專利名稱：高副式芯棒測量器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種高副式芯棒測量器。
背景技術(shù)：
雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀，見圖1-3，包括移動(dòng)芯棒2'、測量芯棒1'、底板 4'和面板3'，所述面板3'和底板4'均是長方體結(jié)構(gòu)，所述面板3'固定在所述底板4' 上，所述面板3'上開有長條狀的滑移槽5'，所述滑移槽5'的兩端是圓弧結(jié)構(gòu)；所述底板 4'在滑移槽5'的一端下方的位置開有一與光孔6'，所述光孔6'與底板4'上面積大的一面垂直，所述測量芯棒1'穿過滑移槽5'過渡配合安裝在光孔6'內(nèi)；所述移動(dòng)芯棒2' 可移動(dòng)的安裝在滑移槽5'內(nèi)。該種雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀在檢測雙燕尾類形狀零件的尺寸過程中應(yīng)用較廣，檢測精度也較高，但由于移動(dòng)芯棒2'與底板4'接觸面呈面接觸，使兩者之間的摩擦力較大，在用量具移動(dòng)芯棒2'時(shí)，所用的測量力較大，而導(dǎo)致檢測過程中檢測精度有所降低。
發(fā)明內(nèi)容為解決用雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀在測量過程中的精度降低的問題，本實(shí)用新型提供了一種測量精度高的高副式芯棒測量器。本實(shí)用新型的技術(shù)方案高副式芯棒測量器，包括移動(dòng)芯棒、測量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是長方體結(jié)構(gòu)，所述面板固定在所述底板上，所述面板上開有長條狀的滑移槽，所述滑移槽的兩端是圓弧結(jié)構(gòu)；所述底板在滑移槽的一端下方的位置開有一與光孔，所述光孔與底板上面積大的一面垂直，所述測量芯棒穿過滑移槽過渡配合安裝在光孔內(nèi)；所述移動(dòng)芯棒可移動(dòng)的安裝在滑移槽內(nèi)，其特征在于所述移動(dòng)芯棒與底板接觸端是球形狀。進(jìn)一步，所述光孔是鉸孔。進(jìn)一步，所述面板和底板通過圓柱銷固定連接。本實(shí)用新型的面板和底板的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各對應(yīng)面有一定的平行度要求。底板上的光孔與底板上面積大的一面有一定的垂直度要求，并且為鉸孔，有一定的粗糙度和圓度誤差；與相應(yīng)規(guī)格要求的測量芯棒為其過渡配合，這樣，測量芯棒的測量圓面與底板能達(dá)到相應(yīng)規(guī)格的垂直要求。移動(dòng)芯棒與底面的上表面也有一定的垂直度要求，移動(dòng)芯棒與底板接觸端是球形狀，使得其底板接觸面的接觸形式是點(diǎn)接觸的高副接觸，從而能降低在檢測過程中的滑移移動(dòng)芯棒時(shí)的測量力，能進(jìn)一步提高檢測精度。在測量過程中，只要把雙燕尾之類形狀的零件平放在本實(shí)用新型所述的高副式芯棒測量器的面板上，先把其中一面接觸到測量芯棒處，再把移動(dòng)芯棒通過面板中的滑移槽移至到燕尾的另一面接觸，用量具測量出燕尾的實(shí)際尺寸，同時(shí)也可以檢測出燕尾各形面與基準(zhǔn)面的垂直度誤差值(用塞尺檢測兩接觸面的間隙即可)。使用本實(shí)用新型測量時(shí)，雙芯棒的端面與芯棒測量圓面之間的垂直度與雙燕尾之類形狀的零件尺寸測量沒有聯(lián)系，在檢測雙燕尾之類形狀零件時(shí)，只要測量移動(dòng)芯棒的測量圓面外端到測量芯棒的測量圓面外端的距離即可；同時(shí)，由于雙芯棒都插入在面板之中， 其自由度受到了控制，改變了浮動(dòng)檢測問題；移動(dòng)芯棒與底板的點(diǎn)接觸，降低在檢測過程中的滑移移動(dòng)芯棒時(shí)的測量力，能進(jìn)一步提高檢測精度。本實(shí)用新型的有意效果測量尺寸精度高，且結(jié)構(gòu)簡單合理，使用方便。
圖1是雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀的俯視圖。圖2是雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀沿圖1中A-A向的剖視圖。圖3是雙燕尾類尺寸檢測專用測量儀沿圖1中B-B向的剖視圖。圖4是本實(shí)用新型的俯視圖。圖5是本實(shí)用新型沿圖4中C-C向的剖視圖。圖6是本實(shí)用新型沿圖4中D-D向的剖視圖。圖7是本實(shí)用新型測量過程示意圖。
具體實(shí)施方式
