本技術(shù)涉及l(fā)ed測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種分光機(jī)球頭底測(cè)裝置。

背景技術(shù)：

1、分光機(jī)的球頭底測(cè)機(jī)構(gòu)是專門(mén)設(shè)計(jì)用于對(duì)球頭led芯片等底部電極元件進(jìn)行測(cè)試的重要部分。通過(guò)使通電的探針與元件的引腳接觸，從而使元件發(fā)光，進(jìn)行光學(xué)參數(shù)的檢測(cè)。

2、元件通常放置在帶孔的支撐座上，探針穿過(guò)支撐座上的孔并與元件的引腳接觸。在進(jìn)行參數(shù)檢測(cè)時(shí)，一般會(huì)通過(guò)帶孔的壓板壓住元件，防止探針將元件頂起或者元件在檢測(cè)時(shí)發(fā)生位移。

3、然而，壓板雖然能夠?qū)υM(jìn)行限位，但無(wú)法對(duì)元件進(jìn)行精確定位，元件在支撐座上的擺放位置可能會(huì)存在偏差，進(jìn)而影響檢測(cè)結(jié)果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決工件無(wú)法精確定位的問(wèn)題，本技術(shù)提供一種分光機(jī)球頭底測(cè)裝置。

2、本技術(shù)提供的一種分光機(jī)球頭底測(cè)裝置采用如下的技術(shù)方案：

3、一種分光機(jī)球頭底測(cè)裝置，包括：

4、分度盤(pán)，沿周向均勻間隔設(shè)有多個(gè)用于放置工件的放置臺(tái)，所述分度盤(pán)能夠沿自身軸線方向旋轉(zhuǎn)，從而使位于所述放置臺(tái)的所述工件移動(dòng)至測(cè)試工位。

5、缺陷檢測(cè)組件，用于在所述工件到達(dá)所述測(cè)試工位之前對(duì)其進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

6、第一定位組件，用于對(duì)進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)的所述工件進(jìn)行夾持限位。

7、測(cè)試組件，包括底測(cè)模塊和積分球，所述底測(cè)模塊用于與處于所述測(cè)試工位的所述工件接觸，并使所述工件發(fā)光；所述積分球用于對(duì)發(fā)光的所述工件進(jìn)行測(cè)試。

8、第二定位組件，用于對(duì)處于所述測(cè)試工位的所述工件進(jìn)行夾持限位。

9、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，該分光機(jī)球頭底測(cè)裝置能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)工件的自動(dòng)化檢測(cè)，提高檢測(cè)效率和定位精度。具體來(lái)說(shuō)：

10、分度盤(pán)的設(shè)計(jì)使得工件可以自動(dòng)有序地移動(dòng)到測(cè)試工位，減少了人工操作，提高了生產(chǎn)效率。

11、缺陷檢測(cè)組件在工件到達(dá)測(cè)試工位前進(jìn)行預(yù)檢，確保進(jìn)入后續(xù)測(cè)試環(huán)節(jié)的工件質(zhì)量，避免無(wú)效測(cè)試。

12、第一定位組件對(duì)進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)的工件進(jìn)行夾持限位，保證檢測(cè)過(guò)程中的穩(wěn)定性和可靠性，減少因工件位置變化導(dǎo)致的誤判。

13、第二定位組件對(duì)處于測(cè)試工位的工件進(jìn)行夾持限位，確保測(cè)試過(guò)程中工件的位置固定，避免因工件移動(dòng)造成的測(cè)量誤差。

14、優(yōu)選地，所述第一定位組件包括定位驅(qū)動(dòng)單元、兩條第一滑軌和兩個(gè)夾爪。

15、兩條所述第一滑軌相互平行，兩個(gè)所述夾爪一一對(duì)應(yīng)地滑動(dòng)設(shè)于兩條所述第一滑軌。

16、兩個(gè)所述夾爪均與所述定位驅(qū)動(dòng)單元連接，所述定位驅(qū)動(dòng)單元用于驅(qū)動(dòng)夾爪沿所述第一滑軌的方向滑動(dòng)，從而使兩個(gè)所述夾爪相互靠近或遠(yuǎn)離。

17、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，該分光機(jī)球頭底測(cè)裝置的第一定位組件能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)工件的精準(zhǔn)夾持和限位，確保工件在缺陷檢測(cè)過(guò)程中保持穩(wěn)定，避免因工件位置變動(dòng)導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確。同時(shí)，通過(guò)定位驅(qū)動(dòng)單元控制夾爪的運(yùn)動(dòng)，使得夾持力可控，有效保護(hù)工件不受損壞。

18、優(yōu)選地，所述定位驅(qū)動(dòng)單元包括第一安裝架、第一電機(jī)、第一旋轉(zhuǎn)塊、兩根傳動(dòng)柱和兩個(gè)軸承。

