專利名稱：40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及薄膜電容產(chǎn)品的測(cè)試，尤其涉及40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置。背景技術(shù)：
現(xiàn)有的薄膜電容的測(cè)試裝置，對(duì)薄膜電容進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，大多每次只能測(cè)試1 個(gè)薄膜電容，無論測(cè)試速度有多快，每次也只能檢測(cè)1個(gè)薄膜電容，遠(yuǎn)不能滿足實(shí)驗(yàn)需要， 制約著薄膜電容大規(guī)模生產(chǎn)發(fā)展；若想同時(shí)檢測(cè)更多的薄膜電容，就需要備用多臺(tái)測(cè)試裝 置同時(shí)工作，這樣就需增加設(shè)備的投入量，加大生產(chǎn)成本；為節(jié)約設(shè)備購(gòu)置成本，提高薄膜 電容的測(cè)試效率，迫切需要一種能夠根據(jù)需要對(duì)多種不同容量、多個(gè)薄膜電容同時(shí)進(jìn)行檢 測(cè)的試驗(yàn)裝置。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種控制方便，可靠性和穩(wěn)定性高，能夠根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容 的個(gè)數(shù)多少選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器檔位，最多可以同時(shí)對(duì)40個(gè)薄膜電容進(jìn)行檢測(cè)的40路 薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置。為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為一種40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，由外殼、控制面板、自耦調(diào)壓器、升壓調(diào)壓 器、多組容量可選擇或組合的電抗器、電氣控制系統(tǒng)、及對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試夾具和高溫測(cè)試烘 箱構(gòu)成；所述升壓調(diào)壓器通過控制面板上的按鈕控制調(diào)速電機(jī)M來自動(dòng)調(diào)壓；所述高溫測(cè) 試烘箱采用單獨(dú)一個(gè)烘箱，對(duì)批量統(tǒng)一測(cè)試的所有薄膜電容集中烘烤，所述烘箱內(nèi)的溫度 由電氣控制系統(tǒng)中的溫控器PT控制；所述電氣控制系統(tǒng)由啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電路、10 路電抗器控制電路、20路薄膜電容電流測(cè)試電路、溫控電路和計(jì)時(shí)電路組成，所述20路薄 膜電容電流測(cè)試電路的每路由電流互感器TA、小型斷路器QF、雙路選擇開關(guān)和測(cè)試薄膜電 容C組成，20路并聯(lián)后連接在經(jīng)升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源總線上；所述雙路選擇開關(guān) 的每路設(shè)有測(cè)試端，分別連接測(cè)試夾具的插板測(cè)試端，每路插板測(cè)試端固定有測(cè)試薄膜電 容C，且控制兩路測(cè)試薄膜電容C通斷的雙路選擇開關(guān)電路的兩端并聯(lián)有電容指示燈HL’ ； 所述電流互感器TA的低壓輸出側(cè)接入所述小型斷路器QF的輸出腳上；根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜 電容C的個(gè)數(shù)，在10路電抗器控制電路上選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器L檔位，輸出信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng) 芯片處理后分別輸出給20路小型斷路器QF的輸入端，20路小型斷路器QF輸出后每路分別 通過雙路選擇開關(guān)分為2組對(duì)薄膜電容C進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)控制面板一個(gè)電流表最多可分別 監(jiān)控40個(gè)薄膜電容電流。