所述第一構(gòu)件(10)的所述上端(16)和第二構(gòu)件(20)的分叉內(nèi)表面(26)之間，該分叉內(nèi)表面是所述兩個臂(22、24)分叉處的內(nèi)表面。第一構(gòu)件(10)和第二構(gòu)件(20)由任何導(dǎo)電材料制成。
[0074]仍然參考圖12到圖19，在IC設(shè)備的測試期間，第二構(gòu)件(20)首先受到來自上方的IC設(shè)備的向下的力。當(dāng)這發(fā)生時，梁(35)壓縮并允許所述第二構(gòu)件朝著第一構(gòu)件(10)移動得更近。當(dāng)這發(fā)生時，所述臂(22、24)的內(nèi)表面(23、25)沿著第一構(gòu)件(10)的傾斜平坦表面(12、14)向下滑動，且所述第二構(gòu)件的兩個臂(22、24)向外彎曲并維持在所述第一構(gòu)件(10)的所述平坦表面(12、14)上的向內(nèi)壓力。當(dāng)IC設(shè)備遠離測試裝置被提升時，梁
(35)解壓縮并迫使第二構(gòu)件(20)遠離所述第一構(gòu)件(10)。當(dāng)這發(fā)生時，作用于第一構(gòu)件
(10)的所述平坦表面(12、14)上的兩個臂(22、24)的向內(nèi)壓力保持每個臂的內(nèi)表面(23、
25)與所述第一構(gòu)件(10)的所述平坦表面(12、14)接觸。以這種方式，電接觸在整個測試期中得以維持。
[0075]在這個第二實施方式中，如可在圖19中看到的，當(dāng)通過穿過可壓縮層(30)的激光切割來加工一對通孔時，梁(35)形成。因此，梁(35)與可壓縮層一樣厚，并且在形狀上是正方形的。預(yù)拉伸剛性層￠0)在這個實施方式中是必要的，且它放置在可壓縮層(30)和第一剛性層(40)之間，開口對齊，但比第一剛性層(40)的開口稍微大。這防止第二構(gòu)件(20)的臂(22、24)在測試期間撞到第一剛性層(40)。
[0076]圖13、圖14和圖16分別示出本發(fā)明的第一剛性層(40)、預(yù)拉伸層(60)和第二剛性層(50)。這些剛性層由例如托朗、聚醚酰亞胺、聚酰亞胺、Cirlex、聚醚醚酮、Semitron、聚四氟乙烯等的高性能工程塑料制成。第一剛性層(40)和預(yù)拉伸剛性層(60)可由操作員移除，這使得在必要時容易修理和更換第二構(gòu)件(20)。第二剛性層(50)也可由操作員移除，這使得在必要時容易修理和更換第一構(gòu)件(20)。
[0077]圖20和圖21示出將在本發(fā)明的第一實施方式中的電觸頭組裝到可壓縮層(30)上的方法。第一構(gòu)件(10)放置在所述可壓縮層(30)的一側(cè)上，與由所述可壓縮層(30)形成的梁(35)對齊。第二構(gòu)件(20)放置在所述可壓縮層(30)的相對端處。這個第二構(gòu)件具有兩個臂一左臂(22)和右臂(24)，并被設(shè)計成允許這兩個臂(22、24)的可撓性。當(dāng)?shù)诙?gòu)件(20)到達梁(35)時，這兩個臂(22、24)向外且在所述梁(35)周圍彎曲。所述臂(22、24)設(shè)計成具有向內(nèi)偏離，使得一旦所述臂(22、24)的頂端經(jīng)過梁(35)，它們就朝著彼此向內(nèi)移動，且所述左臂(22)的內(nèi)表面(23)被壓下以與第一構(gòu)件(10)的左平坦表面(12)接觸。同樣，所述右臂(24)的內(nèi)表面(25)被壓下以與第一構(gòu)件(10)的右平坦表面(14)接觸。以這種方式，在使用期間，第一構(gòu)件(10)和第二構(gòu)件(20)形成在彼此之間的緊密機械連接和由此產(chǎn)生的良好電連接。在測試期間，如果所述第一構(gòu)件(10)應(yīng)該是有故障的，則操作員可容易地移除所述第二剛性層(50)并接著繼續(xù)更換有故障的第一構(gòu)件(10)。類似地，如果所述第二構(gòu)件(20)應(yīng)該是有故障的，則操作員可容易地移除所述第一剛性層(40)并接著繼續(xù)更換有故障的第二構(gòu)件(20)。
[0078]圖22到圖25示出本發(fā)明的更多實施方式，每個實施方式是在可壓縮層(30)中的所述梁(35)的形狀的變形，所有實施方式都與本發(fā)明兼容。
[0079]圖23示出梁(35)具有六邊形形狀的實施方式。
[0080]圖24示出梁(35)具有橢圓形形狀的實施方式。
[0081]圖25示出梁(35)具有三角形形狀的實施方式。
[0082]圖26和圖27示出本發(fā)明的第七實施方式，其為上面的第一實施方式添加了同樣由可壓縮層(30)形成的一對下梁(36、37)。左下梁(36)位于第二構(gòu)件(20)的左臂(22)的頂端和第一構(gòu)件(10)之間。右下梁(37)位于第二構(gòu)件(20)的右臂(24)的頂端和第一構(gòu)件(10)之間。這些下梁(36、37)幫助梁(35)吸收在第一構(gòu)件(10)和第二構(gòu)件(20)之間的壓縮力，且還提供彈簧力以在所述壓縮力被移除時將所述第一構(gòu)件(10)和第二構(gòu)件
