄 和再現(xiàn)產(chǎn)生妨礙。圖5是表示在本發(fā)明的實(shí)施方式1中，選擇了最大深度信息記錄層 32max時的、光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的剖面圖及表示準(zhǔn)直透鏡131的位置 關(guān)系的平面圖，該最大深度信息記錄層32max具有在光盤標(biāo)準(zhǔn)中與具有兩層的光盤的較深一側(cè)的層對應(yīng)的保護(hù)基板的厚度Dmax。并且，圖6是表 示在本發(fā)明的實(shí)施方式l中，選擇了最小深度信息記錄層32^時的、光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30的側(cè)視圖及表示準(zhǔn)直透鏡131的位置關(guān)系的平面圖，該最小深度信息記錄層32min具有在光盤標(biāo)準(zhǔn)中與具有兩層的光盤的較淺一側(cè)的層對應(yīng)的保護(hù)基板的厚度Dmin。準(zhǔn)直透鏡131在圖5中移動到位置Pm￡K，在圖6中移動到位置Pmin。如圖3所示，當(dāng)以選擇了中間深度信息記錄層32mid時的位置Pmid為基準(zhǔn) 時，位置Pmax和位置Pmin分別處于相反方向。因此，在準(zhǔn)直透鏡131的移動軸136相對物鏡14的光軸AX傾斜時，相對在準(zhǔn)直透鏡131從位置Pmax到位置Pn^的移動中產(chǎn)生的、與光軸AX正交的方向上的位移量，在 準(zhǔn)直透鏡131從位置P^到位置P,或者從位置Pmid到位置Pmin的移動 中產(chǎn)生的、與光軸AX正交的方向上的位移量約是前者的一半。圖7是表示在實(shí)施方式1的光檢測器10的感光面10a的形狀和準(zhǔn)直 透鏡131移動時的激光Li的位置關(guān)系的平面圖。Lmid表示準(zhǔn)直透鏡131位于位置Pmid時進(jìn)行了光檢測器16的調(diào)節(jié)時的激光k的分布位置，Lmax 和L幽分別表示準(zhǔn)直透鏡131位于位置Pm議時和位于位置Pmin時的激光 的分布位置。在位置Pmax和位置Pmin，光檢測器10的激光的分布偏 移的方向相反，基于前面敘述的原因，偏移量也約是一半，所以對焦點(diǎn) 誤差信號帶來的影響較小。將以上所述的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法與以往的調(diào)節(jié)方法相比，以 往的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤只形成有在光盤標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的深度的信息記 錄層，所以選擇在光盤標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的深度的信息記錄層中的任一層來 進(jìn)行光檢測器的位置調(diào)節(jié)。因此，在切換為調(diào)節(jié)時未被選擇的另一方深度的信息記錄層，而使準(zhǔn)直透鏡131移動時，如圖4 (C)和圖4 (D)所示，在調(diào)節(jié)時未被選擇的另一方深度的信息記錄層中，存在入射到光檢測器16的激光L2的照射位置大大偏移感光面10a的中心的問題。但是， 在本發(fā)明的實(shí)施方式1的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法中，導(dǎo)入處于在光盤 標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的信息記錄層的最大深度Dmax與信息記錄層的最小深度 Dmin中間的深度Dmid的中間深度信息記錄層32mid，使用該中間深度信息記錄層32,進(jìn)行調(diào)節(jié)，所以可以使入射到光檢測器16的激光L,的照射位置距中心的偏移量大致削減一半。并且，使用圖8說明如上所述的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法以及使用 該調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造方法。圖8是表示本發(fā)明的實(shí)施方式1 的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法的流程圖。首先，作為最開始的步驟(步驟 ST1)，在光盤標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的多個深度(保護(hù)基板的厚度)的中間深度 Dmid即中間深度信息記錄層32mid，實(shí)施光檢測器16的調(diào)節(jié)。在接下來的步驟ST2中，使光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30在半徑方向上移 動，例如在光盤標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的最大深度信息記錄層32m^實(shí)施來自光 檢測器16的輸出信號的質(zhì)量檢查。在接下來的步驟ST3中，使光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30在半徑方向上移 動，在光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最小深度信息記錄層32min，實(shí)施來自光檢測器 16的輸出信號的質(zhì)量檢查。然后，在步驟ST4中，實(shí)施在步驟ST2和步驟ST3中檢查出的輸出 信號的合格與否判定，如果全部合格，則結(jié)束調(diào)節(jié)。另一方面，在判定 為不合格時，例如返回步驟ST1從頭開始進(jìn)行重新調(diào)節(jié)。但是，存在進(jìn) 行了兩次以上相同的調(diào)節(jié)步驟仍舊不合格的情況。在這種情況下，認(rèn)為 有可能準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13的配置精度有問題，準(zhǔn)直透鏡131的移動軸 136與光軸AX的偏移在初始時就較大。因此，在這種情況下，需要在提 高準(zhǔn)直透鏡光學(xué)系統(tǒng)13的初始配置精度后，再進(jìn)行光檢測器16的調(diào)節(jié)。 因此，在步驟ST5中，確認(rèn)調(diào)節(jié)次數(shù)，如果在第1次調(diào)節(jié)中不合格，則 進(jìn)行重新調(diào)節(jié)，如果在第2次調(diào)節(jié)時仍不合格，則重新調(diào)節(jié)準(zhǔn)直透鏡光 學(xué)系統(tǒng)13的構(gòu)成配置之后，再次開始光檢測器16的調(diào)節(jié)。