專利名稱：通信設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種通信設(shè)備，例如一種非接觸型IC(集成電路)卡，它帶有包含可編程存貯器的LSI(大規(guī)模集成電路)。
圖25表明一個LSI的存貯器圖，LSI包含要在常規(guī)的非接觸型IC卡中使用的可編程存貯器。在此圖中，參考號10表示一個存貯器單元；參考號11表示一個可重寫的可編程存貯器單元；參考號12表示當前已將數(shù)據(jù)存貯在這里的一個不可重寫的固定的存貯器單元。如圖所示，可編程存貯器單元11可分為許多區(qū)。當訪問每個區(qū)時，每個區(qū)有一個要用輸入口令來檢驗的口令。當輸入的口令不符合相應(yīng)于各個區(qū)的口令時，禁止訪問各個區(qū)。只有當輸入的口令符合相應(yīng)于各個區(qū)的口令時，才允許訪問各個區(qū)。
在這樣一個LSI中，在晶片加工完成后，地址中存貯口令的數(shù)據(jù)變成不確定的，因而訪問每個區(qū)變得非常困難。為了消除這個缺點，常規(guī)的通信設(shè)備以這樣一種方法構(gòu)成，當生產(chǎn)晶片時存貯一個主口令在固定的存貯器單元12內(nèi)，如果主口令符合于輸入的口令，則不論相應(yīng)于每個區(qū)的口令的檢驗結(jié)果如何，都可以訪問所有的區(qū)，或允許更改口令。利用主口令可在常規(guī)的LSI中執(zhí)行一個存貯器的測試。
圖26是一方框圖，它表明一個常規(guī)的非接觸型IC卡通信系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。在此圖中，參考號100表示一個讀/寫設(shè)備，參考號200表示一個非接觸型IC卡。非接觸型IC卡200包括一個用于發(fā)送和接收無線電波的天線201；一個調(diào)制/解調(diào)電路202，它用數(shù)字調(diào)制一個載波并且從已調(diào)制的載波中解調(diào)出數(shù)據(jù)；一個可編程存貯器203用于存貯數(shù)據(jù)；和一個控制電路204用來控制非接觸型IC卡的工作和執(zhí)行命令處理。調(diào)制/解調(diào)電路202，可編程存貯器203和控制電路204都集成在非接觸型IC卡要使用的LSI210中。可編程存貯器203有一個類似于圖25中所示的存貯器單元10的結(jié)構(gòu)。
圖27是一個順序圖。表明讀/寫設(shè)備100與非接觸型IC卡200之間的通信過程。如圖27所示，通過發(fā)送一個讀ID(RID)命令從讀/寫設(shè)備100到非接觸型IC卡200來啟動一個通信。其次，讀/寫設(shè)備100發(fā)送一個命令，例如可編程存貯器203的一個寫命令或一個讀命令到非接觸型IC卡200。非接觸型IC卡200執(zhí)行一個輸入的命令，并將該命令的結(jié)果數(shù)據(jù)發(fā)回到讀/寫設(shè)備100。如果在命令執(zhí)行步驟之前產(chǎn)生了一個誤差，例如一個通信誤差和一個口令檢驗誤差，就不執(zhí)行該命令。在此情況下，指示誤差情況的一個誤差狀態(tài)被發(fā)送到讀/寫設(shè)備100或從非接觸型IC卡200沒有信息發(fā)送。
由于上述常規(guī)的通信設(shè)備的結(jié)構(gòu)，一旦存貯在固定的存貯器內(nèi)的口令為第三方得知，則第三方使用整個存貯器的數(shù)據(jù)就成為可能，而且，主口令不能更改。
本發(fā)明是考慮到上述問題而完成的。因而本發(fā)明的目的就是提供一個通信設(shè)備，利用它可容易地實行存貯器測試并保持高度的保密性。
為了完成以上目標，本發(fā)明的一個通信設(shè)備包含分為第一區(qū)和第二區(qū)的一個存貯器。第一區(qū)包括一個第三區(qū)用來存貯一個預(yù)定代碼，指明從外部設(shè)備到存貯器的存取要求第一口令的符合；一個判決單元用來決定預(yù)定代碼是否存貯在第三區(qū)中；一個口令檢驗單元；當外部設(shè)備訪問通信設(shè)備時，該口令檢驗單元用存貯在通信設(shè)備中的第一口令來檢驗從外部設(shè)備發(fā)送的第一口令；以及存取許可單元，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)時由于口令檢驗單元的檢驗結(jié)果，如果外部設(shè)備發(fā)送的第一口令符合存貯于通信設(shè)備的第一口令，則存取許可單元允許從外部設(shè)備到第二區(qū)存取。當預(yù)定口令沒有存貯在第三區(qū)時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取而與口令檢驗單元的第一口令檢驗的結(jié)果無關(guān)。
也就是說，在上述的通信設(shè)備中，當預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)時，如果得到第一口令符合，存取許可單元允許從外部設(shè)備到存貯器的第二區(qū)存取。另一方面，當預(yù)定代碼沒有存貯在存貯器的預(yù)定區(qū)內(nèi)，則口令許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取而與口令許可單元的第一口令檢驗的結(jié)果無關(guān)。所以，可容易地測試存貯器并保持高度保密性。
進一步，這個發(fā)明的一個通信設(shè)備包括分為第一區(qū)和第二區(qū)的一個存貯器，第一區(qū)包括一個第三區(qū)用來存貯一個預(yù)定代碼以指明從外部設(shè)備到存貯器的存取要求第一口令的符合；一個判決單元用來決定預(yù)定代碼是否存貯在第三區(qū)中；一個口令檢驗單元，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)時，如果外部設(shè)備訪問通信設(shè)備，則口令檢驗單元用存貯在通信設(shè)備中的第一口令來檢驗外部設(shè)備發(fā)送的第一口令；以及一個存取許可單元，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)時，如果由于口令檢驗單元的檢驗結(jié)果，外部設(shè)備發(fā)送的第一口令符合存貯于通信設(shè)備中的第一口令，則存取許可單元允許從外部設(shè)備到第二區(qū)存取。當預(yù)定口令沒有存貯在第三區(qū)時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取而不用執(zhí)行口令檢驗單元的第一口令檢驗。
也就是說，在上述通信設(shè)備中，當預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)內(nèi)，如果得到了第一口令符合時，則存取許可單元允許從外部設(shè)備到存貯器第二區(qū)存取。另一方面，當預(yù)定代碼沒有存貯在存貯器的預(yù)定區(qū)內(nèi)時，則口令許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取，而不用執(zhí)行口令檢驗單元的第一口令檢驗。所以，可容易地測試存貯器并保持高度保密性。
此外，在這個發(fā)明的通信設(shè)備中，從通信設(shè)備接收到來自外部設(shè)備的一個命令的時刻(該外部設(shè)備要求通信設(shè)備發(fā)送一個識別碼)，到通信設(shè)備發(fā)送一個識別碼到外部設(shè)備的時刻，在此期間，判決單元決定預(yù)定代碼是否存貯在第三區(qū)內(nèi)。
由于這個結(jié)構(gòu)，通過判定預(yù)定代碼是否存貯來得到高度的保密性。
而且，本發(fā)明的通信設(shè)備是這樣構(gòu)成第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，因而當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)，如果從外部設(shè)備發(fā)送第二口令時，則口令檢驗單元用存貯在第四區(qū)的第二口令來檢驗從外部設(shè)備發(fā)送的第二口令，并且存取許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取而不要求在口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中第一口令的符合。
