部件的俯視圖。
[0051]在圖1中示出了用于測(cè)試的裝置2。這種用于測(cè)試的裝置2包括板3，在所述板3上固定有:
[0052]-第一單個(gè)元件T(FD傳感器4，其使得能夠探查焊接部的第一區(qū)域zl;
[0053]-多元件T(FD傳感器5，其使得能夠探查焊接部的第二區(qū)域z2;
[0054]-第二單個(gè)元件T(FD傳感器6，其使得能夠探查焊接部的第三區(qū)域z3。
[0055]第一單個(gè)元件TOFD傳感器4包括單個(gè)元件T(FD發(fā)射器7和單個(gè)元件T(FD接收器8。發(fā)射器7和接收器8根據(jù)軸線11對(duì)準(zhǔn)，所述軸線11垂直于焊接部I沿其延伸的軸線。發(fā)射器7和接收器8之間的距離Dl被選擇為:使得第一傳感器4能夠測(cè)試焊接部的第一區(qū)域zl，所述第一區(qū)域zl位于待測(cè)試的部件的外表面10的正下方。區(qū)域zl優(yōu)選地相對(duì)于部件的外表面位于介于1.5mm和9.5mm之間的深度pi處。
[0056]第二單個(gè)元件TOFD傳感器6包括單個(gè)元件TOFD發(fā)射器12和單個(gè)元件TOFD接收器
13。發(fā)射器12和接收器13根據(jù)軸線14對(duì)準(zhǔn)，所述軸線14垂直于焊接部I沿著其延伸的軸線。發(fā)射器12和接收器13之間的距離D3被選擇為:使得第二傳感器6能夠控制焊接部的區(qū)域z3，所述區(qū)域z3位于區(qū)域zl的下方。區(qū)域z3優(yōu)選地相對(duì)于部件的外表面位于6mm和36mm之間的深度P3處。
[0057]多元件T(FD傳感器5包括多元件T(FD發(fā)射器15和多元件TOFD接收器16。發(fā)射器15和接收器16根據(jù)軸線17對(duì)準(zhǔn)，所述軸線17垂直于焊接部I沿其延伸的軸線。發(fā)射器15和接收器16之間的距離D2被選擇為:使得多元件TOFD傳感器能夠測(cè)試焊接電的區(qū)域z2，所述區(qū)域z2位于區(qū)域z3的下方。焊接部的區(qū)域z2優(yōu)選地相對(duì)于部件的外表面位于介于35mm和250_之間的深度P2處。多元件T(FD發(fā)射器15能夠例如包括十六個(gè)元件，每個(gè)元件均實(shí)施T(FD技術(shù)。能夠獨(dú)立于其它元件測(cè)試多元件TOFD發(fā)射器的每個(gè)元件，以便發(fā)射超聲束，從而使得能夠探查焊接部的區(qū)域z2的部分。為此，測(cè)試參數(shù)插入到計(jì)算器中并且限定關(guān)于元件的延遲脈動(dòng)的規(guī)律。每個(gè)元件均具有檢測(cè)角度和深度的功能。T(FD技術(shù)根據(jù)用于靠近表面的區(qū)域zl、z2的傳統(tǒng)傳感器和用于遠(yuǎn)離外表面的區(qū)域z2的多元件的組合來(lái)實(shí)施。待檢查的厚度分為若干區(qū)域。通過(guò)專用的T(FD構(gòu)造檢查每個(gè)區(qū)域。根據(jù)在具有凹口的集團(tuán)上實(shí)施的測(cè)試和模擬限定區(qū)域z 1、z 2、z 3。能夠利用TOFD技術(shù)測(cè)試介于3 5mm和2 5 Omm之間的厚度，在現(xiàn)有技術(shù)中并非如此。能夠根據(jù)兩種方法使用如此獲得的采集:平行于焊接掃描和非平行于焊接掃描。
[0058]第一和第二單個(gè)元件T(FD傳感器更加優(yōu)選地以7.5MHz的頻率操作。多元件TOHMf感器更加優(yōu)選地以2MHz的頻率操作。
[0059]板3還包括第一多元件傳感器18，所述第一多元件傳感器18包括多元件發(fā)射器19和多元件接收器20。第一多元件傳感器18使得能夠在45°至70°的范圍內(nèi)改變打開(kāi)角度并且更能夠更加優(yōu)選地在-15°至+15°的范圍內(nèi)改變傾斜角度，如圖5和圖6所示。
[0060]多元件發(fā)射器19和多元件接收器20布置在焊接部的同一側(cè)上。在圖4至圖5中更加精確地示出了多元件發(fā)射器19。多元件發(fā)射器19包括56個(gè)單獨(dú)元件21的矩陣，能夠獨(dú)立控制每個(gè)所述單獨(dú)元件21。這些單獨(dú)元件21連接到適于控制的電子裝置，所述電子裝置使得能夠相對(duì)于通道中的每一條獨(dú)立以及同時(shí)發(fā)射和接收。這些電子裝置還必須能夠在發(fā)射和接收時(shí)針對(duì)每條通道米用不同的電子延時(shí)。傳統(tǒng)機(jī)械掃描由電子掃描替代，所述電子掃描更快，這使得能夠檢測(cè)縱向和橫向缺陷。電子對(duì)焦使得能夠使用單個(gè)傳感器，以便在不同深度條件下操作。電子偏轉(zhuǎn)引起單個(gè)傳感器入射角變化。
[0061]多元件傳感器18使得能夠產(chǎn)生:橫向波，所述橫向波具有這樣的折射角，所述折射角介于45°至70°之間，以及稱作“傾斜”的迷失方向(disorientat1n)，其介于-15°至+15°之間。
