一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，包括有內(nèi)部設(shè)有單通開關(guān)陣列的開關(guān)盒、提供多路輸入的第一檢測線束和提供一路輸出的第二檢測線束，所述第一檢測線束的各線路一端設(shè)有線夾，其各線路另一端與開關(guān)盒內(nèi)的單通開關(guān)陣列接連，所述第二檢測線束包括有兩個線路，其一端通過單通開關(guān)陣列與第一檢測線束選通連接，另一端連接晶閘管檢測儀的正、負接線端。本實用新型實現(xiàn)了一種快速、安全的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，解決現(xiàn)有測試儀接線裝置簡陋、耗時、不安全的問題，提高換流閥檢修效率，大大縮短直流系統(tǒng)停運時間。
【專利說明】
一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及電力技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線
目.0
【背景技術(shù)】
[0002]換流閥是實現(xiàn)高壓直流輸電的主要設(shè)備，它的作用是把交流電力變換成直流電力，或者實現(xiàn)逆變換。換流閥由晶閘管級元件串聯(lián)組成，每次對換流閥設(shè)備進行檢修維護后，均須對晶閘管級進行性能測試，檢測晶閘管的導(dǎo)通性能以及阻尼回路的參數(shù)，保證直流正常運行。
[0003]目前，各高壓直流輸電系統(tǒng)主要采用SIEMENSTPL687型晶閘管性能測試儀進行晶閘管測試。該測試儀每次只能對單個晶閘管以人工逐一接線的方式進行測試，一般換流站晶閘管的數(shù)量接近兩千個，雙回直流系統(tǒng)甚至多達3744個，光晶閘管級測試這項工作就占去總工作時間的三分之一，效率低，耗時長，且每次測試均需人工轉(zhuǎn)移接線，增加了試驗中人員觸電的風(fēng)險。這對日益嚴苛的送電環(huán)境極其不利。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型的目的在于針對上述現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，提出一種實現(xiàn)快速檢測、降低試驗風(fēng)險的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置。
[0005]為達到上述實用新型的目的，本實用新型通過以下技術(shù)方案實現(xiàn):
[0006]一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，設(shè)于晶閘管測試儀和各晶閘管之間，所述裝置包括有內(nèi)部設(shè)有單通開關(guān)陣列的開關(guān)盒、提供多路輸入的第一檢測線束和提供一路輸出的第二檢測線束，所述第一檢測線束的各線路一端設(shè)有線夾，其各線路另一端與開關(guān)盒內(nèi)的單通開關(guān)陣列接連，所述第二檢測線束包括有兩個線路，其一端通過單通開關(guān)陣列與第一檢測線束選通連接，另一端連接晶閘管檢測儀的正、負接線端。
[0007]進一步，所述單通開關(guān)陣列包括有正極總線和負極總線，所述正極總線上連接有第一正極合閘開關(guān)至第N正極合閘開關(guān)共N個，N是最小為2的整數(shù)，所述第一正極合閘開關(guān)至第N正極合閘開關(guān)的另一端各連接有一個檢測線夾，所述負極總線上連接有第一負極合閘開關(guān)至第N負極合閘開關(guān)共N個，第N負極合閘開關(guān)另一端連接一個檢測線夾，第一負極合閘開關(guān)另一端與第二正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，第二負極合閘開關(guān)另一端與第三正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，依次類推，第N-1負極合閘開關(guān)另一端與第N正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，由各檢測線夾及其連接線路構(gòu)成第一檢測線束，所述正極總線和負極總線分別與第二檢測線束的兩個線路連接。
[0008]進一步，所述第一檢測線束與開關(guān)盒之間分別通過第一拔插式接頭和拔插式接口連接，所述第二檢測線束與開關(guān)盒之間分別通過第二拔插式接頭和拔插式接口連接。
[0009]本實用新型的一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，通過下述結(jié)構(gòu):可一次對一個閥段13個晶閘管完成接線;通過開關(guān)陣列，控制開關(guān)通斷，實現(xiàn)通路選擇，逐一對晶閘管進行測試。解決現(xiàn)有測試儀接線裝置簡陋、耗時、不安全的問題，提高換流閥檢修效率，大大縮短直流系統(tǒng)停運時間。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置的裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]圖2為本實用新型的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置的電路原理圖。
【具體實施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部實施例。
[0013]參看圖1，其為本實用新型的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]本實施例的一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，用于一次檢測一個具有13個晶閘管的閥段，設(shè)于晶閘管測試儀10和各晶閘管Vl?V13之間，所述裝置包括有內(nèi)部設(shè)有單通開關(guān)陣列8的開關(guān)盒7、提供多路輸入的第一檢測線束2和提供一路輸出的第二檢測線束9，所述第一檢測線束2的各線路一端設(shè)有線夾，多個線夾組成線夾組I，第一檢測線束2的各線路另一端與開關(guān)盒7內(nèi)的單通開關(guān)陣列8接連，所述第二檢測線束9包括有兩個線路，其一端通過單通開關(guān)陣列8與第一檢測線束2選通連接，另一端連接晶閘管檢測儀10的正、負接線端。