也就是說，即使預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)，當?shù)玫降诙诹罘蠒r，存取許可單元允許從外部設(shè)備到存貯器的第一區(qū)或到第二區(qū)存取而不要求第一口令的符合。所以，可容易地測試存貯器并保持高度保密性。
此外，本發(fā)明的一個通信設(shè)備這樣構(gòu)成它使第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，因而當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)如果從外部設(shè)備發(fā)送一個第二口令時，則口令檢驗單元用存貯在第四區(qū)的第二口令來檢驗從外部設(shè)備發(fā)送的第二口令，通信設(shè)備還包括計數(shù)單元，在口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，它用來計數(shù)外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，以及存取許可單元，當口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合時，和當計數(shù)單元所計數(shù)的命令數(shù)目超過一個預(yù)定的數(shù)目時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取，而在口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
也就是，當?shù)玫揭粋€第二口令符合并且即使預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)內(nèi)計數(shù)單元計數(shù)的命令的數(shù)目超過了一個預(yù)定的數(shù)目時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到存貯器的第一區(qū)或到第二區(qū)存取而不要求第一口令的符合。所以，可容易地測試存貯器并保持高度的保密性。
此外，本發(fā)明的一個通信設(shè)備這樣構(gòu)成它使第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)如果外部設(shè)備發(fā)送一個第二口令時，則口令檢驗單元用存貯在第四區(qū)的第二口令來檢驗外部設(shè)備發(fā)送的第二口令，通信設(shè)備還包括計數(shù)單元，在口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)單元計數(shù)外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，以及存取許可單元，當口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中得到一個第二口令的符合時，并且當計數(shù)單元計數(shù)的命令的數(shù)目是大于或等于一個第一預(yù)定數(shù)并小于或等于一個第二預(yù)定數(shù)時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到第一區(qū)或到第二區(qū)存取而在口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
也就是，當?shù)玫降诙诹罘蠒r，并且雖然預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)內(nèi)，當計數(shù)單元計數(shù)的命令數(shù)目是大于或等于一個第一預(yù)定數(shù)同時小于或等于第二預(yù)定數(shù)時，存取許可單元允許從外部設(shè)備到存貯器的第一區(qū)或到第二區(qū)存取而不要求第一口令的符合。因此，可容易地測試存貯器并保持高度的保密性。
此外，本發(fā)明的一個通信設(shè)備這樣構(gòu)成它使第二口令包括一個要檢驗的讀口令(當存貯在存貯器中的數(shù)據(jù)是讀時)和一個要檢驗的寫口令(當數(shù)據(jù)寫入存貯器時)，第四區(qū)包括一個讀口令區(qū)和一個寫口令區(qū)，前者用來存貯讀口令，后者用來存貯寫口令，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)，如果外部設(shè)備發(fā)送一個讀口令時，口令檢驗單元用外部設(shè)備發(fā)送的讀口令來檢驗存貯在讀口令區(qū)內(nèi)的讀口令，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)，如果從外部設(shè)備發(fā)送一個寫口令時，口令檢驗單元用外部設(shè)備發(fā)送的寫口令來檢驗存貯在寫口令區(qū)的寫口令，其中當由于口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗結(jié)果得到一個讀口令符合時，存取許可單元允許一個讀命令從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)而不要求第一口令的符合，而當由于口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗結(jié)果得到一個寫口令符合時，存取許可單元允許一個寫命令從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)而不要求第一口令令的符合。
即是，即使預(yù)定代碼存在存貯器的預(yù)定區(qū)當由于口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗結(jié)果得到一個讀口令符合時，存取許可單元允許從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)一個讀命令而不要求第一口令的符合。此外，即使預(yù)定代碼存在存貯器的預(yù)定區(qū)，當由于口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗結(jié)果而得到一個寫口令符合時，存取許可單元允許從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)一個寫命令而不要求第一口令令的符合。所以可以容易地測試存貯器并保持高度的保密性。
此外，本發(fā)明的一個通信設(shè)備這樣構(gòu)成它使第二口令包括一個要檢驗的讀口令(當讀取存貯在存貯器的數(shù)據(jù)時)和一個要檢驗的寫口令(當數(shù)據(jù)寫入存貯器時)，第四區(qū)包括一個讀口令區(qū)用以存貯讀口令，和一個寫口令區(qū)用以存貯寫口令，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)，如果從外部設(shè)備發(fā)送一個讀口令時，則口令檢驗單元用外部設(shè)備發(fā)送的讀口令來檢驗存貯在讀口令區(qū)的讀口令，當預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)，如果從外部設(shè)備發(fā)送一個寫口令時，則口令檢驗單元用外部設(shè)備發(fā)送的寫口令來檢驗存貯在寫口令區(qū)的寫口令，當由于口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗結(jié)果而得到讀口令符合和寫口令符合時，則存取許可單元即允許從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)一個讀命令，也允許從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)一個寫命令，而不要求第一口令的符合。