[0062]板3還包括第二多元件傳感器22。如圖8所示，如此形成的板3按照路徑24、軸線X和軸線y相對(duì)于焊接部移動(dòng)。經(jīng)由“光柵”掃描獲取超聲數(shù)據(jù)。軸線X的解析(resolut1n)限定了傳感器的光束的方向上的空間獲取點(diǎn)，所述傳感器垂直地以焊接部為目標(biāo)。軸線y的解析限定了以平行方式以焊接部為目標(biāo)的傳感器的光束的方向上的空間獲取點(diǎn)。
[0063]參照?qǐng)D9，多元件傳感器定位成便于獲得放大60°角度的優(yōu)化掃描。
[0064]因此根據(jù)本發(fā)明的板能夠與所有傳感器同時(shí)并且以相對(duì)于焊接部相同的振幅移動(dòng)。其還使得能夠僅僅經(jīng)由待測(cè)試的部分的外表面測(cè)試厚焊接部。
[0065]自然地。本發(fā)明并不局限于參照附圖描述的實(shí)施例并且能夠在不背離本發(fā)明的范圍的前提下考慮替代方案。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于無(wú)損測(cè)試核反應(yīng)堆的部件中的焊接部(I)的方法，其中，所述部件包括外表面(10)，所述焊接部(I)包括靠近所述外表面(10)的第一區(qū)域(Zl)和遠(yuǎn)離所述外表面(10)的第二區(qū)域(Z2)，其中，所述方法使用: -第一單個(gè)元件TOFD傳感器(4)，其用于探查所述焊接部(I)的所述第一區(qū)域(zl); -多元件TOFD傳感器(5)，其用于探查所述焊接部(I)的所述第二區(qū)域(z2)。2.根據(jù)前述權(quán)利要求所述的方法，其中，所述第一區(qū)域(zI)位于介于Omm和I Omm之間的深度(Pl)處。3.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的方法，其中，所述第二區(qū)域(z2)位于介于30mm和300mm之間的深度(p2)處。4.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的方法，其中，所述焊接部(I)還包括第三區(qū)域(z3)，所述第三區(qū)域位于所述第一區(qū)域(zl)和所述第二區(qū)域(z2)之間，其中，所述方法使用第二單個(gè)元件TOFD傳感器(6)來(lái)探查所述焊接部(I)的所述第三區(qū)域(z3)。5.根據(jù)前一權(quán)利要求所述的方法，其中，所述第三區(qū)域(z3)位于介于5mm和40mm之間的深度處。6.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的方法，其還使用第一多元件傳感器(18)，所述第一多元件傳感器發(fā)射橫向波束。7.根據(jù)前述權(quán)利要求中的一項(xiàng)所述的方法，其還使用多元件傳感器(22)。8.—種用于無(wú)損測(cè)試核反應(yīng)堆的部件中的焊接部的裝置，其中，所述裝置包括板(3)，在所述板上固定有: -第一單個(gè)元件TOFD傳感器(4)，其用于探查所述焊接部(I)的第一區(qū)域(zl); -多元件TOFD傳感器(5)，其用于探查所述焊接部(I)的第二區(qū)域(z2)。9.根據(jù)前一項(xiàng)權(quán)利要求所述的裝置，其還包括第二單個(gè)元件T(FD傳感器(6)，所述第二單個(gè)元件TOFD傳感器能夠探查所述焊接部(I)的第三區(qū)域(z3)。10.根據(jù)權(quán)利要求8或者9所述的裝置，其還包括第一多元件傳感器(18)。11.根據(jù)權(quán)利要求8至10中的一項(xiàng)所述的裝置，其還包括第二多元件傳感器(22)。
【專利摘要】本發(fā)明涉及無(wú)損測(cè)試核反應(yīng)堆的部件中的焊接部(1)的裝置和方法，其中，所述部件包括外表面(10)，所述焊接部(1)包括靠近外表面(10)的第一區(qū)域(z1)和遠(yuǎn)離所述外表面(10)的第二區(qū)域(z2)，其中，所述方法使用：-第一單個(gè)元件TOFD傳感器(4)，其用于探查所述焊接部(1)的所述第一區(qū)域(z1)；和-多元件TOFD傳感器(5)，其用于探查所述焊接部(1)的所述第二區(qū)域(z2)。
【IPC分類】G01N29/06
【公開(kāi)號(hào)】CN105556300
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201480051202
【發(fā)明人】米歇爾·扎姆博恩, 讓·馬克·克勞蘭德
【申請(qǐng)人】阿利發(fā)Np有限公司
【公開(kāi)日】2016年5月4日
【申請(qǐng)日】2014年9月4日
【公告號(hào)】WO2015043912A1