本申請以在2014年4月23日提出申請的日本申請?zhí)?014-88970號為基礎(chǔ)，在此引用其記載內(nèi)容。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及檢測齒輪型的轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)檢測裝置(Rotation Detection Apparatus)。

背景技術(shù)：

以往，例如在專利文獻(xiàn)1中提出了一種構(gòu)成為對齒輪型的轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)進(jìn)行檢測的旋轉(zhuǎn)檢測裝置。具體而言，提出了一種具備多個磁阻元件、以及處理各磁阻元件的輸出的處理電路的旋轉(zhuǎn)檢測裝置的結(jié)構(gòu)。各磁阻元件構(gòu)成第1磁阻元件對以及第2磁阻元件對，該第1磁阻元件對以及第2磁阻元件對被配置在與轉(zhuǎn)子相對置的位置且電氣地形成各個半橋電路。

并且，各磁阻元件對的中點(diǎn)電位根據(jù)轉(zhuǎn)子的各個齒而變化。因此，處理電路通過比較各磁阻元件對的中點(diǎn)電位的差動輸出與閾值，來輸出將該差動輸出二值化而得的二值化信號。

在先技術(shù)文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)

專利文獻(xiàn)1：JP 2006-038827A(JP 4466355 B2)

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

然而，在上述以往的技術(shù)中，由于與轉(zhuǎn)子的凹凸構(gòu)造對應(yīng)的各磁阻元件對的中點(diǎn)電位的變化較小，因此有必要將與各磁阻元件對的中點(diǎn)電位的值接近的值設(shè)定為閾值。為此，由于轉(zhuǎn)子的凸部上所帶的損傷或進(jìn)入旋轉(zhuǎn)檢測裝置的噪聲等，導(dǎo)致各磁阻元件對的中點(diǎn)電位的差動輸出有可能超過閾值。由此，處理電路進(jìn)行誤判定，其結(jié)果，旋轉(zhuǎn)檢測裝置有可能誤輸出二值化信號。

本申請鑒于上述點(diǎn)而作成，其目的在于提供一種輸出與齒輪型的轉(zhuǎn)子的凹凸構(gòu)造對應(yīng)的二值化信號的旋轉(zhuǎn)檢測裝置，該旋轉(zhuǎn)檢測裝置的結(jié)構(gòu)能夠防止二值化信號的誤輸出。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，根據(jù)本申請的一個例子，按下述方式提供旋轉(zhuǎn)檢測裝置。旋轉(zhuǎn)裝置具備信號檢測器與判定電路，對具有在旋轉(zhuǎn)方向上交替地設(shè)置有凸部與凹部的凹凸構(gòu)造的齒輪型的轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)進(jìn)行檢測。

信號檢測器具有磁阻值伴隨轉(zhuǎn)子的旋轉(zhuǎn)而變化的多個磁阻元件，并基于多個磁阻元件的磁阻值的變化，分別生成與包含轉(zhuǎn)子的凸部以及凹部的凹凸構(gòu)造對應(yīng)的波形的第一信號、以及相對于第一信號具有相位差的波形的第二信號。

判定電路具有用于使第一信號以及第二信號二值化的二值化閾值，并從信號檢測器輸入第一信號以及第二信號，比較第一信號與二值化閾值，生成將第一信號二值化而得的第一二值化信號，并且比較第二信號與二值化閾值，生成將第二信號二值化而得的第二二值化信號。進(jìn)而，在第一期間允許第一二值化信號的輸出，在第二期間禁止第一二值化信號的輸出，第一期間是指第二二值化信號中的與凹部對應(yīng)的凹部期間以及與凸部對應(yīng)的凸部期間中的某一方個期間，第二期間是指第二二值化信號中的與凹部對應(yīng)的凹部期間以及與凸部對應(yīng)的凸部期間中的另一個期間。

據(jù)此，即使由于損傷或噪聲等導(dǎo)致第一信號橫穿二值化閾值，也可在凹部期間以及凸部期間中的某一個期間禁止第一信號的二值化信號的輸出。因此，能夠防止二值化信號的誤輸出。