如上所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其中，所述啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電 路由總電源、斷路器QF22、按鈕開關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2、按鈕開關(guān)SB3、按鈕開關(guān)SB4、交流接 觸器KM21、限位開關(guān)SQl、限位開關(guān)SQ2組成，其中，按鈕開關(guān)SBl、按鈕開關(guān)SB2與交流接 觸器KM21的電磁線圈串聯(lián)，交流接觸器KM21的主觸頭與按鈕開關(guān)SBl并聯(lián)；按鈕開關(guān)SB3 與控制調(diào)速電機(jī)M正轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQl串聯(lián)，按鈕開關(guān)SB4與控制調(diào)速電機(jī)M反轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQ2串聯(lián)；按鈕開關(guān)SB4與限位開關(guān)SQ2串聯(lián)后，與串聯(lián)的按鈕開關(guān)SB3、限位開關(guān)SQl 并聯(lián)后與調(diào)速電機(jī)M連連接，控制調(diào)速電機(jī)M的正反轉(zhuǎn)；所述串聯(lián)的按鈕開關(guān)SB1、按鈕開 關(guān)SB2、交流接觸器KM21的電磁線圈與控制調(diào)速電機(jī)M的正反轉(zhuǎn)的電路并聯(lián)后，通過斷路器 QF22控制與總電源的通斷。如上所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其中，所述10路電抗器控制電路的每 路由按鈕S、電抗器工作指示燈HL、交流接觸器KM、多組不同容量電抗器L組成，每路由電抗 器工作指示燈HL與交流接觸器KM的電磁線圈并聯(lián)后與按鈕S串聯(lián)，10路并聯(lián)后通過斷路 器QF23控制與總電源的通斷；所述多組不同容量電抗器分別與10路交流接觸器KM的主、 副觸頭串聯(lián)連接，并與所述升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源連接。如上所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其中，所述多組不同容量電抗器L由 2 組 600μΗ、1 組 400μΗ、1 組 200μΗ、2 組 100μΗ、1 組 80 μ Η、2 組 50 μ H、1 組 30 μ H 的電
抗器組成。如上所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其中，所述溫控電路和計(jì)時(shí)電路并 聯(lián)，所述溫控電路的溫控器與計(jì)時(shí)電路上計(jì)時(shí)器KT的電磁線圈并聯(lián)；其中，計(jì)時(shí)器KT的常 閉開關(guān)、溫控器PT的長(zhǎng)閉開關(guān)與設(shè)置的電流表切換開關(guān)SAl和交流接觸器ΚΜ22的電磁線 圈串聯(lián)，并與并聯(lián)的溫控器和計(jì)時(shí)器KT的電磁線圈再次并聯(lián)，也通過斷路器QF23控制與總 電源的通斷；所述交流接觸器ΚΜ22的副觸頭與升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出端電源連接。如上所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其中，所述電流表切換開關(guān)SAl控制 20路薄膜電容電流測(cè)試電路上的每路電流互感器ΤΑ。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容的個(gè)數(shù)，在10路電抗器控制電路上選 擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器檔位，輸出信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng)芯片處理后分別輸出給20路小型斷路器QF的 輸入端，20路小型斷路器QF每路分別通過雙路選擇開關(guān)分為2組對(duì)薄膜電容進(jìn)行控制，實(shí) 現(xiàn)控制面板上的一個(gè)電流表最多可分別監(jiān)控40個(gè)薄膜電容的電流，大大減少設(shè)備的投入 量，減少了檢測(cè)投入成本，節(jié)省了安裝空間。

圖1為本實(shí)用新型的電氣原理圖。
具體實(shí)施方式