即是，即使預(yù)定代碼存貯在預(yù)定區(qū)，當由于口令檢驗單元執(zhí)行的檢驗結(jié)果，而得到讀口令符合和寫口令符合時，存取許可單元允許從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)讀命令，以及從外部設(shè)備給第一區(qū)或第二區(qū)寫命令，而不要求第一口令的符合。所以，可容易地測試存貯器并保持高度保密性。


圖1是一方框圖，表明使用本發(fā)明第一實施例的非接觸型IC卡的一個通信系統(tǒng)。
圖2表明在第一實施例的一個非接觸型IC卡中一個可編程存貯器的存貯器圖。
圖3是一順序圖，表明在第一實施例中讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡間的通信過程。
圖4表明控制電路的一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)。在第一實施例中當一個非接觸型IC卡接收一個命令時，它執(zhí)行誤差處理。
圖5是一順序圖，表明當讀/寫設(shè)備發(fā)送一個讀命令給非接觸型IC卡時，一個讀/寫設(shè)備和一個非接觸型IC卡之間的通信過程。
圖6表明一個讀命令的格式。
圖7表明當從讀/寫設(shè)備發(fā)送一個讀命令時，從非接觸型IC卡給讀/寫設(shè)備發(fā)送的讀數(shù)據(jù)的格式。
圖8表明一個寫命令的格式。
圖9是一流程圖，它表明判斷口令檢驗是否執(zhí)行取決于在第二實施例中MC區(qū)的設(shè)置狀態(tài)。
圖10表明當預(yù)定代碼沒有設(shè)置在第二實施例中的MC區(qū)時，要從讀/寫設(shè)備向非接觸型IC卡發(fā)送一個讀命令的結(jié)構(gòu)。
圖11表明第三實施例的一個可編程存貯器的存貯器圖。
圖12表明裝備在第三實施例的控制電路中的一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)，當接收到讀命令時它用來實行誤差處理。
圖13表明裝備在第三實施例的控制電路中的一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)，當接收到寫命令時它用來實行誤差處理。
圖14是一順序圖，它表明在第三實施例中實行讀命令處理時讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡之間的通信過程。
圖15表明用于一個MRP檢驗的讀命令的結(jié)構(gòu)。
圖16是一順序圖，它表明在第三實施例中，執(zhí)行寫命令處理時讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡之間的通信過程。
圖17表明用于一個MWP檢驗的讀命令的結(jié)構(gòu)。
圖18表明當接到一個讀命令時，裝備在第四實施例非接觸型IC卡的控制電路中的誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)。
圖19是一順序圖，它表明在第四實施例中讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡之間通信的過程。
圖20表明第四實施例中一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)。
圖21是一電路圖，它表明在第六實施例中一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)。
圖22是一順序圖，它表明在第六實施例中讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡之間的通信過程。
圖23表明裝備在第七實施例非接觸型IC卡的控制電路中的一個誤差信號輸出電路的結(jié)構(gòu)。
圖24是一順序圖，它表明在第七實施例中非接觸型IC卡和讀/寫設(shè)備間的通信過程。
圖25表明一個LSI的存貯器圖，它包含用在常規(guī)非接觸型IC卡內(nèi)的一個可編程存貯器。
圖26是一方框圖，它表明一個常規(guī)的非接觸型IC卡通信系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
圖27是一順序圖，它表明在常規(guī)的系統(tǒng)中讀/寫設(shè)備和非接觸型IC卡之間的通信過程。
此后將參考附圖詳細解釋本發(fā)明的優(yōu)選實施例。實施例1圖1是一方框圖，它表明使用本發(fā)明的第一實施例的一個非接觸型IC卡的一個通信系統(tǒng)。在此圖中，參考號300表示一個讀/寫設(shè)備(外部設(shè)備)，參考號400表示一個非接觸型IC卡(通信設(shè)備)，它通過無線電波和讀/寫設(shè)備300通信。非接觸型IC卡400包括一個天線401，用于發(fā)送和接收無線電波；一個調(diào)制/解調(diào)電路402，用于調(diào)制一個帶有數(shù)據(jù)的載波和用于解調(diào)已調(diào)制波的數(shù)據(jù)；可編程存貯器403用于存貯數(shù)據(jù)；以及一個控制電路404，用于控制非接觸型IC卡400的工作和執(zhí)行命令的處理。調(diào)制/解調(diào)電路402，可編程存貯器403和控制電路404都集成在用于非接觸型IC卡的LSI410中。
圖2表明非接觸型IC卡400中可編程存貯器403的存貯器圖。如圖2所示，區(qū)A1的范圍從地址AD0到地址AD1，區(qū)A2的范圍從地址AD1+1到AD2，區(qū)A3的范圍從地址AD2+1到地址AD3，區(qū)A4和A5的范圍類似于區(qū)A1到A3。
區(qū)A1到A5分別地保存口令(第一口令)PW1到PW5，當訪問每個區(qū)時它們要受到檢驗。區(qū)A1到A5組成一個用戶區(qū)(第二區(qū))UA。從地址AD5+1到定位地址AD6是生產(chǎn)者區(qū)(第一區(qū))MA，它包括生產(chǎn)者的代碼區(qū)(第三區(qū))用來保存使口令PW1到PW5有效的生產(chǎn)者代碼。這里不推薦使用代碼“00H”，“01H”，“03H”、“07H”，“0FH”，“1FH”，“3FH”，“7FH”，“FFH”，“80H”，“COH”，“EOH”，“FOH”，“F8H”，“FCH”，“FEH”作為生產(chǎn)者代碼，因為在晶片加工完成后，這些代碼經(jīng)常出現(xiàn)在存貯器403內(nèi)。此外，也不推薦使用代碼“OOH”，“FFH”，“AAH”，“55H”作為生產(chǎn)者代碼，因為在存貯器測試期間這些代碼寫在存貯器403內(nèi)。例如，可使用代碼“12H”，“34H”作為生產(chǎn)者代碼。以下的實施例將會解釋假定使用代碼“12H”作為生產(chǎn)者代碼的情況。
首先，將解釋測試存貯器時訪問存貯器403的情況，設(shè)置一個生產(chǎn)者代碼的計時是不同的，這取決于裝載一個產(chǎn)品是以LSI芯片的形式還是以非接觸型IC卡的形式。在以下說明中，將解釋裝載一個非接觸型IC卡作為一個產(chǎn)品的情況。
圖3是一順序圖，表明讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。如圖3所示，讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個讀ID(RID)命令給非接觸型IC卡400。接收到一個RID命令后，非接觸型IC卡400判斷在P1期間預(yù)定代碼“12H”是否存貯在可編程存貯器403的生產(chǎn)者區(qū)MA的Me區(qū)內(nèi)。當預(yù)定代碼“12H”存貯在MC區(qū)，則來自讀/寫設(shè)備的存取要求相應(yīng)于被存取區(qū)的一個口令的符合。另一方面，預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)，即使在口令檢驗中沒有得到口令符合也允許來自讀/寫設(shè)備300的訪問。
