專利名稱：Cap/df測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及電容生產(chǎn)設(shè)備，尤其涉及一種CAP/DF (容量/損耗值)測試裝置。
背景技術(shù)：
在陶瓷電容器的生產(chǎn)過程中，需要首先將導(dǎo)線排布在載體紙帶(即牛皮紙帶)上，并通過美紋膠帶(即高溫膠帶)進行固定后，再通過傳動載體紙帶傳動導(dǎo)線進行后續(xù)的打線、插片、焊錫、涂裝、固化、打印、特性測試、外觀篩選。其中特性測試包括CAP/DF測試，通常使用CAP/DF測試裝置進行CAP/DF測試。如圖I、圖2所示，現(xiàn)有的CAP/DF測試裝置包括支架、探針座、兩支韌性探針、載體紙帶導(dǎo)軌和測試電路，所述探針座與載體紙帶導(dǎo)軌固定安裝；探針座與韌性探針的總成結(jié)構(gòu)如圖3、圖4所示，兩支韌性探針的一端與探針座固定、并分別與測試電路的正極和負極連接，韌性探針另一端為自由端。使用時，載體紙帶在載體紙帶導(dǎo)軌上移動，韌性探針的自由端壓在載體紙帶上并向載體紙帶的運動方向傾斜，如圖5所示，當(dāng)兩支韌性探針的自由端分別壓住一個產(chǎn)品的兩支引腳時，測試電路即可對產(chǎn)品進行CAP/DF測試。由于不同客戶需求的產(chǎn)品的兩支引腳的間距不等，因此在對不同批次產(chǎn)品進行CAP/DF測試時，都需要調(diào)整兩支韌性探針的自由端沿載體紙帶移動方向的間距，以滿足產(chǎn)品兩支引腳的間距需求；現(xiàn)在的調(diào)節(jié)方法是通過手工掰，由于韌性探針的韌性，調(diào)整需要反復(fù)進行多次才能達到要求，并且載體紙帶的運動速度較快，事先掰好的間距后期極有可能變化，引起誤判，還得人工再次檢測，作業(yè)效率低。

實用新型內(nèi)容發(fā)明目的為了克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的不足，本實用新型提供一種CAP/DF測試裝置，避免在檢測不同批次產(chǎn)品時，通過手工掰兩支韌性探針的工作，提供作業(yè)效率。技術(shù)方案為解決上述技術(shù)問題，本實用新型采用的技術(shù)方案為CAP/DF測試裝置，包括支架、載體紙帶導(dǎo)軌、相對載體紙帶導(dǎo)軌的高度調(diào)節(jié)裝置、探針座、兩支韌性探針和測試電路，所述載體紙帶導(dǎo)軌和高度調(diào)節(jié)裝置的固定端與支架固定安裝，探針座與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端連接安裝，兩支韌性探針的一端與探針座固定、并分別與測試電路的正極和負極連接，兩支韌性探針的另一端為自由端，所述兩支韌性探針的自由端壓在載體紙帶導(dǎo)軌上、并向載體紙帶導(dǎo)軌的導(dǎo)向方向傾斜。上述結(jié)構(gòu)中，增加了高度調(diào)節(jié)裝置，通過調(diào)節(jié)高度調(diào)節(jié)裝置可以調(diào)整韌性探針自由端的彎折量，以適應(yīng)不同產(chǎn)品的引腳間距要求，避免人工手動掰韌性探針的反復(fù)調(diào)整和周期檢測，有效避免誤判，提供工作效率。優(yōu)選的，還包括轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置，所述轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的固定端與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝，所述探針座與轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝；在高度調(diào)節(jié)裝置的基礎(chǔ)上增加轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置，可以增加兩個韌性探針自由端適應(yīng)產(chǎn)品的范圍要求。優(yōu)選的，所述高度調(diào)節(jié)裝置為絲杠螺母機構(gòu)，所述絲杠螺母機構(gòu)包括絲杠結(jié)構(gòu)和螺母結(jié)構(gòu)，所述絲杠結(jié)構(gòu)與支架固定，螺母結(jié)構(gòu)與探針座固定；絲杠螺母機構(gòu)是一個較為簡便、可靠的結(jié)構(gòu)，其應(yīng)用也較為普遍。所述螺母結(jié)構(gòu)為與探針座固定安裝的獨立螺母件，或者為設(shè)置在探針座上螺紋孔。優(yōu)選的，所述轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置可以包括設(shè)置在高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端的螺紋孔、適配的螺栓和設(shè)置在探針座上的螺紋孔，將螺栓依次旋入探針座和高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端的螺紋孔內(nèi)，調(diào)整探針座和高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端的相對位置后通過螺栓鎖緊即可，結(jié)構(gòu)簡單，調(diào)節(jié)方便。有益效果本實用新型提供的CAP/DF測試裝置通過高度調(diào)節(jié)裝置和轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝 置，可以通過調(diào)節(jié)探針座相對載體紙帶導(dǎo)軌的位置適應(yīng)不同產(chǎn)品的引腳間距要求，避免人工手動掰韌性探針的反復(fù)調(diào)整和周期檢測，有效避免誤判，提供工作效率。

