專利名稱：一種相位檢測(cè)電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā) 明涉及一種應(yīng)用電路，具體的涉及一種相位檢測(cè)電路。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的相位檢測(cè)電路形形色色種類繁多，但大多結(jié)構(gòu)復(fù)雜，功能復(fù)雜，而在一 些只需要功能單一的應(yīng)用場(chǎng)合下，往往是采用復(fù)雜電路結(jié)構(gòu)的相位檢測(cè)電路來完成單一 功能的相位檢測(cè)功能，這樣一方面成本會(huì)有所提高，另外一方面，電路結(jié)構(gòu)一旦復(fù)雜化 后，其背后的不穩(wěn)定因素也在增加，如此便在無形之中降低了產(chǎn)品合格率。

發(fā)明內(nèi)容
為克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的相位檢測(cè)電路。為了解決上述技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案一種相位檢測(cè)電路，包括一檢測(cè)芯片，所述檢測(cè)芯片的檢測(cè)端口 A/D連接在一 光耦Ul的集電極輸出端，光耦Ul的集電極輸出端連接一上拉電阻R3，所述光耦Ul的 發(fā)射極輸出端接地，所述光耦Ul的第一輸入端連接電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1， 所述電阻Rl連接二極管D1，所述二極管Dl連接檢測(cè)端N，所述光耦Ul的第二輸入端 接地。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的集電極輸出端與發(fā)射極輸出端之間跨接有一濾波電容 C2。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的第一輸入端與第二輸入端之間跨接有一濾波電容 Cl。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的第一輸入端與第二輸入端之間跨接有一隧道二極管 D2。本發(fā)明的相位檢測(cè)電路的工作過程如下當(dāng)檢測(cè)端N有電壓時(shí)，電壓通過二極管Dl和電阻Rl、R2使光耦Ul的集電極 輸出端與發(fā)射極輸出端導(dǎo)通，那么檢測(cè)芯片的檢測(cè)端口 A/D的電壓就低于3V。相位檢 測(cè)，正常時(shí)電壓為高，當(dāng)電壓低于3V時(shí)判為相位接錯(cuò)。本發(fā)明具有以下優(yōu)點(diǎn)本發(fā)明的相位檢測(cè)電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手 段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說明 如后。本發(fā)明的具體實(shí)施方式
由以下實(shí)施例及其附圖詳細(xì)給出。


圖1為本發(fā)明的相位檢測(cè)電路的電路原理圖。
圖中標(biāo)號(hào)說明1、光耦Ul的第一輸入端，2、光耦Ul的第二輸入端，3、光耦 Ul的發(fā)射極輸出端，4、光耦Ul的集電極輸出端，5、檢測(cè)芯片。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和實(shí)施 例對(duì)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)施過程做進(jìn)一步說明。參見圖1所示，一種相位檢測(cè)電路，包括一檢測(cè)芯片5，所述檢測(cè)芯片5的檢測(cè) 端口 A/D連接在一光耦Ul的集電極輸出端4，光耦Ul的集電極輸出端4連接一上拉電 阻R3，所述光耦Ul的發(fā)射極輸出端3接地，所述光耦Ul的第一輸入端1連接電阻R2， 所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻Rl連接二極管D1，所述二極管Dl連接檢測(cè)端N， 所述光耦Ul的第二輸入端2接地。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的集電極輸出端4與發(fā)射極輸出端3之間跨接有一濾波 電容C2。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的第一輸入端1與第二輸入端2之間跨接有一濾波電容 Cl。進(jìn)一步的，所述光耦Ul的第一輸入端1與第二輸入端2之間跨接有一隧道二極
管D2。上述實(shí)施例只是為了說明本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的是在于讓本領(lǐng)域內(nèi) 的普通技術(shù)人員能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，并不能以此限制本發(fā)明的保護(hù)范 圍。凡是根據(jù)本發(fā)明內(nèi)容的實(shí)質(zhì)所作出的等效的變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護(hù) 范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種相位檢測(cè)電路，包括一檢測(cè)芯片(5)，其特征在于所述檢測(cè)芯片(5)的檢測(cè) 端口 A/D連接在一光耦Ul的集電極輸出端(4)，光耦Ul的集電極輸出端⑷連接一上 拉電阻R3，所述光耦Ul的發(fā)射極輸出端(3)接地，所述光耦Ul的第一輸入端(1)連接 電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻Rl連接二極管D1，所述二極管Dl連接 檢測(cè)端N，所述光耦Ul的第二輸入端(2)接地。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)電路，其特征在于所述光耦Ul的集電極輸出端 ⑷與發(fā)射極輸出端⑶之間跨接有一濾波電容C2。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的相位檢測(cè)電路，其特征在于所述光耦Ul的第一輸入端 (1)與第二輸入端(2)之間跨接有一濾波電容Cl。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的相位檢測(cè)電路，其特征在于所述光耦Ul的第一輸入端 (1)與第二輸入端(2)之間跨接有一隧道二極管D2。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種相位檢測(cè)電路，包括一檢測(cè)芯片，所述檢測(cè)芯片的檢測(cè)端口A/D連接在一光耦U1的集電極輸出端，光耦U1的集電極輸出端連接一上拉電阻R3，所述光耦U1的發(fā)射極輸出端接地，所述光耦U1的第一輸入端連接電阻R2，所述電阻R2連接電阻R1，所述電阻R1連接二極管D1，所述二極管D1連接檢測(cè)端N，所述光耦U1的第二輸入端接地。本發(fā)明的電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，使用方便。
文檔編號(hào)G01R25/00GK102012459SQ20101053077
公開日2011年4月13日 申請(qǐng)日期2010年11月3日 優(yōu)先權(quán)日2010年11月3日
發(fā)明者胡國(guó)良, 魏王江 申請(qǐng)人:蘇州合欣美電子科技有限公司