[0015]參看圖2為本實用新型的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置的電路原理圖。所述單通開關(guān)陣列8包括有正極總線83和負極總線82，所述正極總線83上連接有第一正極合閘開關(guān)SI+至第N正極合閘(未標(biāo)示)開關(guān)共N個，N是最小為2的整數(shù)，在本實施例中，所述N根據(jù)一個閥段的晶閘管數(shù)設(shè)定，本實施例中一個閥段具有13個晶閘管，故設(shè)定N為13;所述第一正極合閘開關(guān)SI+至第十三正極合閘開關(guān)S13+的另一端各連接有一個檢測線夾，所述負極總線82上連接有第一負極合閘開關(guān)S1-至第十三負極合閘開關(guān)S13-共13個，第十三負極合閘開關(guān)S13-另一端連接一個檢測線夾，第一負極合閘開關(guān)S1-另一端與第二正極合閘開關(guān)S2+另一端共接一個檢測線夾，第二負極合閘開關(guān)S2-另一端與第三正極合閘開關(guān)S3+另一端共接一個檢測線夾，依次類推，第十二負極合閘開關(guān)S12-另一端與第十三正極合閘開關(guān)S13+另一端共接一個檢測線夾，由各檢測線夾及其連接線路構(gòu)成第一檢測線束2，所述正極總線83和負極總線82分別與第二檢測線束9的兩個線路連接。
[0016]進一步，所述第一檢測線束2與開關(guān)盒7之間分別通過第一拔插式接頭3和拔插式接口4連接，所述第二檢測線束9與開關(guān)盒7之間分別通過第二拔插式接頭6和拔插式接口5連接。
[0017]所述通路選擇的原理如下:
[0018]由于一個閥段上各晶閘管是串聯(lián)形式連接，通過控制開關(guān)的通斷，實現(xiàn)不同回路通斷的功能，從而選擇需要進行測試的晶閘管。
[0019]裝置接線步驟為:
[0020](I)將第二檢測線束9對應(yīng)連接至晶閘管性能測試儀10的正、負端的A、C端子；
[0021](2)將第二拔插式接頭9連接至第二拔插式接口 5，第一拔插式接頭3連接至第一拔插式接口4;
[0022](3)在第一晶閘管Vl—側(cè)連接第一正極合閘開關(guān)上的檢測線夾，第一晶閘管Vl與第二晶閘管V2之間連接第二正極合閘開關(guān)上的檢測線夾，第二晶閘管V2與第三晶閘管V3之間連接第三正極合閘開關(guān)上的檢測線夾，依次類推，第十二晶閘管V12與第十三晶閘管V13之間連接第十三正極合閘開關(guān)上的檢測線夾，最后第十三晶閘管V13另一側(cè)連接第十三負極合閘開關(guān)上的檢測線夾，開關(guān)陣列8上的開關(guān)初始位置均為斷開；
[0023](4)晶閘管性能測試儀10其他接線連接完成，測試儀在預(yù)備狀態(tài)；
[0024](5)合上第一正極合閘開關(guān)SI +、第一負極合閘開關(guān)S1-，啟動測試儀，完成第一晶閘管Vl的測試;斷開第一正極合閘開關(guān)SI+、第一負極合閘開關(guān)S1-，合上第二正極合閘開關(guān)S2+、第二負極合閘開關(guān)S2-，啟動測試儀，完成第二晶閘管V2的測試;依此類推，完成一個閥段的測試。
[0025]上述實施例僅用以說明本實用新型而并非限制本實用新型所描述的技術(shù)方案；因此，盡管本說明書參照上述的各個實施例對本實用新型已進行了詳細的說明，但是，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，仍然可以對本實用新型進行修改或者等同替換;而一切不脫離本實用新型的精神和范圍的技術(shù)方案及其改進，其均應(yīng)涵蓋在本實用新型的權(quán)利要求范圍當(dāng)中。
【主權(quán)項】
1.一種換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，設(shè)于晶閘管測試儀和各晶閘管之間，其特征在于，包括有內(nèi)部設(shè)有單通開關(guān)陣列的開關(guān)盒、提供多路輸入的第一檢測線束和提供一路輸出的第二檢測線束，所述第一檢測線束的各線路一端設(shè)有線夾，其各線路另一端與開關(guān)盒內(nèi)的單通開關(guān)陣列接連，所述第二檢測線束包括有兩個線路，其一端通過單通開關(guān)陣列與第一檢測線束選通連接，另一端連接晶閘管檢測儀的正、負接線端。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，其特征在于，所述單通開關(guān)陣列包括有正極總線和負極總線，所述正極總線上連接有第一正極合閘開關(guān)至第N正極合閘開關(guān)共N個，N是最小為2的整數(shù)，所述第一正極合閘開關(guān)至第N正極合閘開關(guān)的另一端各連接有一個檢測線夾，所述負極總線上連接有第一負極合閘開關(guān)至第N負極合閘開關(guān)共N個，第N負極合閘開關(guān)另一端連接一個檢測線夾，第一負極合閘開關(guān)另一端與第二正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，第二負極合閘開關(guān)另一端與第三正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，依次類推，第N-1負極合閘開關(guān)另一端與第N正極合閘開關(guān)另一端共接一個檢測線夾，由各檢測線夾及其連接線路構(gòu)成第一檢測線束，所述正極總線和負極總線分別與第二檢測線束的兩個線路連接。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的換流閥晶閘管級性能測試輔助接線裝置，其特征在于，所述第一檢測線束與開關(guān)盒之間分別通過第一拔插式接頭和拔插式接口連接，所述第二檢測線束與開關(guān)盒之間分別通過第二拔插式接頭和拔插式接口連接。
【文檔編號】G01R31/327GK205594031SQ201620227249
【公開日】2016年9月21日
【申請日】2016年3月23日
【發(fā)明人】李更達, 郭明登, 馬晨昱, 丁漢林, 夏子軍, 李琳, 肖耀輝, 杜天成, 張 杰, 喬超, 李超, 王方偉
【申請人】中國南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司曲靖局