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一種暗室反射特性的測(cè)量方法和設(shè)備的制造方法

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一種暗室反射特性的測(cè)量方法和設(shè)備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及電磁技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種暗室反射特性的測(cè)量方法和設(shè)備。
【背景技術(shù)】
[0002]為了保證電磁兼容試驗(yàn)的有效性,需要對(duì)電磁兼容試驗(yàn)結(jié)果的影響因素進(jìn)行分析。然而,試驗(yàn)場(chǎng)地(又可稱之為電磁兼容暗室)性能的好壞是影響電磁兼容試驗(yàn)結(jié)果的重要因素。
[0003]常用的試驗(yàn)場(chǎng)地是由墻面鋪設(shè)吸波材料的屏蔽室建成的。屏蔽室內(nèi)墻面吸波材料的反射特性(又可以稱之為暗室反射特性)影響試驗(yàn)場(chǎng)地的性能,也就是說,屏蔽室內(nèi)墻面吸波材料的反射特性影響電磁兼容試驗(yàn)結(jié)果。
[0004]其中,暗室反射特性表征暗室墻面內(nèi)鋪設(shè)的不同性能的吸波材料對(duì)不同頻率的電磁波的反射損耗。
[0005]通過對(duì)暗室反射特性的測(cè)量可以確定屏蔽室內(nèi)墻面吸波材料的反射特性對(duì)電磁兼容試驗(yàn)結(jié)果的影響大小,常用的測(cè)量方法包括拱形法。
[0006]具體地,對(duì)暗室反射特性的測(cè)量可以看做是測(cè)量吸波材料對(duì)電磁波的反射損耗。在使用拱形法測(cè)量吸波材料對(duì)電磁波的反射損耗時(shí),一般需要執(zhí)行兩次測(cè)量操作:第一次是測(cè)量電磁波被吸波材料反射產(chǎn)生的第一反射信號(hào),第二次是測(cè)量該電磁波被金屬板反射產(chǎn)生的第二反射信號(hào),通過第一反射信號(hào)與第二反射信號(hào)之間的能量差,即可確定吸波材料對(duì)電磁波的反射損耗,進(jìn)而得到暗室反射特性。
[0007]在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn),一旦暗室建成,采用上述方式測(cè)量暗室的反射特性存在以下問題:
[0008]在測(cè)量暗室的反射特性的過程中,需要在吸波材料墻面的前面放置金屬板,但是由于金屬板的尺寸有限,導(dǎo)致在金屬板的邊緣出現(xiàn)電磁波散射,影響測(cè)量暗室反射特性的準(zhǔn)確性。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]有鑒于此,本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種暗室反射特性的測(cè)量方法和設(shè)備,用于解決現(xiàn)有技術(shù)中暗室反射特性的測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
[0010]—種暗室反射特性的測(cè)量方法,包括:
[0011 ]控制發(fā)射天線向暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào),并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號(hào),其中,所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值,且所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面位置相對(duì);
[0012]調(diào)整所述發(fā)射天線與所述接收天線的位置,使得所述發(fā)射天線與所述接收天線位置相對(duì),且所述發(fā)射天線與所述接收天線之間的距離滿足設(shè)定第二數(shù)值;
[0013]控制所述發(fā)射天線向所述接收天線發(fā)射第二電磁波信號(hào),并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號(hào),其中,所述第一電磁波信號(hào)與所述第二電磁波信號(hào)的頻率相同;
[0014]根據(jù)所述第一反射信號(hào)和所述第二電磁波信號(hào),測(cè)量得到所述暗室的反射特性,其中,所述反射特性表征所述吸波材料對(duì)電磁波信號(hào)的的反射損耗。
[0015]—種暗室反射特性的測(cè)量設(shè)備,包括:
[0016]信號(hào)發(fā)射單元,用于控制發(fā)射天線向暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào),并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號(hào),其中,所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值,且所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面位置相對(duì);
[0017]調(diào)整單元,用于調(diào)整所述發(fā)射天線與所述接收天線的位置,使得所述發(fā)射天線與所述接收天線位置相對(duì),且所述發(fā)射天線與所述接收天線之間的距離滿足設(shè)定第二數(shù)值;
[0018]所述信號(hào)發(fā)射單元,還用于控制所述發(fā)射天線向所述接收天線發(fā)射第二電磁波信號(hào),并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號(hào),其中,所述第一電磁波信號(hào)與所述第二電磁波信號(hào)的頻率相同;
[0019]測(cè)量單元,用于根據(jù)所述第一反射信號(hào)和所述第二電磁波信號(hào),測(cè)量得到所述暗室的反射特性,其中,所述反射特性表征所述吸波材料對(duì)電磁波信號(hào)的的反射損耗。
[0020]本申請(qǐng)有益效果如下:
