本公開涉及微電子測(cè)試，具體地，本公開涉及一種用于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置。

背景技術(shù)：

1、全橋驅(qū)動(dòng)器是一種常用于直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)的電路，它能夠?qū)崿F(xiàn)電機(jī)的正轉(zhuǎn)、反轉(zhuǎn)以及制動(dòng)等功能，因而廣泛應(yīng)用于各種直流電機(jī)控制系統(tǒng)中。當(dāng)全橋驅(qū)動(dòng)器在封裝完成后、包裝出廠之前，通常還需進(jìn)行氣密性檢測(cè)、外觀檢測(cè)等。實(shí)踐表明，在上述出廠檢測(cè)過程中，若操作不當(dāng)，則極有可能會(huì)給產(chǎn)品造成靜電損傷，因此在出廠之前，往往還需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，其中阻抗測(cè)試是驗(yàn)證產(chǎn)品是否發(fā)生靜電損壞甚至失效的最常用的測(cè)試項(xiàng)目。

2、目前針對(duì)三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的阻抗測(cè)試，多是采用萬(wàn)用表或電阻表來進(jìn)行，首先通過接觸三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的引腳以使其中的晶體管導(dǎo)通(和截止)，再通過接觸引腳以獲得導(dǎo)通電阻(和截止電阻)阻值、然后通過上述電阻值判定產(chǎn)品是否出現(xiàn)異常。

3、如圖1所示，以采用6個(gè)n型場(chǎng)效應(yīng)晶體管作為開關(guān)的三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器為例，通常該全橋驅(qū)動(dòng)器有17只引腳。其中s1、s2、…s6，g1、g2、……g6，分別為6個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管v1、v2、……v6的s極(源極)和g極(柵極)的引出腳；l+為場(chǎng)效應(yīng)晶體管v1、v3、v5的d極(漏極)的共同引出腳；l-為場(chǎng)效應(yīng)晶體管v2、v4、v6的s極的共同引出腳；l1為場(chǎng)效應(yīng)晶體管v1的s極與場(chǎng)效應(yīng)晶體管v2的d極(漏極)的共同引出腳；l2為場(chǎng)效應(yīng)晶體管v3的s極與場(chǎng)效應(yīng)晶體管v4的d極的共同引出腳；l3為場(chǎng)效應(yīng)晶體管v5的s極與場(chǎng)效應(yīng)晶體管v6的d極的共同引出腳。

4、對(duì)上述的三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行測(cè)試，包括如下步驟：

5、用電阻表的紅表筆分別接觸被測(cè)產(chǎn)品的引腳g1、g2、……g6，對(duì)應(yīng)的，用黑表筆分別觸碰引腳s1、s2、……s6，此時(shí)三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器中的場(chǎng)效應(yīng)晶體管v1～v6應(yīng)均為導(dǎo)通狀態(tài)；然后，先用紅表筆接觸引腳l+，用黑表筆分別接觸引腳l3、l2和l1；再用黑表筆接觸引腳l-，用紅表筆分別觸碰引腳l3、l2和l1。按照上述過程，測(cè)得六組阻值。

6、用電阻表的黑表筆分別接觸被測(cè)產(chǎn)品的引腳g1、g2、……g6，對(duì)應(yīng)的，用紅表筆分別觸碰引腳s1、s2、……s6，此時(shí)三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器中的場(chǎng)效應(yīng)晶體管v1～v6應(yīng)均為截止?fàn)顟B(tài)；然后，先用紅表筆接觸引腳l+，用黑表筆分別觸碰引腳l3、l2和l1；再用黑表筆接觸引腳l-，紅表筆分別觸碰引腳l3、l2、l1。按照上述過程，測(cè)得另六組阻值。

7、在上述測(cè)試過程中，由于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的引腳排列密集，因此用電阻表筆要對(duì)準(zhǔn)想要觸碰連接的引腳比較困難且耗費(fèi)時(shí)間，同時(shí)利用電阻表的電源通過表筆接觸引腳的方式使三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器中的場(chǎng)效應(yīng)晶體管導(dǎo)通或截止，導(dǎo)致測(cè)試效率不高，還會(huì)存在因操作失誤而導(dǎo)致被測(cè)產(chǎn)品損壞的風(fēng)險(xiǎn)。