一種40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，如圖1所示，由外殼、控制面板、自耦調(diào)壓 器、升壓調(diào)壓器、多組容量可選擇或組合的電抗器(Li. ..Li... L17)、電氣控制系統(tǒng)、及 對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試夾具和高溫測(cè)試烘箱構(gòu)成；所述升壓調(diào)壓器通過控制面板上的按鈕控制 調(diào)速電機(jī)M來自動(dòng)調(diào)壓；所述高溫測(cè)試烘箱采用單獨(dú)一個(gè)烘箱，對(duì)批量統(tǒng)一測(cè)試的所有 薄膜電容集中烘烤，所述烘箱內(nèi)的溫度由電氣控制系統(tǒng)中的溫控器PT控制；所述電氣 控制系統(tǒng)由啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電路、10路電抗器控制電路、20路薄膜電容電流測(cè)試 電路、溫控電路和計(jì)時(shí)電路組成，所述20路薄膜電容電流測(cè)試電路的每路由電流互感器 (TA1. · · TAi. · · ΤΑ20)、小型斷路器(QF1. · · QFi. · · QF20)、雙路選擇開關(guān)(圖中未示)和兩 個(gè)經(jīng)雙路選擇開關(guān)控制通斷的測(cè)試薄膜電容(Cl. . . Ci. . . C20)組成，每路由電流互感器、 小型斷路器、雙路選擇開關(guān)和測(cè)試薄膜電容串聯(lián)組成，20路并聯(lián)后連接在經(jīng)升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源總線上；所述雙路選擇開關(guān)的每路設(shè)有測(cè)試端，分別連接測(cè)試夾具的插板 測(cè)試端，每組插板測(cè)試端固定有測(cè)試薄膜電容，且控制兩路測(cè)試薄膜電容通斷的雙路選擇 開關(guān)電路的兩端分別并聯(lián)有電容指示燈(HL1、HL2. . . Hli' . . . HL20)；所述電流互感器的低 壓輸出側(cè)接入所述小型斷路器的輸出腳上；根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容的個(gè)數(shù)，在10路電抗器 控制電路上選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器檔位，輸出信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng)芯片處理后分別輸出給20路小 型斷路器的輸入端，20路小型斷路器輸出后每路分別通過雙路選擇開關(guān)分為2組對(duì)薄膜電 容(Cl. . . Ci. . . C20)進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)控制面板一個(gè)電流表最多可分別監(jiān)控40個(gè)薄膜電容 (Cl. · · Ci. · · C20)電流。繼續(xù)如圖1所示，所述啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電路由總電源、斷路器QF22、按鈕開 關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2、按鈕開關(guān)SB3、按鈕開關(guān)SB4、交流接觸器KM21、限位開關(guān)(SQ1、SQ2) 組成，其中，按鈕開關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2與交流接觸器KM21的電磁線圈串聯(lián)，交流接觸器 KM21的主觸頭與按鈕開關(guān)SBl并聯(lián)；按鈕開關(guān)SB3與控制調(diào)速電機(jī)M正轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQl 串聯(lián)，按鈕開關(guān)SB4與控制調(diào)速電機(jī)M反轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQ2串聯(lián)；按鈕開關(guān)SB4與限位開關(guān) SQ2串聯(lián)后，與串聯(lián)的按鈕開關(guān)SB3、限位開關(guān)SQl并聯(lián)后與調(diào)速電機(jī)M連接，控制調(diào)速電機(jī) M的正反轉(zhuǎn)；所述串聯(lián)的按鈕開關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2、交流接觸器KM21的電磁線圈與控制 調(diào)速電機(jī)M的正反轉(zhuǎn)的電路并聯(lián)后，通過斷路器QF22控制與總電源的通斷。所述10路電抗器控制電路由按鈕(S1、S2. ..Si... S10)、電抗器工作指示燈(HLU HL2. . .HLi. . .HL10)、交流接觸器(KMU KM2. . . KMi. . . KM10)、多組容量可選擇的電抗器 (Li. ..Li... L17)組成，每路由電抗器工作指示燈與交流接觸器的電磁線圈并聯(lián)后與按鈕 串聯(lián)，10路并聯(lián)后通過斷路器QF23控制與總電源的通斷；所述多組容量可選擇的電抗器 分別與10路交流接觸器的主、副觸頭串聯(lián)連接，并與所述升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源連 接。