專利名稱：自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及方法，特別是一種待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)仍可檢測(cè)出缺陷的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及方法。
背景技術(shù)：
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)是利用影像擷取裝置擷取待測(cè)物的影像，再將所擷取到的影像與一參考影像比較，以判斷待測(cè)物是否存在缺陷?，F(xiàn)有的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)大多是將待測(cè)物置于影像擷取裝置的焦點(diǎn)位置上以擷取較為清晰的影像，如此將限制自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用。舉例而言，請(qǐng)參照?qǐng)D1，利用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)布料12時(shí)，由于布料的紡織端 (如圖1所示的左側(cè))正在進(jìn)行紡織而沿著擷取影像方向往復(fù)移動(dòng)，因此布料將偏離影像擷取裝置的焦點(diǎn)而無(wú)法取得清晰的影像。為了取得清晰的影像，設(shè)置影像擷取裝置11的位置只好遠(yuǎn)離布料12的紡織端，使得布料12能夠平穩(wěn)地置于影像擷取裝置11的焦點(diǎn)位置。然而，由于設(shè)置影像擷取裝置11的位置遠(yuǎn)離布料12的紡織端，因此當(dāng)發(fā)現(xiàn)布料12存在缺陷時(shí)，將產(chǎn)生較多的廢料。綜上所述，提出一種待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)仍可檢測(cè)出缺陷的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)便是目前極需努力的目標(biāo)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及方法，其是于一單位時(shí)間內(nèi)擷取多個(gè)不同景深的待測(cè)物測(cè)量值，并將多個(gè)測(cè)量值平均或從其中選擇準(zhǔn)焦的測(cè)量值與一參考值比較以判斷是否存在缺陷，藉以克服待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)而無(wú)法擷取到清晰影像的問(wèn)題。根據(jù)本發(fā)明一方面的一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)包含一影像擷取模塊、一數(shù)據(jù)處理單元以及一比較單元。影像擷取模塊用以于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值。數(shù)據(jù)處理單元與影像擷取模塊電性連接，用以接收多個(gè)測(cè)量值，并輸出一比較值。比較單元與數(shù)據(jù)處理單元電性連接，用以將比較值與一參考值比較以判斷待測(cè)物是否存在缺陷。根據(jù)本發(fā)明另一方面的一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法包含以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值；將單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值平均或選擇單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值中的一準(zhǔn)焦測(cè)量值作為一比較值，其中準(zhǔn)焦測(cè)量值為單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值中最接近影像擷取模塊的焦點(diǎn)的測(cè)量值；以及將比較值與一參考值比較以判斷待測(cè)物是否存在缺陷。根據(jù)本發(fā)明又一方面的一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法包含以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值；依序選擇多個(gè)單位時(shí)間內(nèi)的一準(zhǔn)焦測(cè)量值組成一掃描影像，其中準(zhǔn)焦測(cè)量值為單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值中最接近影像擷取模塊的焦
4點(diǎn)的測(cè)量值；將掃描影像與一參考影像比較，以判斷待測(cè)物是否存在缺陷。本發(fā)明的有益技術(shù)效果是本發(fā)明的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法是于一單位時(shí)間內(nèi)擷取多個(gè)不同景深的待測(cè)物測(cè)量值，并將多個(gè)測(cè)量值平均或從其中選擇準(zhǔn)焦的測(cè)量值與一參考值比較以判斷是否存在缺陷。因此，本發(fā)明的系統(tǒng)以及方法可以克服待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)而無(wú)法擷取到清晰影像的問(wèn)題。換言之，待測(cè)物通過(guò)影像擷取模塊時(shí)可以忍容較大的震動(dòng)而仍能檢出缺陷并避免誤判。就檢測(cè)布料而言，可以較早檢測(cè)出缺陷以避免產(chǎn)生過(guò)多的廢料。


