本發(fā)明涉及SMT器件檢測領(lǐng)域，特別是涉及一種SMT器件檢測方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前，SMT(Surface Mount Technology，表面組裝技術(shù))器件檢測系統(tǒng)中，測試的目標(biāo)元器件都是通過十字架或者一些圖形框起來以達到便于用戶快速定位的目的，并且該目標(biāo)元器件顯示于整個軟件界面的一小部分。此方式相比傳統(tǒng)的目視實物方式有很大的優(yōu)勢，可以通過圖像放大及標(biāo)記輔助檢測者快速定位目標(biāo)元器件，進而快速對該元器件進行對應(yīng)檢測。

但是，由于目標(biāo)元器件僅為軟件界面的一小部分，不方便定位，且容易被其他顯示內(nèi)容，如定位目標(biāo)元器件的十字架或者其他圖像遮擋，造成檢測障礙。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

基于此，有必要提出一種能夠?qū)崿F(xiàn)對目標(biāo)對象的清晰顯示的SMT器件檢測方法和系統(tǒng)。

一種SMT器件檢測方法，包括：

從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息；

將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器；

通過所述輔顯示器單獨顯示目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

一種SMT器件檢測系統(tǒng)，包括：

信息提取模塊，用于從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息；

發(fā)送模塊，用于將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器；

單獨顯示模塊，用于通過所述輔顯示器單獨顯示目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

上述SMT器件檢測方法和系統(tǒng)，將目標(biāo)對象的圖像從SMT器件的圖像中提取出來，通過單獨設(shè)置的顯示器顯示，可以實現(xiàn)目標(biāo)器件的單獨顯示，圖像清晰無遮擋，減少了檢測者的勞動，提高了檢測效果和效率。

附圖說明

圖1為一實施例中SMT器件檢測方法的方法流程圖；

圖2為另一實施例中SMT器件檢測方法的方法流程圖；

圖3為一實施例中SMT器件檢測系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；

圖4為另一實施例中SMT器件檢測系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

具體實施方式

參見圖1，圖1為一實施例中SMT器件檢測方法的方法流程圖。

在本實施例中，該SMT器件檢測方法包括：

S101，從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

將片式的電子元器件通過SMT技術(shù)焊裝在印制電路板上，得到SMT器件，其為通過SMT技術(shù)得到的PCB板，SMT器件在出廠之前需要進行首件檢測，首件是指一定數(shù)量的樣品。

獲取SIM器件的圖像，并在主顯示器上顯示出來，選中需要檢測的電子元器件作為目標(biāo)對象，提取該目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息，該參數(shù)信息包括目標(biāo)對象的型號、尺寸、參數(shù)等。

S102，將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器。

S103，通過所述輔顯示器單獨顯示目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

建立主顯示器和輔顯示器之間的通訊連接，將提取到的目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器，通過輔顯示器單獨顯示該目標(biāo)對象。

由于SIM器件集成度高，大量的電子元器件均焊裝在同一塊印制電路板上，整個SIM器件顯示在主顯示器上時，單個電子元器件只占整個界面的一小部分。采用點擊、框選等方式選中目標(biāo)對象，將該目標(biāo)對象，如單個電子元器件單獨顯示在輔顯示器上，通過輔顯示器對該電子元器件進行檢測。

輔顯示器獨立設(shè)置，可靈活地設(shè)置在檢測者方便查看的位置，且顯示時不會受到定位目標(biāo)器件的十字架或者其他圖像的遮擋，能清楚的顯示每個電子元器件的圖像和參數(shù)信息。其中，參數(shù)信息可以顯示在區(qū)別于圖像的單獨版塊中。

上述SMT器件檢測方法，從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息，將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器，通過所述輔顯示器單獨顯示目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息；將目標(biāo)對象的圖像從SMT器件的圖像中提取出來，通過單獨設(shè)置的顯示器顯示，可以實現(xiàn)目標(biāo)器件的單獨顯示，圖像清晰無遮擋，減少了檢測者的勞動，提高了檢測效果和效率。

參見圖2，圖2為另一實施例中SMT器件檢測方法的方法流程圖。

在本實施例中，該SMT器件檢測方法包括：

S201，獲取所述目標(biāo)對象所在的區(qū)域，將所述區(qū)域內(nèi)的圖像作為所述目標(biāo)對象的圖像。

可以通過點擊或框選的方式獲取目標(biāo)對象所在的區(qū)域，將該區(qū)域內(nèi)的圖像作為目標(biāo)對象的圖像。

S202，從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

將目標(biāo)對象所在的區(qū)域從整個SMT器件的圖像中提取出來，同時提取出該目標(biāo)對象的參數(shù)信息。

S203，建立所述主顯示器和輔顯示器之間的通訊連接。

可以通過控制器建立主顯示器和輔顯示器之間的連接，將二者均連接到該控制器以實現(xiàn)信息的交互。

S204，將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器。

S205，對所述目標(biāo)對象的圖像進行縮放。

S206，通過所述輔顯示器單獨顯示所述目標(biāo)對象的參數(shù)信息和縮放后的圖像。

將目標(biāo)對象，如電子元器件的圖像進行縮放后顯示，可以清楚的展示該電子元器件的焊接細節(jié)，方便檢測者查看。

上述SMT器件檢測方法，獲取目標(biāo)對象在主顯示器中的區(qū)域，提取該區(qū)域的圖像作為目標(biāo)對象的圖像，建立主顯示器和輔顯示器之間的通訊連接，將目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器，并經(jīng)縮放后顯示以供檢測者查看；可以實現(xiàn)目標(biāo)器件的單獨縮放顯示，圖像清晰無遮擋，減少了檢測者的勞動，提高了檢測效果和效率。

參見圖3，圖3為一實施例中SMT器件檢測系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖。

在本實施例中，該SMT器件檢測系統(tǒng)包括：

信息提取模塊10，用于從主顯示器顯示的SMT器件的圖像中提取目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

發(fā)送模塊11，用于將所述目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器。

單獨顯示模塊12，用于通過所述輔顯示器單獨顯示目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息。

在其中一個實施例中，該SMT器件檢測系統(tǒng)還包括：

通訊連接建立模塊13，用于建立所述主顯示器和輔顯示器之間的通訊連接。

在其中一個實施例中，該SMT器件檢測系統(tǒng)還包括：

圖像縮放模塊14，用于對所述目標(biāo)對象的圖像進行縮放。

所述單獨顯示模塊12具體用于，通過所述輔顯示器單獨顯示所述目標(biāo)對象的參數(shù)信息和縮放后的圖像。

在其中一個實施例中，該SMT器件檢測系統(tǒng)還包括：

區(qū)域獲取模塊15，用于獲取所述目標(biāo)對象所在的區(qū)域，將所述區(qū)域內(nèi)的圖像作為所述目標(biāo)對象的圖像。

上述SMT器件檢測系統(tǒng)，獲取目標(biāo)對象在主顯示器中的區(qū)域，提取該區(qū)域的圖像作為目標(biāo)對象的圖像，建立主顯示器和輔顯示器之間的通訊連接，將目標(biāo)對象的圖像和參數(shù)信息發(fā)送給輔顯示器，并經(jīng)縮放后顯示以供檢測者查看；可以實現(xiàn)目標(biāo)器件的單獨縮放顯示，圖像清晰無遮擋，減少了檢測者的勞動，提高了檢測效果和效率。

以上所述實施例的各技術(shù)特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術(shù)特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說明書記載的范圍。

以上所述實施例僅表達了本發(fā)明的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本發(fā)明的保護范圍。因此，本發(fā)明專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。