8、因此，如何對(duì)三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行高效的阻抗測(cè)試，是目前所需要解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題，本公開第一方面提供一種用于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試電路，該測(cè)試電路包括控制單元以及測(cè)試單元；其中，

2、控制單元包括多個(gè)控制支路，每個(gè)控制支路包括一個(gè)開關(guān)和一個(gè)放電電阻，多個(gè)控制支路與被測(cè)產(chǎn)品即三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器中的多個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管相對(duì)應(yīng)，并用于將對(duì)應(yīng)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極經(jīng)由對(duì)應(yīng)的開關(guān)連接至電源正極，將源極連接至電源負(fù)極，該開關(guān)串接于對(duì)應(yīng)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極和電源正極之間，放電電阻并聯(lián)于對(duì)應(yīng)的場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極和源極之間；

3、測(cè)試單元包括多個(gè)測(cè)試端口，測(cè)試端口與被測(cè)產(chǎn)品的引腳連接，進(jìn)而連接被測(cè)產(chǎn)品中多個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的相同或不同的電極。

4、在本公開實(shí)施例中，測(cè)試電路通過開關(guān)的閉合和斷開，即可實(shí)現(xiàn)三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的每個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的導(dǎo)通和截止；通過借助于測(cè)試端口，能夠相應(yīng)獲得每個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的導(dǎo)通電阻和截止電阻，從而能夠根據(jù)測(cè)出的多組電阻值判斷出該待測(cè)全橋驅(qū)動(dòng)器是否正常。

5、根據(jù)上述實(shí)施例，由于開關(guān)的引入，以及通過將需要測(cè)試的各晶體管的電極引出作為測(cè)試端口，相較于現(xiàn)有技術(shù)，不僅穩(wěn)定性好，且測(cè)試端口排布疏散，因此產(chǎn)品測(cè)試速度不再受引腳密度等因素的限制，降低了測(cè)試失誤乃至造成產(chǎn)品損壞的幾率，大大提高了測(cè)試效率。

6、可選地，前述控制單元還包括限流電阻，限流電阻串聯(lián)在電源正極與多個(gè)控制支路之間，以對(duì)電路起到限流作用，防止控制支路電流過大對(duì)被測(cè)產(chǎn)品造成損壞。

7、可選地，被測(cè)產(chǎn)品即三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器具有第一至第六場(chǎng)效應(yīng)晶體管以及多個(gè)引腳，多個(gè)引腳包括引腳l+、引腳l-以及引腳l1至l3；

8、多個(gè)測(cè)試端口包括：第一測(cè)試端口，能夠通過引腳l+與第一、第三、第五場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極連接；第二測(cè)試端口，能夠通過引腳l-與第二、第四、第六場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極連接；第三測(cè)試端口，能夠通過引腳l1與第一場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極和第二場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極連接；第四測(cè)試端口，能夠通過引腳l2與第三場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極和第四場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極連接；第五測(cè)試端口，能夠通過引腳l3與第五場(chǎng)效應(yīng)晶體管的源極和第六場(chǎng)效應(yīng)晶體管的漏極連接。

9、本公開第二方面還提供一種測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置包括：

10、如上述本公開第一方面提供的測(cè)試電路；

11、線路板，用于承載插座、以及測(cè)試電路中的控制單元和測(cè)試單元。

12、電源插孔，包括正極插孔和負(fù)極插孔，分別用于插接電源正極和電源負(fù)極，以為測(cè)試電路供電。

13、可選地，測(cè)試裝置能夠用于通過電阻測(cè)量?jī)x測(cè)量多個(gè)測(cè)試端口中任意兩個(gè)之間的電阻值。

14、進(jìn)一步的，電阻測(cè)量?jī)x能夠測(cè)量第一測(cè)試端口分別與第三、第四、第五測(cè)試端口之間的電阻值，或者能夠測(cè)量第二測(cè)試端口分別與第三、第四、第五測(cè)試端口之間的電阻值。

15、可選地，控制單元、插座以及測(cè)試單元分別沿第一方向排列設(shè)置在線路板上。

16、可選地，控制單元中的多個(gè)開關(guān)沿第二方向排列，控制單元中的多個(gè)放電電阻沿第二方向排列并設(shè)置在多個(gè)開關(guān)與插座之間，第二方向與第一方向垂直。

