一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及光學(xué)產(chǎn)品的性能檢測裝置，具體涉及一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]Modulat1n Transfer Funct1n(調(diào)制傳遞函數(shù)，MTF)是用于分析鏡頭的解像方法，軟件對通過被測鏡頭加相機(jī)接收到的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行評測，得到一個評價(jià)結(jié)果及曲線，通過MTF值不但可以反映出相機(jī)鏡頭的反差，還可以反映鏡頭的分辨率。通過MTF曲線來評價(jià)被測鏡頭的性能。
[0003]目前的光學(xué)產(chǎn)品的檢測主要集中在投影式以人工感官檢測方式為主，檢測隨意性大，受檢測人員差異影響大，對產(chǎn)品品質(zhì)一致性造成影響。而市面現(xiàn)有MTF測定裝置由于造價(jià)高，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，調(diào)整難度大，使用不便，不適于對產(chǎn)品進(jìn)行批量檢測。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]有鑒于此，本實(shí)用新型提出一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，旨在實(shí)現(xiàn)鏡頭檢測的批量處理。
[0005]本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案具體為:
[0006]—種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，包括基架、靶臺組和監(jiān)控單元，所述基架包括機(jī)臺以及設(shè)于所述機(jī)臺上的滑道，所述滑道與所述靶臺組的位置相對應(yīng);其中:
[0007]所述滑道匹配安裝有導(dǎo)軌，置有被測鏡片的相機(jī)安裝于所述導(dǎo)軌，針對不同焦距，通過沿所述滑道拉動導(dǎo)軌實(shí)現(xiàn)鏡頭對靶臺的距離調(diào)整；
[0008]所述相機(jī)與所述監(jiān)控單元通訊，用于將檢測到的數(shù)據(jù)傳輸至所述監(jiān)控單元來檢測鏡頭性能。
[0009]在上述調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置中，所述靶臺組包括設(shè)于所述機(jī)臺兩側(cè)的第一靶臺和第二靶臺，所述滑道的兩端分別與所述第一靶臺和所述第二靶臺相對應(yīng)。
[0010]在上述調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置中，所述第一靶臺的尺寸小于所述第二靶臺，其中:
[0011]所述第一靶臺用于檢測被測鏡頭的長焦；
[0012]所述第二靶臺用于檢測被測鏡頭的廣角端。
[0013]在上述調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置中，還包括調(diào)整組件，所述調(diào)整組件與所述導(dǎo)軌配套設(shè)置，用于使被測鏡頭垂直、正中地對準(zhǔn)第一靶臺或者第二靶臺。
[0014]在上述調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置中，所述調(diào)整組件包括安裝于所述機(jī)臺的XY微調(diào)臺、傾角調(diào)整臺和回轉(zhuǎn)調(diào)整臺；其中:
[0015]所述XY微調(diào)臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的左右位置；
[0016]所述傾角調(diào)整臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的傾斜度；
[0017]所述回轉(zhuǎn)調(diào)整臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的回轉(zhuǎn)角度。
[0018]本實(shí)用新型產(chǎn)生的有益效果是:
[0019]本實(shí)用新型的檢測裝置通過兩個靶臺以及被測鏡頭的位置調(diào)整組件，無需頻繁調(diào)整距離，即可實(shí)現(xiàn)對鏡頭的批量性能檢測，提高了檢測效率，保證了檢測數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性。
【附圖說明】
[0020]當(dāng)結(jié)合附圖考慮時(shí)，能夠更完整更好地理解本實(shí)用新型。此處所說明的附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。
[0021]圖1為本實(shí)用新型一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置的立體示意圖(透視圖)。
[0022]圖中:
[0023]1、第一靶面
[0024]2、第二靶面
[0025]3、機(jī)臺
[0026]4、導(dǎo)軌
[0027]5、相機(jī)
[0028]6、監(jiān)控單元。
【具體實(shí)施方式】
[0029]下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對本實(shí)用新型的技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
[0030]如圖1所示的一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，包括靶臺組、機(jī)臺3、精密導(dǎo)軌4和監(jiān)控單元6，被測鏡片安裝于相機(jī)5內(nèi)，相機(jī)置于導(dǎo)軌4并與監(jiān)控端單元通訊，將檢測數(shù)據(jù)傳輸?shù)奖O(jiān)控單元，通過現(xiàn)有的軟件技術(shù)對鏡片的性能進(jìn)行分析。