參照圖4-6，高副式芯棒測量器，包括移動(dòng)芯棒2、測量芯棒1、底板4和面板3，所述面板3和底板4均是長方體結(jié)構(gòu)，所述面板3固定在所述底板4上，所述面板3上開有長條狀的滑移槽5，所述滑移槽5的兩端是圓弧結(jié)構(gòu)；所述底板4在滑移槽5的一端下方的位置開有一與光孔6，所述光孔與底板4上面積大的一面垂直，所述測量芯棒1穿過滑移槽5 過渡配合安裝在光孔6內(nèi)；所述移動(dòng)芯棒2可移動(dòng)的安裝在滑移槽5內(nèi)，所述移動(dòng)芯棒2與底板4接觸端是球形狀。所述光孔6是鉸孔。所述面板3和底板4通過圓柱銷7固定連接。本實(shí)用新型的面板3和底板4的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各對應(yīng)面有一定的平行度要求。底板4上的光孔6與底板4上面積大的一面有一定的垂直度要求， 并且為鉸孔，有一定的粗糙度和圓度誤差；與相應(yīng)規(guī)格要求的測量芯棒1為其過渡配合，這樣，測量芯棒1的測量圓面與底板能達(dá)到相應(yīng)規(guī)格的垂直要求。移動(dòng)芯棒2與底面4的上表面也有一定的垂直度要求，移動(dòng)芯棒2與底板4接觸端是球形狀，使得其與底板4接觸面的接觸形式是點(diǎn)接觸的高副接觸，從而能降低在檢測過程中的滑移移動(dòng)芯棒2時(shí)的測量力，能進(jìn)一步提高檢測精度。在測量過程中，見圖7，只要把雙燕尾之類形狀的零件8平放在本實(shí)用新型所述的高副式芯棒測量器的面板3上，先把其中一面接觸到測量芯棒1處，再把移動(dòng)芯棒2通過面板3中的滑移槽5移至到燕尾的另一面接觸，用量具測量出燕尾的實(shí)際尺寸，同時(shí)也可以檢測出燕尾各形面與基準(zhǔn)面的垂直度誤差值(用塞尺檢測兩接觸面的間隙即可)。使用本實(shí)用新型測量時(shí)，雙芯棒的端面與芯棒測量圓面之間的垂直度與雙燕尾之類形狀的零件尺寸測量沒有聯(lián)系，在檢測雙燕尾之類形狀零件時(shí)，只要測量移動(dòng)芯棒2的測量圓面外端到測量芯棒1的測量圓面外端的距離即可；同時(shí)，由于雙芯棒都插入在面板之中，其自由度受到了控制，改變了浮動(dòng)檢測問題；移動(dòng)芯棒2與底板4的點(diǎn)接觸，降低在檢測過程中的滑移移動(dòng)芯棒2時(shí)的測量力，能進(jìn)一步提高檢測精度。 本說明書實(shí)施例所述的內(nèi)容僅僅是對實(shí)用新型構(gòu)思的實(shí)現(xiàn)形式的列舉，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍的不應(yīng)當(dāng)被視為僅限于實(shí)施例所陳述的具體形式，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍也及于本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型構(gòu)思所能夠想到的等同技術(shù)手段。
權(quán)利要求1.高副式芯棒測量器，包括移動(dòng)芯棒、測量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是長方體結(jié)構(gòu)，所述面板固定在所述底板上，所述面板上開有長條狀的滑移槽，所述滑移槽的兩端是圓弧結(jié)構(gòu)；所述底板在滑移槽的一端下方的位置開有一與光孔，所述光孔與底板上面積大的一面垂直，所述測量芯棒穿過滑移槽過渡配合安裝在光孔內(nèi)；所述移動(dòng)芯棒可移動(dòng)的安裝在滑移槽內(nèi)，其特征在于所述移動(dòng)芯棒與底板接觸端是球形狀。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高副式芯棒測量器，其特征在于所述光孔是鉸孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的高副式芯棒測量器，其特征在于所述面板和底板通過圓柱銷固定連接。
專利摘要高副式芯棒測量器，包括移動(dòng)芯棒、測量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是長方體結(jié)構(gòu)，所述面板固定在所述底板上，所述面板上開有長條狀的滑移槽，所述滑移槽的兩端是圓弧結(jié)構(gòu)；所述底板在滑移槽的一端下方的位置開有一與光孔，所述光孔與底板上面積大的一面垂直，所述測量芯棒穿過滑移槽過渡配合安裝在光孔內(nèi)；所述移動(dòng)芯棒可移動(dòng)的安裝在滑移槽內(nèi)，所述移動(dòng)芯棒與底板接觸端是球形狀。本實(shí)用新型的有意效果測量尺寸精度高，且結(jié)構(gòu)簡單合理，使用方便。
文檔編號(hào)G01B5/02GK202066457SQ20112010342
公開日2011年12月7日 申請日期2011年4月11日 優(yōu)先權(quán)日2011年4月11日
發(fā)明者馮剛 申請人:浙江工業(yè)職業(yè)技術(shù)學(xué)院