以下通過(guò)具體實(shí)施例配合附圖詳加說(shuō)明，當(dāng)更容易了解本發(fā)明的目的、技術(shù)內(nèi)容、 特點(diǎn)及其所達(dá)成的功效，其中圖1為顯示現(xiàn)有的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于布料檢測(cè)的示意圖。圖2為顯示本發(fā)明一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)應(yīng)用于布料檢測(cè)的示意圖。圖3a為顯示一影像擷取裝置與待測(cè)物的相對(duì)位置的示意圖。圖北為顯示多個(gè)影像擷取裝置與待測(cè)物的相對(duì)位置的示意圖。圖如為顯示影像擷取裝置與待測(cè)物的相對(duì)位置以及單位時(shí)間內(nèi)多個(gè)不同景深的測(cè)量值的示意圖。圖4b為顯示影像擷取模塊連續(xù)擷取的多個(gè)測(cè)量值的示意圖。圖fe以及圖恥為顯示具有缺陷的待測(cè)物的單位時(shí)間內(nèi)多個(gè)不同景深的測(cè)量值的示意圖。圖6為顯示本發(fā)明一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法的流程圖。圖7為顯示本發(fā)明另一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法的流程圖。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D2，本發(fā)明的一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)2包含一影像擷取模塊21、 一數(shù)據(jù)處理單元22以及一比較單元23。影像擷取模塊21用以于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物30的多個(gè)不同景深的測(cè)量值。于一實(shí)施例中，影像擷取模塊21可包含電荷耦合元件 (Charge Coupled Device, CCD)、互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體(Complementary Metal Oxide Semiconductor, CMOS)傳感器或接觸式影像傳感器(Contact Image Sensor，ClQ。數(shù)據(jù)處理單元22與影像擷取模塊21電性連接。數(shù)據(jù)處理單元22接收影像擷取模塊21所輸出的多個(gè)測(cè)量值，經(jīng)運(yùn)算處理后輸出一比較值。比較單元23與數(shù)據(jù)處理單元22電性連接。比較單元23用以將數(shù)據(jù)處理單元22所輸出的比較值與一參考值比較以判斷待測(cè)物30是否存在缺陷。 于一實(shí)施例中，請(qǐng)參照?qǐng)D3a，影像擷取模塊21僅包含一影像擷取裝置21a。假設(shè)影像擷取裝置21a的焦點(diǎn)落在位置F2，因此，當(dāng)待測(cè)物30置于位置F2時(shí)，影像擷取裝置21a 可擷取到較為清晰的影像，例如亮度較低。當(dāng)待測(cè)物30移動(dòng)至位置F1、F3時(shí)，如圖2所示， 由于待測(cè)物20偏離影像擷取裝置21a的焦點(diǎn)，因此影像擷取裝置21a所擷取到的影像較為模糊，例如亮度較高。 或者，請(qǐng)參照?qǐng)D北，影像擷取模塊21包含多個(gè)影像擷取裝置21a、21b、21c。假設(shè)影像擷取裝置21a、21b、21c的焦點(diǎn)分別落在位置Fl、F2、F3，因此，當(dāng)待測(cè)物30置于位置F1、 F2、F3其中之一時(shí)，影像擷取裝置21a、21b、21c其中之一將可擷取到較為清晰的影像，其余影像擷取裝置則擷取到較為模糊的影像。如圖北所示，待測(cè)物30置于位置F2，影像擷取裝置21b擷取到較為清晰的影像，而影像擷取裝置21a、21c擷取到較為模糊的影像。數(shù)據(jù)處理單元22可將影像擷取模塊21于單位時(shí)間內(nèi)所擷取到的多個(gè)測(cè)量值平均，或是從其中選擇準(zhǔn)焦的測(cè)量值作為比較值輸出。所謂“準(zhǔn)焦測(cè)量值”是指影像擷取模塊 21于單位時(shí)間內(nèi)所擷取到的多個(gè)測(cè)量值中最接近影像擷取模塊21的焦點(diǎn)的測(cè)量值。需注意的是，采用不同的測(cè)量值或經(jīng)不同的運(yùn)算處理，數(shù)據(jù)處理單元可選擇單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值中的最小值或最大值作為準(zhǔn)焦測(cè)量值。請(qǐng)參照?qǐng)D如，以待測(cè)物30為一布料為例作說(shuō)明，但不限于此。緯線32以上下交錯(cuò)的方式織于經(jīng)線31之間。