[0031]靶臺(1、2)為大小不同的標(biāo)準(zhǔn)圖像板(表面貼有標(biāo)準(zhǔn)像素板的背投燈箱)，分別用于檢測被測鏡頭的長焦和廣角端，如果用單側(cè)板(即只有一側(cè)的靶臺)，在檢測變焦鏡頭的過程中，每測一個鏡頭在長焦、廣角端轉(zhuǎn)換時(shí)就需要變一次距離，因此在檢測過程中需要不斷變換距離;而采用雙側(cè)靶的結(jié)構(gòu)之后，則可以首先把這批次的先都調(diào)到廣角端，在同一距離下的第二靶臺2測完之后調(diào)至長焦端，用另一個距離下的第一靶臺I測，全程只需調(diào)整兩次距離，即可實(shí)現(xiàn)對一個焦段的鏡片進(jìn)行批量單測，提高了檢測效率和批量檢測的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
[0032]導(dǎo)軌設(shè)于機(jī)臺3底座的滑道內(nèi)，針對不同焦距，通過直接沿滑道拉動即可實(shí)現(xiàn)導(dǎo)軌4對靶臺的距離調(diào)整，與導(dǎo)軌4配套的調(diào)整裝置包括XY微調(diào)臺、傾角調(diào)整臺以及回轉(zhuǎn)調(diào)整臺，用于通過對導(dǎo)軌4的高度、傾斜度以及回轉(zhuǎn)角度進(jìn)行調(diào)整，使被測鏡頭能夠垂直正中地對準(zhǔn)靶臺(1、2)。進(jìn)一步地，可以根據(jù)檢測目的不同，綜合考慮成本方面的因素，還可以將兩側(cè)標(biāo)準(zhǔn)像素板做出不同的精度和大小。
[0033]本發(fā)明通過安裝有被測鏡頭的相機(jī)5對標(biāo)準(zhǔn)圖像板的圖像進(jìn)行采集，經(jīng)過模電轉(zhuǎn)換后最終由監(jiān)控端6的圖像處理技術(shù)對所采集的圖像進(jìn)行空間頻率分析，得出被測鏡頭在不同位置間的性能差異及鏡頭間性能差異。
[0034]以上結(jié)合附圖對本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)地說明，此處的附圖是用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解。顯然，以上所述僅為本實(shí)用新型較佳的【具體實(shí)施方式】，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此，任何對本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說是可輕易想到的、實(shí)質(zhì)上沒有脫離本實(shí)用新型的變化或替換，也均包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，其特征在于，包括基架、靶臺組和監(jiān)控單元，所述基架包括機(jī)臺以及設(shè)于所述機(jī)臺上的滑道，所述滑道與所述靶臺組的位置相對應(yīng);其中: 所述滑道匹配安裝有導(dǎo)軌，置有被測鏡片的相機(jī)安裝于所述導(dǎo)軌，針對不同焦距，通過沿所述滑道拉動導(dǎo)軌實(shí)現(xiàn)鏡頭對靶臺的距離調(diào)整； 所述相機(jī)與所述監(jiān)控單元通訊，用于將檢測到的數(shù)據(jù)傳輸至所述監(jiān)控單元來檢測鏡頭性能。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，其特征在于，所述靶臺組包括設(shè)于所述機(jī)臺兩側(cè)的第一靶臺和第二靶臺，所述滑道的兩端分別與所述第一靶臺和所述第二革巴臺相對應(yīng)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，其特征在于，所述第一靶臺的尺寸小于所述第二靶臺，其中: 所述第一靶臺用于檢測被測鏡頭的長焦； 所述第二靶臺用于檢測被測鏡頭的廣角端。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，其特征在于，還包括調(diào)整組件，所述調(diào)整組件與所述導(dǎo)軌配套設(shè)置，用于使被測鏡頭垂直、正中地對準(zhǔn)第一靶臺或者第二革巴臺。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，其特征在于，所述調(diào)整組件包括安裝于所述機(jī)臺的XY微調(diào)臺、傾角調(diào)整臺和回轉(zhuǎn)調(diào)整臺；其中: 所述XY微調(diào)臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的左右位置； 所述傾角調(diào)整臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的傾斜度； 所述回轉(zhuǎn)調(diào)整臺用于調(diào)整導(dǎo)軌相對于所述靶臺組的回轉(zhuǎn)角度。
【專利摘要】本實(shí)用新型提供一種調(diào)制傳遞函數(shù)檢測裝置，包括基架、靶臺組和監(jiān)控單元，所述基架包括機(jī)臺以及設(shè)于所述機(jī)臺上的滑道，所述滑道與所述靶臺組的位置相對應(yīng)；其中：所述滑道匹配安裝有導(dǎo)軌，置有被測鏡片的相機(jī)安裝于所述導(dǎo)軌，針對不同焦距，通過沿所述滑道拉動導(dǎo)軌實(shí)現(xiàn)鏡頭對靶臺的距離調(diào)整；所述相機(jī)與所述監(jiān)控單元通訊，用于將檢測到的數(shù)據(jù)傳輸至所述監(jiān)控單元來檢測鏡頭性能。本實(shí)用新型的檢測裝置實(shí)現(xiàn)了對鏡片的批量檢測，保證了性能檢測數(shù)據(jù)的統(tǒng)一性。
【IPC分類】G01M11/00
【公開號】CN205317447
【申請?zhí)枴緾N201521138322
【發(fā)明人】姜宏林
【申請人】希比希光學(xué)（北京）有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2015年12月31日