在以上的說明中，把具有可以從同一方向記錄或再現(xiàn)的兩個信息記 錄層的光盤的標(biāo)準(zhǔn)作為對象進(jìn)行了說明，但在信息記錄層的數(shù)量為3個 以上時，形成具有最深的信息記錄層、最淺的信息記錄層、和深度處于 兩者中間的信息記錄層的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤即可。另夕卜，在以上的說明中，說明了使支撐光盤的主軸電動機(jī)28在光盤 的半徑方向上移動的情況，但是也可以采用使光學(xué)拾波器裝置IO在光盤的半徑方向上移動的結(jié)構(gòu)。并且，在以上的說明中，說明了從光盤的中心朝向外側(cè)依序配置最 大深度信息記錄層32max、中間深度信息記錄層32^、和最小深度信息記錄層32幽的情況，但是各個信息記錄層的配置不限于上述示例。另外，在以上的說明中，關(guān)于在作為調(diào)節(jié)對象的光拾波器裝置中校正球面像差的方法，例示了使準(zhǔn)直透鏡131在光軸方向上移動的情況， 但是也可以采用除準(zhǔn)直透鏡131之外，還追加具有增大激光光束寬度的 功能的擴(kuò)束鏡(beam expander lens)(未圖示)，并使該透鏡移動的方法。另外，在以上的說明中，關(guān)于在作為調(diào)節(jié)對象的光拾波器裝置中使 準(zhǔn)直透鏡移動的方式，例示了采用通過電動機(jī)134使絲杠135旋轉(zhuǎn)的方 式，但是，例如也可以采用基于音圈電動機(jī)的驅(qū)動單元使準(zhǔn)直透鏡131 在光軸方向前進(jìn)移動的機(jī)構(gòu)(未圖示)。另外，在以上的說明中，關(guān)于作為調(diào)節(jié)對象的光學(xué)拾波器裝置的焦 點(diǎn)誤差檢測方式，說明了使用像散法的情況，但是檢測焦點(diǎn)誤差的方式 不限于使用像散法的方式。實(shí)施方式2圖9是概略表示本發(fā)明的實(shí)施方式2的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30a的 結(jié)構(gòu)的剖面圖。如圖9所示，實(shí)施方式2的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30a具有透明的保 護(hù)基板31a、形成于保護(hù)基板31a的內(nèi)表面?zhèn)鹊男畔⒂涗泴?2a、和覆蓋 信息記錄層32a的保護(hù)層33a。在實(shí)施方式2中，信息記錄層32a具有光 拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層32mid，其形成為光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的 最大深度信息記錄層的深度Dm^和最小深度信息記錄層的深度D^的中 間的深度Dmid。如圖9所示，實(shí)施方式2的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30a不 具有與光盤標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的最大深度信息記錄層和最小深度信息記錄層 對應(yīng)的、光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層32max和光拾波器調(diào)節(jié)用 的最小深度信息記錄層32min，這一點(diǎn)與實(shí)施方式1的光拾波器調(diào)節(jié)用光 盤30不同。實(shí)施方式2的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30a和使用它的光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法以及使用該調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造方法，對^U1過中 間深度信息記錄層32mid的調(diào)節(jié)即可保證能夠恰當(dāng)?shù)卣{(diào)節(jié)光檢測器的位置的情況有效。在使用該光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30a時，可以省略使用了具 有符合光盤標(biāo)準(zhǔn)的信息記錄層的光盤的確認(rèn)檢查。另外，在實(shí)施方式2中，上述之外的內(nèi)容與上述實(shí)施方式l相同。實(shí)施方式3圖10是概略表示實(shí)施方式3的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b的結(jié)構(gòu)的剖 面圖。如圖IO所示，實(shí)施方式3的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b具有透明的保 護(hù)基板31b、形成于保護(hù)基板31b的內(nèi)表面?zhèn)鹊男畔⒂涗泴?2b、和覆蓋 信息記錄層32b的保護(hù)層33b。實(shí)施方式3的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b被 劃分為與光盤的徑向外側(cè)的第1光盤標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)的區(qū)域R,、和與徑向內(nèi)側(cè) 的第2光盤標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)的區(qū)域R2。第1光盤標(biāo)準(zhǔn)例如依據(jù)藍(lán)光DVD標(biāo)準(zhǔn) (blue DVD standard)之一的Blu—Ray盤標(biāo)準(zhǔn)，第2光盤標(biāo)準(zhǔn)例如依據(jù) 紅光DVD標(biāo)準(zhǔn)(red DVD standard)。這樣，第1光盤標(biāo)準(zhǔn)和第2光盤標(biāo) 準(zhǔn)可以是半導(dǎo)體激光器的波長及/或物鏡的數(shù)值孔徑這樣的光學(xué)條件不同 的標(biāo)準(zhǔn)。并且，光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b所具有的對應(yīng)各個光盤標(biāo)準(zhǔn)的 區(qū)域的數(shù)量也可以是3個以上。另外，對應(yīng)第1光盤標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)域&或?qū)?應(yīng)第2光盤標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)域R2也可以是具有上述實(shí)施方式2的結(jié)構(gòu)的區(qū)域。