附圖說明

本申請相關(guān)的上述目的以及其他的目的、特征、優(yōu)點(diǎn)通過參照添附的附圖以及下述詳細(xì)的記載而更加明確。

圖1為表示本申請的第1實(shí)施方式所涉及的旋轉(zhuǎn)檢測裝置與齒輪型的轉(zhuǎn)子的配置關(guān)系的圖。

圖2為表示圖1示出的旋轉(zhuǎn)檢測裝置的電路構(gòu)成的圖。

圖3為用于說明旋轉(zhuǎn)檢測裝置的動作的時序圖。

圖4為第2實(shí)施方式所涉及的轉(zhuǎn)子的俯視圖。

具體實(shí)施方式

以下，基于附圖對本申請的實(shí)施方式進(jìn)行說明。另外，在以下的各實(shí)施方式相互間，對于互為相同或均等的部分，在圖中賦予相同的符號。

(第1實(shí)施方式)

以下，參照附圖說明本申請的第1實(shí)施方式。本申請所涉及的旋轉(zhuǎn)檢測裝置用于例如內(nèi)燃機(jī)的曲柄角判定裝置。如圖1所示，以與齒輪型的轉(zhuǎn)子10的外周部11對置的方式配置有旋轉(zhuǎn)檢測裝置20，該齒輪型的轉(zhuǎn)子10固定于作為內(nèi)燃機(jī)的發(fā)動機(jī)的曲柄軸。旋轉(zhuǎn)檢測裝置20構(gòu)成為檢測轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)或旋轉(zhuǎn)方式(例如，凹凸構(gòu)造)。另外，在圖1中，將轉(zhuǎn)子10的外周部11的一部分呈直線狀地展開來表示。在圖3中也如此展示。

轉(zhuǎn)子10的外周部11具備凸部12與凹部13沿旋轉(zhuǎn)方向交替設(shè)置的構(gòu)造(也稱作轉(zhuǎn)子的凹凸構(gòu)造)。此外，在轉(zhuǎn)子10中，多個凸部12中的一個凸部作為其旋轉(zhuǎn)方向的長度比其他長的長凸部14而構(gòu)成。在本實(shí)施方式中，長凸部14在轉(zhuǎn)子10中設(shè)置有一個。長凸部14與轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)基準(zhǔn)位置即曲柄角的基準(zhǔn)角度對應(yīng)。

并且，旋轉(zhuǎn)檢測裝置20具備圓筒狀的偏置磁體(bias magnet)21以及相對于該偏置磁體21被配置在規(guī)定的位置的傳感器芯片22而構(gòu)成。偏置磁體21起到使旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的磁場的檢測靈敏度上升一定量的作用。在偏置磁體21的中空部配置有傳感器芯片22。

傳感器芯片22具備信號檢測器30(也稱作檢測部30)，該信號檢測器30構(gòu)成為伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)而輸出與外周部11的位置即曲柄角對應(yīng)的檢測信號。信號檢測器30具備磁阻值伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)而變化的、第1磁阻元件對31、第2磁阻元件對32、以及第3磁阻元件對33這3組元件對。

在轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)方向上，以第2磁阻元件對32位于第1磁阻元件對31與第3磁阻元件對33之間的方式配置各個磁阻元件對。也就是說，第2磁阻元件對32以被第1磁阻元件對31與第3磁阻元件對33夾著的方式配置。并且，對第2磁阻元件對32施加沿偏置磁體21的中心軸的偏置磁場。另一方面，對第1磁阻元件對31以及第3磁阻元件對33施加圍繞偏置磁體21的端部的偏置磁場。

各磁阻元件對31～33作為半橋電路而構(gòu)成。具體而言，如圖2所示，第1磁阻元件對31通過在電源(Vcc)與接地(GND)之間串聯(lián)連接的2個磁阻元件31a、31b而構(gòu)成。第1磁阻元件對31對各磁阻元件31a、31b伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)而受到磁場的影響時的磁阻值的變化進(jìn)行檢測。此外，第1磁阻元件對31基于該磁阻值的變化，輸出各磁阻元件31a、31b的中點(diǎn)31c的電壓作為波形信號。

