技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種探測(cè)器串音測(cè)試裝置、其制作方法及串音測(cè)試方法，在基片上制作至少一個(gè)最小單元圖形，所述最小單元圖形包括中心探測(cè)單元和設(shè)置在中心探測(cè)單元周?chē)耐鈬綔y(cè)單元，外圍探測(cè)單元為不透光，中心探測(cè)單元為透光；將制作好的探測(cè)器串音測(cè)試裝置放置在焦平面探測(cè)器的前面，使中心探測(cè)單元與焦平面探測(cè)器的光敏元對(duì)準(zhǔn)；采用黑體進(jìn)行測(cè)試，根據(jù)各光敏元的電壓響應(yīng)值計(jì)算焦平面探測(cè)器的串音。本發(fā)明適用于小像元焦平面探測(cè)器的串音，解決了傳統(tǒng)小光點(diǎn)測(cè)試法不適用于小像元探測(cè)器串音的難題，使用本發(fā)明測(cè)試探測(cè)器的串音時(shí)，只有最單元圖形的中心探測(cè)單元有響應(yīng)，使探測(cè)器串音很容易獲得。

技術(shù)研發(fā)人員：侯治錦;司俊杰;王巍;魯正雄
受保護(hù)的技術(shù)使用者：中國(guó)空空導(dǎo)彈研究院
技術(shù)研發(fā)日：2017.04.27
技術(shù)公布日：2017.10.20