在完成判斷預(yù)定代碼“12H”是否存貯在MC區(qū)之后，非接觸型IC卡400發(fā)送它本身的ID線給讀/寫設(shè)備300。其次，讀/寫設(shè)備300接收并分析從非接觸型IC卡400發(fā)送的ID線。當讀/寫設(shè)備300確定非接觸型IC卡400就是要通信的對象時則讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個要求確定過程的命令給非接觸型IC卡400，即是，僅在RID命令正常執(zhí)行后，所有其他的命令才能執(zhí)行。
圖4表明控制電路404的誤差信號輸出電路(存取許可裝置)450的結(jié)構(gòu)。當非接觸型IC卡400接收了從讀/寫設(shè)備300發(fā)出的一個命令時，誤差信號輸出電路450實行誤差處理。在圖4中，參考號451表示一個口令檢驗電路，它用輸入的口令來檢驗所存貯的口令，并且在沒有得到口令符合時，它輸出一個具有“H”電平的口令誤差信號；參考號452表示一個地址誤差信號產(chǎn)生電路，當一個地址被非接觸型IC卡400指出在許可區(qū)之外時，它輸出一個具有“H”電平的地址誤差信號；參考號453是一個接收誤差信號產(chǎn)生電路，當一個信號接收誤差發(fā)生時，它輸出一個具有“H”電平的接收誤差信號；參考號454代表一個MC定位標記，當預(yù)定代碼“12H”存貯在MC區(qū)時，它存貯一個“H”電平信號，而當預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)時，它存貯一個“L”電平信號；參考號455和456表示一個或門；457表示一個與門。在MC定位標記454中設(shè)置一個值的確定由控制電路404實現(xiàn)，而該值寫入MC定位標記454內(nèi)。在將預(yù)定代碼“12H”寫入MC區(qū)以前，在MC區(qū)中已有一個值，例如“FFH”。這時，MC定位標記454輸出一個“L”電平信號。因而，從口令檢驗電路451輸出的口令誤差信號和從地址誤差信號產(chǎn)生電路452輸出的地址誤差信號在與門457被屏蔽，只有當接收誤差發(fā)生時，從或門456才輸出一個具有“H”電平的誤差信號。因而，即使發(fā)生口令誤差或地址誤差但沒有發(fā)生接受誤差時，也不執(zhí)行誤差處理。因此，在非接觸型IC卡400的存貯器測試期間，即使輸入的口令與存貯在存貯器403中的口令不符合，也可以訪問從地址AD0到地址AD6的存貯器區(qū)。也就是說，誤差信號輸出電路450工作以便決定是否允許從外部設(shè)備發(fā)送一個訪問信號。
存貯器測試完成后，預(yù)定代碼“12H”寫入MC區(qū)而“H”電平信號寫入MC定位標記454中。因此，當口令誤差信號，地址誤差信號和接收誤差信號中的任何一個變成“H”電平時，從或門456輸出一個具有“H”電平的誤差信號。所以，在將預(yù)定代碼“12H”寫入MC區(qū)之后，只有當輸入口令與存在存貯器403中的口令符合時才允許訪問，并且訪問范圍是在可編程存貯器403的地址AD0到地址AD5區(qū)內(nèi)。
圖5是一順序圖，它表明在讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個讀命令給非接觸型IC卡400時，讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。圖6表明一個讀命令的格式。如圖6所示，讀命令510包含一個命令代碼511，要讀取的數(shù)據(jù)的地址512，和一個口令513。圖7表明當讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個讀命令510時，從非接觸型IC卡400給讀/寫設(shè)備300發(fā)送的讀數(shù)據(jù)520的格式。如圖7所示，讀數(shù)據(jù)520包含一個指示誤差情況的誤差狀態(tài)521和一個讀數(shù)據(jù)系列522。
如圖5所示，通過發(fā)送一個RID命令從讀/寫設(shè)備300到非接觸型IC卡400來起動讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的數(shù)據(jù)通信。在接收RID命令后，非接觸IC卡400判斷預(yù)定代碼“12H”是否存貯在MC區(qū)內(nèi)，并且根據(jù)P2期間這個判斷結(jié)果來執(zhí)行操作，如同以上關(guān)于圖3所解釋的那樣。此后，非接觸型IC卡400發(fā)送它本身的IC線給讀/寫設(shè)備300。只有在正常地執(zhí)行RID命令后才能執(zhí)行所有其他命令。當讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個讀命令510給非接觸型IC卡400時，如果當預(yù)定代碼“12H”存貯在MC區(qū)時，口令513與存于存貯器403內(nèi)的口令符合，則非接觸型IC卡400發(fā)送讀數(shù)據(jù)520給讀/寫設(shè)備300，讀數(shù)據(jù)包括相應(yīng)于讀命令510的地址512的可編程存貯器403的數(shù)據(jù)系列以及誤差狀態(tài)521。另一方面，當預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)時，可允許訪問存貯器403而與口令513的檢驗結(jié)果無關(guān)，并且從非接觸型IC卡400發(fā)送讀數(shù)據(jù)520。
讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個寫命令給非接觸型IC卡的情況類似于以上說明的發(fā)送一個讀命令的情況。圖8表明一個寫命令530的格式。如圖8所示，寫命令530包含一個命令線531，寫入數(shù)據(jù)的一個地址532，一個口令533和寫數(shù)據(jù)系列534。當執(zhí)行一個寫命令時，非接觸型IC卡400發(fā)送一個誤差狀態(tài)給讀/寫設(shè)備300。在此情況下，當預(yù)定代碼“12H”存貯在MC區(qū)時，必需有口令533的符合才執(zhí)行寫命令530，而當預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)時，即使沒有得到口令533的符合，也執(zhí)行寫命令。
如上所述，當預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)時，即使輸入口令與存在存貯器403的口令不符合，口令誤差也不會發(fā)生。由于為寫或為讀通過發(fā)送任何口呤可以訪問存貯器的所有區(qū)，因而，在裝載產(chǎn)品前存貯器測試變得更容易。此外，因為一旦預(yù)定代碼“12H”設(shè)置在MC區(qū)內(nèi)，就能得到高度安全性，要求口令符合。如果輸入口令不符合存在存貯器403內(nèi)的口令，則對于可編程存貯器403的讀訪問和寫訪問都受到禁止。實施例2第二實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第一實施例的結(jié)構(gòu)。然而這個實施例不同于第一實施例有如下幾點。這就是，按照第一實施例即使預(yù)定代碼沒有設(shè)置在MC區(qū)內(nèi)，當接收到讀命令510或?qū)懨?30時仍執(zhí)行口令檢驗。但在第二實施例中，控制電路404這樣構(gòu)成使得當接收到一個讀命令，一個寫命令或類似命令時，就刪去口令檢驗。
圖9是一流程圖，它表明判斷口令檢驗是否執(zhí)行取決于MC區(qū)的狀態(tài)。如圖9所示，當預(yù)定代碼“12H”沒有存貯在MC區(qū)時(步驟ST901)執(zhí)行命令處理而不用檢驗口令(步驟ST902)。另一方面，當預(yù)定代碼“12H”存貯在MC區(qū)時，則執(zhí)行口令檢驗(步驟ST903)。當輸入口令與存貯的口令相同時(步驟ST904)，則執(zhí)行命令處理。當輸入口令與存貯的口令不同時(步驟ST904)，則執(zhí)行口令誤差處理(步驟ST905)。