如圖IO所示，光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b在對應(yīng)第1光盤標(biāo)準(zhǔn)的區(qū)域 R,內(nèi)具有光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層32m^，其形成為與第 1光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息記錄層相同的深度Dmaxl;光拾波器調(diào) 節(jié)用的最小深度信息記錄層32n^，其形成為與第1光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最 小深度信息記錄層相同的深度Dminl;以及光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信 息記錄層32m^，其形成為第1光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息記錄層的 深度Dmaxl與最小深度信息記錄層的深度Dminl的中間的深度Dmidl 。并且，如圖10所示，光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b在對應(yīng)第2光盤標(biāo)準(zhǔn) 的區(qū)域R2內(nèi)具有光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層32max2，其形 成為與第2光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息記錄層相同的深度Dmax2;光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層32min2，其形成為與第2光盤標(biāo)準(zhǔn)所 規(guī)定的最小深度信息記錄層相同的深度Dmin2;以及光拾波器調(diào)節(jié)用的中 間深度信息記錄層32mid2，其形成為第2光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息 記錄層的深度Dmax2與最小深度信息記錄層的深度Dmin2的中間的深度Dmid2 o根據(jù)實(shí)施方式3的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤30b和使用它的光拾波器裝 置的調(diào)節(jié)方法以及使用該調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造方法，在上述 實(shí)施方式1的效果的基礎(chǔ)上，無需更換光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，即可進(jìn)行 多個光盤標(biāo)準(zhǔn)的調(diào)節(jié)。另外，在實(shí)施方式3中，上述之外的內(nèi)容與上述實(shí)施方式1或2相同。
權(quán)利要求
1.一種光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，該光盤在調(diào)節(jié)光拾波器裝置時使用，該光拾波器裝置隔著透明的保護(hù)基板向具有形成于所述保護(hù)基板的內(nèi)表面?zhèn)鹊亩鄬有畔⒂涗泴拥墓獗P照射激光，而檢測來自所述信息記錄層的反射激光，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的特征在于，在對作為所述光拾波器裝置的記錄或再現(xiàn)對象的光盤進(jìn)行規(guī)定的光盤標(biāo)準(zhǔn)中，至少規(guī)定了從所述保護(hù)基板的外表面到所述信息記錄層的深度為最大的最大深度信息記錄層、和從所述保護(hù)基板的外表面到所述信息記錄層的深度為最小的最小深度信息記錄層，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤具有透明的保護(hù)基板；以及光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層，其形成于所述保護(hù)基板的內(nèi)表面?zhèn)?，并且形成為所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最大深度信息記錄層的深度和所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的最小深度信息記錄層的深度中間的深度。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其特征在于，所述 光拾波器調(diào)節(jié)用光盤還具有光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層，其形成為與所述光盤標(biāo)準(zhǔn) 所規(guī)定的最大深度信息記錄層的深度相同的深度；以及光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層，其形成為與所述光盤標(biāo)準(zhǔn) 所規(guī)定的最小深度信息記錄層的深度相同的深度，所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層、所述光拾波器調(diào)節(jié)用 的中間深度信息記錄層、和所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層， 形成為被劃分到所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的半徑方向上的不同區(qū)域中。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其特征在于， 所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的所述多層信息記錄層是兩層的信息記錄層。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其特征在于， 所述光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的所述多層信息記錄層是三層以上的信息記錄層。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其特征在于，所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤還具有光拾波器調(diào)節(jié)用的其他中間深度信息記 錄層，所述其他中間深度信息記錄層形成為由與所述光盤標(biāo)準(zhǔn)不同的其他 光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的其他最大深度信息記錄層的深度、和所述其他光盤標(biāo) 準(zhǔn)所規(guī)定的其他最小深度信息記錄層的深度中間的深度。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，其特征在于，所述 光盤標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的激光的波長及/或物鏡的數(shù)值孔徑，與所述其他光盤標(biāo) 準(zhǔn)所規(guī)定的激光的波長及/或物鏡的數(shù)值孔徑不同。
