技術(shù)特征：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種電容屏測試裝置，包括：控制系統(tǒng)，所述控制系統(tǒng)至少具有第一接口模塊和第二接口模塊；測試機(jī)構(gòu)，所述測試機(jī)構(gòu)連接于所述第一接口模塊與電容屏之間，用于根據(jù)所述控制系統(tǒng)產(chǎn)生的控制信號(hào)對(duì)所述電容屏進(jìn)行測試作業(yè)并能在測試作業(yè)完成后向所述第一接口模塊發(fā)出反饋信號(hào)；自動(dòng)標(biāo)記機(jī)構(gòu)，所述自動(dòng)標(biāo)記機(jī)構(gòu)包括驅(qū)動(dòng)單元和標(biāo)記工具，所述驅(qū)動(dòng)單元與所述第二接口模塊相連并能根據(jù)所述控制系統(tǒng)接收到的所述反饋信號(hào)驅(qū)動(dòng)所述標(biāo)記工具對(duì)所述電容屏進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)。該電容屏測試裝置，結(jié)構(gòu)簡單，能方便的控制標(biāo)記工具在測試作業(yè)完成后自動(dòng)進(jìn)行標(biāo)記作業(yè)，能從根本上解決漏檢及漏標(biāo)記問題，從而大幅提高總體生產(chǎn)效率并降低總體生產(chǎn)成本。

技術(shù)研發(fā)人員：王乾
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市駿達(dá)光電股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：2017.03.28
技術(shù)公布日：2017.08.18