17、可選地，控制單元中的限流電阻和電源插孔沿所述第二方向設(shè)置于開關(guān)一側(cè)。

18、可選地，插座設(shè)置為，以第二方向?yàn)殚L(zhǎng)度方向。

19、上述技術(shù)方案至少能夠?qū)崿F(xiàn)如下的有益效果：

20、本公開提供的一種用于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置，能夠?qū)⑷嗔廴珮蝌?qū)動(dòng)器的排列密集的多個(gè)引腳集合為幾個(gè)測(cè)試端口，通過開關(guān)控制場(chǎng)效應(yīng)晶體管的導(dǎo)通和截止，并通過測(cè)試端口相應(yīng)獲得各場(chǎng)效應(yīng)晶體管的導(dǎo)通電阻值和截止電阻值，最終判斷待出廠產(chǎn)品是否發(fā)生靜電損壞甚至失效。因此，采用該測(cè)試電路及測(cè)試裝置，能夠大大提高測(cè)試效率。

21、同時(shí)，由于測(cè)試端口可根據(jù)實(shí)際測(cè)試需求間隔且疏散排列，因此在使用電阻表筆接觸測(cè)試端口時(shí)不容易誤觸相鄰的端口，從而降低了三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器被人為損壞的可能性。

技術(shù)特征：

1.一種用于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試電路，其特征在于，包括控制單元(1)以及測(cè)試單元(3)；其中，

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述控制單元(1)還包括限流電阻，所述限流電阻串聯(lián)于所述電源正極與所述多個(gè)控制支路之間。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測(cè)試電路，其特征在于，所述被測(cè)產(chǎn)品具有第一至第六場(chǎng)效應(yīng)晶體管以及多個(gè)引腳，所述多個(gè)引腳包括引腳l+、引腳l-以及引腳l1至l3；

4.一種測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置能夠用于通過電阻測(cè)量?jī)x測(cè)量多個(gè)測(cè)試端口中任意兩個(gè)之間的電阻值。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述控制單元(1)、所述插座(2)以及所述測(cè)試單元(3)分別沿第一方向排列設(shè)置在所述線路板(5)上。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述控制單元(1)中的多個(gè)開關(guān)沿第二方向排列，所述控制單元(1)中的多個(gè)放電電阻沿第二方向排列并設(shè)置在所述多個(gè)開關(guān)與所述插座(2)之間，所述第二方向與所述第一方向垂直。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述控制單元(1)中的限流電阻和所述電源插孔(4)沿所述第二方向設(shè)置于所述開關(guān)一側(cè)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述插座(2)設(shè)置為：以所述第二方向?yàn)殚L(zhǎng)度方向。

技術(shù)總結(jié)
本公開提供一種用于三相六臂全橋驅(qū)動(dòng)器的測(cè)試電路及測(cè)試裝置，該測(cè)試電路包括：控制單元，包括多個(gè)控制支路，每個(gè)控制支路包括一個(gè)開關(guān)和一個(gè)放電電阻，多個(gè)控制支路用于將對(duì)應(yīng)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極經(jīng)由對(duì)應(yīng)的開關(guān)連接至電源正極，源極連接至電源負(fù)極，放電電阻能夠與對(duì)應(yīng)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的柵極和源極并聯(lián)；測(cè)試單元，包括多個(gè)測(cè)試端口，測(cè)試端口能夠通過插座與被測(cè)產(chǎn)品的引腳連接，進(jìn)而連接被測(cè)產(chǎn)品中多個(gè)場(chǎng)效應(yīng)晶體管的相同或不同的電極。本公開提供的測(cè)試電路能夠?qū)⑷珮蝌?qū)動(dòng)器的多個(gè)引腳集合為測(cè)試端口，提高了測(cè)試效率，降低了電阻表容易發(fā)生誤觸從而導(dǎo)致?lián)p壞場(chǎng)效應(yīng)晶體管的風(fēng)險(xiǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：蘇杭,劉軍
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京飛宇微電子電路有限責(zé)任公司
技術(shù)研發(fā)日：20240102
技術(shù)公布日：2024/12/23