所述多組容量可選擇的電抗器包括2組600 μ H、1組400 μ H、1組200 μ H、2組100 μ H、 1組80 μ H、2組50 μ H、1組30 μ H的電抗器，根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容的個(gè)數(shù)，在10路電抗器 控制電路上選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器檔位，達(dá)到同時(shí)測(cè)試多個(gè)測(cè)試薄膜電容。所述溫控電路和計(jì)時(shí)電路并聯(lián)，所述溫控電路的溫控器與計(jì)時(shí)電路上計(jì)時(shí)器KT 的電磁線圈并聯(lián)；其中，計(jì)時(shí)器KT的常閉開關(guān)、溫控器PT的長(zhǎng)閉開關(guān)與設(shè)置的電流表切換 開關(guān)SAl和交流接觸器ΚΜ22的電磁線圈串聯(lián)，并與并聯(lián)的溫控器和計(jì)時(shí)器KT的電磁線圈 再次并聯(lián)，也通過斷路器QF23控制與總電源的通斷；所述交流接觸器ΚΜ22的副觸頭與升壓 調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出端電源連接。所述電流表切換開關(guān)SAl控制20路薄膜電容電流測(cè)試 電路上的每路電流互感器，通過電流表切換開關(guān)SAl和雙路選擇開關(guān)，實(shí)現(xiàn)控制面板一個(gè) 電流表最多可分別監(jiān)控40個(gè)薄膜電容(Cl. . . Ci. . . C20)電流；當(dāng)然，也可以通過電流表切 換開關(guān)SA1，對(duì)其他支路及主回路上的電流進(jìn)行監(jiān)控。本實(shí)用新型還可以有其他變形；總之，根據(jù)上述實(shí)例的提示而做顯而易見的變動(dòng)， 以及，其它凡是不脫離本發(fā)明專利實(shí)質(zhì)的改動(dòng)，均應(yīng)包括在權(quán)利要求所述的范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，由外殼、控制面板、自耦調(diào)壓器、升壓調(diào)壓器、 多組容量可選擇或組合的電抗器、電氣控制系統(tǒng)、及對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試夾具和高溫測(cè)試烘箱 構(gòu)成；其特征在于，所述升壓調(diào)壓器通過控制面板上的按鈕控制調(diào)速電機(jī)M來自動(dòng)調(diào)壓； 所述高溫測(cè)試烘箱采用單獨(dú)一個(gè)烘箱，對(duì)批量統(tǒng)一測(cè)試的所有薄膜電容集中烘烤，所 述烘箱內(nèi)的溫度由電氣控制系統(tǒng)中的溫控器PT控制；所述電氣控制系統(tǒng)由啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電路、10路電抗器控制電路、20路薄膜電 容電流測(cè)試電路、溫控電路和計(jì)時(shí)電路組成，所述20路薄膜電容電流測(cè)試電路的每路由電 流互感器TA、小型斷路器QF、雙路選擇開關(guān)和測(cè)試薄膜電容C組成，20路并聯(lián)后連接在經(jīng)升 壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源總線上；所述雙路選擇開關(guān)的每路設(shè)有測(cè)試端，分別連接測(cè)試夾具的插板測(cè)試端，每路插板測(cè) 試端固定有測(cè)試薄膜電容C，且控制兩路測(cè)試薄膜電容C通斷的雙路選擇開關(guān)電路的兩端 并聯(lián)有電容指示燈HL’ ；所述電流互感器TA的低壓輸出側(cè)接入所述小型斷路器QF的輸出腳上； 根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容C的個(gè)數(shù)，在10路電抗器控制電路上選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器L 檔位，輸出信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng)芯片處理后分別輸出給20路小型斷路器QF的輸入端，20路小型斷路 器QF輸出后每路分別通過雙路選擇開關(guān)分為2組對(duì)薄膜電容C進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)控制面板一 個(gè)電流表最多可分別監(jiān)控40個(gè)薄膜電容電流。