(20)推離彼此。
[0083]雖然描述和示出了本發(fā)明的幾個特別優(yōu)選的實施方式，但是現(xiàn)在對本領(lǐng)域中的技術(shù)人員來說應(yīng)明顯的是，可進行各種改變和修改而不偏離本發(fā)明的精神和范圍。因此，下面的權(quán)利要求旨在包括在本發(fā)明的范圍內(nèi)的這樣的變化、修改和應(yīng)用領(lǐng)域。
【主權(quán)項】
1.一種在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，包括: 剛性第一構(gòu)件(10)，其具有朝著彼此傾斜的兩個平坦表面(12、14)，使得所述第一構(gòu)件具有上端(16)，且所述第一構(gòu)件由導(dǎo)電材料形成； 柔性第二構(gòu)件(20)，其具有在所述第一構(gòu)件(10)之上延伸的第一臂(22)和第二臂(24)，所述臂(22、24)具有向內(nèi)偏離，使得每個所述臂的內(nèi)表面(23、25)被壓下以與每個所述平坦表面(12、14)接觸，所述第二構(gòu)件由導(dǎo)電材料形成；以及 可壓縮層(30)，其由彈性材料制成并具有延伸穿過所述可壓縮層的至少一個管道和在由所述可壓縮層形成的所述管道內(nèi)的至少一個梁(35)，所述梁位于所述第一構(gòu)件(10)的上端(16)和所述第二構(gòu)件(20)的分叉內(nèi)表面(26)之間。
2.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，還包括夾住所述可壓縮層(30)的一對剛性電絕緣層(40、50)，設(shè)置有與所述可壓縮層的所述管道對齊的開口的所述剛性層適合于提供對所述可壓縮層的支撐。
3.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，還包括預(yù)拉伸剛性層(60)，所述預(yù)拉伸剛性層適合于分離所述第一剛性層(40)和所述可壓縮層(30)。
4.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述梁(35)具有圓柱形形狀。
5.如權(quán)利要求4所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述第一構(gòu)件(10)的所述上端(16)適合于匹配并接收所述梁(35)。
6.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述梁(35)具有下列形狀中的任一種:正方形、橢圓形、三角形、六邊形和八邊形。
7.如權(quán)利要求6所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述第二構(gòu)件(20)的所述分叉內(nèi)表面(26)適合于匹配并接收所述梁(35)。
8.如權(quán)利要求6所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述第一構(gòu)件(10)的所述上端(16)適合于匹配并接收所述梁(35)。
9.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，其中所述梁(35)與所述可壓縮層(30) —樣厚。
10.如權(quán)利要求1所述的在集成電路測試裝置中使用的電觸頭，還包括一對下梁(36、37)，每個所述下梁位于每個所述臂(22、24)的頂端和所述第一構(gòu)件(10)之間。
11.一種制造用在集成電路測試裝置中的電觸頭中的可壓縮層(30)的方法，由此，穿過所述可壓縮層(30)加工至少一對通孔，使得在所述一對通孔之間形成梁(35)。
12.—種制造用在集成電路測試裝置中的電觸頭中的可壓縮層(30)的方法，由此，由所述可壓縮層(30)模制至少一個管道，使得在所述管道內(nèi)形成梁(35)。
【專利摘要】本發(fā)明涉及IC測試裝置中具有一體梁的可壓縮層。提供了使用于所有觸頭的公共可壓縮層的電觸頭，其中可壓縮層被制造有管道，管道包含在其內(nèi)的梁。梁由可壓縮層形成。這個梁用作彼此電接觸和彼此交互作用的第一和第二構(gòu)件的可壓縮構(gòu)件，使得作用于第一和第二構(gòu)件上的壓縮力將使它們維持電接觸同時壓縮梁。當(dāng)壓縮力被釋放時，像彈簧一樣起作用的梁擴張，因而將第一和第二構(gòu)件推開，但仍然彼此電接觸。
【IPC分類】G01R1-067
【公開號】CN104730297
【申請?zhí)枴緾N201410773190
【發(fā)明人】馮偉強, 吳國星, 夏馬爾·穆恩蒂亞斯, 李永杰
【申請人】杰馮科技有限公司
【公開日】2015年6月24日
【申請日】2014年12月12日
【公告號】US20150168451