[0021]本申請(qǐng)實(shí)施例控制發(fā)射天線向暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào),并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號(hào),所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值,且所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面位置相對(duì);調(diào)整所述發(fā)射天線與所述接收天線的位置,使得所述發(fā)射天線與所述接收天線位置相對(duì),且所述發(fā)射天線與所述接收天線之間的距離滿足設(shè)定第二數(shù)值;控制所述發(fā)射天線向所述接收天線發(fā)射第二電磁波信號(hào),并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號(hào),其中,所述第一電磁波信號(hào)與所述第二電磁波信號(hào)的頻率相同;根據(jù)所述第一反射信號(hào)和所述第二電磁波信號(hào),測(cè)量得到所述暗室的反射特性,所述反射特性表征所述吸波材料對(duì)電磁波信號(hào)的的反射損耗。通過本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方案,借助發(fā)射天線與接收天線的特性,能夠有效避免由于金屬板在反射電磁波信號(hào)時(shí)出現(xiàn)的散射,提高了測(cè)量暗室反射特性的準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0022]為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)要介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0023]圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種暗室反射特性的測(cè)量方法的流程示意圖;
[0024]圖2為等效發(fā)射天線示意圖;
[0025]圖3為調(diào)整后的所述發(fā)射天線與所述接收天線的相對(duì)位置的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0026]圖4為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種暗室反射特性的測(cè)量設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0027]圖5為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種暗室反射特性的測(cè)量設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0028]為了實(shí)現(xiàn)本申請(qǐng)的目的,本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種暗室反射特性的測(cè)量方法和設(shè)備,控制發(fā)射天線向暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào),并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號(hào),所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值,且所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面位置相對(duì);調(diào)整所述發(fā)射天線與所述接收天線的位置,使得所述發(fā)射天線與所述接收天線位置相對(duì),且所述發(fā)射天線與所述接收天線之間的距離滿足設(shè)定第二數(shù)值;控制所述發(fā)射天線向所述接收天線發(fā)射第二電磁波信號(hào),并控制所述接收天線接收所述第二電磁波信號(hào),其中,所述第一電磁波信號(hào)與所述第二電磁波信號(hào)的頻率相同;根據(jù)所述第一反射信號(hào)和所述第二電磁波信號(hào),測(cè)量得到所述暗室的反射特性,所述反射特性表征所述吸波材料對(duì)電磁波信號(hào)的的反射損耗。通過本申請(qǐng)實(shí)施例提供的方案,借助發(fā)射天線與接收天線的特性,能夠有效避免由于金屬板在反射電磁波信號(hào)時(shí)出現(xiàn)的散射,提高了測(cè)量暗室反射特性的準(zhǔn)確性。
[0029]下面結(jié)合說明書附圖對(duì)本申請(qǐng)各個(gè)實(shí)施例作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。顯然,所描述的實(shí)施例僅僅是本申請(qǐng)一部分實(shí)施例,而不是全部的實(shí)施例?;诒旧暾?qǐng)中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例,都屬于本申請(qǐng)保護(hù)的范圍。
[0030]圖1為本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種暗室反射特性的測(cè)量方法的流程示意圖。所述方法可以如下所示。
[0031]步驟101:控制發(fā)射天線向暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào),并控制接收天線接收所述墻面反射的第一反射信號(hào)。
[0032]其中,所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值,且所述發(fā)射天線和所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面位置相對(duì)。
[0033]在步驟101中,在對(duì)暗室的反射特性進(jìn)行測(cè)量時(shí),首先,需要發(fā)射天線和接收天線對(duì)準(zhǔn)被測(cè)的吸波材料墻面,這里當(dāng)發(fā)射天線和接收天線對(duì)準(zhǔn)被測(cè)的吸波材料墻面時(shí),需要發(fā)射天線和接收天線與被測(cè)的吸波材料墻面之間的距離滿足設(shè)定第一數(shù)值。
[0034]其中,設(shè)定第一數(shù)值可以根據(jù)發(fā)射天線和接收天線與暗室周圍其他平面之間的距離確定。
[0035]所述發(fā)射天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離與所述接收天線與暗室鋪設(shè)吸波材料的墻面之間的距離相同。
[0036]由于為了精確確定吸波材料對(duì)電磁波信號(hào)的反射損耗,在向鋪設(shè)吸波材料的墻面發(fā)射第一電磁波信號(hào)時(shí),盡可能避免第一電磁波信號(hào)的散射,因此,要求發(fā)射天線和接收天線與被測(cè)的吸波材料墻面之間的距離小于設(shè)定第一數(shù)值。
[0037]例如:發(fā)射天線和接收天線與暗室周圍其他平面之間的距離為a,那么在確定發(fā)射天線和接收天線的位置時(shí),確定發(fā)射天線和接收天線與被測(cè)的吸波材料墻面之間的距離小于a
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