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述啟動(dòng)及升 壓器調(diào)速控制電路由總電源、斷路器QF22、按鈕開關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2、按鈕開關(guān)SB3、按鈕 開關(guān)SB4、交流接觸器KM21、限位開關(guān)SQ1、限位開關(guān)SQ2組成，其中，按鈕開關(guān)SB1、按鈕開 關(guān)SB2與交流接觸器KM21的電磁線圈串聯(lián)，交流接觸器KM21的主觸頭與按鈕開關(guān)SBl并 聯(lián)；按鈕開關(guān)SB3與控制調(diào)速電機(jī)M正轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQl串聯(lián)，按鈕開關(guān)SB4與控制調(diào)速電 機(jī)M反轉(zhuǎn)的限位開關(guān)SQ2串聯(lián)；按鈕開關(guān)SB4與限位開關(guān)SQ2串聯(lián)后，與串聯(lián)的按鈕開關(guān) SB3、限位開關(guān)SQl并聯(lián)后與調(diào)速電機(jī)M連連接，控制調(diào)速電機(jī)M的正反轉(zhuǎn)；所述串聯(lián)的按鈕 開關(guān)SB1、按鈕開關(guān)SB2、交流接觸器KM21的電磁線圈與控制調(diào)速電機(jī)M的正反轉(zhuǎn)的電路并 聯(lián)后，通過斷路器QF22控制與總電源的通斷。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述10路 電抗器控制電路的每路由按鈕S、電抗器工作指示燈HL、交流接觸器KM、多組不同容量電抗 器L組成，每路由電抗器工作指示燈HL與交流接觸器KM的電磁線圈并聯(lián)后與按鈕S串聯(lián)， 10路并聯(lián)后通過斷路器QF23控制與總電源的通斷；所述多組不同容量電抗器分別與10路 交流接觸器KM的主、副觸頭串聯(lián)連接，并與所述升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出電源連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述多組不同 容量電抗器L 由 2 組600μΗ、1 組400μΗ、1 組 200μΗ、2 組 100 μ H、1 組 80 μ Η、2 組 50 μ H、 1組30 μ H的電抗器組成。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述溫控電路 和計(jì)時(shí)電路并聯(lián)，所述溫控電路的溫控器與計(jì)時(shí)電路上計(jì)時(shí)器KT的電磁線圈并聯(lián)；其中， 計(jì)時(shí)器KT的常閉開關(guān)、溫控器PT的長(zhǎng)閉開關(guān)與設(shè)置的電流表切換開關(guān)SAl和交流接觸器 ΚΜ22的電磁線圈串聯(lián)，并與并聯(lián)的溫控器和計(jì)時(shí)器KT的電磁線圈再次并聯(lián)，也通過斷路器QF23控制與總電源的通斷；所述交流接觸器KM22的副觸頭與升壓調(diào)壓器調(diào)壓后的輸出端 電源連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，其特征在于，所述電流表切 換開關(guān)SAl控制20路薄膜電容電流測(cè)試電路上的每路電流互感器TA。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種40路薄膜電容耐久性試驗(yàn)裝置，由外殼、控制面板、自耦調(diào)壓器、升壓調(diào)壓器、多組容量可選擇的電抗器、電氣控制系統(tǒng)、及對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試夾具和高溫測(cè)試烘箱構(gòu)成；所述電氣控制系統(tǒng)由啟動(dòng)及升壓器調(diào)速控制電路、10路電抗器控制電路、20路薄膜電容電流測(cè)試電路、溫控電路和計(jì)時(shí)電路組成，根據(jù)同時(shí)測(cè)試薄膜電容的個(gè)數(shù)，在10路電抗器控制電路上選擇對(duì)應(yīng)容量的電抗器檔位，輸出信號(hào)經(jīng)驅(qū)動(dòng)芯片處理后分別輸出給20路薄膜電容電流測(cè)試電路，其中20路薄膜電容電流測(cè)試電路的每路分別通過雙路選擇開關(guān)分為2組對(duì)薄膜電容進(jìn)行控制，實(shí)現(xiàn)控制面板一個(gè)電流表最多可分別監(jiān)控40個(gè)薄膜電容電流。
文檔編號(hào)G01R31/14GK201917623SQ20102063463
公開日2011年8月3日 申請(qǐng)日期2010年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月30日
發(fā)明者廖偉強(qiáng) 申請(qǐng)人:珠海格力新元電子有限公司