圖10表明當預(yù)定代碼“12H”沒有設(shè)置在MC區(qū)時，從讀/寫設(shè)備300給非接觸型IC卡400發(fā)送的讀命令540的結(jié)構(gòu)。如圖10所示，讀命令540包含命令代碼541和讀取數(shù)據(jù)的地址542，以及沒有包含在讀/寫命令540中的一個口令。
如上所述，在第二實施例中， 當預(yù)定代碼“12H”沒有設(shè)置在MC區(qū)內(nèi)時，不需要發(fā)送口令。此外，不要求檢驗口令的時間，所以，存貯器測試所要求的時間可以減少。實施例3第三實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第一實施例的結(jié)構(gòu)。第三實施例的可編程存貯器403和控制電路404不同于第一實施例有以下幾點。
圖11表明這個實施例的可編程存貯器403的存貯器圖。如圖11所示，生產(chǎn)者區(qū)MA包括MC區(qū)用于存貯生產(chǎn)者代碼(MC)；生產(chǎn)者讀口令(MRP)區(qū)(向前區(qū))用于存貯MRP(第二口令)，以及生產(chǎn)者寫口令(MWP)區(qū)(向前區(qū))用于存貯MWP(第二口令)。以后將對MRP和MWP作詳細解釋。
圖12表明裝備在控制電路404中誤差信號輸出電路(存取許可裝置)的結(jié)構(gòu)，當接收一個讀命令時，它用來執(zhí)行誤差處理。在圖12中，參考號461表示一個MRP檢驗符合標記，當輸入的MRP與存貯在可編程存貯器403的生產(chǎn)者區(qū)MA中的MRP符合時，這里就存入一個“H”電平信號，而當輸入的MRP與存貯的MRP不符合時，就存入一個“L”電平信號。參考號462和463表示一個或門，464表示一個與非門，465表示一個與門。來自MRP檢驗符合標記461的輸出信號和接收到讀命令時變成“H”電平的一個讀命令信號都輸令入到與非門464的輸入端。所以，當接收到一個讀命令時，如果輸入的MRP與所存貯的MRP相同，即使發(fā)生了口令誤差或地址誤差，或門463也不輸出誤差信號。因為指示口令誤差或地址誤差的誤差信號在與門465被屏蔽，因此口令誤差處理和地址誤差處理不能執(zhí)行。
圖13表明裝備在控制電路404內(nèi)誤差信號輸出電路(存取許可裝置)470的結(jié)構(gòu)，當接收一個寫命令時它用于執(zhí)行誤差處理。在圖13中，參考號471表示一個MWP檢驗符合標記，當輸入的MWP與存貯在可編程存貯器403的生產(chǎn)者區(qū)MA中的MWP符合時，這里就存入一個“H”電平信號，而當輸入的MWP與存貯的MWP不符合時，就存入一個“L”電平信號。來自MWP檢驗符合標記471的輸出信號和接收到寫命令時就變成“H”電平的一個寫命令信號都被輸令入到與非門474的輸令入端。所以，當輸入的MWP與接收到寫命令時所存貯的MWP相同時，即使有口令誤差或地址誤差發(fā)生，或門473也不輸出誤差信號，因為指示口令誤差或地址誤差的誤差信號在與門475被屏蔽。因此口令誤差處理和地址誤差處理不能執(zhí)行。MRP檢驗符合標記461和MWP檢驗符合標記471是這樣構(gòu)成，使得這些標記由一個復(fù)位信號復(fù)位到“L”。
圖14是一順序圖，它表明當執(zhí)行一個讀命令處理時讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。從讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個RID命令給非接觸型IC卡400的時刻到讀/寫設(shè)備300接收到由非接觸型IC卡400發(fā)送的ID線的時刻，在此期間的操作是和第一實施例中所解釋的操作相同。非接觸型IC卡400脫離復(fù)位狀態(tài)，而在通信結(jié)束時IC卡400復(fù)位。所以，MRP檢驗符合標記461和MWP檢驗符合標記471在通信開始前裝有一個“L”電平信號。
其次，讀/寫設(shè)備300為了MRP檢驗發(fā)送一個讀命令給非接觸型IC卡400。圖15表明該讀命令的結(jié)構(gòu)。如圖15所示，讀命令包含一個命令代碼551，生產(chǎn)者區(qū)MA的MRP的地址552及MRP553。當非接觸型IC卡400接收到讀命令550時，檢驗MRP。當輸入的MRP與存貯的MRP符合時，MRP檢驗符合標記461在P3期間被設(shè)置為“H”。另一方面，當輸入的MRP與存貯的MRP不符合時，MRP檢驗符合標記461繼續(xù)保持一個“L”電平信號。讀命令550包含地址552，它在不允許存取的生產(chǎn)者區(qū)MA之內(nèi)。所以，非接觸型IC卡400發(fā)送一個指示地址誤差的誤差狀態(tài)給讀/寫設(shè)備300。即是，在此時讀命令被認為來自非接型IC卡400的外部，讀命令如同正發(fā)生的地址誤差一樣。
在以上說明中，使用讀命令550讀/寫設(shè)備300直接指定生產(chǎn)者區(qū)MA的地址。然而，系統(tǒng)可以這樣構(gòu)成使得讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個在用戶區(qū)UA之外的一個預(yù)定地址給非接觸型IC卡400。在此情況下，非接觸型IC卡400這樣構(gòu)成當非接觸型IC卡400接收到讀命令中的預(yù)定地址時，IC卡400識別具有預(yù)定地址的讀命令以便對生產(chǎn)者區(qū)MA的MRP的地址讀取，對于這種結(jié)構(gòu)，不需要發(fā)送靠近用戶區(qū)UA的生產(chǎn)者區(qū)MA的實際地址，因而可得到更高的保密性。
其次，當讀/寫設(shè)備300發(fā)送讀命令550給非接觸型IC卡400時，如果MRP檢驗符合標記461裝有“H”電平信號，即使口呤不相同，也不執(zhí)行口令誤差處理。因而允許對可編程存貯器403的所有地址進行讀取，并且發(fā)送相應(yīng)于存取地址的數(shù)據(jù)給讀/寫設(shè)備300。當MRP檢驗符合標記461繼續(xù)裝有一個“L”電平信號時，只有在輸入口令與存貯的口令符合時，才允許對可編程存貯器430中從地址AD0到AD5的區(qū)進行讀取。
圖16是一順序圖，它表明在執(zhí)行一個寫命令處理的情況下，讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。從讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個RID命令給非接觸型IC卡400的時刻到讀/寫設(shè)備300接收到來自非接觸型IC卡400發(fā)送的ID線的時刻，在此期間的操作是和在第一實施例中所解釋的操作相同。
其次，讀/寫設(shè)備300為了MWP檢驗發(fā)送一個讀命令給非接觸型IC卡400。圖17表明讀命令的結(jié)構(gòu)。如圖17所示，讀命令560包含一個命令代碼561，生產(chǎn)者區(qū)MA的MWP的地址562以及MWP563。當非接觸型IC卡400接收到讀命令560時，檢驗MWP。當輸入的MWP與所存貯的MWP符合時，在P4期間MWP檢驗符合標記471置“H”。另一方面，當輸入的MWP與存貯的MWP不符合時，則MWP檢驗符合標記471繼續(xù)裝有一個“L”電平信號。讀命令560包含地址562，它在不允許存取的生產(chǎn)者區(qū)MA之內(nèi)。所以，非接觸型IC卡400發(fā)送一個指示地址誤差的誤差狀態(tài)給讀/寫設(shè)備300。即是，在此時讀命令被認為來自非接觸型IC卡400的外部，讀命令如同正發(fā)生的地址誤差一樣。
其次，當讀/寫設(shè)備300發(fā)送讀命令560給非接觸型IC卡400時，如果MWP檢驗符合標記471裝有一個“H”電平信號，即使口令不相同也不執(zhí)行口令誤差處理，因而，允許對于可編程存貯器403的所有地址進行寫入，并且將數(shù)據(jù)寫到相應(yīng)的地址。此后，非接觸型IC卡400發(fā)送誤差狀態(tài)數(shù)據(jù)給讀/寫設(shè)備300來說明誤差的狀態(tài)和寫的完成。當MWP檢驗符合標記471繼續(xù)裝有一個“L”電平信號，僅在輸入口令符合存貯的口令時，才允許對可編程存儲同器403中地址AD0到地址AD5的區(qū)進行寫入。