第2磁阻元件對32通過在電源(Vcc)與接地(GND)之間串聯(lián)連接的2個磁阻元件32a、32b而構(gòu)成。并且，第2磁阻元件對32基于各磁阻元件32a、32b伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)而受到磁場的影響時的磁阻值的變化，來輸出各磁阻元件32a、32b的中點(diǎn)32c的電壓作為波形信號。

第3磁阻元件對33通過在電源(Vcc)與接地(GND)之間串聯(lián)連接的2個磁阻元件33a、33b而構(gòu)成。并且，第3磁阻元件對33基于各磁阻元件33a、33b伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)而受到磁場的影響時的磁阻值的變化，來輸出各磁阻元件33a、33b的中點(diǎn)33c的電壓作為波形信號。

此外，信號檢測器30除了各磁阻元件對31～33之外還具備第1～第4運(yùn)算放大器34～37。若將第1磁阻元件對31的中點(diǎn)31c的中點(diǎn)電位定義為A，且將第2磁阻元件對32的中點(diǎn)32c的中點(diǎn)電位定義為B，則第1運(yùn)算放大器34構(gòu)成為計(jì)算A-B并將該結(jié)果作為S1輸出的差動放大器。此外，若將第3磁阻元件對33的中點(diǎn)33c的中點(diǎn)電位定義為C，則第2運(yùn)算放大器35構(gòu)成為計(jì)算B-C并將該結(jié)果作為S2輸出的差動放大器。

第3運(yùn)算放大器36為如下差動放大器，其構(gòu)成為從第1運(yùn)算放大器34輸入S1(＝A-B)且從第2運(yùn)算放大器35輸入S2(＝B-C)，計(jì)算S1-S2，且將該結(jié)果作為S3(＝(A-B)-(B-C))輸出。該S3信號是與轉(zhuǎn)子10的凸部12以及凹部13的凹凸構(gòu)造對應(yīng)的波形的信號即第一信號。例如，第一信號S3是如下所述的波形的信號，該波形的信號在從轉(zhuǎn)子10的凹部13向凸部12切換的邊緣部分振幅為最大，在從凸部12向凹部13切換的邊緣部分振幅為最小。

第4運(yùn)算放大器37是如下差動放大器，其構(gòu)成為從第1磁阻元件對31的中點(diǎn)31c輸入中點(diǎn)電位A，且從第3磁阻元件對33的中點(diǎn)33c輸入中點(diǎn)電位C，計(jì)算A-C，且將該結(jié)果作為S4輸出。該S4的信號是相對于第一信號S3而具有相位差的波形的信號即第二信號。例如，第二信號S4是如下所述的波形的信號，該波形的信號在作為轉(zhuǎn)子10的齒的凸部12的旋轉(zhuǎn)方向中心處振幅為最大，在凹部13的旋轉(zhuǎn)方向中心處振幅為最小。另外，第一信號也稱作主信號或初級(primary)信號，第二信號也稱作從屬信號或二次(secondary)信號。

像這樣，信號檢測器30構(gòu)成為，根據(jù)各磁阻元件對31～33的輸出來生成及取得第一信號S3(＝(A-B)-(B-C))以及第二信號S4(＝A-C)。

此外，旋轉(zhuǎn)檢測裝置20具備判定電路40，該判定電路40生成與由信號檢測器30檢測到的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)或凹凸構(gòu)造對應(yīng)的輸出信號。判定電路40既可以形成于上述的傳感器芯片22，也可以形成于未圖示的另外的半導(dǎo)體芯片。

判定電路40具備閾值生成部41、第1比較器42、第2比較器43、以及控制器44。閾值生成部41通過在電源(Vcc)與接地(GND)之間串聯(lián)連接的2個電阻41a、41b而構(gòu)成。各電阻41a、41b的中點(diǎn)41c的電位被設(shè)為二值化閾值。二值化閾值被用作用于使第一信號S3以及第二信號S4二值化的閾值。

第1比較器42從信號檢測器30的第3運(yùn)算放大器36輸入第一信號S3且從閾值生成部41輸入二值化閾值，對第一信號S3與用于二值化的閾值(TH)即二值化閾值進(jìn)行比較，并生成將第一信號S3二值化而得的二值化信號。