19、所述第一電機(jī)設(shè)于所述第一安裝架且與所述第一旋轉(zhuǎn)塊連接。

20、其中一個(gè)所述傳動(dòng)柱通過(guò)一個(gè)所述軸承與所述第一旋轉(zhuǎn)塊轉(zhuǎn)動(dòng)連接，另一個(gè)所述傳動(dòng)柱通過(guò)另一個(gè)所述軸承與所述第一旋轉(zhuǎn)塊轉(zhuǎn)動(dòng)連接。

21、兩個(gè)所述軸承均與所述第一旋轉(zhuǎn)塊滑動(dòng)連接。

22、其中一根所述傳動(dòng)柱與其中一個(gè)所述夾爪連接，另一根所述傳動(dòng)柱與另一個(gè)所述夾爪連接。

23、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，定位驅(qū)動(dòng)單元中的第一電機(jī)通過(guò)第一旋轉(zhuǎn)塊帶動(dòng)兩根傳動(dòng)柱運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)兩個(gè)夾爪的同步相向或背離運(yùn)動(dòng)，確保夾爪能夠?qū)⒐ぜ拗圃跍y(cè)試工位，提高夾持精度和可靠性。

24、優(yōu)選地，所述第一定位組件還包括第一光電傳感器和第一阻擋片。

25、所述第一阻擋片與其中一個(gè)所述夾爪連接，兩個(gè)所述夾爪相互靠近或遠(yuǎn)離時(shí)，所述第一光電傳感器在第一狀態(tài)與第二狀態(tài)之間切換。

26、在所述第一狀態(tài)，所述第一阻擋片位于所述第一光電傳感器的發(fā)射器與接收器之間，并阻擋所述第一光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光。

27、在所述第二狀態(tài)，所述第一阻擋片未阻擋所述第一光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光。

28、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，第一定位組件不僅能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)工件的夾持限位，還增加了第一光電傳感器和第一阻擋片，能夠在夾爪動(dòng)作過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)夾爪的位置狀態(tài)，確保夾爪準(zhǔn)確到位，提高定位精度和可靠性。具體而言：

29、第一光電傳感器和第一阻擋片的配合使用，可以在夾爪相互靠近或遠(yuǎn)離時(shí)，通過(guò)第一光電傳感器的狀態(tài)變化（第一狀態(tài)與第二狀態(tài)）來(lái)判斷夾爪是否達(dá)到預(yù)定位置，從而避免夾爪過(guò)度夾緊或松開(kāi)導(dǎo)致的工件損壞或夾持不牢問(wèn)題。

30、優(yōu)選地，所述底測(cè)模塊包括測(cè)試驅(qū)動(dòng)單元、第二安裝架、第二滑軌、連接架和探針。

31、所述第二滑軌豎直設(shè)于所述第二安裝架，所述連接架滑動(dòng)設(shè)于所述第二滑軌，所述探針設(shè)于所述連接架。

32、所述測(cè)試驅(qū)動(dòng)單元與所述連接架連接，并用于驅(qū)動(dòng)所述連接架沿所述第二滑軌的方向滑動(dòng)。

33、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，底測(cè)模塊能夠?qū)崿F(xiàn)精確的垂直運(yùn)動(dòng)，確保探針與工件的穩(wěn)定接觸，提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。具體來(lái)說(shuō)：

34、測(cè)試驅(qū)動(dòng)單元與連接架的配合使用，使得連接架可以沿著第二滑軌的方向精準(zhǔn)滑動(dòng)，保證了探針能夠在預(yù)定位置與工件接觸，避免了因位置偏差導(dǎo)致的測(cè)試誤差。

35、優(yōu)選地，所述測(cè)試驅(qū)動(dòng)單元包括第二電機(jī)、第二旋轉(zhuǎn)塊和連接桿。

36、所述第二電機(jī)與所述第二旋轉(zhuǎn)塊連接并用于驅(qū)動(dòng)所述第二旋轉(zhuǎn)塊旋轉(zhuǎn)。

37、所述連接桿的一端與所述第二旋轉(zhuǎn)塊轉(zhuǎn)動(dòng)連接，另一端與所述連接架轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述連接桿與所述第二旋轉(zhuǎn)塊的連接部位相較于所述第二旋轉(zhuǎn)塊的旋轉(zhuǎn)軸偏心設(shè)置。

38、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，第二電機(jī)驅(qū)動(dòng)第二旋轉(zhuǎn)塊旋轉(zhuǎn)，進(jìn)而帶動(dòng)連接桿運(yùn)動(dòng)，使得連接架沿第二滑軌的方向上下滑動(dòng)，實(shí)現(xiàn)探針與工件的精確接觸和分離，提高了測(cè)試過(guò)程的自動(dòng)化程度和準(zhǔn)確性。

39、優(yōu)選地，所述底測(cè)模塊還包括第二光電傳感器和第二阻擋片。

40、所述第二阻擋片與所述連接架連接，所述連接架沿所述第二滑軌的方向滑動(dòng)時(shí)，所述第二光電傳感器在第三狀態(tài)與第四狀態(tài)之間切換。