如上所述，在這個第三實施例中，比如為了故障分析的目的，甚至在預(yù)定代碼“12H”存入生產(chǎn)者區(qū)MA后，通過執(zhí)行預(yù)定的過程也可忽略口令誤差和地址誤差。因此可以容易地實現(xiàn)故障分析中的測試并保持高度的保密性。實施例4以下實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第三實施例的結(jié)構(gòu)。然而，本實施例不同于第三實施例有以下幾點圖18表明在接收到一個讀命令的情況下，裝備在本實施例的非接觸型IC卡400的控制電路中誤差信號輸出電路(存取許可裝置)460a的結(jié)構(gòu)。在圖18中，參考號466表示一個命令計數(shù)器，它計數(shù)完成MRP檢驗后所接收的讀命令的數(shù)目。467表示一個比較電路，它將命令計數(shù)器460a所計數(shù)的數(shù)目與一預(yù)定值比較，以及465a表示一個3輸入的與非門。同樣的參考號適用于象圖12所示的那些相同的部分并且省略了完全一樣的解釋。
圖19是一順序圖，它表明讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。如圖19所示，為了開始通信，從讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個RID命令給非接觸型IC卡400的時刻，到P3期間的終了，讀/寫設(shè)備300接收到非接觸型IC卡400發(fā)送的一個誤差狀態(tài)的時刻，在此期間的操作與第三實施例中所解釋的操作相同。此后，當讀/寫設(shè)備300發(fā)送讀命令給非接觸型IC卡400時，命令計數(shù)器466對讀命令計數(shù)，并且輸出由命令計數(shù)器466計數(shù)的讀命令的數(shù)目。當命令計數(shù)器大于n(n整數(shù))時，比較電路467輸出一個“H”電平信號。即是，口令誤差和地址誤差對于設(shè)置MRP檢驗符合標記461后的n個讀命令是有效的。然而，口令誤差和地址誤差對于第(n+1)個讀命令以及在第(n+1)個讀命令后接收到的讀命令是無效的。所以，相對于第三方可得到更高的保密性，因為第三方不知道僅在接收到n個讀命令后不用口令符合就允許讀命令訪問。
類似地，非接觸型IC卡這樣構(gòu)成，在設(shè)置MWP檢驗符合標記后，口令誤差和地址誤差對于n個順序的寫命令有效，并且執(zhí)行第(n+1)個寫命令以及在第(n+1)個寫命令后發(fā)送的寫命令，即使產(chǎn)生了口令誤差或地址誤差的情況。
圖20表明實現(xiàn)了上述功能的誤差信號輸出電路470a的結(jié)構(gòu)。在圖20中，參考號476表示一個命令計數(shù)器，它計數(shù)設(shè)置MWP檢驗符合標記471后寫命令的數(shù)目。477表示一個比較電路，當命令計數(shù)器476計數(shù)的寫命令的數(shù)目超過n(n整數(shù))時，它輸出一個“H”電平信號。所以，相對于第三方可得到更高的保密性，因為第三方不知道僅在接收到n個寫命令后不用口令令符合就允許寫命令訪問。
如上所述，在此后的實施例中，可以容易地實現(xiàn)存貯器測試并保持著更高的保密性。實施例5第五實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第四實施例的結(jié)構(gòu)。然而，這個實施例不同于第四實施例有以下幾點在第四實施例中，比較電路467和477這樣構(gòu)成使得當計數(shù)的數(shù)目超過預(yù)定值n時，從比較電路467和477輸出一個“H”電平信號。可是在這個實施例中，比較電路467和477可這樣構(gòu)成使得當計數(shù)的數(shù)目是在從i到j(luò)(i，j整數(shù)，i＜j)的范圍內(nèi)時，電路467和477保持輸出一個“H”電平信號，而當計數(shù)的數(shù)目等于或大于j+1時。則電路保持輸出一個“L”電平信號。用這個結(jié)構(gòu)，從第i個讀/寫命令到第j個讀/寫命令，在沒有口令符合的情況下可允許命令的存取，對于第(j+1)個讀/寫命令和在第(j+1)個讀/寫命令后發(fā)送的讀/寫命令則要求口令符合。
如上所述，在此后實施例中，可容易地實現(xiàn)存貯器測試并保持更高的保密性。實施例6這個實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第三實施例的結(jié)構(gòu)。然而，這個實施例不同于第三產(chǎn)施例有以下幾點。在第三實施例中，MRP和MWP是分別地使用。可是在這個實施例中，IC卡400這樣構(gòu)成使得當輸入的MRP和輸入的MWP分別與存貯的MRP和存貯的MWP相同時，在沒有口令符合的情況下，在可編程存貯器403的整個區(qū)內(nèi)可以執(zhí)行讀命令和寫命令。
圖21是一電路圖，它表明控制電路404的誤差信號輸出電路480的結(jié)構(gòu)。在圖21中，參考號481表示一個與門，來自MRP檢驗符合標記461的輸出和來自MWP檢驗符合標記471的輸出都輸入到這個與門。同樣的參考號適用于圖12和13中所示的那結(jié)相同的部分，并且省略了完全一樣的解釋。
圖22是一順序圖，它表明讀/寫設(shè)備300和非接觸型IC卡400間的通信過程。如圖22所示，在確認ID線后，從讀/寫設(shè)備300到非接觸型IC卡400發(fā)送一個用于檢驗MRP的讀命令，并在IC卡400內(nèi)執(zhí)行MRP檢驗。其次，從讀/寫設(shè)備300到非接觸型IC卡卡400發(fā)送一個用于檢驗MWP的讀命令，并在IC卡400內(nèi)執(zhí)行MWP檢驗。在檢驗中，當從讀/寫設(shè)備發(fā)送的MRP和MWP分別與存貯的MRP和存貯的MWP相符合時，允許對于可編程存貯器403的所有地址執(zhí)行讀命令和寫命令，而與口令PW1到PW5的檢驗結(jié)果無關(guān)。而且如第二實施例中所解釋的那樣，可以省略口令檢驗。實施例7這個實施例的基本結(jié)構(gòu)類似于第六實施例，可是第七實施例不同于第六實施例有以下幾點。即是，在第六實施例中，在輸入的MRP和輸入的MWP與存在存貯器403中的MRP和MWP相同后，可執(zhí)行讀命令和寫命令，而在檢驗過程中無需口令PW1到PW5的符合?？墒窃谶@個第七實施例里，在檢驗過程中，輸入的MRP和輸入的MWP與存在存貯器403中的MRP和MWP符合后，n個命令要求口令令PW1到PW5的符合?？墒堑?n+1)個命令和第(n+1)個命令后的命令不要求檢驗過程中口令符合。
圖23是一方框圖，它表明在這個實施例中裝備在非接觸型IC卡400的控制電路404中誤差信號輸出電路480a的結(jié)構(gòu)。同樣的參考號適用于圖21中相同的部分，并且省略完全相同的解釋。圖23中，參考號484表示一個命令計數(shù)器，在MRP檢驗符合標記461和MWP檢驗符合標記471被設(shè)置為“H”后，它計數(shù)由非接觸型IC卡400所接收的讀命令或?qū)懨畹臄?shù)目，482表示一個比較電路，當命令計數(shù)器484所計數(shù)的數(shù)目超過n時，它輸出一個“H”電平信號。483表示了輸入的與非門，從MRP檢驗符合標記461、MWP檢驗符合標記471和比較電路482的輸出都輸入到與非門。
圖24是一順序圖，它表明在這個實施例中非接觸型IC卡400和讀/寫設(shè)備300間的通信過程。如圖24所示，對MRP和MWP進行檢驗類似于在第六實施例中的情況。