第2比較器43從信號檢測器30的第4運(yùn)算放大器37輸入第二信號S4且從閾值生成部41輸入二值化閾值，比較第二信號S4與二值化閾值并將第二信號S4二值化。另外，對將第一信號S3與第二信號S4分別二值化而得的兩個二值化信號進(jìn)行區(qū)別時，也將使第一信號S3二值化而得的二值化信號稱作第一二值化信號，也將使第二信號S4二值化而得的二值化信號稱作第二二值化信號。以下，僅稱作“二值化信號”時意指將第一信號S3二值化而得的二值化信號(i.e.,第一二值信號)。

第1比較器42以及第2比較器43分別具有遲滯特性。在本實(shí)施方式中設(shè)定為：當(dāng)?shù)谝恍盘朣3小于二值化閾值時二值化閾值成為第1值，當(dāng)?shù)谝恍盘朣3大于二值化閾值時二值化閾值成為小于第1值的第2值。也就是說，第1比較器42以及第2比較器43根據(jù)第一信號S3將二值化閾值切換為第1值或第2值。由此，即使噪聲等混入與轉(zhuǎn)子10的長凸部14對應(yīng)的第一信號S3中，由于第一信號S3難以超過二值化閾值，因此提高了噪聲耐性。

控制器44是如下構(gòu)成的控制電路，其從第1比較器42輸入二值化信號且從第2比較器43輸入二值化后的第二信號S4，基于該二值化后的第二信號S4來控制二值化信號的輸出的允許或禁止。控制器44使被允許輸出的二值化信號經(jīng)由輸出端子23(Vout)向未圖示的外部設(shè)備輸出。另外，控制器44也可以包含通常的CPU、RAM、ROM并作為計(jì)算機(jī)來提供。此時，CPU也可以通過執(zhí)行記錄于RAM、ROM中的程序從而利用軟件來實(shí)現(xiàn)控制功能。另一方面，控制器44也可以包含其他的硬件部件，并僅利用該硬件來實(shí)現(xiàn)控制功能的一部分或全部。

以上為本實(shí)施方式所涉及的旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的整體構(gòu)成。另外，旋轉(zhuǎn)檢測裝置20具備與外部設(shè)備連接的電源端子24(Vcc)以及接地端子25(GND)，并經(jīng)由該電源端子24(Vcc)以及接地端子25(GND)從外部設(shè)備供給電源。

接下來，對旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的動作進(jìn)行說明。首先，如圖3所示，若轉(zhuǎn)子10旋轉(zhuǎn)，則基于信號檢測器30與轉(zhuǎn)子10的外周部11的間隙的變化，在信號檢測器30中取得第一信號S3以及第二信號S4。

第一信號S3是在轉(zhuǎn)子10的凹部13的旋轉(zhuǎn)方向中心、超過二值化閾值的波形的信號。另一方面，第二信號S4是相對于第一信號S3具有相位差的波形的信號，具體而言是在轉(zhuǎn)子10的凸部12的旋轉(zhuǎn)方向中心、振幅為最大的波形的信號。

并且，由信號檢測器30取得的第一信號S3在判定電路40的第1比較器42中被與二值化閾值進(jìn)行比較。當(dāng)?shù)谝恍盘朣3的振幅大于二值化閾值時由第1比較器42生成例如Lo的二值化信號，當(dāng)?shù)谝恍盘朣3的振幅小于二值化閾值時由第1比較器42生成例如Hi的二值化信號，并向控制器44輸出上述二值化信號。

在這里，在本實(shí)施方式中，二值化信號的脈沖寬度被控制器44控制成為規(guī)定的寬度。這是符合外部設(shè)備的要求的處理。因此，二值化信號的脈沖寬度與在第一信號S3的振幅大于二值化閾值的期間相比變窄。當(dāng)然，若沒有外部設(shè)備的要求，則也可以使控制器44不進(jìn)行該種處理。

此外，由信號檢測器30取得的第二信號S4在判定電路40的第2比較器43中被與二值化閾值進(jìn)行比較。當(dāng)?shù)诙盘朣4的振幅大于二值化閾值時由第2比較器43生成例如Hi的信號，當(dāng)?shù)诙盘朣4的振幅小于二值化閾值時由第2比較器43生成例如Lo的信號，并向控制器44輸出上述信號。

