本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體，具體為一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

1、半導(dǎo)體材料是一類介于導(dǎo)體和絕緣體之間的材料，它的電導(dǎo)率介于導(dǎo)體和絕緣體之間，當(dāng)溫度升高時(shí)，電導(dǎo)率會(huì)增加，半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性主要由其電子結(jié)構(gòu)決定，其在電子學(xué)和光電學(xué)等領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。

2、在一些半導(dǎo)體器件中，接觸界面的質(zhì)量對(duì)性能影響較大，例如金屬-半導(dǎo)體接觸，因而需要對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行接觸界面的磨損測(cè)試，目前針對(duì)此方面的測(cè)試裝置較少，且難以對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行快速有效的磨損測(cè)試。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本實(shí)用新型的目的是解決背景技術(shù)中存在的缺點(diǎn)，而提出一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)中所存在的問題。

2、為達(dá)到以上目的，本實(shí)用新型提供了一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，包括裝置架，所述裝置架的頂部通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有測(cè)試臺(tái)，所述測(cè)試臺(tái)上設(shè)置有橡膠塞，所述裝置架的頂部固定連接有立架，所述立架的內(nèi)表面螺紋套接有螺桿，所述螺桿的頂部設(shè)置有旋鈕，所述螺桿的底部固定連接有底架，所述底架上設(shè)置有摩擦組件。

3、優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括固定安裝在裝置架內(nèi)部的電機(jī)，所述電機(jī)的輸出端固定連接有驅(qū)動(dòng)軸，通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)能夠使得測(cè)試臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)，進(jìn)而聯(lián)動(dòng)測(cè)試臺(tái)內(nèi)的半導(dǎo)體材料轉(zhuǎn)動(dòng)。

4、優(yōu)選的，所述驅(qū)動(dòng)軸遠(yuǎn)離電機(jī)的一端設(shè)置有主動(dòng)齒輪，所述主動(dòng)齒輪的外表面嚙合連接有從動(dòng)齒輪。

5、優(yōu)選的，所述從動(dòng)齒輪的頂部固定連接有轉(zhuǎn)軸，所述轉(zhuǎn)軸的頂部與測(cè)試臺(tái)的底部固定連接。

6、優(yōu)選的，所述摩擦組件包括開設(shè)在底架外表面的若干組開孔，所述底架的內(nèi)部開設(shè)有內(nèi)嵌槽。

7、優(yōu)選的，所述底架的內(nèi)部活動(dòng)插接有測(cè)試頭，所述測(cè)試頭的外表面設(shè)置有橡膠環(huán)，橡膠環(huán)剛好能夠完全嵌在內(nèi)嵌槽內(nèi)。

8、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型具有以下有益效果：

9、1、該半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，通過旋轉(zhuǎn)旋鈕帶動(dòng)螺桿下移，測(cè)試裝置可以調(diào)整測(cè)試頭對(duì)半導(dǎo)體材料施加的抵持力度，不同的抵持力度會(huì)導(dǎo)致不同的磨損程度，從而可以根據(jù)需求進(jìn)行精確的磨損測(cè)試。

10、2、該半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，通過更換測(cè)試臺(tái)到不同的開孔，測(cè)試裝置可以對(duì)半導(dǎo)體材料的不同位置進(jìn)行相應(yīng)的磨損測(cè)試，這樣可以全面評(píng)估半導(dǎo)體材料在不同區(qū)域的耐久性和穩(wěn)定性。

技術(shù)特征：

1.一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，包括裝置架(1)，其特征在于：所述裝置架(1)的頂部通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有測(cè)試臺(tái)(7)，所述測(cè)試臺(tái)(7)上設(shè)置有橡膠塞(16)，所述裝置架(1)的頂部固定連接有立架(8)，所述立架(8)的內(nèi)表面螺紋套接有螺桿(9)，所述螺桿(9)的頂部設(shè)置有旋鈕(10)，所述螺桿(9)的底部固定連接有底架(11)，所述底架(11)上設(shè)置有摩擦組件。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，其特征在于：所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括固定安裝在裝置架(1)內(nèi)部的電機(jī)(2)，所述電機(jī)(2)的輸出端固定連接有驅(qū)動(dòng)軸(3)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，其特征在于：所述驅(qū)動(dòng)軸(3)遠(yuǎn)離電機(jī)(2)的一端設(shè)置有主動(dòng)齒輪(4)，所述主動(dòng)齒輪(4)的外表面嚙合連接有從動(dòng)齒輪(5)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，其特征在于：所述從動(dòng)齒輪(5)的頂部固定連接有轉(zhuǎn)軸(6)，所述轉(zhuǎn)軸(6)的頂部與測(cè)試臺(tái)(7)的底部固定連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，其特征在于：所述摩擦組件包括開設(shè)在底架(11)外表面的若干組開孔(12)，所述底架(11)的內(nèi)部開設(shè)有內(nèi)嵌槽(13)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，其特征在于：所述底架(11)的內(nèi)部活動(dòng)插接有測(cè)試頭(14)，所述測(cè)試頭(14)的外表面設(shè)置有橡膠環(huán)(15)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)屬于半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域，具體公開了一種半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，包括裝置架，所述裝置架的頂部通過驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)連接有測(cè)試臺(tái)，所述測(cè)試臺(tái)上設(shè)置有橡膠塞，所述裝置架的頂部固定連接有立架，所述立架的內(nèi)表面螺紋套接有螺桿，所述螺桿的頂部設(shè)置有旋鈕，所述螺桿的底部固定連接有底架，所述底架上設(shè)置有摩擦組件，所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括固定安裝在裝置架內(nèi)部的電機(jī)，所述電機(jī)的輸出端固定連接有驅(qū)動(dòng)軸。該半導(dǎo)體材料性能測(cè)試裝置，通過旋轉(zhuǎn)旋鈕帶動(dòng)螺桿下移，測(cè)試裝置可以調(diào)整測(cè)試頭對(duì)半導(dǎo)體材料施加的抵持力度，不同的抵持力度會(huì)導(dǎo)致不同的磨損程度，從而可以根據(jù)需求進(jìn)行精確的磨損測(cè)試。

技術(shù)研發(fā)人員：王永恒,顧在意,張翼飛,王卿璞
受保護(hù)的技術(shù)使用者：山東寶乘電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240415
技術(shù)公布日：2025/1/6