當由于檢驗過程的結(jié)果，輸入的MRP和輸入的MWP分別符合于存貯的MRP和MWP時，則將MRP檢驗符合標記461和MWP檢驗符合標記471設(shè)置到“H”。此后，當從讀/寫設(shè)備300發(fā)送一個讀命令或一個寫命令時，命令計數(shù)器484計數(shù)輸入命令的數(shù)目，并且輸出一個已計數(shù)的數(shù)目，當已計數(shù)的數(shù)目超過n時，比較電路482輸出一個“H”電平信號。所以，對可編程存貯器403的所有地址可以執(zhí)行讀/寫設(shè)備300發(fā)送的第(n+1)個命令以及第(n+1)個命令后的命令，而與口令檢驗過程的結(jié)果無關(guān)。此外，非接觸型IC卡400可這樣構(gòu)成使得在MRP檢驗符合標記461和MWP檢驗符合標記471被設(shè)置為“H”后，只允許執(zhí)行第i個命令和第j個命令之間的命令，而不用口令符合(i，j整數(shù)，i＜j)。為在第五實施例中所解釋的那樣。進一步，可以省略口令PW1到PW5的檢驗，如第二實施例中所解釋的那樣。
如上所述，在這個實施例中，因為只有在輸入的MRP和輸入的MWP與所存貯的MRP和MWP符合后才允許存貯器存取，所以可得到更高的保密性。
權(quán)利要求
1.一種和外部設(shè)備通信的通信設(shè)備，包含一個存貯器，分為一個第一區(qū)和一個第二區(qū)，上述第一區(qū)包含一個第三區(qū)，用于存貯一個預(yù)定的代碼，該預(yù)定代碼指明從上述外部設(shè)備到上述存貯器的訪問要求第一口令的符合；判決裝置，用于決定上述預(yù)定代碼是否存貯在上述第三區(qū)內(nèi)；口令檢驗裝置，當上述外部設(shè)備訪問上述通信設(shè)備時，該裝置用存貯在上述通信設(shè)備中的第一口令來檢驗從上述外部設(shè)備發(fā)送的第一口令；以及存取許可裝置，當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，假若由于上述口令檢驗裝置檢驗的結(jié)果上述外部設(shè)備發(fā)送的第一口令符合存貯在上述通信設(shè)備內(nèi)的第一口令，則該裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第二區(qū)訪問，當上述預(yù)定口令沒有存貯在上述第三區(qū)時，則該裝置允許從外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而與上述口令檢驗裝置的第一口令檢驗的結(jié)果無關(guān)。
2.一種和外部設(shè)備通信的通信設(shè)備，包含一個存貯器，分為一個第一區(qū)和一個第二區(qū)，上述第一區(qū)包含一個第三區(qū)，用于存貯一個預(yù)定代碼，指明從上述外部設(shè)備到上述存貯器的訪問要求第一口令的符合；判決裝置，用于決定上述預(yù)定的代碼是否存貯在上述第三區(qū)內(nèi)；口令檢驗裝置，當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備可訪問上述通信設(shè)備，該裝置用存貯在上述通信設(shè)備中的第一口令來檢驗由上述外部設(shè)備發(fā)送的第一口令；以及存取許可裝置，當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，假若由于上述口令檢驗裝置檢驗的結(jié)果上述外部設(shè)備發(fā)送的第一口令符合存貯在上述通信設(shè)備內(nèi)的第一口令，則存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第二區(qū)訪問，當上述預(yù)定的口令沒有存貯在上述第三區(qū)時，則允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問而不用執(zhí)行上述口令檢驗裝置的第一口令檢驗。
3.依據(jù)權(quán)利要求1的通信設(shè)備，其特征在于上述判決裝置決定在一個期間內(nèi)上述預(yù)定代碼是否存貯在上述第三區(qū)內(nèi)，這個期間是從上述通信設(shè)備接收到來自上述外部設(shè)備的一個命令(它要求上述通信設(shè)備發(fā)送一個識別代碼)的時刻，到上述通信設(shè)備發(fā)送了一個識別代碼到上述外部設(shè)備的時刻。
4.依據(jù)權(quán)利要求2的通信設(shè)備，其特征在于，上述判決裝置決定在一個期間內(nèi)上述預(yù)定代碼是否存貯在上述第三區(qū)內(nèi)，這個期間是從上述通信設(shè)備接收到來自外部設(shè)備的一個命令(它要求上述通信設(shè)備發(fā)送一個識別代碼)的時刻，到上述通信設(shè)備發(fā)送了一個識別代碼到上述外部設(shè)備的時刻。
5.依據(jù)權(quán)利要求1的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果從上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗從上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，并且上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問而在由上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
6.依據(jù)權(quán)利要求2的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果從上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗從上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，并且上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在由上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
7.依據(jù)權(quán)利要求3或4的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果從上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的第二口令來檢驗從上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，并且上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問而在由上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
8.依據(jù)權(quán)利要求1的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果從上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗從上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，其中上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用于計數(shù)從上述外部設(shè)備發(fā)送的命令數(shù)目，并且在上述口令檢驗裝置的檢驗中如果得到第二口令的符合，并且當上述計數(shù)裝置所計數(shù)的命令數(shù)超過了一個預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或第二區(qū)訪問而在由上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
9.依據(jù)權(quán)利要求2的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的第四區(qū)，當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果從外部設(shè)備發(fā)送了第二口令，上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，其中上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用來計數(shù)上述外部設(shè)備發(fā)送的命令數(shù)目，當上述口令檢驗裝置的檢驗中得到第二口令的符合時，并且當上述計數(shù)裝置計數(shù)的命令數(shù)超過一個預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
