一種測量經(jīng)緯儀高度的方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明屬于工程測量技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種測量經(jīng)煒儀高度的方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 目前測量經(jīng)煒儀儀器高度的方法主要是用鋼尺直接測量基點到經(jīng)煒儀側(cè)面的距 離，再經(jīng)過一定三角轉(zhuǎn)化求出儀器高度。此方法測量誤差較大，且人為因素影響大，不能滿 足工程測量高精度要求。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種測量經(jīng)煒儀高度的方法。
[0004] 本發(fā)明的思路：運用光的反射原理，由光入射角與反射角相等關(guān)系和平行線間夾 角關(guān)系能夠求出經(jīng)煒儀水平軸到基點的距離，即得出經(jīng)煒儀高度。
[0005] 具體步驟為：
[0006] 將經(jīng)煒儀置于測量時的基點D上方并對中整平，A點為經(jīng)煒儀水平軸線與豎直軸 線的交點，將帶垂直水準氣泡的塔尺立于距經(jīng)煒儀〇. 95~1. 05米的位置并調(diào)整至垂直，保 持塔尺與經(jīng)煒儀的豎直軸線平行，再將經(jīng)煒儀調(diào)至水平，并標出經(jīng)煒儀物鏡十字絲橫絲在 塔尺上的投影線與塔尺的交點B，然后在塔尺上B點放一塊直徑10厘米的反光體，反光體 從B點緩慢向下滑動，同時經(jīng)煒儀視線隨反光體緩慢向下移動，當經(jīng)煒儀目鏡中能夠觀測 到D點在反光體中成的像時，反光體停止移動，調(diào)節(jié)經(jīng)煒儀使物鏡十字絲交點對準反光體 中D點的像，固定經(jīng)煒儀，拿走反光體，將此時物鏡十字絲橫絲在塔尺上的投影線與塔尺的 交點C標出，用鋼直尺量出B和C兩點間的距離麗，由光的反射原理可知，ZACE=ZDCE =2 8六(：，：^二2^二2瓦：，：^即為經(jīng)煒儀的高度。
[0007] 本發(fā)明中使用的塔尺能夠用其它可控垂直裝置代替。
[0008] 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明原理簡單明確、材料簡單廉價、操 作簡便、精度高、易掌握、便于工程運用、易于大規(guī)模推廣。
【附圖說明】
[0009] 圖1是本發(fā)明實施例中經(jīng)煒儀平測示意圖。
[0010] 圖2是本發(fā)明實施例中經(jīng)煒儀斜測示意圖。
[0011] 圖中標記：1-經(jīng)煒儀；2-腳架；3-塔尺；4-平面鏡。
【具體實施方式】
[0012] 下面將結(jié)合具體實施例對本發(fā)明進行詳細闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點和特征能更易 被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解。
[0013] 實施例：
[0014] 請參閱圖1、圖2，本實施例的具體步驟為：
[0015] 將經(jīng)煒儀1通過腳架2置于測量時的基點D上方并對中整平，A點為經(jīng)煒儀1水平 軸線與豎直軸線的交點，將帶垂直水準氣泡的塔尺3立于距經(jīng)煒儀1 一米的位置并調(diào)整至 垂直，保持塔尺3與經(jīng)煒儀1的豎直軸線平行，再將經(jīng)煒儀1調(diào)至水平，并標出經(jīng)煒儀1物 鏡十字絲橫絲在塔尺3上的投影線與塔尺3的交點B，然后在塔尺3上B點放一塊直徑10 厘米的平面鏡4,平面鏡4從B點緩慢向下滑動，同時經(jīng)煒儀1視線隨平面鏡4緩慢向下移 動，當經(jīng)煒儀1目鏡中能夠觀測到D點在平面鏡4中成的像時，平面鏡4停止移動，調(diào)節(jié)經(jīng) 煒儀1使物鏡十字絲交點對準平面鏡4中D點的像，固定經(jīng)煒儀1，拿走平面鏡4,將此時物 鏡十字絲橫絲在塔尺3上的投影線與塔尺3的交點C標出，用鋼直尺量出B和C兩點間的 距離瓦;，由光的反射原理可知，ZACE=ZDCE=ZBAC，2萬=21^二2 ^，2萬即為經(jīng) 煒儀1的高度。
【主權(quán)項】
1. 一種測量經(jīng)煒儀高度的方法，其特征在于具體步驟為： 將經(jīng)煒儀置于測量時的基點D上方并對中整平，A點為經(jīng)煒儀水平軸線與豎直軸線的 交點，將帶垂直水準氣泡的塔尺立于距經(jīng)煒儀〇. 95~1. 05米的位置并調(diào)整至垂直，保持 塔尺與經(jīng)煒儀的豎直軸線平行，再將經(jīng)煒儀調(diào)至水平，并標出經(jīng)煒儀物鏡十字絲橫絲在塔 尺上的投影線與塔尺的交點B，然后在塔尺上B點放一塊直徑10厘米的反光體，反光體從 B點緩慢向下滑動，同時經(jīng)煒儀視線隨反光體緩慢向下移動，當經(jīng)煒儀目鏡中能夠觀測到D 點在反光體中成的像時，反光體停止移動，調(diào)節(jié)經(jīng)煒儀使物鏡十字絲交點對準反光體中D 點的像，固定經(jīng)煒儀，拿走反光體，將此時物鏡十字絲橫絲在塔尺上的投影線與塔尺的交點 C標出，用鋼直尺莖出B和C兩點間的距尚放^1,、由光的反射原理可知，Z ACE = Z DCE = ZBAC，i即為經(jīng)煒儀的高度。2. 如權(quán)利要求1所述的測量經(jīng)煒儀高度的方法，其特征在于塔尺用其它可控垂直裝置 代替。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測量經(jīng)緯儀高度的方法。該方法運用光的反射原理。將經(jīng)緯儀在測量基點上對中整平后，在距測量基點一定距離處樹立一把垂直塔尺，塔尺上放置一塊反光體。通過反光體沿塔尺上下移動可以從經(jīng)緯儀目鏡中觀測到基點在反光體中成的像，由光入射角與反射角相等關(guān)系和平行線間夾角關(guān)系可以求出經(jīng)緯儀水平軸到基點的距離，即儀器高度。本發(fā)明原理簡單明確、材料簡單廉價、操作簡便、精度高、易掌握、便于工程運用。
【IPC分類】G01C3/22
【公開號】CN105066954
【申請?zhí)枴緾N201510464911
【發(fā)明人】董均貴, 呂海波
【申請人】桂林理工大學
【公開日】2015年11月18日
【申請日】2015年7月31日