41、在所述第三狀態(tài)，所述探針與所述工件接觸，所述第二阻擋片位于所述第二光電傳感器的發(fā)射器與接收器之間，并阻擋所述第二光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光。

42、在所述第四狀態(tài)，所述探針未與所述工件接觸，所述第二阻擋片未阻擋所述第二光電傳感器的發(fā)射器。

43、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，第二光電傳感器和第二阻擋片的組合能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)探針與工件之間的接觸狀態(tài)。當(dāng)探針與工件接觸時(shí)，第二阻擋片會(huì)遮擋第二光電傳感器的光線，使其處于第三狀態(tài)，從而準(zhǔn)確判斷探針已與工件接觸；當(dāng)探針未與工件接觸時(shí)，第二阻擋片不會(huì)遮擋第二光電傳感器的光線，使其處于第四狀態(tài)，從而確保探針與工件沒(méi)有接觸。這種設(shè)計(jì)提高了測(cè)試過(guò)程的可靠性和精度，避免了因誤判導(dǎo)致的測(cè)試誤差。

44、優(yōu)選地，所述放置臺(tái)的側(cè)壁具有多個(gè)朝向不同的平面。

45、所述底測(cè)模塊還包括第三光電傳感器，所述第三光電傳感器設(shè)于所述連接架，所述連接架沿所述第二滑軌的方向滑動(dòng)時(shí)，所述第三光電傳感器在第五狀態(tài)與第六狀態(tài)之間切換。

46、在所述第五狀態(tài)，所述第三光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光能夠被位于所述測(cè)試工位的所述工件所對(duì)應(yīng)的所述放置臺(tái)側(cè)壁的其中一個(gè)平面發(fā)射，并被所述第三光電傳感器的接收器接收。

47、在所述第六狀態(tài)，所述第三光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光由位于所述測(cè)試工位的所述工件所對(duì)應(yīng)的所述放置臺(tái)的上方穿過(guò)。

48、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，放置臺(tái)的側(cè)壁設(shè)計(jì)成具有多個(gè)朝向不同的平面，在第五狀態(tài)下，第三光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光能夠被位于測(cè)試工位的工件所對(duì)應(yīng)的放置臺(tái)側(cè)壁的其中一個(gè)平面反射回來(lái)，并被接收器接收。反之，通過(guò)接收器是否接收到反射回來(lái)的光，能夠判斷放置臺(tái)是否發(fā)生偏差，進(jìn)而幫助判斷工件是否處于測(cè)試工位。

49、在放置臺(tái)未發(fā)生偏差的情況下，隨著第三光電傳感器跟隨連接架移動(dòng)，在第六狀態(tài)下，第三光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光不會(huì)被放置臺(tái)阻擋。反之，根據(jù)第三光電傳感器的發(fā)射器發(fā)出的光是否被放置臺(tái)阻擋，能夠幫助判斷放置臺(tái)的頂部高度，進(jìn)而對(duì)探針進(jìn)行更精確的位置調(diào)節(jié)。

50、優(yōu)選地，所述分光機(jī)球頭底測(cè)裝置還包括下料組件。

51、所述下料組件包括噴嘴和下料管，所述下料管傾斜設(shè)置，所述噴嘴朝向所述下料管高度較高的一端設(shè)置，所述噴嘴用于噴出介質(zhì)從而將所述工件推入所述下料管中。

52、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，下料組件的設(shè)置使得工件能夠在測(cè)試完成后自動(dòng)下料，提高了檢測(cè)效率；噴嘴和下料管的設(shè)計(jì)確保了工件能夠準(zhǔn)確、快速地被推送至下料管中，避免了人工操作的繁瑣和誤差，同時(shí)傾斜設(shè)置的下料管利用重力作用進(jìn)一步保證了工件的順利輸送。

53、優(yōu)選地，所述下料組件的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)所述下料組件以所述分度盤(pán)的旋轉(zhuǎn)軸為中心軸，沿周向均勻間隔排布。

54、通過(guò)采用上述技術(shù)方案，工件在進(jìn)行檢測(cè)后，能夠根據(jù)不同品質(zhì)等級(jí)從不同下料管進(jìn)行下料，從而對(duì)不同品質(zhì)等級(jí)的工件進(jìn)行區(qū)分。

55、綜上所述，本技術(shù)包括以下至少一種有益技術(shù)效果：

56、1.分度盤(pán)的旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)使得工件可以依次進(jìn)行檢測(cè)，顯著提高了檢測(cè)效率；

57、2.第一定位組件和第二定位組件分別在視覺(jué)檢測(cè)和測(cè)試工位對(duì)工件進(jìn)行夾持限位，有效解決了工件無(wú)法精確定位，導(dǎo)致檢測(cè)結(jié)果出現(xiàn)誤差的問(wèn)題。