7. —種光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法，使用調(diào)節(jié)裝置和安裝在所述調(diào)節(jié)裝置上的權(quán)利要求1 6中任一項(xiàng)所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，來調(diào)節(jié)光拾波器裝置，其中，所述調(diào)節(jié)裝置具有使光盤旋轉(zhuǎn)的盤驅(qū)動單元、和根 據(jù)所述光拾波器裝置的光檢測器的檢測信號來調(diào)節(jié)所述光檢測器的位置 的光檢測器調(diào)節(jié)單元，其特征在于，所述調(diào)節(jié)方法包括以下步驟-所述調(diào)節(jié)裝置的所述盤驅(qū)動單元使所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤旋轉(zhuǎn)的步驟；所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的 所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層照射激光，而檢測來自所述 光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層的反射激光的步驟；以及所述調(diào)節(jié)裝置的所述光檢測器調(diào)節(jié)單元根據(jù)所述反射激光的檢測結(jié) 果，來調(diào)節(jié)所述光拾波器裝置的光檢測器的步驟。
8. —種光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法，使用調(diào)節(jié)裝置和安裝在所述調(diào)節(jié) 裝置上的權(quán)利要求2所述的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，來調(diào)節(jié)光拾波器裝置， 其中，所述調(diào)節(jié)裝置具有使光盤旋轉(zhuǎn)的盤驅(qū)動單元、變更所述盤驅(qū)動單 元相對光盤的相對位置的移動單元、以及根據(jù)所述光拾波器裝置的光檢 測器的檢測信號來調(diào)節(jié)所述光檢測器的位置的光檢測器調(diào)節(jié)單元，其特 征在于，所述調(diào)節(jié)方法包括以下步驟所述調(diào)節(jié)裝置的所述盤驅(qū)動單元使所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤旋轉(zhuǎn)的 步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變更所述光拾波器裝置和所述光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的相對位置，所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述 光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層照射 激光，而檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層的反射激 光的步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述光檢測器調(diào)節(jié)單元根據(jù)來自所述光拾波器調(diào)節(jié) 用的中間深度信息記錄層的反射激光的檢測結(jié)果，來調(diào)節(jié)所述光拾波器裝置的光檢測器的位置的步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變更所述光拾波器裝置和所述光拾波 器調(diào)節(jié)用光盤的相對位置，所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述 光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層照射 激光，而檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層的反射激 光的步驟；所述調(diào)節(jié)裝置的所述移動單元變更所述光拾波器裝置和所述光拾波 器調(diào)節(jié)用光盤的相對位置，所述光拾波器裝置隔著所述保護(hù)基板向所述 光拾波器調(diào)節(jié)用光盤的所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層照射 激光，而檢測來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記錄層的反射激 光的步驟；以及所述調(diào)節(jié)裝置根據(jù)來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最大深度信息記錄層 的反射激光的檢測結(jié)果、和來自所述光拾波器調(diào)節(jié)用的最小深度信息記 錄層的反射激光的檢測結(jié)果，來判定信號質(zhì)量的步驟。
9. 一種使用權(quán)利要求7或8所述的調(diào)節(jié)方法的光拾波器裝置的制造 方法。
全文摘要
提供一種光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法和制造方法、及可以使這些方法實(shí)現(xiàn)的光拾波器調(diào)節(jié)用光盤，可以將準(zhǔn)直透鏡的光軸方向之外的方向的位移對光檢測器的檢測信號的影響控制在允許范圍內(nèi)。作為解決手段，光拾波器調(diào)節(jié)用光盤(30)具有保護(hù)基板(31)；和光拾波器調(diào)節(jié)用的中間深度信息記錄層(32_mid)，其形成為光盤標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最大深度信息記錄層的深度D_max和最小深度信息記錄層的深度D_min的中間的深度D_mid。光拾波器裝置的調(diào)節(jié)方法如下，光拾波器裝置(10)隔著保護(hù)基板(31)向光拾波器調(diào)節(jié)用光盤(30)的中間深度信息記錄層(32_mid)照射激光L₁，并檢測反射激光L₂，調(diào)節(jié)裝置(20)根據(jù)反射激光L₂的檢測結(jié)果，調(diào)節(jié)光拾波器裝置(10)的光檢測器(16)的位置。
文檔編號G11B7/135GK101256791SQ20081008221
公開日2008年9月3日 申請日期2008年2月26日 優(yōu)先權(quán)日2007年2月26日
發(fā)明者中井賢也, 中原宏勲, 松原大介, 篠田昌久 申請人:三菱電機(jī)株式會社