由于影像擷取模塊21擷取測(cè)量值的頻率遠(yuǎn)高于織布的速度，因此影像擷取模塊21在布料的每一經(jīng)線31位置可擷取到多個(gè)不同景深的測(cè)量值，其中接近影像擷取模塊21焦點(diǎn)的亮度較低，遠(yuǎn)離影像擷取模塊21焦點(diǎn)的亮度較高。如此即產(chǎn)生圖如下方的時(shí)間與測(cè)量值的關(guān)系圖。每一單位時(shí)間即是指影像擷取模塊21在每一經(jīng)線31位置擷取特定數(shù)量的測(cè)量值所需的時(shí)間。單位時(shí)間的長(zhǎng)短可能因影像擷取模塊21所包含的影像擷取裝置的個(gè)數(shù)而有變動(dòng)。數(shù)據(jù)處理單元22即可將在每一經(jīng)線31位置所擷取的多個(gè)亮度值平均，或是選擇亮度最低者作為比較值。舉例而言，影像擷取模塊21連續(xù)擷取布料的測(cè)量值如圖4b所示。圖中每一長(zhǎng)條代表影像擷取模塊21擷取一次的測(cè)量值，其中填滿斜線的測(cè)量值42代表紡織時(shí)飛梭遮蔽照明光線所造成的陰影。測(cè)量值41a、41b分別代表影像擷取模塊21在布料的不同經(jīng)線31 位置正常擷取到的測(cè)量值。因此，數(shù)據(jù)處理單元22以測(cè)量值42為邊界，選擇區(qū)間Y的多個(gè)測(cè)量值41b作為影像擷取模塊21在布料的經(jīng)線31位置所擷取到的測(cè)量值(亦即單位時(shí)間內(nèi)所擷取的測(cè)量值)，進(jìn)而進(jìn)行平均或從中選擇準(zhǔn)焦測(cè)量值。需注意的是，檢測(cè)不同表面特征的待測(cè)物時(shí)，劃分單位時(shí)間的方法可能有所不同。此外，區(qū)間Y內(nèi)正常擷取的測(cè)量值41b 以及飛梭遮蔽照明光線時(shí)的測(cè)量值42的數(shù)量會(huì)因?yàn)槿宇l率不同有所增減，因此，后續(xù)準(zhǔn)焦測(cè)量值的選擇或平均處理亦應(yīng)相對(duì)應(yīng)改變。于一實(shí)施例中，自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)包含一傳感器(未圖標(biāo))，其與數(shù)據(jù)處理單元22 電性連接。傳感器可檢測(cè)待測(cè)物30與影像擷取模塊21的相對(duì)位置并輸出一檢測(cè)信號(hào)。舉例而言，傳感器可為紅外線傳感器或影像擷取裝置。在待測(cè)物30通過(guò)影像擷取模塊的焦點(diǎn)時(shí)，傳感器即輸出檢測(cè)信號(hào)，以作為數(shù)據(jù)處理單元選擇準(zhǔn)焦測(cè)量值的依據(jù)。請(qǐng)繼續(xù)參考圖4a，比較單元23將數(shù)據(jù)處理單元22所輸出的比較值與一參考值 Ref比較，當(dāng)比較值偏離參考值Ref超過(guò)一設(shè)定值時(shí)即可判斷為缺陷。舉例而言，請(qǐng)參照?qǐng)D 5a,經(jīng)線31b并入經(jīng)線31a的位置，使得影像擷取模塊21在經(jīng)線31a位置所擷取到的多個(gè)亮度值中的準(zhǔn)焦測(cè)量值小于參考值Ref。比較單元23即可判斷經(jīng)線31a的位置存在缺陷。 或者，將影像擷取模塊21在經(jīng)線31a位置所擷取到的多個(gè)亮度值平均亦將小于一參考平均值，比較單元23即可判斷經(jīng)線31a的位置存在缺陷。另外，經(jīng)線31c的位置有油污等異物 50時(shí)，影像擷取模塊21在經(jīng)線31c位置所擷取到的多個(gè)亮度值中的準(zhǔn)焦測(cè)量值亦將小于參考值Ref。比較單元23即可判斷經(jīng)線31c的位置存在缺陷。請(qǐng)參照?qǐng)D5b，經(jīng)線31d的位置發(fā)生斷線時(shí)，亦即不存在經(jīng)線31d，此時(shí)影像擷取模塊21在經(jīng)線31d位置所擷取到的多個(gè)亮度值中的準(zhǔn)焦測(cè)量值將大于參考值Ref。比較單元 23即可判斷經(jīng)線3Id的位置存在缺陷。于一實(shí)施例中，參考值Ref可事先擷取多個(gè)合格待測(cè)物的測(cè)量值，經(jīng)統(tǒng)計(jì)分析后產(chǎn)生，再設(shè)定于本發(fā)明的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)中。于一實(shí)施例中，待測(cè)物為均一或周期性的影像時(shí)，本發(fā)明的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)亦能夠以前一單位時(shí)間內(nèi)的比較值作為參考值Ref，以作為后續(xù)比較的基礎(chǔ)。于一實(shí)施例中，數(shù)據(jù)處理單元22可依序選擇每一單位時(shí)間內(nèi)的準(zhǔn)焦測(cè)量值組成一掃描影像作其它應(yīng)用。例如，比較單元23可將數(shù)據(jù)處理單元22所產(chǎn)生的掃描影像與一參考影像比較，藉以判斷待測(cè)物上復(fù)雜的圖案是否存在缺陷，或者進(jìn)一步判斷缺陷的種類。請(qǐng)參照?qǐng)D6，說(shuō)明本發(fā)明的一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法。首先，以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值(S61)。