10.依據(jù)權(quán)利要求3或4的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，其中上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用來計數(shù)上述外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，那里當在上述口令檢驗裝置的檢驗中得到第二口令的符合時，并且當上述計數(shù)裝置計數(shù)的命令數(shù)超過了一個預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
11.依據(jù)權(quán)利要求1的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，那里上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用來計數(shù)上述外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，那里當在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合時，并且當上述計數(shù)裝置計數(shù)的命令的數(shù)目是大于或等于一個第一預(yù)定數(shù)并且是小于或等于一個第二預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
12.依據(jù)權(quán)利要求2的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括一個存貯第二口令的第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時如果上述外部設(shè)備發(fā)送第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，那里上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用來計數(shù)上述外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，那里當在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合時，并且當上述計數(shù)裝置計數(shù)的命令的數(shù)目是大于或等于一個第一預(yù)定數(shù)并且小于或等于一個第二預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
13.依據(jù)權(quán)利要求3或4的通信設(shè)備，其特征在于，上述第一區(qū)包括存貯第二口令的一個第四區(qū)，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個第二口令，則上述口令檢驗裝置用存貯在上述第四區(qū)的上述第二口令來檢驗上述外部設(shè)備發(fā)送的上述第二口令，那里上述通信設(shè)備還包括計數(shù)裝置，在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合后，計數(shù)裝置用來計數(shù)上述外部設(shè)備發(fā)送的命令的數(shù)目，那里當在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中得到第二口令的符合時并且當上述計數(shù)裝置計數(shù)的命令的數(shù)目是大于或等于一個第一預(yù)定數(shù)并且小于或等于一個第二預(yù)定數(shù)時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備到上述第一區(qū)或上述第二區(qū)訪問，而在上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗中不要求第一口令的符合。
14.依據(jù)權(quán)利要求5、6、8、9、11、12任一的通信設(shè)備，其特征在于，上述第二口令包括要讀取存儲在上述存儲器數(shù)據(jù)時的一個要檢驗的讀口令和當數(shù)據(jù)寫入上述存貯器時的一個要檢驗的寫口令，那里上述第四區(qū)包括一個讀口令區(qū)用以存貯上述讀口令，和一個寫口令區(qū)用以存貯上述寫口令，當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個讀口令，則上述口令檢驗裝置用上述外部設(shè)備發(fā)送的上述讀口令來檢驗存貯在上述讀口令區(qū)中的上述讀口令，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個寫口令，則上述口令檢驗裝置用上述外部設(shè)備發(fā)送的上述寫口令來檢驗存貯在上述寫口令區(qū)中的上述寫口令，那里當由于上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗結(jié)果得到一個讀口令符合時，上述存取許可裝置允許從外部設(shè)備給上述第一區(qū)或上述和第二區(qū)一個讀命令而不要求第一口令的符合，并且那里當由于上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗結(jié)果得到一個寫口令符合時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)給上述第一區(qū)或上述第二區(qū)一個寫命令而不要求第一口令的符合。
15.依據(jù)權(quán)利要求5、6、8、9、11、12任一的通信設(shè)備，其特征在于，上述第二口令包括一個要檢驗的讀口令(當讀取存在上述存貯器內(nèi)的數(shù)據(jù)時)和一個要檢驗的寫口令(當數(shù)據(jù)寫入上述存貯器時)，那里上述第四區(qū)包括一個讀口令區(qū)用于存貯上述讀口令，和一個寫口令區(qū)用于存貯上述寫口令，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個讀口令，則上述口令檢驗裝置用上術(shù)外部設(shè)備發(fā)送的上述讀口令來檢驗存貯在上述讀口令區(qū)中的上述讀口令，那里當上述預(yù)定代碼存貯在上述第三區(qū)時，如果上述外部設(shè)備發(fā)送一個寫口令，則上述口令檢驗裝置用上述外部設(shè)備發(fā)送的上述寫口令來檢驗存貯在上述寫口令區(qū)中的上述寫口令，那里當由于上述口令檢驗裝置執(zhí)行的檢驗結(jié)果，既得到了一個讀口令符合又得到了一個寫口令符合時，上述存取許可裝置允許從上述外部設(shè)備給上述第一區(qū)或上述第二區(qū)一個讀命令以及從上述外部設(shè)備給上述第一區(qū)或上述第二區(qū)一個寫命令，而不要求第一口令的符合。
全文摘要
這里發(fā)表了一個含有存貯器(包括一個生產(chǎn)者代碼區(qū))和誤差信號輸出電路的非接觸型IC卡。當一個預(yù)定的代碼存貯在生產(chǎn)者代碼區(qū)內(nèi)時如果得到口令符合，則誤差信號輸出電路輸出一個誤差信號以便允許來自讀/寫設(shè)備的訪問。另一方面，當預(yù)定的代碼沒有存貯在生產(chǎn)者代碼區(qū)內(nèi)時，誤差信號輸出電路輸出一個誤差信號以便允許從讀/寫設(shè)備訪問所有的存貯器區(qū)，而與口令檢驗電路執(zhí)行的口令檢驗的結(jié)果無關(guān)。
文檔編號G06K17/00GK1156293SQ96108349
公開日1997年8月6日 申請日期1996年6月25日 優(yōu)先權(quán)日1996年1月26日
發(fā)明者藤岡宗三 申請人:三菱電器半導(dǎo)體軟件株式會社, 三菱電機株式會社