如上所述，隨著伴隨轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)生成第一信號S3、第二信號S4、二值化信號、以及二值化后的第二信號S4，并向判定電路40輸入二值化信號與二值化后的第二信號S4。因此，在判定電路40中進(jìn)行用于使二值化信號作為輸出信號向外部設(shè)備輸出的處理。

具體而言，如下述那樣進(jìn)行判定電路40的處理。首先，在時刻T10中，由于第一信號S3的振幅小于二值化閾值，因此二值化信號成為Hi。此外，由于第二信號S4的振幅小于二值化閾值，因此二值化后的第二信號S4成為Lo。

在時刻T11，由于第一信號S3的振幅大于二值化閾值，因此二值化信號成為Lo。此外，伴隨第一信號S3的振幅超過二值化閾值，二值化閾值的值變小。也就是說，二值化閾值切換為第2值。另外，時刻T11對應(yīng)于轉(zhuǎn)子10的凹部13的旋轉(zhuǎn)方向中心。

在這里，通常，二值化信號的脈沖寬度相當(dāng)于從時刻T11起至第一信號S3的振幅低于二值化閾值的期間。在本實(shí)施方式中，由控制器44符合外部設(shè)備的要求地將二值化信號的脈沖寬度控制為，二值化信號的脈沖寬度比通常的脈沖寬度窄。因此，Lo的二值化信號比通常更快返回Hi。

在時刻T12，由于第二信號S4的振幅大于二值化閾值，因此二值化后的第二信號S4成為Hi。從第二信號S4成為Lo的時刻T10起至?xí)r刻T12的期間對應(yīng)于轉(zhuǎn)子10的凹部13。將與該凹部13對應(yīng)的期間設(shè)為凹部期間45。在該凹部期間45中，允許二值化信號的輸出。因此，在該凹部期間45中，二值化信號作為輸出信號從控制器44向外部設(shè)備輸出。之后，伴隨第一信號S3的振幅低于二值化閾值，二值化閾值的值返回原來的第1值。

在時刻T13，由于第二信號S4的振幅小于二值化閾值，因此二值化后的第二信號S4成為Lo。從第二信號S4成為Hi的時刻T12起至?xí)r刻T13的期間對應(yīng)于轉(zhuǎn)子10的凸部12。將與該凸部12對應(yīng)的期間設(shè)為凸部期間46。在該凸部期間46中，在凸部期間二值化信號的輸出被禁止。因此，在凸部期間46中不從控制器44輸出二值化信號。

在時刻T14，與時刻T11的情況相同，由于第一信號S3的振幅大于二值化閾值，因此二值化信號成為Lo。此外，二值化閾值的值切換為小于第1值的第2值。

在時刻T15，與時刻T12的情況相同，由于第二信號S4的振幅大于二值化閾值，因此二值化后的第二信號S4成為Hi。從時刻T13起至?xí)r刻T15的期間相當(dāng)于凹部期間45。此外，從時刻T15起開始凸部期間46。

之后，轉(zhuǎn)子10的長凸部14通過信號檢測器30的上方。如圖3所示，例如在長凸部14的表面有損傷15的情況下，第一信號S3中含有與損傷15對應(yīng)的噪聲成分。因此，在時刻T16，第一信號S3的振幅低于二值化閾值，二值化信號成為Lo。然而，由于時刻T16包含于凸部期間46即二值化信號的輸出被禁止的期間，因此二值化信號不從控制器44對外部設(shè)備輸出。

然后，若轉(zhuǎn)子10的長凸部14通過并結(jié)束，則在時刻T17，與時刻T13的情況相同，由于第二信號S4的振幅小于二值化閾值，因此二值化后的第二信號S4成為Lo。從時刻T15起至?xí)r刻T17的期間相當(dāng)于凸部期間46。

之后的時刻T18、時刻T19、時刻T20、時刻T21、時刻T22的動作與上述的時刻T11、時刻T12、時刻T13、時刻T14、時刻T15相同。

如以上說明那樣，本實(shí)施方式的特征為：判定電路40向外部設(shè)備輸出二值化信號時，在凹部期間45允許二值化信號的輸出，另一方面，在凸部期間禁止二值化信號的輸出。即，通常情況下，生成的二值化信號直接被輸出，但在本實(shí)施方式所涉及的判定電路40中，設(shè)置有禁止二值化信號的輸出的輸出停止期間。因此，即使轉(zhuǎn)子10所帶的損傷15、噪聲等導(dǎo)致第一信號S3橫穿二值化閾值，在凸部期間46中二值化信號的輸出也被禁止。因此，能夠防止二值化信號的誤輸出。