接著，將單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值平均或選擇單位時(shí)間內(nèi)的多個(gè)測(cè)量值中的一準(zhǔn)焦測(cè)量值作為一比較值(S62)。最后，將比較值與一參考值比較以判斷待測(cè)物是否存在缺陷(S63)。上述步驟的詳細(xì)說(shuō)明已如前所述，在此不再贅述。請(qǐng)參照?qǐng)D7，說(shuō)明本發(fā)明的另一實(shí)施例的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法。首先，以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值(S71)。接著，依序選擇多個(gè)單位時(shí)間內(nèi)的一準(zhǔn)焦測(cè)量值組成一掃描影像(S72)。最后，將掃描影像與一參考影像比較，以判斷待測(cè)物是否存在缺陷(S73)。上述步驟的詳細(xì)說(shuō)明已如前所述，在此不再贅述。綜合上述，本發(fā)明的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法是于一單位時(shí)間內(nèi)擷取多個(gè)不同景深的待測(cè)物測(cè)量值，并將多個(gè)測(cè)量值平均或從其中選擇準(zhǔn)焦的測(cè)量值與一參考值比較以判斷是否存在缺陷。因此，本發(fā)明的系統(tǒng)以及方法可以克服待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)而無(wú)法擷取到清晰影像的問(wèn)題。換言之，待測(cè)物通過(guò)影像擷取模塊時(shí)可以忍容較大的震動(dòng)而仍能檢出缺陷并避免誤判。就檢測(cè)布料而言，可以較早檢測(cè)出缺陷以避免產(chǎn)生過(guò)多的廢料。以上所述的實(shí)施例僅是為說(shuō)明本發(fā)明的技術(shù)思想及特點(diǎn)，其目的在使熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人士能夠了解本發(fā)明的內(nèi)容并據(jù)以實(shí)施，當(dāng)不能以其限定本發(fā)明的專利范圍，即凡是根據(jù)本發(fā)明所揭示的精神所作的均等變化或修飾，仍應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的專利范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包含一影像擷取模塊，其用以于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值；一數(shù)據(jù)處理單元，其與該影像擷取模塊電性連接，用以接收該多個(gè)測(cè)量值，并輸出一比較值；以及一比較單元，其與該數(shù)據(jù)處理單元電性連接，用以將該比較值與一參考值比較以判斷該待測(cè)物是否存在缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)處理單元將該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值平均以作為該比較值。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)處理單元選擇該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中的一準(zhǔn)焦測(cè)量值作為該比較值，其中該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中最接近該影像擷取模塊的焦點(diǎn)的測(cè)量值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中的最小值或最大值。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，還包含一傳感器，其與該數(shù)據(jù)處理單元電性連接，該傳感器用以檢測(cè)該待測(cè)物與該影像擷取模塊的相對(duì)位置并輸出一檢測(cè)信號(hào)，該數(shù)據(jù)處理單元依據(jù)該檢測(cè)信號(hào)選擇該準(zhǔn)焦測(cè)量值。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該影像擷取模塊包含一影像擷取裝置，該影像擷取裝置于該單位時(shí)間內(nèi)多次擷取該待測(cè)物的該測(cè)量值。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該影像擷取模塊包含多個(gè)不同焦點(diǎn)的影像擷取裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該影像擷取模塊包含該電荷耦合元件、互補(bǔ)式金屬氧化物半導(dǎo)體傳感器或接觸式影像傳感器。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該參考值為人工設(shè)定或?yàn)榍耙辉搯挝粫r(shí)間內(nèi)的該比較值。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該數(shù)據(jù)處理單元依序選擇每一該單位時(shí)間內(nèi)的該準(zhǔn)焦測(cè)量值組成一掃描影像。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，該比較單元將該掃描影像與一參考影像比較，以判斷該待測(cè)物是否存在缺陷。