圖I為現(xiàn)有技術(shù)的正視結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為圖I中A-A向剖視圖；圖3為探針座與韌性探針總成的正視結(jié)構(gòu)示意圖；圖4為探針座與韌性探針總成的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；圖5為探針壓住產(chǎn)品引腳的結(jié)構(gòu)示意圖；圖6為本實用新型的正視結(jié)構(gòu)示意圖；圖7為探針座與高度調(diào)節(jié)裝置總成的正視結(jié)構(gòu)示意圖；圖8為探針座與高度調(diào)節(jié)裝置總成的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型作更進一步的說明。如圖6、圖7、圖8所示為一種CAP/DF測試裝置，包括支架、載體紙帶導(dǎo)軌3、相對載體紙帶導(dǎo)軌3的高度調(diào)節(jié)裝置、探針座I、兩支韌性探針2和測試電路，所述載體紙帶導(dǎo)軌3和高度調(diào)節(jié)裝置的固定端與支架固定安裝，探針座I與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端連接安裝，兩支韌性探針2的一端與探針座I固定、并分別與測試電路的正極和負極連接，兩支韌性探針2的另一端為自由端，所述兩支韌性探針2的自由端壓在載體紙帶導(dǎo)軌3上、并向載體紙帶導(dǎo)軌3的導(dǎo)向方向傾斜。優(yōu)選的，還包括轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置，所述轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的固定端與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝，所述探針座I與轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝。優(yōu)選的，所述高度調(diào)節(jié)裝置為絲杠螺母機構(gòu)，所述絲杠螺母機構(gòu)包括絲杠結(jié)構(gòu)5和螺母結(jié)構(gòu)6，所述絲杠結(jié)構(gòu)5與支架固定，螺母結(jié)構(gòu)6與探針座I固定；其中螺母結(jié)構(gòu)6為與探針座I固定安裝的獨立螺母件，或者為設(shè)置在探針座I上螺紋孔。以上所述僅是本實用新型的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型原理的前提下，還可以做出若干改進和潤飾，這些改進和潤飾也應(yīng)視為本實用新型的保護范圍。
權(quán)利要求1.CAP/DF測試裝置，其特征在于包括支架、載體紙帶導(dǎo)軌(3)、相對載體紙帶導(dǎo)軌(3)的高度調(diào)節(jié)裝置、探針座(I)、兩支韌性探針(2)和測試電路，所述載體紙帶導(dǎo)軌(3)和高度調(diào)節(jié)裝置的固定端與支架固定安裝，探針座(I)與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端連接安裝，兩支韌性探針(2)的一端與探針座(I)固定、并分別與測試電路的正極和負極連接，兩支韌性探針(2)的另一端為自由端，所述兩支韌性探針(2)的自由端壓在載體紙帶導(dǎo)軌(3)上、并向載體紙帶導(dǎo)軌(3)的導(dǎo)向方向傾斜。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的CAP/DF測試裝置，其特征在于還包括轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置，所述轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的固定端與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝，所述探針座(I)與轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端固定安裝。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的CAP/DF測試裝置，其特征在于所述高度調(diào)節(jié)裝置為絲杠螺母機構(gòu)，所述絲杠螺母機構(gòu)包括絲杠結(jié)構(gòu)(5)和螺母結(jié)構(gòu)(6)，所述絲杠結(jié)構(gòu)(5)與支架固定，螺母結(jié)構(gòu)(6)與探針座(I)固定。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的CAP/DF測試裝置，其特征在于所述螺母結(jié)構(gòu)(6)為與探針座(I)固定安裝的獨立螺母件，或者為設(shè)置在探針座(I)上螺紋孔。
專利摘要本實用新型公開了一種CAP/DF測試裝置，包括支架、載體紙帶導(dǎo)軌、相對載體紙帶導(dǎo)軌的高度調(diào)節(jié)裝置、探針座、兩支韌性探針和測試電路，載體紙帶導(dǎo)軌和高度調(diào)節(jié)裝置的固定端與支架固定安裝，探針座與高度調(diào)節(jié)裝置的調(diào)節(jié)端連接安裝，兩支韌性探針的一端與探針座固定、并分別與測試電路的正極和負極連接，兩支韌性探針的另一端為自由端，所述兩支韌性探針的自由端壓在載體紙帶導(dǎo)軌上、并向載體紙帶導(dǎo)軌的導(dǎo)向方向傾斜。本實用新型提供的CAP/DF測試裝置通過高度調(diào)節(jié)裝置和轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)裝置，可以通過調(diào)節(jié)探針座相對載體紙帶導(dǎo)軌的位置適應(yīng)不同產(chǎn)品的引腳間距要求，避免人工手動掰韌性探針的反復(fù)調(diào)整和周期檢測，有效避免誤判，提供工作效率。
文檔編號G01R27/26GK202794343SQ201220382630
公開日2013年3月13日 申請日期2012年8月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月3日
發(fā)明者趙德星, 董加銀, 趙光濤, 唐田, 沈江, 趙光滿 申請人:昆山微容電子企業(yè)有限公司