此外，在本實(shí)施方式中，與轉(zhuǎn)子10的長凸部14對應(yīng)的凸部期間46的二值化信號的輸出被禁止。因此，在對具有容易附帶損傷15的長凸部14的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)子10的凹凸構(gòu)造進(jìn)行檢測時，能夠特別地防止二值化信號的誤輸出。

進(jìn)而，由于能夠防止二值化信號的誤輸出，因此消除了轉(zhuǎn)子10與信號檢測器30的距離即氣隙的制約。因此，能夠提高針對轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的搭載性。

(第2實(shí)施方式)

在本實(shí)施方式中，說明與第1實(shí)施方式不同的部分。如圖4所示，在轉(zhuǎn)子10設(shè)置有兩個長凸部14。如此，旋轉(zhuǎn)檢測裝置20也能夠檢測設(shè)置有兩個長凸部14的轉(zhuǎn)子10的旋轉(zhuǎn)或轉(zhuǎn)子10的凹凸構(gòu)造。

(其他實(shí)施方式)

在上述各實(shí)施方式中示出的旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的構(gòu)成為一個例子，不限于上述示出的構(gòu)成，也能夠采用可實(shí)現(xiàn)本申請的其他的構(gòu)成。例如，在信號檢測器30設(shè)置的磁阻元件對的個數(shù)不限于上述各實(shí)施方式中的3個。在第1磁阻元件對31與第3磁阻元件對33這兩個的情況下，將第一信號S3設(shè)為A-C的微分值，將第二信號S4設(shè)為A-C即可。同樣，磁阻元件也可以設(shè)置為5個。該種情況下，若設(shè)各磁阻元件對的中點(diǎn)電位為A、B、C、D、E，則設(shè)第一信號S3為(A-C)+(B-C)-(C-D)-(C-E)，設(shè)第二信號S4為(A-E)或(B-E)即可。像這樣，能夠適當(dāng)變更磁阻元件的個數(shù)。

在上述各實(shí)施方式中，控制器44在凸部期間46中禁止二值化信號的輸出，但也可以設(shè)置為在凸部期間46中允許二值化信號的輸出，在凹部期間45中禁止二值化信號的輸出。

在上述各實(shí)施方式中示出了在轉(zhuǎn)子10設(shè)置有1個或2個長凸部14的方式，這僅為轉(zhuǎn)子10的一例。例如，也可以使凸部12全部作為長凸部14而形成的轉(zhuǎn)子成為測定對象。即，也可以設(shè)凸部12中的任一個作為旋轉(zhuǎn)方向的長度比其他長的長凸部14而構(gòu)成的轉(zhuǎn)子10為測定對象。另一方面，也可以設(shè)凹部13的旋轉(zhuǎn)方向上的長度比凸部12長的長凹部的轉(zhuǎn)子10為測定對象。在設(shè)凹部13比凸部12長的轉(zhuǎn)子10作為測定對象的情況下，禁止凹部期間45的二值化信號的輸出即可。

在上述各實(shí)施方式中，判定電路40的各比較器42、43具有遲滯特性，但也可以采用不使二值化閾值具有遲滯特性的構(gòu)成。

在上述各實(shí)施方式中，轉(zhuǎn)子10固定于作為內(nèi)燃機(jī)的發(fā)動機(jī)的曲柄軸上，但旋轉(zhuǎn)檢測裝置20的適用不限于內(nèi)燃機(jī)。

本申請的記述以實(shí)施方式為基準(zhǔn)，但應(yīng)理解為本申請不限于該實(shí)施方式及構(gòu)造。本申請也包含各種的變形例及其等同范圍內(nèi)的變形。并且，各種組合及形態(tài)，進(jìn)而，包含上述的僅一個要素、一個以上或以下的其他的組合及形態(tài)也落入本申請的范疇及思想范圍內(nèi)。