12.一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，包含以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值；將該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值平均或選擇該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中的一準(zhǔn)焦測(cè)量值作為一比較值，其中該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中最接近該影像擷取模塊的焦點(diǎn)的測(cè)量值；以及將該比較值與一參考值比較以判斷該待測(cè)物是否存在缺陷。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中的最小值或最大值。
14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該準(zhǔn)焦測(cè)量值是利用一傳感器檢測(cè)該待測(cè)物最接近該影像擷取模塊的焦點(diǎn)時(shí)所擷取的該測(cè)量值。
15.根據(jù)權(quán)利要求12所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該影像擷取模塊包含一影像擷取裝置，該影像擷取裝置于該單位時(shí)間內(nèi)多次擷取該待測(cè)物的該測(cè)量值。
16.根據(jù)權(quán)利要求12所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該影像擷取模塊包含多個(gè)不同焦點(diǎn)的影像擷取裝置。
17.根據(jù)權(quán)利要求12所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該參考值為人工設(shè)定或?yàn)榍耙辉搯挝粫r(shí)間內(nèi)的該比較值。
18.一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，包含以一影像擷取模塊于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值；依序選擇多個(gè)該單位時(shí)間內(nèi)的一準(zhǔn)焦測(cè)量值組成一掃描影像，其中該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中最接近該影像擷取模塊的焦點(diǎn)的測(cè)量值；以及將該掃描影像與一參考影像比較，以判斷該待測(cè)物是否存在缺陷。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該準(zhǔn)焦測(cè)量值為該單位時(shí)間內(nèi)的該多個(gè)測(cè)量值中的最小值或最大值。
20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該準(zhǔn)焦測(cè)量值是利用一傳感器檢測(cè)該待測(cè)物最接近該影像擷取模塊的焦點(diǎn)時(shí)所擷取的該測(cè)量值。
21.根據(jù)權(quán)利要求18所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該影像擷取模塊包含一影像擷取裝置，該影像擷取裝置于該單位時(shí)間內(nèi)多次擷取該待測(cè)物的測(cè)量值。
22.根據(jù)權(quán)利要求18所述的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于，該影像擷取模塊包含多個(gè)不同焦點(diǎn)的影像擷取裝置。
全文摘要
本發(fā)明是一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)以及自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方法。自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)包含一影像擷取模塊、一數(shù)據(jù)處理單元以及一比較單元。影像擷取模塊用以于一單位時(shí)間內(nèi)擷取一待測(cè)物的多個(gè)不同景深的測(cè)量值。數(shù)據(jù)處理單元接收影像擷取模塊所擷取的多個(gè)測(cè)量值，運(yùn)算后輸出一比較值。比較單元與數(shù)據(jù)處理單元電性連接，用以將比較值與一參考值比較以判斷待測(cè)物是否存在缺陷。上述系統(tǒng)可克服待測(cè)物于檢測(cè)過(guò)程中偏離焦點(diǎn)而無(wú)法擷取到清晰影像的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01N21/88GK102374994SQ20101026270
公開日2012年3月14日 申請(qǐng)日期2010年8月18日 優(yōu)先權(quán)日2010年8月18日
發(fā)明者吳金來(lái), 戴輝權(quán), 林君諺, 王弘成 申請(qǐng)人:全友電腦股份有限公司